JPH0521864Y2 - - Google Patents

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JPH0521864Y2
JPH0521864Y2 JP1987081312U JP8131287U JPH0521864Y2 JP H0521864 Y2 JPH0521864 Y2 JP H0521864Y2 JP 1987081312 U JP1987081312 U JP 1987081312U JP 8131287 U JP8131287 U JP 8131287U JP H0521864 Y2 JPH0521864 Y2 JP H0521864Y2
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wafer
resist
nitrogen gas
gas inlet
spinner cup
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JP1987081312U
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Description

【考案の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本考案は半導体PR工程において、半導体ウエ
ハ(以下ウエハと略す)にスピンナー法によつて
レジスト膜を形成する装置に関し、特にレジスト
塗布部の構造に関する。
[従来の技術] 従来、この種のレジスト塗布装置は、排気口を
有するスピンナーカツプの上部がスピンナーカツ
プカバーにて覆われそのスピンナーカツプカバー
の開口部中心にウエハチヤツクおよびレジスト滴
下用のノズルが設置される。さらにウエハチヤツ
クはモーターの軸に接続されて、ウエハを真空吸
着しながら回転する。
ウエハはウエハチヤツクのステージに載せら
れ、真空吸着される。
次にレジストがウエハに滴下され、その後、ウ
エハチヤツクが回転しウエハ上のレジストがウエ
ハ上面全体に拡がり、レジスト膜が形成される。
[考案が解決しようとする問題点] 上述した従来のレジスト塗布装置は、ウエハチ
ヤツクの回転によりレジストが拡がる際に、飛散
するレジストのミストをスピンナーカツプの排気
口による排気力のみで排出する構造となつている
ので、完全にはレジストのミストを排出できず、
スピンナーカツプおよびカバーの内壁からレジス
トのミストが跳ね返り、ウエハの上面および裏面
に付着し、レジスト膜が不均一となり露光工程時
にピンホール、アライメント不良を発生させると
いう欠点がある。
また、特開昭57−71666号公報には、ウエハの
上方から側方に向けてガス流を形成する構成のも
のが開示されている。しかしながら、飛散ミスト
の振舞いは、特開昭57−71666号公報に開示され
たように上方から側方へのガス流にのつて、排気
口に流出するといつたような単純なものではな
く、実際には、ミストが廻り込んでウエハの裏面
に付着するという問題がある。このことがアライ
メント不良等の原因となる。
本考案の目的は前記問題点を解消し、レジスト
膜の均一化を図り、しかもピンホール、アライメ
ント不良等の発生を防止するレジスト塗布装置を
提供することにある。
[考案の従来技術に対する相違点] 上述した従来のレジスト塗布装置に対し、本考
案はウエハチヤツク回転時、ウエハの上部からチ
ツ素ガスをウエハの外周部にブローと、ウエハか
ら飛散するレジストのミストを強制的に排気口へ
排出し、さらに、ウエハチヤツクの下部からチツ
素ガスを導入し、ウエハ裏面に吹き付けることに
よつて、ウエハ裏面の周辺部に外周方向へチツ素
ガスの流れを作り、レジストのミストのウエハ裏
面への付着を防止するという独創的内容を有す
る。
[問題点を解決するための手段] 前記目的を達成するため、本考案に係るレジス
ト塗布装置は、ガス導入口の対と、ガス分散板
と、整流板と、排気口とを有し、スピナーカツプ
内でウエハチヤツク上のウエハにレジストを滴下
させた後に、ウエハチヤツクの回転によりウエハ
に遠心力を与え、レジストを塗布するレジスト塗
布装置であつて、 対をなす一方のガス導入口は、ウエハチヤツク
の上方に下向きに設置され、他方のガス導入口
は、ウエハチヤツクの下方に上向きに設置され、
上方のガス導入口からのガス流と下方のガス導入
口からのガス流との圧力比は、ウエハ周辺部での
ブローに対応して調整されているものであり、 ガス分散板は、ウエハチヤツク上方のガス導入
口からのガス流をウエハチヤツク上のウエハ周辺
部に案内誘導するものであり、 整流板は、ウエハチヤツク下方のガス導入口か
らのガスをウエハチヤツク上のウエハ裏面に沿つ
て外周方向に向かうガス流に形成するものであ
り、 排気口は、スピナーカツプの下部に設けられ、
ガス導入口からのガス流によりブローされたレジ
ストミストをスピナーカツプ外に強制排気するも
のである。
[実施例] 次に本考案について図面を参照して説明する。
(実施例 1) 第1図は本考案の第1の実施例を示す図であ
る。第2図はスピナーカツプカバーの平面図であ
る。
第1図および第2図において、1はスピナーカ
ツプカバーであり、該スピナーカツプカバー1は
位置調整可能なチツ素ガス分散板2と第1チツ素
ガス導入口3、およびチツ素ガス分散板2(第2
図)の位置調整用長穴4を有するスピナーカツプ
カバーである。5はチツ素ガス分散板2をスピナ
ーカツプカバー1に固定する支持具で、ナツト6
により固定される。7はレジストの蒸気およびミ
ストを排気する排気口8と第2チツ素ガス導入口
9および第1整流板10を有するスピンナーカツ
プである。11は、スピンナーカツプ7へ送るチ
ツ素ガスの圧力を制御するレギユレータである。
12はウエハチヤツクで、スピンナーカツプ7の
中心に設置してある。13はレジスト滴下用のノ
ズルで、スピンナーカツプ7の側面から導入さ
れ、ノズル13の先端はウエハチヤツク12の中
心の上部に位置する。14はモーターで、ウエハ
チヤツク12に接続されている。15は電源、1
6はスイツチである。17は第1チツ素ガス導入
口3および第2チツ素ガス導入口9へのチツ素ガ
ス導入をオン・オフする電磁弁であり、IN側は
チツ素ガス供給部に接続されている。スイツチ1
6はモーター14および電磁弁17の起動スイツ
チとなつている。18はウエハの真空吸着配管、
19はウエハであり、ウエハ19は真空吸着配管
18によつてウエハチヤツク12に吸着される。
レジスト塗布作業において、まずウエハ19は
ウエハチヤツク12に載せられ、真空吸着配管1
8によつて吸着される。次にレジスト滴下用のノ
ズル13によりウエハ19上にレジストが滴下さ
れる。ここで、スイツチ16を投入することによ
つてモーター14が動作し、ウエハチヤツク12
が回転する。同時に電磁弁17が開放し、チツ素
ガスがスピンナーカツプカバー1の第1チツ素ガ
ス導入口3よりスピンナーカツプ7内に導入され
る。このチツ素ガスは、チツ素ガス分散板2によ
つてウエハ19の周辺部にブローされる。
このチツ素ガスブローの位置はウエハ19の径
により変化させなければならないが、本実施例で
はナツト6をゆるめチツ素ガス分散板2の支持具
5を長穴4内で移動させることによつて、チツ素
ガス分散板2とウエハ19の間隔を調整し、ブロ
ーの位置を変化させている。
排気口8からは常時排気がなされ、ウエハ19
上から飛散するレジストのミストは、第1整流板
10に整流されてチツ素ガスとともに排気口8か
ら強制的に排出される。また、スピンナーカツプ
7の第2チツ素ガス導入口9からもチツ素ガスが
導入され、第1整流板10によつてウエハ19の
裏面にブローされる。このチツ素ガスブローによ
つてウエハ19の裏面に付着しようとするレジス
トのミストを除去している。このときのチツ素ガ
ス圧力は、レギユレータ11によつて、スピンナ
ーカツプカバー1から導入されるチツ素ガス圧力
より低くし、ウエハ19の周辺部にブローされる
チツ素ガスの流れを妨げないようにしている。
レジスト膜形成後、スイツチ16を切り、モー
ター14を停止させる。同時に電磁弁17が閉じ
られチツ素ガスの導入も停止される。
(実施例 2) 第3図は本考案の第2の実施例を示す図であ
る。20はスピンナーカツプカバー1の外周に設
置した円形のチツ素ガスブロー開口部で、21は
第3チツ素ガス導入口、22は第2整流板であ
る。この実施例では、円形のチツ素ガスブロー開
口部20からブローされるチツ素ガスを、第2整
流板22によつてスピンナーカツプ7の内壁とほ
ぼ平行にブローしている。したがつて、ウエハチ
ヤツク12の回転初期に飛散する質量の大きいレ
ジストのかたまりであつても、スピンナーカツプ
7の内壁に付着させることなく排出可能であり、
かつ、チツ素ガス分散板2によつてブローされる
チツ素ガスによつてウエハ周辺部のレジストのミ
ストが素速く排気される。以上により実施例2で
は、スピンナーカツプ7の内壁へのレジスト付着
を防止でき、スピンナーカツプ7内を清浄に保つ
ことができるという利点がある。
第2の実施例において、チツ素ガスブロー開口
部20の第3チツ素ガス導入口21から導入され
るものは、気体に限つたものではなく、液体でも
良い。
(実施例 3) 第4図は本考案の第3の実施例を示す図であ
る。
23はキシレン、24はその容器、25はキシ
レン23を容器24から第3チツ素ガス導入口2
1を通してチツ素ガスブロー開口部20に送るポ
ンプであり、スイツチ16の投入により動作す
る。
この実施例では第2の実施例においてスピンナ
ーカツプ7の内壁付近をブローするチツ素ガスの
代りに、レジストを溶かすキシレン23をポンプ
25によつて流すため、第2実施例におけるスピ
ンナーカツプ7内を清浄に保つ効果がより高めら
れるという利点がある。
[考案の効果] 以上説明したように本考案は、ウエハを回転さ
せてレジスト膜を形成する際、ウエハ上部からウ
エハの外周部にチツ素ガスブローを行い、レジス
トのミストを強制的に排気口から排出し、かつ、
ウエハ裏面にもチツ素ガスをブローすることによ
つて、スピンナーカツプ内壁から跳ね返つて生じ
るウエハ表面およびウエハ裏面へのレジストのミ
スト付着を防止することができる。さらにウエハ
裏面側でのガス圧力を、ウエハ表面側でのレジス
トミスト除去に必要なガス流に影響を与えないよ
うに調整しているため、ウエハ周辺部でのガス流
の流れを妨げることがなく、レジストミストを確
実に排出口に排気する個とができる。したがつ
て、レジスト膜を均一に形成でき、かつ露光工程
でのピンホールおよびアライメント不良がなくな
るため、歩留りを向上できるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の第1の実施例を示す構成図、
第2図はスピンナーカツプカバーを示す平面図、
第3図aは本考案の第2の実施例を示す構成図、
第3図bはチツ素ガスブロー開口部を示す平面
図、第4図は本考案の第3の実施例を示す構成図
である。 1……スピンナーカツプカバー、2……チツ素
ガス分散板、3……第1チツ素ガス導入口、4…
…長穴、5……チツ素ガス分散板の支持具、6…
…ナツト、7……スピンナーカツプ、8……排気
口、9……第2チツ素ガス導入口、10……第1
整流板、11……レギユレータ、12……ウエハ
チヤツク、13……ノズル、14……モーター、
15……電源、16……スイツチ、17……電磁
弁、18……真空吸着配管、19……ウエハ、2
0……チツ素ガスブロー開口部、21……第3チ
ツ素ガス導入口、22……第2整流板、23……
キシレン、24……容器、25……ポンプ。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 ガス導入口の対と、ガス分散板と、整流板と、
    排気口とを有し、スピナーカツプ内でウエハチヤ
    ツク上のウエハにレジストを滴下させた後に、ウ
    エハチヤツクの回転によりウエハに遠心力を与
    え、レジストを塗布するレジスト塗布装置であつ
    て、 対をなす一方のガス導入口は、ウエハチヤツク
    の上方に下向きに設置され、他方のガス導入口
    は、ウエハチヤツクの下方に上向きに設置され、
    上方のガス導入口からのガス流と下方のガス導入
    口からのガス流との圧力比は、ウエハ周辺部での
    ブローに対応して調整されているものであり、 ガス分散板は、ウエハチヤツク上方のガス導入
    口からのガス流をウエハチヤツク上のウエハ周辺
    部に案内誘導するものであり、 整流板は、ウエハチヤツク下方のガス導入口か
    らのガスをウエハチヤツク上のウエハ裏面に沿つ
    て外周方向に向かうガス流に形成するものであ
    り、 排気口は、スピナーカツプの下部に設けられ、
    ガス導入口からのガス流によりブローされたレジ
    ストミストをスピナーカツプ外に強制排気するも
    のであることを特徴とするレジスト塗布装置。
JP1987081312U 1987-05-28 1987-05-28 Expired - Lifetime JPH0521864Y2 (ja)

Priority Applications (1)

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JP1987081312U JPH0521864Y2 (ja) 1987-05-28 1987-05-28

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JP1987081312U JPH0521864Y2 (ja) 1987-05-28 1987-05-28

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JPS63188940U JPS63188940U (ja) 1988-12-05
JPH0521864Y2 true JPH0521864Y2 (ja) 1993-06-04

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Citations (2)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5771666A (en) * 1980-10-20 1982-05-04 Seiko Epson Corp Apparatus for coating resist
JPS6271567A (ja) * 1985-09-26 1987-04-02 Sharp Corp スピンコ−テイング装置

Family Cites Families (1)

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JPS63188940U (ja) 1988-12-05

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