JPH05257824A - 外部記憶装置の試験方法 - Google Patents
外部記憶装置の試験方法Info
- Publication number
- JPH05257824A JPH05257824A JP4054541A JP5454192A JPH05257824A JP H05257824 A JPH05257824 A JP H05257824A JP 4054541 A JP4054541 A JP 4054541A JP 5454192 A JP5454192 A JP 5454192A JP H05257824 A JPH05257824 A JP H05257824A
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- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】外部記憶装置の書込み及び読出し試験を、外部
記憶制御装置の内部メモリの分割管理により実施して、
試験時間の短縮を図る。 【構成】外部記憶制御装置１１は外部記憶媒体１５に対
する書込み及び読出しのとき、メモリ１３を同一記憶容
量の一つの書込み専用エリアと、二つの読出し専用エリ
アとに分割して、外部記憶媒体１５に試験データを書込
んだ後二つの読出し専用エリアを交互に使用して、書込
み専用エリア内の試験データと一つの読出し専用エリア
内の試験データとの比較により試験を行う。
記憶制御装置の内部メモリの分割管理により実施して、
試験時間の短縮を図る。 【構成】外部記憶制御装置１１は外部記憶媒体１５に対
する書込み及び読出しのとき、メモリ１３を同一記憶容
量の一つの書込み専用エリアと、二つの読出し専用エリ
アとに分割して、外部記憶媒体１５に試験データを書込
んだ後二つの読出し専用エリアを交互に使用して、書込
み専用エリア内の試験データと一つの読出し専用エリア
内の試験データとの比較により試験を行う。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は外部記憶装置の試験方法
に関する。
に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の外部記憶装置の試験方法は、外部
記憶制御装置から外部記憶装置内の外部記憶媒体の全記
憶エリアに対して、一定量のデータを複数回書込み、、
次に外部記憶媒体から書込んだ一定量のデータを読出し
て、読出すたびに書込みデータと比較検査することを複
数回繰返す方法を採っている。
記憶制御装置から外部記憶装置内の外部記憶媒体の全記
憶エリアに対して、一定量のデータを複数回書込み、、
次に外部記憶媒体から書込んだ一定量のデータを読出し
て、読出すたびに書込みデータと比較検査することを複
数回繰返す方法を採っている。
【０００３】この従来の試験の手順について、図３に図
１を併せ参照して説明する。図１は外部記憶装置の試験
システムの一例を示すブロック図、図３は従来の外部記
憶装置の試験方法の一例を示すフローチャートである。
１を併せ参照して説明する。図１は外部記憶装置の試験
システムの一例を示すブロック図、図３は従来の外部記
憶装置の試験方法の一例を示すフローチャートである。
【０００４】まず、図１に示すように外部記憶装置１４
内の外部記憶媒体１５への書込み及び読出しは、外部記
憶制御装置１１内のプロセッサ１２及びメモリ１３によ
り、バス１０を介して行なう試験システムが構成されて
いる。
内の外部記憶媒体１５への書込み及び読出しは、外部記
憶制御装置１１内のプロセッサ１２及びメモリ１３によ
り、バス１０を介して行なう試験システムが構成されて
いる。
【０００５】図３に示すように、外部記憶制御装置１１
から外部記憶装置１４内の外部記憶媒体１５に対する書
込み及び読出し試験の方法は、まずメモリ１３の書込み
エリアにデータを設定（Ｓ２０１）し、外部記憶媒体１
５の初期書込み記憶エリアを指定（Ｓ２０２）し、デー
タ書込み指示を出す（Ｓ２０３）。
から外部記憶装置１４内の外部記憶媒体１５に対する書
込み及び読出し試験の方法は、まずメモリ１３の書込み
エリアにデータを設定（Ｓ２０１）し、外部記憶媒体１
５の初期書込み記憶エリアを指定（Ｓ２０２）し、デー
タ書込み指示を出す（Ｓ２０３）。
【０００６】次に、外部記憶媒体１５の全記憶エリアの
書込みが完了（Ｓ２０４）するまで、外部記憶媒体１５
の記憶エリアを更新（Ｓ２０５）し、データ書込み（Ｓ
２０３）を繰り返す。
書込みが完了（Ｓ２０４）するまで、外部記憶媒体１５
の記憶エリアを更新（Ｓ２０５）し、データ書込み（Ｓ
２０３）を繰り返す。
【０００７】このようにして書込みが終了すると、再び
外部記憶媒体１５の初期読出し記憶エリアを指定（Ｓ２
０６）して、次に、メモリ１３の書込みエリア分のデー
タの読出し指示を出し（Ｓ２０７）、書込みエリア相当
分のデータ読出しが完了するまで待つ（Ｓ２０８）。そ
れから、読出しデータと書込みデータの比較検査を行な
う（Ｓ２０９）。
外部記憶媒体１５の初期読出し記憶エリアを指定（Ｓ２
０６）して、次に、メモリ１３の書込みエリア分のデー
タの読出し指示を出し（Ｓ２０７）、書込みエリア相当
分のデータ読出しが完了するまで待つ（Ｓ２０８）。そ
れから、読出しデータと書込みデータの比較検査を行な
う（Ｓ２０９）。
【０００８】データの比較結果がＮＧの時は、障害処理
を実施し（Ｓ２１０）、試験を終了する。データの比較
結果がＯＫの時は、外部記憶媒体１５の全記憶エリアの
読出しが完了（Ｓ２１１）するまで、外部記憶エリアを
更新し（Ｓ２１２）、データ読出し及びデータ比較検査
（Ｓ２０７〜Ｓ２０９）を繰り返す。
を実施し（Ｓ２１０）、試験を終了する。データの比較
結果がＯＫの時は、外部記憶媒体１５の全記憶エリアの
読出しが完了（Ｓ２１１）するまで、外部記憶エリアを
更新し（Ｓ２１２）、データ読出し及びデータ比較検査
（Ｓ２０７〜Ｓ２０９）を繰り返す。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の外部記
憶装置の試験方法は、外部記憶制御装置から外部記憶媒
体に対する書込みデータと読出しデータとを比較検査す
る処理を、外部記憶制御装置内のメモリの一定容量分の
データ読出しが完了してから行なっているので、試験時
間が長くなるという欠点がある。
憶装置の試験方法は、外部記憶制御装置から外部記憶媒
体に対する書込みデータと読出しデータとを比較検査す
る処理を、外部記憶制御装置内のメモリの一定容量分の
データ読出しが完了してから行なっているので、試験時
間が長くなるという欠点がある。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明の外部記憶装置の
試験方法は、プロセッサと記憶部とを備える外部記憶制
御装置と、前記記憶部より数十倍の記憶容量を持つ外部
記憶媒体を含む外部記憶装置とがバスで接続して成り、
前記記憶部に試験用のデータを予め記憶している書込み
専用エリアと、前記外部記憶媒体から読取ったデータを
記憶するための前記書込み専用エリアと同一容量の第
１，第２の二つの読取り専用エリアとに予め分割してお
き、前記プロセッサは最初に前記書込み専用エリアの前
記試験用データを前記外部記憶媒体の全記憶エリアに複
数回に分けて記憶させ、前記外部記憶媒体への前記試験
用データの書込み終了後前記第１の読取り専用エリアに
前記外部記憶媒体から読出した第１のデータを書込ま
せ、第１の読取り専用エリアへの前記第１のデータの書
込み終了後前記第２の読取り専用エリアに前記外部記憶
媒体から読出した第２のデータを書込ませ、この第２の
データの書込み処理中に前記試験用のデータと前記第１
のデータとの第１の比較処理を行い、この第１の比較処
理終了後前記第２のデータとの第２の比較処理を行い、
この第２の比較処理中に前記第１の読取り専用エリアに
前記外部記憶媒体から読出した２回目の前記第１のデー
タを書込ませ以降２回目の前記第２のデータの書込み、
前記第１の比較処理、前記第２の比較処理を前記外部記
憶媒体の全記憶エリアについて読出しが完了するまで繰
返す。
試験方法は、プロセッサと記憶部とを備える外部記憶制
御装置と、前記記憶部より数十倍の記憶容量を持つ外部
記憶媒体を含む外部記憶装置とがバスで接続して成り、
前記記憶部に試験用のデータを予め記憶している書込み
専用エリアと、前記外部記憶媒体から読取ったデータを
記憶するための前記書込み専用エリアと同一容量の第
１，第２の二つの読取り専用エリアとに予め分割してお
き、前記プロセッサは最初に前記書込み専用エリアの前
記試験用データを前記外部記憶媒体の全記憶エリアに複
数回に分けて記憶させ、前記外部記憶媒体への前記試験
用データの書込み終了後前記第１の読取り専用エリアに
前記外部記憶媒体から読出した第１のデータを書込ま
せ、第１の読取り専用エリアへの前記第１のデータの書
込み終了後前記第２の読取り専用エリアに前記外部記憶
媒体から読出した第２のデータを書込ませ、この第２の
データの書込み処理中に前記試験用のデータと前記第１
のデータとの第１の比較処理を行い、この第１の比較処
理終了後前記第２のデータとの第２の比較処理を行い、
この第２の比較処理中に前記第１の読取り専用エリアに
前記外部記憶媒体から読出した２回目の前記第１のデー
タを書込ませ以降２回目の前記第２のデータの書込み、
前記第１の比較処理、前記第２の比較処理を前記外部記
憶媒体の全記憶エリアについて読出しが完了するまで繰
返す。
【００１１】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。
る。
【００１２】図１は外部記憶装置の試験システムの一例
を示すブロック図、図２は本発明の一実施例を図１に示
す試験システムに適用した場合を示すフローチャートで
ある。
を示すブロック図、図２は本発明の一実施例を図１に示
す試験システムに適用した場合を示すフローチャートで
ある。
【００１３】図１に示す試験システムはプロセッサ１２
とメモリ１３とを備える外部記憶制御装置１１と、メモ
リ１３より数十倍の記憶容量を持つ外部記憶媒体１５を
含む外部記憶装置１４と、これらを接続するバス１０と
を有して構成している。
とメモリ１３とを備える外部記憶制御装置１１と、メモ
リ１３より数十倍の記憶容量を持つ外部記憶媒体１５を
含む外部記憶装置１４と、これらを接続するバス１０と
を有して構成している。
【００１４】次に、本適用例について図１，図２を用い
て説明する。外部記憶媒体１５に対する書込み処理は、
まず、メモリ１３の書込み専用エリアにデータを設定
（Ｓ１０１）し、外部記憶媒体１４の初期書込み記憶エ
リアを指定（Ｓ１０２）し、データ書込みの指示を出す
（Ｓ１０３）。次に外部記憶媒体１５の全記憶エリアの
書込みが完了（Ｓ１０４）するまで、外部記憶媒体１５
の記憶エリアを更新（Ｓ１０５）し、データ書込みを繰
り返す。
て説明する。外部記憶媒体１５に対する書込み処理は、
まず、メモリ１３の書込み専用エリアにデータを設定
（Ｓ１０１）し、外部記憶媒体１４の初期書込み記憶エ
リアを指定（Ｓ１０２）し、データ書込みの指示を出す
（Ｓ１０３）。次に外部記憶媒体１５の全記憶エリアの
書込みが完了（Ｓ１０４）するまで、外部記憶媒体１５
の記憶エリアを更新（Ｓ１０５）し、データ書込みを繰
り返す。
【００１５】このようにして書込みが終了すると、次
に、読出し処理を行なう。まず最初に外部記憶媒体１５
の初期読出し記憶エリアを指定する（Ｓ１０６）。初回
の読出し処理は、読出し専用エリア１に外部記憶媒体１
５のデータを書込み専用エリア分読出す指示を出し（Ｓ
１０７）、読出し処理が完了するまで待つ（Ｓ１０
８）。
に、読出し処理を行なう。まず最初に外部記憶媒体１５
の初期読出し記憶エリアを指定する（Ｓ１０６）。初回
の読出し処理は、読出し専用エリア１に外部記憶媒体１
５のデータを書込み専用エリア分読出す指示を出し（Ｓ
１０７）、読出し処理が完了するまで待つ（Ｓ１０
８）。
【００１６】次に外部記憶媒体１５の記憶エリアを更新
し（Ｓ１０９）、２回目以降の読出し指示（Ｓ１１０）
すなわち、読出し専用エリア２にデータを読出す指示を
出し（Ｓ１１０）、今回は、読出し処理が完了するまで
の時間を利用して（Ｓ１１１）、書込み専用エリアのデ
ータと前回読出し済みのデータ（読出し専用エリア１）
を比較検査（Ｓ１１２）、検査結果ＮＧの時は、障害処
理を行ない（Ｓ１１３）、試験を終了する。
し（Ｓ１０９）、２回目以降の読出し指示（Ｓ１１０）
すなわち、読出し専用エリア２にデータを読出す指示を
出し（Ｓ１１０）、今回は、読出し処理が完了するまで
の時間を利用して（Ｓ１１１）、書込み専用エリアのデ
ータと前回読出し済みのデータ（読出し専用エリア１）
を比較検査（Ｓ１１２）、検査結果ＮＧの時は、障害処
理を行ない（Ｓ１１３）、試験を終了する。
【００１７】検査結果ＯＫの時は、読出し処理の完了を
待つ（Ｓ１１１）。次に外部記憶媒体１５の全記憶エリ
アの読出しが完了（Ｓ１１４）するまで、外部記憶媒体
１５の記憶エリアを更新し（Ｓ１０９）、上述の読出し
処理（Ｓ１０９〜Ｓ１１１）とデータ比較検査処理（Ｓ
１１２）を読出し専用エリア１と読出し専用エリア２を
交互に使うことで繰り返し実行する。
待つ（Ｓ１１１）。次に外部記憶媒体１５の全記憶エリ
アの読出しが完了（Ｓ１１４）するまで、外部記憶媒体
１５の記憶エリアを更新し（Ｓ１０９）、上述の読出し
処理（Ｓ１０９〜Ｓ１１１）とデータ比較検査処理（Ｓ
１１２）を読出し専用エリア１と読出し専用エリア２を
交互に使うことで繰り返し実行する。
【００１８】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、外部記憶
媒体に書込むための専用エリア一つと読出すための専用
エリア二つとを外部記憶制御装置の記憶部上に同一記憶
容量で分割管理することで、一つの読出し専用エリアへ
読出し処理中に書込みデータと他の一つの読出し専用エ
リア内の読出しデータとの比較検査を実施できるように
することにより、試験時間を従来方法より短かくするこ
とができる効果と、比較検査結果がＮＧの時には、記憶
部内にデータがそのまま残っているため、データの障害
内容を試験のあとで調査できるという効果とを有する。
媒体に書込むための専用エリア一つと読出すための専用
エリア二つとを外部記憶制御装置の記憶部上に同一記憶
容量で分割管理することで、一つの読出し専用エリアへ
読出し処理中に書込みデータと他の一つの読出し専用エ
リア内の読出しデータとの比較検査を実施できるように
することにより、試験時間を従来方法より短かくするこ
とができる効果と、比較検査結果がＮＧの時には、記憶
部内にデータがそのまま残っているため、データの障害
内容を試験のあとで調査できるという効果とを有する。
【図１】外部記憶装置の試験システムの一例を示すブロ
ック図である。
ック図である。
【図２】本発明の一実施例を図１に示す試験システムに
適用した場合の外部記憶装置の試験方法を示すフローチ
ャートである。
適用した場合の外部記憶装置の試験方法を示すフローチ
ャートである。
【図３】従来の外部記憶装置の試験方法の一例を示すフ
ローチャートである。
ローチャートである。
１０ バス １１ 外部記憶制御装置 １２ プロセッサ １３ メモリ １４ 外部記憶装置 １５ 外部記憶媒体
Claims (1)
- 【請求項１】 プロセッサと記憶部とを備える外部記憶
制御装置と、前記記憶部より数十倍の記憶容量を持つ外
部記憶媒体を含む外部記憶装置とがバスで接続して成
り、前記記憶部に試験用のデータを予め記憶している書
込み専用エリアと、前記外部記憶媒体から読取ったデー
タを記憶するための前記書込み専用エリアと同一容量の
第１，第２の二つの読取り専用エリアとに予め分割して
おき、前記プロセッサは最初に前記書込み専用エリアの
前記試験用データを前記外部記憶媒体の全記憶エリアに
複数回に分けて記憶させ、前記外部記憶媒体への前記試
験用データの書込み終了後前記第１の読取り専用エリア
に前記外部記憶媒体から読出した第１のデータを書込ま
せ、第１の読取り専用エリアへの前記第１のデータの書
込み終了後前記第２の読取り専用エリアに前記外部記憶
媒体から読出した第２のデータを書込ませ、この第２の
データの書込み処理中に前記試験用のデータと前記第１
のデータとの第１の比較処理を行い、この第１の比較処
理終了後前記第２のデータとの第２の比較処理を行い、
この第２の比較処理中に前記第１の読取り専用エリアに
前記外部記憶媒体から読出した２回目の前記第１のデー
タを書込ませ以降２回目の前記第２のデータの書込み、
前記第１の比較処理、前記第２の比較処理を前記外部記
憶媒体の全記憶エリアについて読出しが完了するまで繰
返すことを特徴とする外部記憶装置の試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4054541A JPH05257824A (ja) | 1992-03-13 | 1992-03-13 | 外部記憶装置の試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4054541A JPH05257824A (ja) | 1992-03-13 | 1992-03-13 | 外部記憶装置の試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05257824A true JPH05257824A (ja) | 1993-10-08 |
Family
ID=12973538
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4054541A Withdrawn JPH05257824A (ja) | 1992-03-13 | 1992-03-13 | 外部記憶装置の試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05257824A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7587550B2 (en) | 2005-10-07 | 2009-09-08 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. | Functional test method and functional test apparatus for data storage devices |
-
1992
- 1992-03-13 JP JP4054541A patent/JPH05257824A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7587550B2 (en) | 2005-10-07 | 2009-09-08 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. | Functional test method and functional test apparatus for data storage devices |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19990518 |