JPH087041A - 文字認識方法および装置 - Google Patents

文字認識方法および装置

Info

Publication number
JPH087041A
JPH087041A JP6133994A JP13399494A JPH087041A JP H087041 A JPH087041 A JP H087041A JP 6133994 A JP6133994 A JP 6133994A JP 13399494 A JP13399494 A JP 13399494A JP H087041 A JPH087041 A JP H087041A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
character
recognition
detection window
character recognition
character detection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP6133994A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshiya Saito
俊哉 斉藤
Masakazu Ozaki
雅一 尾崎
Minoru Uchiyama
実 内山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Hitachi Computer Engineering Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi Computer Engineering Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd, Hitachi Computer Engineering Co Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP6133994A priority Critical patent/JPH087041A/ja
Publication of JPH087041A publication Critical patent/JPH087041A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Character Input (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 文字の認識率を向上させる文字認識方法およ
び装置を提供する。 【構成】 認識文字がマーキングされた半導体集積回路
装置2を撮影するカメラ3と、前記カメラ3によって撮
影された画像上に仮想領域である文字検出ウィンドウを
設定する認識部6と、文字認識時の検査情報を入力する
制御部7とから構成され、前記文字検出ウィンドウを、
半導体集積回路装置2の基準場所である表面14から常
に所定距離の位置に設定し、文字認識を行った後、誤認
識が発生した場合に、前記文字検出ウィンドウを個々の
文字検出ウィンドウ単位に動かすことにより、誤認識と
なった認識文字の文字検出ウィンドウだけを所定の方向
に所定回数動かし、再度文字認識を行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、電子部品、例えば半導
体集積回路装置などの基板搭載部品にマーキングされた
文字の文字認識技術に関し、文字の認識率を向上させる
文字認識方法および装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】以下に説明する技術は、本発明を開発す
るに際し、本発明者によって検討されたものである。
【0003】基板上に搭載する電子部品(例えば半導体
集積回路装置)などの被検査物の表面にマーキングされ
た文字の文字認識方法においては、所定のステージ上に
前記被検査物を固定し、カメラなどの撮影器によって前
記文字を撮影する。
【0004】さらに、前記撮影器によって撮影された画
像上に仮想領域である文字検出ウィンドウを設定し、位
置固定された撮影器の画像内の文字を前記文字検出ウィ
ンドウによって認識する。
【0005】なお、画像処理による文字認識技術として
は、例えば、CQ出版株式会社発行「基礎からの映像信
号処理」1990年8月20日発行、畔津明仁(著)、
149頁〜163頁に紹介されている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところが、前記した技
術において、半導体集積回路装置などの被検査物にマー
キングされている文字は、微細かつ多種であり、また、
撮影器であるカメラが固定されていることから文字検出
ウィンドウも移動させることができない。
【0007】そのため、前記被検査物にマーキングされ
た文字位置のばらつきと、カメラ撮影時における前記被
検査物の位置決めのばらつきとにより、文字の認識率が
低下するという問題が発生する。
【0008】そこで、本発明の目的は、文字の認識率を
向上させる文字認識方法および装置を提供することにあ
る。
【0009】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
【0010】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。
【0011】すなわち、本発明による文字認識方法は、
撮影器によって撮影された画像上に設定する全ての文字
検出ウィンドウを、半導体集積回路装置などの被検査物
の所定の基準場所から常に所定距離の位置に設定し、文
字認識を行うことである。
【0012】さらに、前記撮影器によって撮影された画
像上において、前記文字検出ウィンドウを個々の文字検
出ウィンドウ単位に動かすことである。
【0013】また、文字認識後、誤認識が発生した場合
に、誤認識となった前記文字検出ウィンドウだけをウィ
ンドウ中心位置から所定の方向に所定回数動かし、再度
文字認識を行うことである。
【0014】
【作用】上記した手段によれば、撮影器によって撮影さ
れた画像上に設定する全ての文字検出ウィンドウを、被
検査物の所定の基準場所から常に所定距離の位置に設定
し、文字認識を行うことにより、1つの被検査物におい
て文字位置にばらつきが無い場合、撮影器による撮影時
の被検査物の位置決めのばらつきに関係することなく、
前記文字位置と前記文字検出ウィンドウの位置とを一致
させることができる。その結果、被検査物の位置決めの
ばらつきによる文字認識率の低下を防止することができ
る。
【0015】また、前記撮影器によって撮影された画像
上において、前記文字検出ウィンドウを個々の文字検出
ウィンドウ単位に動かすことにより、文字認識後、誤認
識が発生した場合に、誤認識となった前記文字検出ウィ
ンドウだけをウィンドウ中心位置から所定の方向に所定
回数動かし、再度文字認識を行うことができる。
【0016】したがって、1つの被検査物において文字
位置がばらついている場合であっても、個々の文字検出
ウィンドウを動かすことにより、前記文字位置と前記文
字検出ウィンドウの位置とを一致させることができ、そ
の結果、被検査物の文字位置のばらつきによる文字認識
率の低下を防止することができる。
【0017】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細
に説明する。
【0018】図1は本発明による文字認識装置の構造の
一実施例を示す構成概念図、図2は本発明の文字認識装
置に設けられた撮影器による被検査物撮影時の画像の一
実施例を示す被検査物画像図、図3は本発明の文字認識
装置の撮影器によって撮影された文字検出ウィンドウの
一実施例を示す文字検出ウィンドウ拡大図、図4(a),
(b),(c),(d),(e) は本発明の文字認識装置に設けられた
撮影器による撮影時の文字検出ウィンドウの移動方向の
一実施例を移動順に示す文字検出ウィンドウ移動概念図
である。
【0019】まず、図1および図2を用いて、本実施例
による文字認識装置の構成について説明すると、認識す
べき文字である認識文字1がマーキングされた被検査
物、例えば半導体集積回路装置2を撮影するカメラ3
(撮影器)と、前記カメラ3によって撮影された画像4
上に仮想領域である文字検出ウィンドウ5を設定する認
識部6と、文字認識時の検査情報を入力する制御部7と
から構成されている。
【0020】なお、本実施例で説明する被検査物である
半導体集積回路装置2は、セラミック基板8に実装され
た半導体素子(図示せず)を、ロウ材9を介してセラミ
ックキャップ10によって気密封止したチップキャリア
タイプのものであり、その側面11に、認識文字1と、
該認識文字1の前後に前記認識文字1の位置を示すター
ゲットマーク12とがマーキングされている。さらに、
前記半導体集積回路装置2は、検査時に、ステージ13
上に搭載される。
【0021】また、前記文字検出ウィンドウ5は、カメ
ラ3によって撮影された画像4上に表示する仮想領域で
あり、1つの認識文字1に対して1つの文字検出ウィン
ドウ5が設定され、その大きさは認識文字1より若干大
きい程度であり、また、その形は、例えば、前記認識文
字1が完全に収まる四角形である。
【0022】さらに、検査時に、カメラ3によって撮影
された画像4上において、文字検出ウィンドウ5を設定
するための基準場所を、本実施例では半導体集積回路装
置2の表面(実装する面と反対側の面)14とする。
【0023】ここで、前記認識部6には、カメラ3によ
って撮影された画像4上に設定する全ての文字検出ウィ
ンドウ5を、半導体集積回路装置2の基準場所である表
面14から常に所定距離15の位置に設定する機能と、
文字検出ウィンドウ5を個々の文字検出ウィンドウ5単
位に動かす機能とが設けられており、前記認識部6は、
検査時に、取り込まれた情報によって認識文字1の判読
を行う。
【0024】また、前記制御部7は、判読する認識文字
1の数やその大きさなどの検査情報を入力するものであ
り、入力された前記検査情報は認識部6へ伝達され、該
認識部6によって文字検出ウィンドウ5が作成される時
に使用される。
【0025】次に、図1、図2、図3および図4を用い
て、本実施例による文字認識方法について説明すると、
まず、照明16が当てられたステージ13上に被検査物
である半導体集積回路装置2を載置し、制御部7に判読
する認識文字1の数やその大きさ、さらに設定する文字
検出ウィンドウ5の基準場所からの距離(所定距離1
5)などの検査情報を入力する。
【0026】その後、カメラ3によって半導体集積回路
装置2の側面11を撮り、認識文字1の前後にあるター
ゲットマーク12の中心座標を認識部6が認識し、これ
によって、ターゲットマーク中心座標間距離17を計算
する。
【0027】さらに、その計算結果より、画像4上に文
字検出ウィンドウ5を認識文字1の数だけターゲットマ
ーク12間に等間隔で割り当てて表示する。
【0028】この時、カメラ3が撮影した画像4におい
て、半導体集積回路装置2の表面14の境界による明暗
を認識部6が検知することにより、前記表面14の境界
を基準場所と認識する。
【0029】さらに、認識部6が、画像4上に設定する
全ての文字検出ウィンドウ5を、半導体集積回路装置2
の前記基準場所から常に所定距離15の位置に設定する
機能を備えているため、全ての認識文字1を文字検出ウ
ィンドウ5の中に納めることができる。
【0030】つまり、1つの半導体集積回路装置2にお
いて認識文字1の文字位置にばらつきが無い場合、前記
半導体集積回路装置2の位置決めのばらつきに関係する
ことなく、前記文字位置と文字検出ウィンドウ5の位置
とを一致させることができる。これによって、文字検出
ウィンドウ5内の認識文字1を判読する。
【0031】ここで、各文字検出ウィンドウ5はそれぞ
れの認識文字1の中心に配置されるものであり、また、
各文字検出ウィンドウ5内における認識文字1の判読に
ついては、各文字検出ウィンドウ5内に設定されている
細分化された仮想領域である文字特徴抽出ウィンドウ1
8によって行う。
【0032】これは、認識文字1に関する2値化画像の
有無を明暗によって認識し、事前に認識部6に登録され
た文字のパターンと比較し、一番近いと推定される文字
を判読文字として決定することによるものである。
【0033】なお、1回目の検査において、認識できな
い文字があった場合、文字検出ウィンドウ5を所定の方
向に所定の回数動かすことによって、認識できなかった
文字に対しての再認識を行う。
【0034】これは、認識部6に、文字検出ウィンドウ
5を個々の文字検出ウィンドウ5単位に動かす機能が設
けられていることによるものである。
【0035】本実施例においては、文字検出ウィンドウ
5をその基準となるウィンドウ中心位置19から上下左
右の方向(認識文字1の上下左右方向をそれぞれ文字検
出ウィンドウ5の上下左右方向とする)にそれぞれ1回
ずつ合計4回移動させ、再認識を行う場合の説明をす
る。
【0036】まず、1回目に、文字検出ウィンドウ5を
ウィンドウ中心位置19からウィンドウ右移動位置20
へ移動させ、そこで認識文字1の判読を行う。ここで、
判読ができればこの時点で文字認識を終了とするが、判
読ができない場合、一度文字検出ウィンドウ5をウィン
ドウ中心位置19へ戻した後、2回目として、文字検出
ウィンドウ5をウィンドウ左移動位置21へ移動させ、
1回目と同様に認識文字1の判読を行う。
【0037】なお、2回目の移動でも判読ができなかっ
た場合には、3回目に文字検出ウィンドウ5をウィンド
ウ下移動位置22へ移動させ、同様の検査を繰り返し、
また、3回目の移動でも判読ができなかった場合には、
4回目に文字検出ウィンドウ5をウィンドウ上移動位置
23へ移動させ、前記と同様の検査を繰り返して行う。
【0038】この結果、もし、4回の設定の中で、認識
文字1の判読ができなかった場合、改めて、文字検出ウ
ィンドウ5の移動方向および移動回数を設定し直し、再
度、検査を行うことも可能であるし、作業者が画像4上
で目視によって確認するなどして対処することもでき
る。
【0039】次に、本実施例の文字認識方法および装置
によれば、以下のような効果が得られる。
【0040】すなわち、画像4上の文字検出ウィンドウ
5を、半導体集積回路装置2の基準場所である表面14
から常に所定距離15の位置に設定し、文字認識を行う
機能が認識部6に設けられたことにより、半導体集積回
路装置2の位置決めのばらつきに関係することなく、認
識文字1の位置と文字検出ウィンドウ5の位置とを一致
させることができる。
【0041】その結果、半導体集積回路装置2の位置決
めのばらつきによる文字認識率の低下を防止することが
できる。
【0042】さらに、文字検出ウィンドウ5を個々の文
字検出ウィンドウ5単位に動かす機能が認識部6に設け
られたことにより、文字認識後、誤認識が発生した場合
に、誤認識となった認識文字1の文字検出ウィンドウ5
だけを所定の方向に所定回数動かし、再度文字認識を行
うことができる。
【0043】したがって、1つの半導体集積回路装置2
において文字位置がばらついている場合であっても、個
々の文字検出ウィンドウ5を動かすことにより、認識文
字1の位置と文字検出ウィンドウ5の位置とを一致させ
ることができ、その結果、半導体集積回路装置2の文字
位置のばらつきによる文字認識率の低下を防止すること
ができる。
【0044】これらによって、認識率全般を向上させる
ことができ、また、歩留りも向上させることができる。
【0045】さらに、歩留りを向上させることができる
ため、製品の再着工率も低減することができ、その結
果、所定の工程の時間短縮も実現できる。
【0046】以上、本発明者によってなされた発明を実
施例に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施例
に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲
で種々変更可能であることは言うまでもない。
【0047】例えば、前記実施例の文字認識方法におけ
る文字認識後の再認識時の文字検出ウィンドウの移動方
向は上下左右方向であったが、斜め方向であってもよい
し、それらを組み合わせたものであってもよく、また、
どれか1つだけでもよい。
【0048】さらに、再認識時の前記文字検出ウィンド
ウの移動回数についても、特に限定はなく、自由に設定
できる。
【0049】また、前記実施例においては、被検査物で
ある半導体集積回路装置の基準場所をその表面とした
が、前記基準場所はどこに定めてもよい。
【0050】なお、前記被検査物は前記半導体集積回路
装置ばかりでなく、基板上に搭載され、マーキングされ
た様々な電子部品、例えば、抵抗やコンデンサなどであ
ってもよい。
【0051】また、前記被検査物にマーキングされる認
識文字の文字間のピッチを拡げることにより、文字検出
ウィンドウの領域も拡大することができ、その結果、認
識率を向上させることができる。
【0052】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち、代
表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。
【0053】(1).画像上の文字検出ウィンドウを、
被検査物の所定の基準場所から常に所定距離の位置に設
定し、文字認識を行うことにより、前記被検査物の位置
決めのばらつきに関係することなく、認識文字の位置と
前記文字検出ウィンドウの位置とを一致させることがで
きる。
【0054】その結果、前記被検査物の位置決めのばら
つきによる文字認識率の低下を防止することができる。
【0055】(2).前記文字検出ウィンドウを個々の
文字検出ウィンドウ単位に動かすことにより、文字認識
後、誤認識が発生した場合に、誤認識となった認識文字
の文字検出ウィンドウだけを所定の方向に所定回数動か
し、再度文字認識を行うことができる。
【0056】したがって、1つの被検査物において文字
位置がばらついている場合であっても、個々の文字検出
ウィンドウを動かすことにより、認識文字の位置と文字
検出ウィンドウの位置とを一致させることができ、その
結果、前記被検査物の文字位置のばらつきによる文字認
識率の低下を防止することができる。
【0057】(3).前記(1),(2)によって、認識
率全般を向上させることができ、さらに、歩留りも向上
させることができる。
【0058】(4).歩留りを向上させることができる
ため、製品の再着工率も低減することができ、その結
果、所定の工程の時間短縮も実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による文字認識装置の構造の一実施例を
示す構成概念図である。
【図2】本発明の文字認識装置に設けられた撮影器によ
る被検査物撮影時の画像の一実施例を示す被検査物画像
図である。
【図3】本発明の文字認識装置の撮影器によって撮影さ
れた文字検出ウィンドウの一実施例を示す文字検出ウィ
ンドウ拡大図である。
【図4】(a),(b),(c),(d),(e) は本発明の文字認識装置
に設けられた撮影器による撮影時の文字検出ウィンドウ
の移動方向の一実施例を移動順に示す文字検出ウィンド
ウ移動概念図である。
【符号の説明】
1 認識文字 2 半導体集積回路装置(被検査物) 3 カメラ(撮影器) 4 画像 5 文字検出ウィンドウ(仮想領域) 6 認識部 7 制御部 8 セラミック基板 9 ろう材 10 セラミックキャップ 11 側面 12 ターゲットマーク 13 ステージ 14 表面(基準場所) 15 所定距離 16 照明 17 ターゲットマーク中心座標間距離 18 文字特徴抽出ウィンドウ 19 ウィンドウ中心位置 20 ウィンドウ右移動位置 21 ウィンドウ左移動位置 22 ウィンドウ下移動位置 23 ウィンドウ上移動位置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 尾崎 雅一 神奈川県秦野市堀山下1番地 日立コンピ ュータエンジニアリング株式会社内 (72)発明者 内山 実 東京都新宿区揚場町2番1号 株式会社日 立製作所半導体事業部内

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 撮影器の画像上に設定する仮想領域であ
    る文字検出ウィンドウを用いて被検査物に表示された文
    字を読み取る文字認識方法であって、前記撮影器によっ
    て撮影された画像上に設定する全ての文字検出ウィンド
    ウを、前記被検査物の所定の基準場所から常に所定距離
    の位置に設定し、文字認識を行うことを特徴とする文字
    認識方法。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の文字認識方法であって、
    前記撮影器によって撮影された画像上において、前記文
    字検出ウィンドウを個々の文字検出ウィンドウ単位に動
    かすことを特徴とする文字認識方法。
  3. 【請求項3】 請求項2記載の文字認識方法であって、
    文字認識後、誤認識が発生した場合に、誤認識となった
    前記文字検出ウィンドウだけをウィンドウ中心位置から
    所定の方向に所定回数動かし、再度文字認識を行うこと
    を特徴とする文字認識方法。
  4. 【請求項4】 被検査物を撮影する撮影器と、前記撮影
    器によって撮影された画像上に仮想領域である前記文字
    検出ウィンドウを設定する認識部と、文字認識時の検査
    情報を入力する制御部とからなり、前記画像上における
    全ての文字検出ウィンドウが、前記被検査物の所定の基
    準場所から常に所定距離の位置に、前記認識部によって
    設定されることを特徴とする文字認識装置。
  5. 【請求項5】 請求項4記載の文字認識装置であって、
    前記認識部によって、前記文字検出ウィンドウが個々の
    文字検出ウィンドウ単位に制御されることを特徴とする
    文字認識装置。
JP6133994A 1994-06-16 1994-06-16 文字認識方法および装置 Pending JPH087041A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6133994A JPH087041A (ja) 1994-06-16 1994-06-16 文字認識方法および装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6133994A JPH087041A (ja) 1994-06-16 1994-06-16 文字認識方法および装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH087041A true JPH087041A (ja) 1996-01-12

Family

ID=15117910

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6133994A Pending JPH087041A (ja) 1994-06-16 1994-06-16 文字認識方法および装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH087041A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100887178B1 (ko) * 2007-03-08 2009-03-09 (주)제이티 문자인식방법 및 반도체디바이스에 형성된 문자의문자인식방법
WO2014129018A1 (ja) * 2013-02-25 2014-08-28 三菱重工業株式会社 文字認識装置、文字認識方法及び記録媒体
US8984551B2 (en) 1998-11-02 2015-03-17 Rovi Guides, Inc. Interactive program guide with continuous data stream and client-server data supplementation

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8984551B2 (en) 1998-11-02 2015-03-17 Rovi Guides, Inc. Interactive program guide with continuous data stream and client-server data supplementation
KR100887178B1 (ko) * 2007-03-08 2009-03-09 (주)제이티 문자인식방법 및 반도체디바이스에 형성된 문자의문자인식방법
WO2014129018A1 (ja) * 2013-02-25 2014-08-28 三菱重工業株式会社 文字認識装置、文字認識方法及び記録媒体
JP2014164528A (ja) * 2013-02-25 2014-09-08 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 文字認識装置、文字認識方法及びプログラム

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR930002347B1 (ko) 패턴위치 인식장치
JP2002288678A (ja) 円形マークの中心位置測定方法及び基板露光装置における位置合わせ方法
JPH087041A (ja) 文字認識方法および装置
US4596038A (en) Method and apparatus for character recognition
JP2870695B2 (ja) 実装極性部品の極性検査方法および実装基板外観検査方法
JPH083405B2 (ja) リード位置認識装置
JPS59107202A (ja) 微小部品装着位置検査装置
EP0076332A1 (en) Optical character reader with pre-scanner
JP2023535005A (ja) 電子画像内の物体を認識するための方法及びシステム又は装置
JP3166816B2 (ja) 画像認識によるパターン位置出し方法及び装置
JP2004325146A (ja) 部品認識方法及び装置
JP2974794B2 (ja) 多角形部品の多視野認識方法
JP4087973B2 (ja) 実装部品の部品間検査方法およびその装置
JPH0760459B2 (ja) コ−ナ検出装置
JPH0340183A (ja) コーナ検出装置
JP2663468B2 (ja) 文字認識方法
JPH0775035B2 (ja) 画像処理によるsmdの極性識別検査装置
JPH06300524A (ja) 認識マークの位置検出装置
JPH07148907A (ja) 画像認識位置合わせ方法及びその装置
JP3345496B2 (ja) 電子部品の位置検出方法
JPH0410112B2 (ja)
JPH07286819A (ja) 部品の位置認識方法および位置認識装置
JPS61286704A (ja) 画像の境界線検出方法
JP2974788B2 (ja) パターン位置検出方法
JPH0115910B2 (ja)

Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20040427