JPH05106967A - 穀粒乾燥機の穀粒水分検出方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】水分センサで検出する穀粒水分を補正して正確
な穀粒水分を検出したり、又穀粒の粒形状を検出して吸
収する風量を制御しようとするものである。 【構成】水分センサ４が穀粒水分検出のときに検出する
電圧値と、この電圧の偏差値とによって検出穀粒水分を
ファジイ制御で補正したり、又検出電圧値とこの電圧検
出のときの検出時間とにより、穀粒の粒形状をファジイ
制御で検出して、吸引量を制御しながら穀粒を乾燥す
る。 【効果】穀粒水分がファジイ制御で補正されることによ
り、正確な穀粒水分を得ることができたり、又ファジイ
制御で粒形状が検出されることにより、良好な穀粒乾燥
ができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、穀粒乾燥機の穀粒水
分検出方式に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来は、穀粒貯留室から穀粒乾燥室へ穀
粒は、繰出し流下されて循環されながら、熱風が該乾燥
室へ通過されて乾燥されながら、この循環乾燥中の一部
の穀粒が水分センサの検出ロール間を通過するときの電
圧値が検出され、この検出電圧値が穀粒水分に置換され
て穀粒水分が検出され、この検出穀粒水分が仕上目標水
分に達すると、穀粒の乾燥が終了したとする穀粒水分検
出方式であった。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】穀粒乾燥機の穀粒貯留
室内に収容された穀粒は、この貯留室から穀粒乾燥室を
繰出し流下されて循環されながら、熱風が該乾燥室を通
過することにより、この熱風に晒されて乾燥されなが
ら、この循環乾燥中の一部の穀粒が水分センサへ供給さ
れ、この水分センサの検出ロール間を通過することによ
り、この検出ロール間の電圧値が所定回数検出されて平
均値が算出され、この算出平均電圧値が穀粒水分に置換
されて穀粒水分が検出され、この検出穀粒水分が仕上目
標水分に達すると、乾燥が終了したとして穀粒の乾燥が
停止される。

【０００４】この乾燥作業中に検出する電圧値及びこの
検出電圧値から算出する偏差値によって置換する穀粒水
分を補正して、該水分センサが検出する穀粒水分の精度
向上を図ろうとするものである。

【０００５】

【課題を解決するための手段】このため、この発明は、
上部の穀粒貯留室１から下部の穀粒乾燥室２へ穀粒を繰
出し流下させながら熱風を該乾燥室２へ通風して乾燥す
ると共に、この循環乾燥中の穀粒が検出ロール３，３間
を通過のときの電圧値によって穀粒水分を検出する水分
センサ４を設けた穀粒乾燥機において、該水分センサ４
が検出する電圧値、及びこの電圧値から算出する偏差値
に基づいて穀粒水分制御手段で検出穀粒水分を補正制御
することを特徴とする穀粒水分検出方式の構成とする。

【０００６】又、該水分センサ４が検出する電圧値、及
びこの電圧値を検出するときの検出時間によって穀粒水
分制御手段で穀粒の粒状態を検出することを特徴とする
穀粒水分検出方式の構成とする。

【０００７】

【発明の作用】穀粒乾燥機の穀粒貯留室１内に収容され
た穀粒は、この貯留室１から穀粒乾燥室２内を繰出し流
下されて循環されながら、熱風が該乾燥室２を通過する
ことにより、この熱風に晒されて乾燥されながら、この
循環乾燥中の一部の穀粒が水分センサ４へ供給され、こ
の水分センサ４の検出ロール３，３間を通過することに
より、この検出ロール３，３間の電圧値が所定回数検出
されて平均値が算出され、この算出平均電圧値が穀粒水
分に置換されて穀粒水分が検出され、この検出穀粒水分
が仕上目標水分に達すると、乾燥が終了したとして穀粒
の乾燥が停止される。

【０００８】この乾燥作業中に検出する電圧値と、この
検出電圧値から算出する偏差値とによって、置換される
穀粒水分値がファジイ制御によって補正され、この補正
された穀粒水分値が検出穀粒水分値となる。又この乾燥
作業中に検出する電圧値と、この電圧値検出のときの検
出時間とによって、穀粒の粒形状が検出される。例え
ば、この検出粒形状により、該乾燥室２内の穀粒の密度
状態が算出されて、この算出結果により乾燥風量等が制
御される。

【０００９】

【発明の効果】この発明により、乾燥中に水分センサ４
が検出する電圧値と、この検出電圧値から算出する偏差
値とにより、検出電圧値を穀粒水分値に置換のときに、
この穀粒水分値が補正されることにより、正確な穀粒水
分値を得ることができる。又検出電圧値と、この検出の
ときの検出時間とによって穀粒の粒形状が検出されて、
この検出粒形状により、穀粒乾燥室２内の穀粒密度が算
出されて乾燥風量等が制御されることにより、効率のよ
い穀粒乾燥が可能になった。

【００１０】

【実施例】以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説
明する。図例は、穀粒を乾燥する循環型の穀粒乾燥機５
に穀粒水分を検出する水分センサ４及び熱風が発生する
バーナ６等を装着した状態を示すものである。前記乾燥
機５は、前後方向に長い長方形状で機壁７上部には、移
送螺旋を回転自在に内装した移送樋８及び天井板９を設
け、この天井板９下側には穀粒を貯留する穀粒貯留室１
を形成している。

【００１１】前記貯留室１下側において、左右両側の排
風室１０，１０と中央部の送風室１１との間には左右の
穀粒乾燥室２，２を設けた構成であり、この乾燥室２，
２下部には穀粒を繰出し流下させる繰出バルブ１２，１
２を回転自在に軸支している。前記乾燥室２，２下側に
は移送螺旋を回転自在に内装した集穀樋１３を連通させ
た構成としている。

【００１２】前記機壁７正面側において、前記送風室１
１入口側に対応すべくこの機壁７外側面には、バーナ６
を内装したバーナケース１５を着脱自在に装着すると共
に、このバーナ６、前記水分センサ４及び前記乾燥機５
を張込、乾燥及び排出の各作業別に始動及び停止操作す
る操作装置１６を着脱自在に装着して設けている。又前
記機壁７の背面側には左右の前記排風室１０，１０に連
通しうる排風路室１７を形成し、この排風路室１７中央
後部側排風胴１８には排風機１９及びこの排風機１９を
変速回転駆動する変速用の排風機モータ２０を設けた構
成としている。

【００１３】２１はバルブモータで前記繰出バルブ１
２，１２を減速機構を介して回転駆動する構成としてい
る。前記バーナケース１５下板外側には、燃料バルブを
有する燃料ポンプ２２を設け、この燃料バルブの開閉に
よりこの燃料ポンプ２２で燃料タンク２３内の燃料を吸
入して前記バーナ６へ供給する構成であり、又上板外側
には、送風機２４を変速回転駆動する変速用の送風機モ
ータ２５を設け、供給燃料量に見合った燃焼用空気を該
バーナ６へこの送風機２４で送風する構成としている。

【００１４】前記移送樋８底板の前後方向中央部には、
移送穀粒を前記貯留室１内へ供給する供給口を設け、こ
の供給口の下側にはこの貯留室１内へ穀粒を均等に拡散
還元する拡散盤２６を設けた構成としている。昇穀機２
７は、前記機壁７前外部に設けられ、内部にはバケット
コンベア２８付ベルトを張設してなり、上端部は、前記
移送樋８始端部との間において投出筒２９を設けて連通
させ、下端部は、前記集穀樋１３終端部との間において
供給樋３０を設けて連通させた構成としている。

【００１５】３１は昇穀機モータで、該バケットコンベ
ア２８付ベルト、前記移送樋８内の前記移送螺旋、前記
拡散盤２６及び集穀樋１３内の前記移送螺旋を回転駆動
する構成としている。前記昇穀機２７の上下方向ほぼ中
央部には、穀粒水分を検出する前記水分センサ４を設け
ている。この水分センサ４は前記操作装置１６からの電
気的測定信号の発信により、水分モータ３２が回転して
この水分センサ４の各部が回転駆動され、前記バケット
コンベア２８で上部へ搬送中に落下する穀粒を受け、こ
の穀粒を１粒づつ繰込ロール３２′で繰込み検出ロール
３，３へ供給され、この検出ロール３，３でこの穀粒
は、例えば、１粒づつ３２粒が挾圧粉砕され、この挾圧
粉砕ときの電圧値が検出され、この電圧値が粉砕穀粒の
水分値に置換され、この３２粒の水分値の平均値が算出
され、この平均水分値が一回の検出穀粒水分値になる構
成としている。

【００１６】前記操作装置１６は、箱形状でこの箱体の
表面板には、前記乾燥機５を張込、乾燥及び排出の各作
業別に始動操作する始動スイッチ３３、停止操作する停
止スイッチ３４、該乾燥機５で乾燥する穀粒の仕上目標
水分を操作位置により設定する水分設定抓み３５、前記
バーナ６から発生する熱風温度を操作位置により設定す
る穀物種類設定抓み３６及び張込量設定抓み３７を設
け、又各種項目をデジタル表示するデジタル表示部３８
を設けた構成としている。

【００１７】又内部には、前記水分センサ４及び熱風温
センサ３９が検出する検出値、該スイッチ３３，３４の
操作及び該設定抓み３５，３６，３７の操作が入力さ
れ、算術論理演算及び比較演算等を行なうＣＰＵ４０等
よりなる穀粒水分制御手段の制御装置４１を内蔵する構
成であり、該ＣＰＵ４０内にはファジイ制御器を有する
構成であり、該設定抓み３５，３６，３７はロータリス
イッチ方式とし、操作位置によって所定の数値及び種類
等が設定される構成としている。

【００１８】前記制御装置４１による穀粒水分検出及び
穀粒乾燥制御は、下記の如く行われる構成である。即
ち、前記水分センサ４の前記検出ロール３，３間で穀粒
を１回に複数粒挾圧粉砕のときの１粒ごとの電圧値が検
出されて該ＣＰＵ４０へ入力され、この入力から平均電
圧値及びこの電圧値の偏差値が算出されて穀粒水分に置
換され、この穀粒水分の補正制御は、ファジイ制御によ
って行われる構成であり、又この平均電圧値及び電圧値
検出のときの時間によって検出する穀粒の粒形状の検出
制御は、ファジイ制御によって行われる構成であり、こ
の粒形状の検出によって前記乾燥室２内の穀粒密度を算
出して、前記排風機１９で吸引排風する吸引風量等を制
御して穀粒を乾燥制御する構成としている。

【００１９】ファジイ制御のメンバーシップ関数とし
て、例えば、図２の如く、検出電圧値、図３の如く、検
出電圧の算出偏差値、図４の如く、穀粒の水分補正量、
図７の如く、検出時間間隔、図９の如く、停止のときの
仕上目標水分以下の検出回数、図１１の如く、検出穀粒
粒数、図１３の如く、１回の水分検出に要する時間、図
１４の如く、穀粒の粒形状を複数のグレードに分割して
前記ＣＰＵ４０へ設定して記憶させた構成としている。

【００２０】又制御ルールマップとして、図５の如く、
電圧値と電圧の偏差値とを、又図１５の如く、１回の検
出における電圧値と１回の検出における検出時間とを、
複数段階に分割して前記ＣＰＵ４０へ設定して記憶させ
た構成としている。上記の如く、設定記憶のメンバーシ
ップ関数及び制御ルールマップ等により、穀粒水分補正
量の検出制御は、下記の如く行われる構成であり、例え
ば、前記水分センサ４が検出した３２粒の穀粒水分を検
出のときの平均電圧値が３（Ｖ）であり、この３２粒の
検出電圧の偏差値が０．２であったとすると、図６の如
く、電圧値３（Ｖ）と偏差値０．２とから、図５の各グ
レード別の水分補正量（斜視線部）が検出され、この各
グレード別の水分補正量（斜視線部）が合成されて、こ
の合成水分補正（斜視線部）が検出され、この合成水分
補正量（斜視線部）のＸ軸方向とＹ軸方向との両者の重
心位置（ＹＡ）が検出され、０（Ｚ₀）位置よりＹ軸方
向の重心位置（ＹＡ）が（イ）方向側であれば＋側への
水分補正となり、（ロ）方向側であれば−側への水分補
正となる構成であり、ファジイ推論結果で求められるこ
の０（Ｚ₀）からの重心位置（ＹＡ）までの距離によっ
て水分が補正される補正量が検出される構成であり、該
水分センサ４で検出した穀粒水分が１８％であったとす
ると、重心位置（ＹＡ）が＋０．１％であり、この検出
穀粒水分は＋０．１％補正されて１８．１％であると検
出されて、前記表示部３８へ穀粒水分は１８．１％であ
ると表示する構成であり、この補正されて表示される穀
粒水分が前記水分設定抓み３５を操作して設定した仕上
目標水分と同じになると穀粒の乾燥が終了したとする構
成としている。尚図６は、ＭＡＸ−ＭＩＮ法によってい
ずれか低い側が採用されて、穀粒水分が補正される構成
であり、又図６は、図５の各グレードの内の一部のみを
記載した図であり、検出電圧値及び算出電圧偏差値の両
者共に、各グレードの範囲内にないと検出されたとき
は、データなしと処理する構成としている。

【００２１】穀粒水分を検出する時間間隔の検出制御
は、下記の如く行われる構成であり、例えば、前記水分
センサ４が検出した３２粒の穀粒水分を検出のときの平
均電圧値が３（Ｖ）であり、この３２粒の検出電圧の偏
差値が０．２であったとすると、図８図の如く、電圧値
３（Ｖ）と偏差値０．２とから、図５の各グレード別の
検出時間間隔（斜視線部）が検出され、この各グレード
別の検出時間間隔（斜視線部）が合成され、この合成検
出時間間隔（斜視線部）が検出され、この合成検出時間
間隔（斜視線部）のＸ軸方向とＹ軸方向との両者の重心
位置（ＹＡ）が検出される構成であり、ファジイ推論結
果で求められる０（Ｚ₀）から重心位置（ＹＡ）までの
距離によって検出時間間隔が設定される構成であり、現
在該水分センサ４の検出時間間隔が設定された１０分間
隔であったとすると、この検出時間間隔の１０分が検出
された重心位置（ＹＡ）の１２分間隔に変更制御される
構成としている。尚図８はＭＡＸ−ＭＩＮ法によってい
ずれか低い側が採用されて、検出時間間隔が変更される
構成であり、又図８は、図５の各グレードの内の一部の
みを記載した図であり、検出電圧値及び算出電圧偏差値
の両者共に、各グレードの範囲内にないと検出されたと
きは、データなしと処理する構成としている。

【００２２】前記乾燥機５停止のときの仕上目標水分以
下の検出回数の検出制御は、下記の如く行われる構成で
あり、例えば、前記水分センサ４が検出した３２粒の穀
粒水分を検出のときの平均電圧値が３（Ｖ）であり、こ
の３２粒の検出電圧の偏差値が０．２であったとする
と、図１０の如く、電圧値３（Ｖ）と偏差値０．２とか
ら図５の各グレード別の仕上目標水分以下の検出回数
（斜視線部）が検出され、この各グレード別の仕上目標
水分以下の検出回数（斜視線部）が合成されて、この合
成仕上目標水分以下の検出回数（斜視線部）が検出さ
れ、この合成検出回数（斜視線部）のＸ軸方向とＹ軸方
向との両者の重心位置（ＹＡ）が検出される構成であ
り、ファジイ推論結果で求められる０（Ｚ₀）から重心
位置（ＹＡ）までの距離によって仕上目標水分以下の検
出回数が設定される構成であり、現在該水分センサ４が
検出する平均穀粒水分が、仕上目標水分以下を３回検出
すると穀粒の乾燥が終了下とすることであると、この検
出回数の３回が検出された重心位置（ＹＡ）の２．７５
回に変更制御される構成としている。尚図１０は、ＭＡ
Ｘ−ＭＩＮ法によっていずれか低い側が採用されて、仕
上目標水分以下の検出回数が変更される構成であり、又
図１０は、図５の各グレードの内の一部のみを記載した
図であり、検出電圧値及び算出電圧偏差値の両者共に、
各グレードの範囲内にないと検出されたときは、データ
なしと処理する構成としている。

【００２３】一回の平均穀粒水分を検出する検出穀粒粒
数の検出制御は、下記の如く行われる構成であり、例え
ば、前記水分センサ４が検出した３２粒の穀粒水分を検
出のときの平均電圧値が３（Ｖ）であり、この３２粒の
検出電圧の偏差値が０．２であったとすると、図１２の
如く、電圧値３（Ｖ）と偏差値０．２とから図５の各グ
レード別の一回の検出穀粒粒数（斜視線部）が検出さ
れ、この各グレード別の穀粒粒数（斜視線部）が合成さ
れて、この合成穀粒粒数（斜視線部）が検出され、この
合成穀粒粒数（斜視線部）のＸ軸方向とＹ軸方向との両
者の重心位置（ＹＡ）が検出される構成であり、ファジ
イ推論結果で求められる０（Ｚ₀）から重心位置（Ｙ
Ａ）までの距離によって検出穀粒粒数が設定される構成
であり、現在該水分センサ４の検出穀粒粒数が設定され
た３２粒であったとすると、この検出穀粒粒数３２粒が
検出された重心位置（ＹＡ）の３０粒に変更制御される
構成としている。尚図１２は、ＭＡＸ−ＭＩＮ法によっ
ていずれか低い側が採用されて、検出穀粒粒数が変更さ
れる構成であり、又図１２は、図５の各グレードの内の
一部のみを記載した図であり、検出電圧値及び算出電圧
偏差値の両者共に、各グレードの範囲内にないと検出さ
れたときは、データなしと処理する構成としている。

【００２４】又乾燥中の穀粒の粒形状の検出制御は、下
記の如く行われる構成であり、例えば、前記水分センサ
４が検出した３２粒の穀粒水分を検出のときの平均電圧
値が３（Ｖ）であり、この３２粒検出のときの１回の水
分検出に要した時間が２．４秒であったとすると、図１
６の如く、電圧値３（Ｖ）と時間２．４秒とから、図１
５の各グレード別の穀粒の粒形状（斜視線部）が検出さ
れ、この各グレード別の粒形状（斜視線部）が合成され
て、この合成粒形状（斜視線部）が検出され、この合成
粒形状（斜視線部）のＸ軸方向とＹ軸方向との両者の重
心位置（ＹＡ）が検出され、０（Ｚ₀）位置よりＹ軸方
向の重心位置（ＹＡ）が（イ）方向側であれば標準粒形
状より大であり、（ロ）方向側であれば標準粒形状より
小であるとする構成であり、ファジイ推論結果で求めら
れるこの０（Ｚ₀）から重心位置（ＹＡ）までの距離に
よって穀粒の粒形状が標準粒形状より大であるか、又は
小であるかが検出される構成であり、該水分センサ４が
検出した穀粒の粒形状は、重心位置（ＹＡ）が＋０．５
であり、標準粒形状と大粒形状との中間形状の粒形状と
検出される構成としている。尚図１６はＭＡＸ−ＭＩＮ
法によっていずれか低い側が採用されて、穀粒の粒形状
が検出される構成であり、又図１６は、図１５の各グレ
ードの内の一部のみを記載した図であり、検出電圧値及
び検出時間の両者共に、各グレードの範囲内にないと検
出されたときは、データなしと処理される構成としてい
る。

【００２５】前記の粒形状の検出により、この検出され
た粒形状によって前記乾燥室２の穀粒密度が、標準穀粒
形状のときの標準穀粒密度を基準とし推定され、この推
定穀粒密度によって、前記排風機１９を回転駆動する前
記排風機モータ２０の回転数が増減制御され、この排風
機１９で吸引排風する吸引風量が増減制御される構成と
している。

【００２６】併せて、前記制御装置４１は次の機能を有
する。前記設定抓み３６，３７を操作して設定された熱
風温度と、前記熱風温度センサ３９が検出する前記バー
ナ６から発生した熱風温度とが比較され、相違している
と設定熱風温度と同じ温度になるように、前記燃料バル
ブの開閉回数が制御され、前記燃料ポンプ２２で前記燃
料タンク２３より吸入する燃料量が制御される構成とし
ている。

【００２７】以下、上記実施例の作用について説明す
る。操作装置１６の設定抓み３５，３６，３７を所定位
置へ操作し、穀粒の乾燥作業を開始する始動スイッチ３
３を操作することにより、穀粒乾燥機５の各部、バーナ
６及び水分センサ４等が始動し、該バーナ６から熱風が
発生し、この熱風は送風室１１から穀粒乾燥室２，２を
通過して排風室１０，１０及び排風路室１７を経て排風
機１９で吸引排風されることにより、穀粒貯留室１内へ
収容された穀粒は、この貯留室１から該乾燥室２，２内
を流下中にこの熱風に晒されて乾燥され、繰出バルブ１
２，１２で下部へと繰出されて流下して集穀樋１３から
供給樋３０を経て昇穀機２７内へ下部の移送螺旋で移送
供給され、バケットコンベア２８で上部へ搬送されて投
出筒２９を経て移送樋８内へ供給され、この移送樋８か
ら拡散盤２６上へ上部の移送螺旋で移送供給され、この
拡散盤２６で該貯留室１内へ均等に拡散還元されて循環
乾燥され、該水分設定抓み３５を操作して設定した仕上
目標水分と同じ穀粒水分を該水分センサ４が検出する
と、穀粒の乾燥が終了したと検出され、制御装置４１で
自動制御して該乾燥機５が自動停止され、穀粒の乾燥が
停止される。

【００２８】この乾燥作業中は、該バケットコンベア２
８で上部へ搬送中に落下する穀粒を該水分センサ４で受
け、この穀粒を１粒づつ繰込ロール３２′で繰込み検出
ロール３，３へ供給され、この検出ロール３，３間でこ
の穀粒は１粒づつ所定粒数が挾圧粉砕され、この挾圧粉
砕のときの電圧値が検出され、この電圧値が粉砕穀粒の
水分値に置換され、この所定粒数の水分値の平均値が算
出され、この平均水分値が一回の検出穀粒水分値となる
が、この検出電圧値とこの電圧値から算出される偏差値
とによって、ファジイ制御により、検出穀粒水分が所定
量補正制御されたり、穀粒水分検出の時間間隔が変更制
御されたり、停止のときの目標水分以下の検出回数が変
更制御されたり、一回に検出する穀粒の粒数が変更制御
されたりして穀粒の水分は検出される。又検出電圧値と
この検出のときの時間とによって、ファジイ制御によ
り、穀粒の粒形状が検出され、この検出された粒形状に
より、該乾燥室２内の穀粒密度が推定されて、該排風機
１９で吸引排風する吸引風量が増減制御されながら、穀
粒は乾燥される。

【図面の簡単な説明】

図は、この発明の一実施例を示す。

【図１】ブロック図。

【図２】電圧値とグレードとの関係図。

【図３】電圧の偏差値とグレードとの関係図。

【図４】穀粒水分の補正量とグレードとの関係図。

【図５】電圧値と電圧の偏差値との関係図。

【図６】電圧値及び電圧の偏差値と水分補正量との関係
図。

【図７】検出時間間隔とグレードとの関係図。

【図８】電圧値及び電圧の偏差値と時間間隔との関係
図。

【図９】仕上目標水分以下の検出回数とグレードとの関
係図。

【図１０】電圧値及び電圧の偏差値と仕上目標水分以下
の検出回数との関係図。

【図１１】穀粒粒数とグレードとの関係図。

【図１２】電圧値及び電圧の偏差値と穀粒粒数との関係
図。

【図１３】１回の水分検出に要する時間とグレードとの
関係図。

【図１４】穀粒粒形状とグレードとの関係図。

【図１５】１回の検出における電圧値と１回の検出にお
ける検出時間との関係図。

【図１６】電圧値及び１回の水分検出に要する時間と穀
粒の粒形状との関係図。

【図１７】穀粒乾燥機の一部破断せる全体側面図。

【図１８】図１７のＡ−Ａ拡大断面図。

【図１９】穀粒乾燥機の一部の一部破断せる拡大正面
図。

【図２０】水分センサの拡大背面図。

【図２１】水分センサの拡大側断面図。

【符号の説明】

１ 穀粒貯留室 ２ 穀粒乾燥室 ３ 検出ロール ４ 水分センサ

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 上部の穀粒貯留室１から下部の穀粒乾燥
   室２へ穀粒を繰出し流下させながら熱風を該乾燥室２へ
   通風して乾燥すると共に、この循環乾燥中の穀粒が検出
   ロール３，３間を通過のときの電圧値によって穀粒水分
   を検出する水分センサ４を設けた穀粒乾燥機において、
   該水分センサ４が検出する電圧値、及びこの電圧値から
   算出する偏差値に基づいて穀粒水分制御手段で検出穀粒
   水分を補正制御することを特徴とする穀粒水分検出方
   式。
2. 【請求項２】 上部の穀粒貯留室１から下部の穀粒乾燥
   室２へ穀粒を繰出し流下させながら熱風を該乾燥室２へ
   通風して乾燥すると共に、この循環乾燥中の穀粒が検出
   ロール３，３間を通過のときの電圧値によって穀粒水分
   を検出する水分センサ４を設けた穀粒乾燥機において、
   該水分センサ４が検出する電圧値、及びこの電圧値を検
   出するときの検出時間によって穀粒水分制御手段で穀粒
   の粒形状を検出することを特徴とする穀粒水分検出方
   式。