JPH05149716A - コーナ検出方法 - Google Patents
コーナ検出方法Info
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- JPH05149716A JPH05149716A JP3316396A JP31639691A JPH05149716A JP H05149716 A JPH05149716 A JP H05149716A JP 3316396 A JP3316396 A JP 3316396A JP 31639691 A JP31639691 A JP 31639691A JP H05149716 A JPH05149716 A JP H05149716A
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- corner
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Abstract
(57)【要約】
【構成】 正方形の領域Ａとこの領域Ａに含まれかつ中
心位置が一致する正方形の領域Ｂとからなるウィンドウ
Ｗを、直角コーナを有する電子部品１の画像を含む入力
画像データＤ1 に対して走査し、上記電子部品１とウィ
ンドウＷの上記領域Ａおよび領域Ｂとが重なりあう面積
を検出し、その面積が各領域Ａ、Ｂについてその領域の
１／４になったときに上記ウィンドウＷ（領域Ｂ）の中
心座標をこの電子部品１のコーナ位置として検出するよ
うにしたものである。 【効果】 このような構成によれば、いちいち電子部品
の形状に合わせて複数個の辞書画像データを登録するこ
となく、上記電子部品のコーナ位置を求めることがで
き、また電子部品の傾き角が大きくても、この電子部品
のコーナ位置を正確に求めることができる
心位置が一致する正方形の領域Ｂとからなるウィンドウ
Ｗを、直角コーナを有する電子部品１の画像を含む入力
画像データＤ1 に対して走査し、上記電子部品１とウィ
ンドウＷの上記領域Ａおよび領域Ｂとが重なりあう面積
を検出し、その面積が各領域Ａ、Ｂについてその領域の
１／４になったときに上記ウィンドウＷ（領域Ｂ）の中
心座標をこの電子部品１のコーナ位置として検出するよ
うにしたものである。 【効果】 このような構成によれば、いちいち電子部品
の形状に合わせて複数個の辞書画像データを登録するこ
となく、上記電子部品のコーナ位置を求めることがで
き、また電子部品の傾き角が大きくても、この電子部品
のコーナ位置を正確に求めることができる
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、画像処理によって、
直角コーナを有する図形、例えば矩形状の電子部品の各
コーナの位置を求めるコーナ検出方法に関する。
直角コーナを有する図形、例えば矩形状の電子部品の各
コーナの位置を求めるコーナ検出方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】例えば、電子部品を回路基板の表面に実
装する場合においては、多くの電子部品が収納された部
品トレイから電子部品吸着ノズル（以下ノズルと称す
る）によって上記電子部品を一つずつ取り出し、これを
上記回路基板上に搬送して装着するということが行われ
ている。
装する場合においては、多くの電子部品が収納された部
品トレイから電子部品吸着ノズル（以下ノズルと称す
る）によって上記電子部品を一つずつ取り出し、これを
上記回路基板上に搬送して装着するということが行われ
ている。
【０００３】ところで、上記電子部品は上記回路基板の
所定の位置に所定の姿勢で装着されなければならない。
ところが、上記部品トレイから上記電子部品を取り出す
際、あるいは、この電子部品を上記トレイから回路基板
に搬送する間に、回転したり上記ノズルの吸着位置がず
れてしまうということがある。このような場合、上記ノ
ズルを回転させたり上記電子部品の座標データを補正し
たりして、上記電子部品の位置および姿勢の補正をしな
ければならない。
所定の位置に所定の姿勢で装着されなければならない。
ところが、上記部品トレイから上記電子部品を取り出す
際、あるいは、この電子部品を上記トレイから回路基板
に搬送する間に、回転したり上記ノズルの吸着位置がず
れてしまうということがある。このような場合、上記ノ
ズルを回転させたり上記電子部品の座標データを補正し
たりして、上記電子部品の位置および姿勢の補正をしな
ければならない。
【０００４】このために、従来、上記吸着保持された電
子部品を撮像し、上記電子部品の入力画像データに基づ
いてこの電子部品の位置および姿勢を検出するというこ
とが行われている。
子部品を撮像し、上記電子部品の入力画像データに基づ
いてこの電子部品の位置および姿勢を検出するというこ
とが行われている。
【０００５】このように電子部品の位置および傾き角を
求める方法としては例えばパターンマッチング法があ
る。これは、例えば図５に示す画像データＤ1における
電子部品１の各コーナに対する各辞書画像データＤａ〜
Ｄｄ（図６に示す（ａ）〜（ｄ））を用意し、上記画像
データＤ1 に対して辞書画像データＤａ〜Ｄｄと同一大
のウィンドウＷを例えば左上の座標位置（０、０）を始
点として走査して各辞書画像データＤａ〜Ｄｄと電子部
品１とが最も一致する箇所を検出するものである。
求める方法としては例えばパターンマッチング法があ
る。これは、例えば図５に示す画像データＤ1における
電子部品１の各コーナに対する各辞書画像データＤａ〜
Ｄｄ（図６に示す（ａ）〜（ｄ））を用意し、上記画像
データＤ1 に対して辞書画像データＤａ〜Ｄｄと同一大
のウィンドウＷを例えば左上の座標位置（０、０）を始
点として走査して各辞書画像データＤａ〜Ｄｄと電子部
品１とが最も一致する箇所を検出するものである。
【０００６】このパターンマッチング法によれば、これ
ら辞書画像データＤａ〜Ｄｄと最も一致する各箇所は、
上記電子部品１の各コーナであるから、これにより、上
記電子部品１の位置および傾き角を算出することができ
る。
ら辞書画像データＤａ〜Ｄｄと最も一致する各箇所は、
上記電子部品１の各コーナであるから、これにより、上
記電子部品１の位置および傾き角を算出することができ
る。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】ところで、このような
パターンマッチング法では、あらかじめ各辞書画像デー
タＤａ〜Ｄｄを作成する必要がある。
パターンマッチング法では、あらかじめ各辞書画像デー
タＤａ〜Ｄｄを作成する必要がある。
【０００８】また、上記電子部品１の傾き角が大きい
（図５に示す状態）と、辞書画像データＤａ〜Ｄｄに対
する被マッチング画像の形が異なってくるためにマッチ
ングの度合いが悪くなり、各コーナの位置を正確に求め
ることができないということがある。
（図５に示す状態）と、辞書画像データＤａ〜Ｄｄに対
する被マッチング画像の形が異なってくるためにマッチ
ングの度合いが悪くなり、各コーナの位置を正確に求め
ることができないということがある。
【０００９】さらに、図５に示す電子部品のように形状
が単純（４つのコーナからなる矩形）であれば、辞書画
像データは４つで良いが、形状が複雑になると辞書画像
データの数が増加して処理時間が長くなると共に、マッ
チングの度合いが悪くなり、正確にコーナ位置をもとめ
ることが困難になるということもある。
が単純（４つのコーナからなる矩形）であれば、辞書画
像データは４つで良いが、形状が複雑になると辞書画像
データの数が増加して処理時間が長くなると共に、マッ
チングの度合いが悪くなり、正確にコーナ位置をもとめ
ることが困難になるということもある。
【００１０】この発明は、このような事情に鑑みて成さ
れたもので、複数の辞書画像データを用いることなく、
また被計測図形の傾き角が大きくても、この図形のコー
ナ位置を正確に求めることができるコーナ検出方法を提
供することを目的とするものである。
れたもので、複数の辞書画像データを用いることなく、
また被計測図形の傾き角が大きくても、この図形のコー
ナ位置を正確に求めることができるコーナ検出方法を提
供することを目的とするものである。
【００１１】
【課題を解決するための手段】この発明は、正方形ある
いは円形の第１の計測領域と、上記第１の計測領域に含
まれかつ中心位置が一致する正方形あるいは円形の第２
の計測領域とからなる計測エリアを、コーナが直角をな
す被計測図形を含む入力画像データに対して走査し、上
記図形と上記計測エリアの上記第１の計測領域および第
２の計測領域の各々とが重なりあう面積を計測し、その
各面積がともに各計測領域の１／４になったときに上記
計測エリアの中心位置をこの被計測図形のコーナ位置と
して検出することを特徴とする。
いは円形の第１の計測領域と、上記第１の計測領域に含
まれかつ中心位置が一致する正方形あるいは円形の第２
の計測領域とからなる計測エリアを、コーナが直角をな
す被計測図形を含む入力画像データに対して走査し、上
記図形と上記計測エリアの上記第１の計測領域および第
２の計測領域の各々とが重なりあう面積を計測し、その
各面積がともに各計測領域の１／４になったときに上記
計測エリアの中心位置をこの被計測図形のコーナ位置と
して検出することを特徴とする。
【００１２】
【作用】このような構成によれば、計測エリアを画像デ
ータに対して走査することで電子部品の各コーナの位置
を検出することができる。
ータに対して走査することで電子部品の各コーナの位置
を検出することができる。
【００１３】
【実施例】以下、この発明の一実施例を図１〜図３を参
照して説明する。
照して説明する。
【００１４】図１中Ｄ1 は画像メモリに記憶された入力
画像データである。この入力画像データＤ1 は、図示し
ない２値化処理手段によって各画素の濃淡が検出され、
被計測図形としての電子部品１の部分を例えばハイレベ
ル、それ以外の部分をローレベルとして２値化処理され
るものである。
画像データである。この入力画像データＤ1 は、図示し
ない２値化処理手段によって各画素の濃淡が検出され、
被計測図形としての電子部品１の部分を例えばハイレベ
ル、それ以外の部分をローレベルとして２値化処理され
るものである。
【００１５】このコーナ検出方法は、入力画像データＤ
1 に対して、図に示す計測エリアとしてのウィンドウＷ
を例えば左上の座標位置（０、０）を始点として図に矢
印（イ）で示すように一画素ずつずらし、画面右下まで
走査する。
1 に対して、図に示す計測エリアとしてのウィンドウＷ
を例えば左上の座標位置（０、０）を始点として図に矢
印（イ）で示すように一画素ずつずらし、画面右下まで
走査する。
【００１６】上記ウィンドウＷは図に示すように、第１
の計測領域としての正方形の領域Ａと、この領域Ａに含
まれかつ中心位置が一致する第２の計測領域としての正
方形の領域Ｂとからなるものである。
の計測領域としての正方形の領域Ａと、この領域Ａに含
まれかつ中心位置が一致する第２の計測領域としての正
方形の領域Ｂとからなるものである。
【００１７】このコーナ検出方法は、このウィンドウＷ
を走査すると共に、このウィンドウＷの領域Ａおよび領
域Ｂと上記電子部品１（ハイレベルの部分）との重なり
あう面積（画素数）を算出する。
を走査すると共に、このウィンドウＷの領域Ａおよび領
域Ｂと上記電子部品１（ハイレベルの部分）との重なり
あう面積（画素数）を算出する。
【００１８】そして、このコーナ検出方法は、例えば、
傾き角がない電子部品１については、図２に示すよう
に、上記重なりあう面積が上記ウィンドウＷの領域Ａに
ついてその１／４、かつ領域Ｂについてもその１／４と
なったとき、このウィンドウＷ（領域Ｂ）の中心点Ｃの
座標をこの電子部品１のコーナの位置として検出する。
傾き角がない電子部品１については、図２に示すよう
に、上記重なりあう面積が上記ウィンドウＷの領域Ａに
ついてその１／４、かつ領域Ｂについてもその１／４と
なったとき、このウィンドウＷ（領域Ｂ）の中心点Ｃの
座標をこの電子部品１のコーナの位置として検出する。
【００１９】一方、このコーナ検出方法は、傾いている
電子部品１についても、同様にしてコーナの算出を行う
ことができる。すなわち、図３（ａ）に示すように、こ
の電子部品１のコーナが上記領域Ｂの中心点Ｃに一致し
ている場合には、図３（ｂ）に示すように三角形Ｃａｂ
と三角形Ｃａ´ｂ´とは同じ大きさでかつ同じ形状であ
るから、このとき上記電子部品は図に斜線で示すように
上記各領域ＡおよびＢの１／４の面積を占めていること
が証明されるからである。
電子部品１についても、同様にしてコーナの算出を行う
ことができる。すなわち、図３（ａ）に示すように、こ
の電子部品１のコーナが上記領域Ｂの中心点Ｃに一致し
ている場合には、図３（ｂ）に示すように三角形Ｃａｂ
と三角形Ｃａ´ｂ´とは同じ大きさでかつ同じ形状であ
るから、このとき上記電子部品は図に斜線で示すように
上記各領域ＡおよびＢの１／４の面積を占めていること
が証明されるからである。
【００２０】したがって、このコーナ検出方法は、電子
部品１の傾き角の大小に関係なく、この電子部品１と上
記ウィンドウＷの重なりあう面積を算出することによ
り、上記電子部品１の各コーナの位置を正確に検出する
ことができる。また、このコーナ検出方法は、上記電子
部品の他の３コーナについても、図１に示すように、上
述のコーナと同じようにしてその座標を求めていく。
部品１の傾き角の大小に関係なく、この電子部品１と上
記ウィンドウＷの重なりあう面積を算出することによ
り、上記電子部品１の各コーナの位置を正確に検出する
ことができる。また、このコーナ検出方法は、上記電子
部品の他の３コーナについても、図１に示すように、上
述のコーナと同じようにしてその座標を求めていく。
【００２１】このような構成によれば、従来例のよう
に、いちいち電子部品１の形状に合わせて複数個の辞書
画像データ（図６に示す）を登録することなく、電子部
品１の各コーナ位置を検出することができ、また電子部
品１の傾き角が大きくても、この電子部品１のコーナの
位置を正確に求めることができる。なお、この発明は、
上記一実施例に限定されるものではなく、発明の要旨を
変更しない範囲で種々変形可能である。
に、いちいち電子部品１の形状に合わせて複数個の辞書
画像データ（図６に示す）を登録することなく、電子部
品１の各コーナ位置を検出することができ、また電子部
品１の傾き角が大きくても、この電子部品１のコーナの
位置を正確に求めることができる。なお、この発明は、
上記一実施例に限定されるものではなく、発明の要旨を
変更しない範囲で種々変形可能である。
【００２２】例えば、上記一実施例では、上記ウィンド
ウＷは、相似形の外形を有する領域Ａと領域Ｂの２つの
領域からなるものであったが、この領域Ｂの内側にさら
に相似形の外形を持ちかつ中心位置が一致する領域Ｃ、
Ｄ、…を設け、３つ以上の領域からなるものとしても良
い。
ウＷは、相似形の外形を有する領域Ａと領域Ｂの２つの
領域からなるものであったが、この領域Ｂの内側にさら
に相似形の外形を持ちかつ中心位置が一致する領域Ｃ、
Ｄ、…を設け、３つ以上の領域からなるものとしても良
い。
【００２３】また、ウィンドウＷの領域Ａ、Ｂは共に正
方形であったが、共に円形であっても良く、領域Ａが円
形で領域Ｂが正方形であっても良く、領域Ａが正方形で
領域Ｂが円形であっても良い。このような構成であって
も同様の効果を得ることができる。
方形であったが、共に円形であっても良く、領域Ａが円
形で領域Ｂが正方形であっても良く、領域Ａが正方形で
領域Ｂが円形であっても良い。このような構成であって
も同様の効果を得ることができる。
【００２４】たとえば、図４に示すように、領域Ａおよ
び領域Ｂが共に円形であるウィンドウＷ´の場合におい
て、上記電子部品１が傾いているときには、図３（ｂ）
と同様に、扇形Ｃａｂと扇形Ｃａ´ｂ´とは同じ大きさ
でかつ同じ形状であるから、このとき斜線で示すように
上記電子部品１は上記領域ＡおよびＢの１／４の面積を
占めていることが証明され、このウィンドウＷ´の中心
点Ｃはコーナ位置となる。
び領域Ｂが共に円形であるウィンドウＷ´の場合におい
て、上記電子部品１が傾いているときには、図３（ｂ）
と同様に、扇形Ｃａｂと扇形Ｃａ´ｂ´とは同じ大きさ
でかつ同じ形状であるから、このとき斜線で示すように
上記電子部品１は上記領域ＡおよびＢの１／４の面積を
占めていることが証明され、このウィンドウＷ´の中心
点Ｃはコーナ位置となる。
【００２５】さらに、上記一実施例では、入力画像デー
タＤ1 中の電子部品１は四角形であったが、各コーナが
直角をなすものであれば、コーナが多いものであっても
対応することができる。
タＤ1 中の電子部品１は四角形であったが、各コーナが
直角をなすものであれば、コーナが多いものであっても
対応することができる。
【００２６】また、上記一実施例では、被計測図形とし
て電子部品１を例に挙げたが、電子部品１に限定される
ものではなく、要は直角コーナをもつ図形であればこの
発明のコーナ検出方法によりコーナ位置を検出すること
ができる。
て電子部品１を例に挙げたが、電子部品１に限定される
ものではなく、要は直角コーナをもつ図形であればこの
発明のコーナ検出方法によりコーナ位置を検出すること
ができる。
【００２７】
【発明の効果】以上のべたように、この発明のコーナ検
出方法は、正方形あるいは円形の第１の計測領域と、上
記第１の計測領域に含まれかつ中心位置が一致する正方
形あるいは円形の第２の計測領域とからなる計測エリア
を、コーナが直角をなす被計測図形を含む入力画像デー
タに対して走査し、上記図形と上記計測エリアの上記第
１の計測領域および第２の計測領域の各々とが重なりあ
う面積を計測し、その各面積がともに各計測領域の１／
４になったときに上記計測エリアの中心位置をこの被計
測図形のコーナ位置として検出するようにしたものであ
る。
出方法は、正方形あるいは円形の第１の計測領域と、上
記第１の計測領域に含まれかつ中心位置が一致する正方
形あるいは円形の第２の計測領域とからなる計測エリア
を、コーナが直角をなす被計測図形を含む入力画像デー
タに対して走査し、上記図形と上記計測エリアの上記第
１の計測領域および第２の計測領域の各々とが重なりあ
う面積を計測し、その各面積がともに各計測領域の１／
４になったときに上記計測エリアの中心位置をこの被計
測図形のコーナ位置として検出するようにしたものであ
る。
【００２８】このような構成によれば、いちいち被計測
図形の形状に合わせて複数個の辞書画像データを登録す
ることなく、上記被計測図形のコーナ位置を求めること
ができ、また被計測図形の傾き角が大きくても、この被
計測図形のコーナ位置を正確に求めることができる。
図形の形状に合わせて複数個の辞書画像データを登録す
ることなく、上記被計測図形のコーナ位置を求めること
ができ、また被計測図形の傾き角が大きくても、この被
計測図形のコーナ位置を正確に求めることができる。
【図１】この発明の一実施例を示す構成図。
【図２】同じく、傾き角がない電子部品のコーナの検出
を示す説明図。
を示す説明図。
【図３】同じく、（ａ）、（ｂ）は傾き角が大きい電子
部品のコーナの検出を示す説明図。
部品のコーナの検出を示す説明図。
【図４】他の実施例の計測エリアによるコーナの検出を
示す説明図。
示す説明図。
【図５】従来例を示す構成図。
【図６】同じく、（ａ）〜（ｄ）は辞書画像データを示
す構成図。
す構成図。
１…電子部品（被計測図形）、Ａ…領域Ａ（第１の領
域）、Ｂ…領域Ｂ（他の領域）、Ｗ…ウィンドウ（計測
エリア）、Ｄ1 …入力画像データ。
域）、Ｂ…領域Ｂ（他の領域）、Ｗ…ウィンドウ（計測
エリア）、Ｄ1 …入力画像データ。
Claims (1)
- 【請求項１】 正方形あるいは円形の第１の計測領域
と、上記第１の計測領域に含まれかつ中心位置が一致す
る正方形あるいは円形の第２の計測領域とからなる計測
エリアを、コーナが直角をなす被計測図形を含む入力画
像データに対して走査し、上記図形と上記計測エリアの
上記第１の計測領域および第２の計測領域の各々とが重
なりあう面積を計測し、その各面積がともに各計測領域
の１／４になったときに上記計測エリアの中心位置をこ
の被計測図形のコーナ位置として検出することを特徴と
するコーナ検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3316396A JPH05149716A (ja) | 1991-11-29 | 1991-11-29 | コーナ検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3316396A JPH05149716A (ja) | 1991-11-29 | 1991-11-29 | コーナ検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05149716A true JPH05149716A (ja) | 1993-06-15 |
Family
ID=18076614
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3316396A Pending JPH05149716A (ja) | 1991-11-29 | 1991-11-29 | コーナ検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05149716A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7054477B2 (en) * | 2002-11-13 | 2006-05-30 | Uni-Tek System, Inc. | Automatic accurate alignment method for a semiconductor wafer cutting apparatus |
| JP2007058436A (ja) * | 2005-08-23 | 2007-03-08 | Juki Corp | 部品の位置決め方法及び装置 |
| JP2012118638A (ja) * | 2010-11-29 | 2012-06-21 | Fujitsu Ltd | 抽出装置、抽出方法、および抽出プログラム |
| JP2013057661A (ja) * | 2011-08-16 | 2013-03-28 | Ricoh Co Ltd | 画像検査装置、画像形成装置、画像検査方法及び画像形成システム |
| WO2018174011A1 (ja) * | 2017-03-22 | 2018-09-27 | 住友重機械工業株式会社 | 位置検出装置及び位置検出方法 |
| CN111006625A (zh) * | 2019-11-14 | 2020-04-14 | 郑州海为电子科技有限公司 | 平面位移测量装置、平面运动设备及其使用方法 |
-
1991
- 1991-11-29 JP JP3316396A patent/JPH05149716A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7054477B2 (en) * | 2002-11-13 | 2006-05-30 | Uni-Tek System, Inc. | Automatic accurate alignment method for a semiconductor wafer cutting apparatus |
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| CN111006625A (zh) * | 2019-11-14 | 2020-04-14 | 郑州海为电子科技有限公司 | 平面位移测量装置、平面运动设备及其使用方法 |
| CN111006625B (zh) * | 2019-11-14 | 2021-04-27 | 郑州海为电子科技有限公司 | 平面位移测量装置、平面运动设备及其使用方法 |
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