JP3345496B2 - 電子部品の位置検出方法 - Google Patents
電子部品の位置検出方法Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、電子部品を画像認識装
置の視野に納めて位置検出を行う位置検出方法に係り、
特に、電子部品の全体を１つの視野に納めることができ
ないものの位置検出方法に関する。
置の視野に納めて位置検出を行う位置検出方法に係り、
特に、電子部品の全体を１つの視野に納めることができ
ないものの位置検出方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】四方に多数のリード（ピン）を突出形成
されたＩＣ部品等の電子部品を基板上に装着する場合、
当該電子部品を吸着する吸着ノズルに中心と、電子部品
の中心とを一致させて、電子部品を吸着ノズルによって
吸着保持することが望ましいが、実際には電子部品が吸
着ノズルの中心と同心状に吸着されるのは希であるた
め、電子部品の装着時には、電子部品を吸着ノズルで吸
着した状態でその吸着位置を検出し、この検出に基づい
て装着位置の補正を行って、電子部品を基板上に正確に
装着している。
されたＩＣ部品等の電子部品を基板上に装着する場合、
当該電子部品を吸着する吸着ノズルに中心と、電子部品
の中心とを一致させて、電子部品を吸着ノズルによって
吸着保持することが望ましいが、実際には電子部品が吸
着ノズルの中心と同心状に吸着されるのは希であるた
め、電子部品の装着時には、電子部品を吸着ノズルで吸
着した状態でその吸着位置を検出し、この検出に基づい
て装着位置の補正を行って、電子部品を基板上に正確に
装着している。
【０００３】前記電子部品の位置を検出する方法の一例
として、従来、特開平１ー２７４２８１号公報に記載の
位置検出方法が提供されている。この位置検出方法は、
電子部品の第１の角部を画像認識装置の視野に納めて第
１の特定箇所の位置を検出し、次に前記視野を移動して
第１の角部と隣り合う第２の角部を視野に納めて第２の
特定箇所の位置を検出し、さらに前記視野を移動して前
記第１の角部と対角線上に位置する第３の角部を視野に
納めて第３の特定箇所の位置を検出し、上記第１と第２
の特定箇所の検出位置から電子部品における第１の点の
位置を特定し、上記第２と第３の特定箇所の検出位置か
ら前記第１の点とは電子部品の中心に対して対称位置に
ある第２の点の位置を特定し、これら第１と第２の点の
中点の座標を演算して電子部品の中心位置を検出する方
法である。
として、従来、特開平１ー２７４２８１号公報に記載の
位置検出方法が提供されている。この位置検出方法は、
電子部品の第１の角部を画像認識装置の視野に納めて第
１の特定箇所の位置を検出し、次に前記視野を移動して
第１の角部と隣り合う第２の角部を視野に納めて第２の
特定箇所の位置を検出し、さらに前記視野を移動して前
記第１の角部と対角線上に位置する第３の角部を視野に
納めて第３の特定箇所の位置を検出し、上記第１と第２
の特定箇所の検出位置から電子部品における第１の点の
位置を特定し、上記第２と第３の特定箇所の検出位置か
ら前記第１の点とは電子部品の中心に対して対称位置に
ある第２の点の位置を特定し、これら第１と第２の点の
中点の座標を演算して電子部品の中心位置を検出する方
法である。
【０００４】つまり、電子部品の３つの角部の位置情報
を用いて、対角線上の２つの点の位置検出を行い、この
２つの点の中点を求めて、電子部品の中心位置を検出す
ることにより、精度の高い位置検出を可能にし、かつデ
ータ処理を容易にするものである。
を用いて、対角線上の２つの点の位置検出を行い、この
２つの点の中点を求めて、電子部品の中心位置を検出す
ることにより、精度の高い位置検出を可能にし、かつデ
ータ処理を容易にするものである。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ところが、前記従来の
位置検出方法では、３つの角部を画像認識装置の視野に
納めて、この３つの角部からの位置情報を用いて電子部
品の中心位置を求めるため、画像認識装置のカメラを３
つの角部に移動させる必要がある。一方、電子部品の装
着は、迅速かつ正確に行うことが要求され、装着時間が
電子部品のコストに影響を与えるため、装着時間を短く
するためにも、電子部品の中心位置をなるべく速く検出
する必要がある。このため、前記のようにカメラを３つ
の角部に移動させるのでは、中心位置の検出に時間がか
かるとともに、３つの角部からの位置情報から中心位置
を求めるため演算速度が遅くなり、結局のところ電子部
品の中心位置の検出の処理時間が長くなるという問題が
あった。
位置検出方法では、３つの角部を画像認識装置の視野に
納めて、この３つの角部からの位置情報を用いて電子部
品の中心位置を求めるため、画像認識装置のカメラを３
つの角部に移動させる必要がある。一方、電子部品の装
着は、迅速かつ正確に行うことが要求され、装着時間が
電子部品のコストに影響を与えるため、装着時間を短く
するためにも、電子部品の中心位置をなるべく速く検出
する必要がある。このため、前記のようにカメラを３つ
の角部に移動させるのでは、中心位置の検出に時間がか
かるとともに、３つの角部からの位置情報から中心位置
を求めるため演算速度が遅くなり、結局のところ電子部
品の中心位置の検出の処理時間が長くなるという問題が
あった。
【０００６】本発明は上記事情に鑑みてなされたもので
あり、電子部品の中心位置の検出を迅速かつ正確に行う
ことができる電子部品の位置検出方法を提供することを
目的としている。
あり、電子部品の中心位置の検出を迅速かつ正確に行う
ことができる電子部品の位置検出方法を提供することを
目的としている。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の請求項１の電子部品の位置検出方法は、前
記電子部品の第１の角部を画像認識装置の視野に納めて
第１画像を取り込み、前記視野を移動して前記第１の角
部と電子部品の中心に対して対称な位置にある第２の角
部を視野に納めて前記第１画像を基準とする第２画像を
取り込み、次いで、前記第１画像における第１の角部か
ら一方の方向に並設された多数のピンの所定の位置を通
る第１直線を求めるとともに、前記第１の角部から他方
の方向に並設された多数のピンの所定の位置を通る第２
直線を求め、また、前記第２画像における第２の角部か
ら一方向に並設された多数のピンの所定の位置を通る第
３直線を求めるとともに、前記第２の角部から他方の方
向に並設された第４直線を求め、次いで、前記第１直線
および第３直線から等しい距離にある第１中央線を求め
るとともに、前記第２直線および第４直線から等しい距
離にある第２中央線を求め、これら第１および第２中央
線の交点を求めて、前記電子部品の中心位置を検出する
ことを特徴としている。
に、本発明の請求項１の電子部品の位置検出方法は、前
記電子部品の第１の角部を画像認識装置の視野に納めて
第１画像を取り込み、前記視野を移動して前記第１の角
部と電子部品の中心に対して対称な位置にある第２の角
部を視野に納めて前記第１画像を基準とする第２画像を
取り込み、次いで、前記第１画像における第１の角部か
ら一方の方向に並設された多数のピンの所定の位置を通
る第１直線を求めるとともに、前記第１の角部から他方
の方向に並設された多数のピンの所定の位置を通る第２
直線を求め、また、前記第２画像における第２の角部か
ら一方向に並設された多数のピンの所定の位置を通る第
３直線を求めるとともに、前記第２の角部から他方の方
向に並設された第４直線を求め、次いで、前記第１直線
および第３直線から等しい距離にある第１中央線を求め
るとともに、前記第２直線および第４直線から等しい距
離にある第２中央線を求め、これら第１および第２中央
線の交点を求めて、前記電子部品の中心位置を検出する
ことを特徴としている。
【０００８】
【０００９】
【作用】本発明の請求項１の位置検出方法にあっては、
第１画像、第２画像として取り込まれた、対角線上にあ
る２つの角部に並設されている多数のピンの所定の位置
を通る第１〜第４の直線を求め、第１と第３直線の間を
通る第１中央線と、第２と第３直線の間を通る第２中央
線との交点を電子部品の中心として、検出するので、２
回の画像入力で電子部品の中心の位置を検出することが
でき、これによって、電子部品の中心を短時間でかつ正
確に求める。
第１画像、第２画像として取り込まれた、対角線上にあ
る２つの角部に並設されている多数のピンの所定の位置
を通る第１〜第４の直線を求め、第１と第３直線の間を
通る第１中央線と、第２と第３直線の間を通る第２中央
線との交点を電子部品の中心として、検出するので、２
回の画像入力で電子部品の中心の位置を検出することが
でき、これによって、電子部品の中心を短時間でかつ正
確に求める。
【００１０】
【００１１】
【実施例】以下、本発明の電子部品の位置検出方法の一
実施例を説明する。まず、図１に示すように、電子部品
１の第１の角部２を画像装置の視野Ｓに納めて、図２に
示すような第１画像Ｇ１を取り込み、次いで、視野Ｓを
電子部品１の対角線上を移動して、第１角部２と電子部
品１の中心に対して対称な位置にある第２の角部３を視
野Ｓに納めて、図３に示すような第２画像Ｇ２を取り込
む。この場合、第１画像Ｇ１を基準位置として第２画像
Ｇ２を取り込むために、画像装置のカメラ（視野Ｓ）を
Ｘ方向、Ｙ方向に移動させて第２画像Ｇ２を取る。そし
て、座標変換して第１画像Ｇ１と連続している仮想空間
を生成し、この仮想空間に第２画像Ｇ２を取り込む。図
４で説明すれば、ステップＳ１で前記第１画像Ｇ１と第
２画像Ｇ２の２画面を入力し、ステップＳ２でウインド
ウの位置決めを行う。
実施例を説明する。まず、図１に示すように、電子部品
１の第１の角部２を画像装置の視野Ｓに納めて、図２に
示すような第１画像Ｇ１を取り込み、次いで、視野Ｓを
電子部品１の対角線上を移動して、第１角部２と電子部
品１の中心に対して対称な位置にある第２の角部３を視
野Ｓに納めて、図３に示すような第２画像Ｇ２を取り込
む。この場合、第１画像Ｇ１を基準位置として第２画像
Ｇ２を取り込むために、画像装置のカメラ（視野Ｓ）を
Ｘ方向、Ｙ方向に移動させて第２画像Ｇ２を取る。そし
て、座標変換して第１画像Ｇ１と連続している仮想空間
を生成し、この仮想空間に第２画像Ｇ２を取り込む。図
４で説明すれば、ステップＳ１で前記第１画像Ｇ１と第
２画像Ｇ２の２画面を入力し、ステップＳ２でウインド
ウの位置決めを行う。
【００１２】次に、第１画像Ｇ１および第２画像Ｇ２に
おいて、認識されている電子部品１の多数のピン（リー
ド）４…のラベル付けを行う。すなわち、第１の角部２
から一方の方向に並設された多数のピン列ｗ1、第１の
角部２から他方の方向に並設された多数のピン列ｗ2に
対して、各ピン４の中心位置をパターン位置座標列 ｛Ｘｗ1i｜i=１……ｎ｜｝、｛Ｙｗ1i｜i=１……ｎ｜｝ ｛Ｘｗ2i｜i=１……ｎ｜｝、｛Ｙｗ2i｜i=１……ｎ｜｝
とする。
おいて、認識されている電子部品１の多数のピン（リー
ド）４…のラベル付けを行う。すなわち、第１の角部２
から一方の方向に並設された多数のピン列ｗ1、第１の
角部２から他方の方向に並設された多数のピン列ｗ2に
対して、各ピン４の中心位置をパターン位置座標列 ｛Ｘｗ1i｜i=１……ｎ｜｝、｛Ｙｗ1i｜i=１……ｎ｜｝ ｛Ｘｗ2i｜i=１……ｎ｜｝、｛Ｙｗ2i｜i=１……ｎ｜｝
とする。
【００１３】また、第２の角部３から一方の方向に並設
された多数のピン列ｗ3、第２の角部３から他方の方向
に並設された多数のピン列ｗ4に対して、各ピン４の中
心位置をパターン位置座標列 ｛Ｘｗ3i｜i=１……ｎ｜｝、｛Ｙｗ3i｜i=１……ｎ｜｝ ｛Ｘｗ4i｜i=１……ｎ｜｝、｛Ｙｗ4i｜i=１……ｎ｜｝
とする。
された多数のピン列ｗ3、第２の角部３から他方の方向
に並設された多数のピン列ｗ4に対して、各ピン４の中
心位置をパターン位置座標列 ｛Ｘｗ3i｜i=１……ｎ｜｝、｛Ｙｗ3i｜i=１……ｎ｜｝ ｛Ｘｗ4i｜i=１……ｎ｜｝、｛Ｙｗ4i｜i=１……ｎ｜｝
とする。
【００１４】そして、各ピン列ｗ1〜ｗ4ごとに、各ピン
４の重心を計算する。この重心の計算は、例えば、ピン
４の先端の２値化画像において、ピン４の先端を構成す
る複数の画素の中央部を求める。重心の計算式は次のよ
うになる。 ｘ＝ΣΣｘｆ（ｘ，ｙ）／（ΣΣｆ（ｘ，ｙ）） ｙ＝ΣΣｙｆ（ｘ，ｙ）／（ΣΣｆ（ｘ，ｙ）） ただし、ｆ（ｘ，ｙ）：０または１の２値化画像であ
る。次に、上記のようにして算出された各ピンの重心を
通る回帰直線を求める。回帰直線の計算式は、以下のよ
うになる。Ｎ個のｘ，ｙデータ対をＸ（Ｎ）、Ｙ（Ｎ）
で表した時、
４の重心を計算する。この重心の計算は、例えば、ピン
４の先端の２値化画像において、ピン４の先端を構成す
る複数の画素の中央部を求める。重心の計算式は次のよ
うになる。 ｘ＝ΣΣｘｆ（ｘ，ｙ）／（ΣΣｆ（ｘ，ｙ）） ｙ＝ΣΣｙｆ（ｘ，ｙ）／（ΣΣｆ（ｘ，ｙ）） ただし、ｆ（ｘ，ｙ）：０または１の２値化画像であ
る。次に、上記のようにして算出された各ピンの重心を
通る回帰直線を求める。回帰直線の計算式は、以下のよ
うになる。Ｎ個のｘ，ｙデータ対をＸ（Ｎ）、Ｙ（Ｎ）
で表した時、
【数１】 とすると、ｘ軸に対する傾き、ｂxは、ｂx＝Ｓxy／Ｓxx
となり、Ｘ軸の切辺、ａxは、
となり、Ｘ軸の切辺、ａxは、
【数２】 となる。また、ｙ軸に対する傾き、ｂyは、ｂy＝Ｓxy／
Ｓyy となり、Ｘ軸の切辺、ａyは、
Ｓyy となり、Ｘ軸の切辺、ａyは、
【数３】 となる。
【００１５】上記のようにして、各ピン列ｗ1〜ｗ4ごと
の回帰直線を求め、ピン列ｗ1の回帰直線を第１直線
５、ピン列ｗ2の回帰直線を第２直線６、ピン列ｗ3の回
帰直線を第３直線７、ピン列ｗ4の回帰直線を第４直線
８とする（図２および図３参照）。次いで、前記第１直
線５および第３直線７から等しい距離にある第１中央線
１０を求めるとともに、前記第２直線６および第４直線
１０から等しい距離にある第２中央線１１を求め、これ
ら第１および第２中央線１０，１１の交点を求める。こ
の交点の座標が電子部品１の中心となる。
の回帰直線を求め、ピン列ｗ1の回帰直線を第１直線
５、ピン列ｗ2の回帰直線を第２直線６、ピン列ｗ3の回
帰直線を第３直線７、ピン列ｗ4の回帰直線を第４直線
８とする（図２および図３参照）。次いで、前記第１直
線５および第３直線７から等しい距離にある第１中央線
１０を求めるとともに、前記第２直線６および第４直線
１０から等しい距離にある第２中央線１１を求め、これ
ら第１および第２中央線１０，１１の交点を求める。こ
の交点の座標が電子部品１の中心となる。
【００１６】そして、第１中央線１０の検出座標系に対
する傾きと、第２中央線１１の検出座標系に対する傾き
とから電子部品の傾きを検出する。すなわち、第１中央
線と第２中央線とは直交しているので、検出座標系のＸ
軸（またはＹ軸）に対する第１中央線１０の傾きと、検
出座標系のＹ軸（またはＸ軸）に対する第２中央線１１
の傾きとの平均値を求め、この値を電子部品の傾きとす
る。
する傾きと、第２中央線１１の検出座標系に対する傾き
とから電子部品の傾きを検出する。すなわち、第１中央
線と第２中央線とは直交しているので、検出座標系のＸ
軸（またはＹ軸）に対する第１中央線１０の傾きと、検
出座標系のＹ軸（またはＸ軸）に対する第２中央線１１
の傾きとの平均値を求め、この値を電子部品の傾きとす
る。
【００１７】なお、上記実施例では、説明の都合上、ピ
ン列ｗ１〜ｗ4についての、ピン（リード）のラベル付
け、各ピンの重心計算、ピンの重心を通る回帰直線を求
める処理について、ピン列ｗ１〜ｗ4に並行処理を施す
ようにして説明したが、実際の処理では、図４に示すよ
うに、ステップＳ３〜Ｓ５でピン列ｗ1の処理を行い、
次いで、ステップＳ６〜Ｓ８でピン列ｗ３の処理を行
い、次に、ステップＳ９〜１１でピン列ｗ２の処理を行
い、次いで、ステップＳ１２〜１４でピン列ｗ4の処理
を行い、ステップＳ１５で第１直線５と第３直線７の中
間を通る第１中央線１０を求め、ステップＳ１６で第２
直線６と第４直線８の中間を通る第２中央線１１を求
め、ステップＳ１７で第１中央線１０と第２中央線１１
の交点、すなわち電子部品１の中心を求め、ステップ１
８でこれら第１および第２中央線１０，１１の傾きの平
均を求め、これを電子部品１の傾きとする。
ン列ｗ１〜ｗ4についての、ピン（リード）のラベル付
け、各ピンの重心計算、ピンの重心を通る回帰直線を求
める処理について、ピン列ｗ１〜ｗ4に並行処理を施す
ようにして説明したが、実際の処理では、図４に示すよ
うに、ステップＳ３〜Ｓ５でピン列ｗ1の処理を行い、
次いで、ステップＳ６〜Ｓ８でピン列ｗ３の処理を行
い、次に、ステップＳ９〜１１でピン列ｗ２の処理を行
い、次いで、ステップＳ１２〜１４でピン列ｗ4の処理
を行い、ステップＳ１５で第１直線５と第３直線７の中
間を通る第１中央線１０を求め、ステップＳ１６で第２
直線６と第４直線８の中間を通る第２中央線１１を求
め、ステップＳ１７で第１中央線１０と第２中央線１１
の交点、すなわち電子部品１の中心を求め、ステップ１
８でこれら第１および第２中央線１０，１１の傾きの平
均を求め、これを電子部品１の傾きとする。
【００１８】上記のようにして、電子部品の中心を位置
を検出すれば、大型の電子部品でも中心を通る対角線上
の角部の画像を入力するだけで、すなわち２回の画像入
力で、電子部品の中心、およびその傾きを求めることが
できるため、電子部品の中心位置の検出の処理時間を短
くでき、よって電子部品の装着を迅速かつ正確に行うこ
とができる。
を検出すれば、大型の電子部品でも中心を通る対角線上
の角部の画像を入力するだけで、すなわち２回の画像入
力で、電子部品の中心、およびその傾きを求めることが
できるため、電子部品の中心位置の検出の処理時間を短
くでき、よって電子部品の装着を迅速かつ正確に行うこ
とができる。
【００１９】図５および図６は本発明の他の実施例を説
明するためのものである。図５に示す電子部品１５は、
ピン（リード）１６が太く、ローパス、ハイパスフィル
タでリードピッチを抽出し、上記第１実施例で行ったピ
ンのラベル付けは行わず、ピンの重心計算等を行ない、
ピン列の回帰直線（第１直線〜第４直線）を求め、電子
部品１５の中心と傾きを求めるものであり、その他は上
記実施例と同様である。
明するためのものである。図５に示す電子部品１５は、
ピン（リード）１６が太く、ローパス、ハイパスフィル
タでリードピッチを抽出し、上記第１実施例で行ったピ
ンのラベル付けは行わず、ピンの重心計算等を行ない、
ピン列の回帰直線（第１直線〜第４直線）を求め、電子
部品１５の中心と傾きを求めるものであり、その他は上
記実施例と同様である。
【００２０】電子部品１５の中心の検出のフローは図６
に示すように、ステップＳ２０で第１角部と第２角部の
２画像を入力し、ステップＳ２１でウインドウの位置決
めを行い、ステップＳ２２〜Ｓ２３でピン列ｗ1の処理
を行い、次いで、ステップＳ２４〜Ｓ２５でピン列ｗ３
の処理を行い、次に、ステップＳ２６〜２７でピン列ｗ
２の処理を行い、次いで、ステップＳ２８〜２９でピン
列ｗ4の処理を行い、ステップＳ３０で第１直線５と第
３直線７の中間を通る第１中央線１０を求め、ステップ
Ｓ３１で第２直線６と第４直線８の中間を通る第２中央
線１１を求め、ステップＳ３２で第１中央線１０と第２
中央線１１の交点、すなわち電子部品１５の中心を求
め、ステップ３３でこれら第１および第２中央線１０，
１１の傾きの平均を求め、これを電子部品１５の傾きと
する。この実施例では、上記第１実施例に比べ、ピンの
ラベル付けの分だけ、電子部品の中心検出時間を短くす
ることができる。
に示すように、ステップＳ２０で第１角部と第２角部の
２画像を入力し、ステップＳ２１でウインドウの位置決
めを行い、ステップＳ２２〜Ｓ２３でピン列ｗ1の処理
を行い、次いで、ステップＳ２４〜Ｓ２５でピン列ｗ３
の処理を行い、次に、ステップＳ２６〜２７でピン列ｗ
２の処理を行い、次いで、ステップＳ２８〜２９でピン
列ｗ4の処理を行い、ステップＳ３０で第１直線５と第
３直線７の中間を通る第１中央線１０を求め、ステップ
Ｓ３１で第２直線６と第４直線８の中間を通る第２中央
線１１を求め、ステップＳ３２で第１中央線１０と第２
中央線１１の交点、すなわち電子部品１５の中心を求
め、ステップ３３でこれら第１および第２中央線１０，
１１の傾きの平均を求め、これを電子部品１５の傾きと
する。この実施例では、上記第１実施例に比べ、ピンの
ラベル付けの分だけ、電子部品の中心検出時間を短くす
ることができる。
【００２１】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の請求項１
の電子部品の位置検出方法によれば、電子部品の中心を
通る対角線上にある第１の角部および第２の角部を、そ
れぞれ第１画像、第２画像として取り込み、これら角部
に並設されている多数のピンの所定の位置を通る第１〜
第４の直線を求め、第１と第３直線の間を通る第１中央
線と、第２と第３直線の間を通る第２中央線との交点を
電子部品の中心として、検出するようにしたので、大型
の電子部品でも中心を通る対角線上の角部の画像を入力
するだけで、すなわち２回の画像入力で、電子部品の中
心を求めることができるため、電子部品の中心位置の検
出の処理時間を短くでき、よって電子部品の装着を迅速
かつ正確に行うことができる。
の電子部品の位置検出方法によれば、電子部品の中心を
通る対角線上にある第１の角部および第２の角部を、そ
れぞれ第１画像、第２画像として取り込み、これら角部
に並設されている多数のピンの所定の位置を通る第１〜
第４の直線を求め、第１と第３直線の間を通る第１中央
線と、第２と第３直線の間を通る第２中央線との交点を
電子部品の中心として、検出するようにしたので、大型
の電子部品でも中心を通る対角線上の角部の画像を入力
するだけで、すなわち２回の画像入力で、電子部品の中
心を求めることができるため、電子部品の中心位置の検
出の処理時間を短くでき、よって電子部品の装着を迅速
かつ正確に行うことができる。
【００２２】
【図１】本発明の電子部品の位置検出方法の一実施例を
説明するためのもので、電子部品を示す平面図である。
説明するためのもので、電子部品を示す平面図である。
【図２】本発明の電子部品の位置検出方法の一実施例を
説明するためのもので、第１の角部の画像を示す平面図
である。
説明するためのもので、第１の角部の画像を示す平面図
である。
【図３】同、第２の角部の画像を示す平面図である。
【図４】本発明の一実施例の電子部品の位置検出方法を
説明するためのフロー図である。
説明するためのフロー図である。
【図５】本発明の電子部品の位置検出方法の他の実施例
を説明するためのもので、電子部品を示す平面図であ
る。
を説明するためのもので、電子部品を示す平面図であ
る。
【図６】本発明の他の実施例の電子部品の位置検出方法
を説明するためのフロー図である。
を説明するためのフロー図である。
１，１５ 電子部品 ２ 第１の角部 ３ 第２の角部 ４ ピン（リード） ５ 第１直線 ６ 第２直線 ７ 第３直線 ８ 第４直線 １０ 第１中央線 １１ 第２中央線 Ｓ 画像処理装置の視野 Ｇ１ 第１画像 Ｇ２ 第２画像
Claims (1)
- 【請求項１】 電子部品本体の外周部に多数のピンが突
出形成された電子部品の位置検出方法であって、 前記電子部品の第１の角部を画像認識装置の視野に納め
て第１画像を取り込み、前記視野を移動して前記第１の
角部と電子部品の中心に対して対称な位置にある第２の
角部を視野に納めて前記第１画像を基準とする第２画像
を取り込み、 次いで、前記第１画像における第１の角部から一方の方
向に並設された多数のピンの所定の位置を通る第１直線
を求めるとともに、前記第１の角部から他方の方向に並
設された多数のピンの所定の位置を通る第２直線を求
め、 また、前記第２画像における第２の角部から一方向に並
設された多数のピンの所定の位置を通る第３直線を求め
るとともに、前記第２の角部から他方の方向に並設され
た第４直線を求め、 次いで、前記第１直線および第３直線から等しい距離に
ある第１中央線を求めるとともに、前記第２直線および
第４直線から等しい距離にある第２中央線を求め、これ
ら第１および第２中央線の交点を求めて、前記電子部品
の中心位置を検出すること を特徴とする電子部品の位置
検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35277393A JP3345496B2 (ja) | 1993-12-29 | 1993-12-29 | 電子部品の位置検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35277393A JP3345496B2 (ja) | 1993-12-29 | 1993-12-29 | 電子部品の位置検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07198325A JPH07198325A (ja) | 1995-08-01 |
| JP3345496B2 true JP3345496B2 (ja) | 2002-11-18 |
Family
ID=18426344
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP35277393A Expired - Fee Related JP3345496B2 (ja) | 1993-12-29 | 1993-12-29 | 電子部品の位置検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3345496B2 (ja) |
-
1993
- 1993-12-29 JP JP35277393A patent/JP3345496B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07198325A (ja) | 1995-08-01 |
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