JPH04130429U - 回転塗布装置 - Google Patents

回転塗布装置

Info

Publication number
JPH04130429U
JPH04130429U JP4429691U JP4429691U JPH04130429U JP H04130429 U JPH04130429 U JP H04130429U JP 4429691 U JP4429691 U JP 4429691U JP 4429691 U JP4429691 U JP 4429691U JP H04130429 U JPH04130429 U JP H04130429U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
air supply
processing container
wafer
exhaust
cup
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP4429691U
Other languages
English (en)
Inventor
敦夫 服部
Original Assignee
ヤマハ株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ヤマハ株式会社 filed Critical ヤマハ株式会社
Priority to JP4429691U priority Critical patent/JPH04130429U/ja
Publication of JPH04130429U publication Critical patent/JPH04130429U/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Coating Apparatus (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 レジスト等の薬液をウエハに回転塗布する装
置において、塗布膜の膜厚均一性及び膜質を改善する。 【構成】 カップ10の中央部には被処理ウエハ12に
レジスト等の薬液を回転塗布する手段を設ける一方、カ
ップ10の底部には排気ホース26を接続して排気を行
なう。そして、カップ10内には給気ホース30,36
により空気等の気体を供給し、給気案内板32,給気案
内環38によりカップ内排気流の流量、方向等を制御す
べく給気を案内する。この結果、薬液ミストの排出が促
進され、ウエハ上面への薬液ミストの付着量が減る。ま
た、風速計40を用いるなどして排気量の低下を検知し
て給気量、給気方向等を制御するようにしてもよい。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
この考案は、レジスト等の薬液をウエハに回転塗布する装置の改良に関し、処 理容器内の排気流を制御すべく給気を案内する給気案内具を有する給気系を設け たことにより塗布膜の膜厚均一性及び膜質の向上を図ったものである。
【0002】
【従来の技術】
従来、半導体装置製造プロセス等にあっては、レジスト、SOG(スピンオン ガラス)、ポリイミド等の薬液を半導体ウエハの表面に塗布するために回転塗布 装置が広く用いられている。そして、この種の回転塗布装置としては、カップ状 の処理容器内において半導体ウエハを平面的に保持した状態でウエハ上面に薬液 を滴下した後該ウエハを高速で回転させることにより滴下薬液を遠心力によりウ エハ外周側へ広げて塗布膜を形成するようにしたものが知られている。
【0003】 このような回転塗布装置では、回転塗布時に薬液の微細な粒子からなるミスト がウエハの周辺に発生する。薬液ミストは、ウエハの回転によりウエハ上に発生 する渦流(ウエハに平行な面に回転の中心を有する空気の流れ)によってウエハ 上に舞い上り、塗布膜に付着して膜厚分布を不均一にしたり、膜質を劣化させた りするので、有害なものである。そこで、従来は、処理容器の底部に排気ホース を接続し、このホースを介して薬液ミストを排出していた。
【0004】
【考案が解決しようとする課題】
上記した従来の回転塗布装置において、処理容器内の排気流の流量や方向は、 ウエハ上面に付着する薬液ミストの量やウエハ外周部の膜厚の盛りあがりを決定 する上で重要なファクタである。しかし、処理容器から排気ホースを介して排気 するだけでは、処理容器内の排気流量や方向を微妙に制御することができず、膜 厚分布や膜質の改善が十分でなかった。
【0005】 また、塗布処理を何回か繰返しているうちに排気ホースの内壁において薬液ミ ストの付着量が徐々に増大するため排気量が低下し、膜厚不均一や膜質劣化を招 く不都合があった。
【0006】 この考案の目的は、塗布膜の膜厚均一性及び膜質を向上させることができる新 規な回転塗布装置を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】
この考案による回転塗布装置は、 (a)カップ状の処理容器と、 (b)この処理容器内に設けられ、被処理ウエハに薬液を回転塗布する塗布手 段と、 (c)前記薬液のミストを排出すべく前記処理容器に接続された排気管を有す る排気系と、 (d)前記処理容器内に気体を供給する給気系であって、前記処理容器内の排 気流を制御すべく給気を前記被処理ウエハの外周より外方へ案内する給気案内具 を有するものと をそなえたものである。
【0008】 このような構成においては、前記処理容器からの排気流の状態(流速、流量等 )を検知する検知手段と、この検知手段の検知出力に応じて前記処理容器への給 気の流れ(流量、流出方向等)を制御する制御手段とを更に設けてもよい。
【0009】
【作用】
この考案の構成によれば、処理容器内の排気流を制御すべく給気を案内する給 気案内具を有する給気系を設けたので、処理容器内の排気流の流量や方向を微妙 に制御し且つウエハ上に発生する渦流を抑制することができると共に薬液ミスト の排出を促進することができる。従ってウエハ上面への薬液ミストの付着量を減 らすことができる。
【0010】 また、上記したように検知手段及び制御手段を設けると、処理容器内の排気流 を一層きめ細かに制御することができる。
【0011】
【実施例】
図1は、この考案の一実施例による回転塗布装置を示すもので、この装置は、 処理容器としてのカップ10内に空気等の気体を供給し、給気の流れをウエハ外 周より外方へ案内することで排気流を制御するようにしたことを特徴とするもの である。
【0012】 図1において、カップ10の中央部には半導体ウエハ等の被処理ウエハ12を 吸引保持するチャック14が設けられており、チャック14はウエハ12を平面 的に保持した状態で回転すべくモータ16によって駆動されるようになっている 。滴下ノズル18は、ウエハ12の上面にレジスト20等の薬液を滴下するため のもので、図1に示す滴下位置とカップ10の外方の待機位置との間で移動自在 に設けられている。
【0013】 カップ10の底面には、チャック14の下方でチャック14を取囲むように排 液阻止板22Aが設けられている。カップ10の底面は、一方側より他方側が低 くなるように傾斜しており、低い方の底部には排液LQを導出するための排液ホ ース24が設けられ、高い方の底部には排気GSを導出するための排気ホース2 6が設けられている。カップ10の底面において、ホース24の取付部近傍には 排液がチャック14側に入るのを阻止すべく排液阻止板22Bが設けられると共 に、ホース26の取付部近傍には排液がホース26及びチャック14側に入るの を阻止すべく排液阻止板22Cが設けられている。
【0014】 給気源28は、モータで駆動される送風機等を含むもので、給気ホース30を 介してカップ10内に空気を供給するようになっている。カップ10内には、チ ャック14の下方に給気案内板32が設けられており、案内板32はホース30 からの給気の流れを矢印Pで示すようにウエハ12の外周側に向けて放射状に案 内するようになっている。
【0015】 給気源34は、モータで駆動される送風機等を含むもので、給気ホース36を 介してカップ10内に空気を供給するようになっている。カップ10の上部には 、その開口端に沿って環状に給気案内環38が設けられており、案内環38はホ ース36からの給気の流れを矢印Qで示すようにウエハ12の外周近傍からカッ プ10の底面側に案内するようになっている。案内環38による給気案内は、カ ップ10の開口端に沿って環状に行なわれる。なお、排気ホース26の出口は、 工場排気路(図示せず)に接続されている。
【0016】 一例として、レジストを回転塗布する場合、図1に示すように滴下ノズル18 によりウエハ12上に所要量のレジスト20を滴下する。そして、滴下ノズル1 8をカップ10外の待機位置に戻してからモータ16を始動させてウエハ12を 所定方向に高速回転させる。この結果、レジスト20はウエハ12の外周側まで 遠心力により広がり、ウエハ12上にはレジスト塗布膜が形成される。この後は 、ウエハ12をチャック14から取外し、次のベーキング処理等に移ることがで きる。
【0017】 回転塗布処理中は、案内板32による給気案内と案内環38による給気案内と が相俟ってウエハ12上での渦流発生を抑制し且つウエハ12の近傍の薬液ミス トをカップ10の底部に導くので、薬液ミストは排気ホース26を介して効率的 に排出される。従って、ウエハ上面への薬液ミストの付着量が減り、塗布膜の膜 厚均一性及び膜質が向上する。
【0018】 また、排気ホース26を介しての薬液ミストの排出が促進されるので、ホース 26の内壁への薬液ミストの付着量が減り、排気量の低下が抑制される。従って 、このことによっても膜厚均一性及び膜質が向上する。
【0019】 操作員は、良好な膜厚分布及び膜質が得られるように給気源28,34からの 給気量や案内具32,38からの給気流出方向等を調整することができるが、こ のような調整を自動的に遂行させるようにしてもよい。
【0020】 給気量調整について一例を示すと、排気ホース26の途中(あるいは入口又は 入口近傍)に風速計40を設ける。排気ホース26の内部が薬液ミストの付着等 により汚染してくると、排気流の風速が低下するので、風速計40で排気流の風 速を測定すればその測定信号はホース内汚染度を反映したものとなる。そこで、 風速計40からの測定信号を給気制御装置42に供給し、ホース内汚染度に応じ て給気源28,34の給気量を最適に制御する。また、風速計40からの測定信 号に応じて案内具32及び/又は38からの給気流出方向を制御する制御装置を 設けてもよい。
【0021】 上記実施例において、給気系は、給気源28又は34のいずれか一方の系統の み設けるようにしてもよい。また、供給すべき気体としては、空気の代りに不活 性ガス等を用いてもよい。
【0022】 なお、この考案の回転塗布装置は、レジストに限らず、SOG、ポリイミド等 の塗布にも使用可能である。また、被処理ウエハとしては、半導体ウエハに限ら ず、マスク基板等も用いることができる。
【0023】
【考案の効果】
以上のように、この考案によれば、処理容器内に気体を供給し、その流れを案 内することにより処理容器内の排気流の流量や方向を制御するようにしたので、 薬液ミストの排出を促進すると共にウエハ上での渦流発生を抑制することができ る。従って、ウエハ上面への薬液ミストの付着量を減らすことができ、塗布膜の 膜厚均一性及び膜質が向上する効果が得られるものである。
【0024】 その上、排気流の状態を検知して給気の流れを制御する構成にすれば、膜厚均 一性及び膜質を一層向上させることができると共に給気調整に要する時間と労力 を節約できる効果もある。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この考案の一実施例による回転塗布装置を示
す断面図である。
【符号の説明】
10…カップ、12…被処理ウエハ、14…チャック、
16…モータ、18…滴下ノズル、20…レジスト、2
6…排気ホース、28,34…給気源、30,36…給
気ホース、32…給気案内板、38…給気案内環、40
…風速計、42…給気制御装置。

Claims (2)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】(a)カップ状の処理容器と、(b)この
    処理容器内に設けられ、被処理ウエハに薬液を回転塗布
    する塗布手段と、(c)前記薬液のミストを排出すべく
    前記処理容器に接続された排気管を有する排気系と、
    (d)前記処理容器内に気体を供給する給気系であっ
    て、前記処理容器内の排気流を制御すべく給気を前記被
    処理ウエハの外周より外方へ案内する給気案内具を有す
    るものとをそなえた回転塗布装置。
  2. 【請求項2】(a)カップ状の処理容器と、(b)この
    処理容器内に設けられ、被処理ウエハに薬液を回転塗布
    する塗布手段と、(c)前記薬液のミストを排出すべく
    前記処理容器に接続された排気管を有する排気系と、
    (d)前記処理容器内に気体を供給する給気系であっ
    て、前記処理容器内の排気流を制御すべく給気を前記被
    処理ウエハの外周より外方へ案内する給気案内具を有す
    るものと、(e)前記処理容器からの排気流の状態を検
    知する検知手段と、(f)この検知手段の検知出力に応
    じて前記処理容器への給気の流れを制御する制御手段と
    をそなえた回転塗布装置。
JP4429691U 1991-05-17 1991-05-17 回転塗布装置 Pending JPH04130429U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4429691U JPH04130429U (ja) 1991-05-17 1991-05-17 回転塗布装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4429691U JPH04130429U (ja) 1991-05-17 1991-05-17 回転塗布装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04130429U true JPH04130429U (ja) 1992-11-30

Family

ID=31924473

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4429691U Pending JPH04130429U (ja) 1991-05-17 1991-05-17 回転塗布装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH04130429U (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017098333A (ja) * 2015-11-19 2017-06-01 東京エレクトロン株式会社 基板処理方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017098333A (ja) * 2015-11-19 2017-06-01 東京エレクトロン株式会社 基板処理方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0110558B1 (en) Method and apparatus for use in developing resist film
US20120255581A1 (en) Cleaning and drying-preventing method, and cleaning and drying-preventing apparatus
JPS6377569A (ja) 基板の回転式表面処理装置
US20020162574A1 (en) Method and apparatus for cleaning treatment
EP0454314A2 (en) Method and apparatus for applying a layer of fluid material on a semiconductor wafer
US20220288627A1 (en) Spin dispenser module substrate surface protection system
US6391110B1 (en) Method and apparatus for cleaning treatment
JPH04130429U (ja) 回転塗布装置
JP4484880B2 (ja) 溶剤を飽和させたチャンバ内でポリマー溶液を基板に塗布する方法及び装置
JP2002170803A (ja) 基板処理装置
US4791880A (en) Device for developing treatment of semiconductor materials
US20070254098A1 (en) Apparatus for single-substrate processing with multiple chemicals and method of use
JP3160832B2 (ja) 塗布膜形成方法及びその装置
US6893504B1 (en) Multi-port chemical dispense
JPH07263324A (ja) 吸引チャック式基板回転処理装置
JPS59217329A (ja) スピンナ装置
JPH04130431U (ja) 回転塗布装置
US20040013797A1 (en) Centrifugal swing arm spray processor
JP2558490B2 (ja) 現像装置
JP4029066B2 (ja) 基板処理装置
JPH08255789A (ja) 処理装置及び処理方法
JPS6165435A (ja) 基板表面処理方法および装置
JPH08255745A (ja) 塗布膜形成方法及びその装置
JPH0521864Y2 (ja)
JP4447673B2 (ja) スピン処理装置