JP2000065478A - 穀粒乾燥機の水分測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】穀粒の水分値を検出する粒数を変更して設定
し、正確な穀粒水分値を検出しようとするものである。 【解決手段】穀粒乾燥室で乾燥する穀粒の水分値を水分
センサで所定粒数を測定して平均値処理して、検出した
平均穀粒水分値とすると共に、初期水分測定結果から偏
差αを算出して、この偏差αに基づいて次回に測定する
粒数を設定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、穀粒乾燥室で乾
燥する穀粒の水分を、水分センサで所定粒数を測定して
平均値処理して、検出した穀粒水分値とすると共に、初
期水分測定結果から偏差を算出して該偏差に基づいて次
回に測定する粒数を設定制御する技術であり、穀粒乾燥
機の水分測定装置として利用できる。

【０００２】

【従来の技術】穀粒乾燥室内で穀粒は乾燥され、この穀
粒は水分センサで所定粒数が測定されて平均値処理さ
れ、この平均値処理された穀粒水分値が検出した穀粒水
分値となり、この検出した穀粒水分値が仕上目標水分値
に達すると乾燥が終了したとして、穀粒の乾燥を停止す
る。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】乾燥中の穀粒水分を水
分センサで検出するときは、常に所定粒数ので検出する
ことにより、例えば、乾燥中の穀粒が水分値のばらつき
の多い穀粒であったり、又、青米の混入の多い穀粒であ
ると、正確な穀粒水分値が検出されないことがあった
が、この発明により、この問題点を解消しようとするも
のである。

【０００４】

【課題を解決するための手段】このために、この発明
は、穀粒を乾燥する穀粒乾燥室８と、所定粒数の穀粒水
分を測定して平均値処理して検出した平均穀粒水分値Ｍ
Ｓとする水分センサ２とを設けた穀粒乾燥機において、
初期水分測定結果から偏差αを算出して該偏差αに基づ
いて次回に測定する粒数を設定すべく制御する制御装置
３９を設けたことを特徴とする穀粒乾燥機の水分測定装
置の構成とする。

【０００５】

【発明の作用】穀粒乾燥室８内で穀粒は乾燥され、この
穀粒は水分センサ２で所定粒数が測定されて平均値処理
され、この平均値処理された穀粒水分値が検出した穀粒
水分値ＭＳとすると共に、初期に所定粒数測定した穀粒
水分値から偏差αが算出され、この偏差αによって次回
に測定する粒数が設定される。例えば、偏差αが大きい
ときは、多い粒数を測定すべく設定され、又、小さいと
きは、少ない粒数を測定すべく設定され、次回からは、
この設定された粒数が測定されて平均値処理され、この
平均値処理された穀粒水分値が検出した穀粒水分値とな
り、この検出した穀粒水分値ＭＳが仕上目標水分値に達
すると乾燥が終了したとして、穀粒の乾燥を停止する。

【０００６】

【発明の効果】水分センサ２で初期（一回目）に所定粒
数測定した穀粒水分から偏差αか算出され、この偏差α
により、次回からの測定粒数が設定制御されることによ
り、穀粒水分のばらつきが多い穀粒のとき、及び青米混
入の多い穀粒のときは、測定粒数が多くなるように設定
制御されることにより、正確な穀粒水分値ＭＳを得るこ
とができるし、又、上記とは逆の穀粒のときには、測定
粒数が少なくなることにより、穀粒のロスを減少させる
ことができる。

【０００７】

【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施例を図面に
基づいて説明する。図例は、穀粒を乾燥する循環型の穀
粒乾燥機１に穀粒の水分を検出する水分センサ２、及び
熱風が発生するバーナ３等を装着した状態を示し、水分
測定装置であるこの水分センサ２を図示して説明する。

【０００８】前記乾燥機１は、前後方向に長い長方形状
で機壁４上部には、移送螺旋を回転自在に内装した移送
樋５、及び天井板６を設け、この天井板６下側には穀粒
を貯留する穀粒貯留室７を形成している。穀粒乾燥室
８，８は、貯留室７下側において、左右両側の排風室
９，９と中央の送風室１０との間に設け、これら乾燥室
８，８下部には、穀粒を繰出し流下させる繰出バルブ１
１を夫々回転自在に軸支している。

【０００９】集穀樋１２は、移送螺旋を回転自在に軸支
し、各乾燥室８，８下側に設けて連通させている。前記
バーナ３は、バーナケース１３に内装して設け、このバ
ーナケース１３は、前側機壁４正面側において、送風室
１０入口側に対応すべくこの前側機壁４外側面に着脱自
在に設け、又、乾燥機１、水分センサ２、及び該バーナ
３等を張込、乾燥、及び排出の各作業別に始動、及び停
止操作する操作装置１４は、該前側機壁４外側面に着脱
自在に設けている。

【００１０】排風機１５は、後側機壁４で、左右の排風
室９，９に連通すべく設けた排風路室ケース１６の中央
部側排風胴１７に設け、又、この後側機壁４には、この
排風機１５を回転駆動する排風機モータ１８を設けてい
る。バルブモータ１９は、繰出バルブ１１，１１を減速
機構を介して回転駆動させている。

【００１１】燃料ポンプ２０は、燃料バルブを有して、
バーナケース１３下板外側に設け、この燃料バルブの開
閉により、この燃料ポンプ２０で燃料タンク２１内の燃
料を吸入して、バーナ３へ供給させている。送風機２２
は、上板外側に設け、変速用の送風機モータ２３で変速
回転駆動させ、供給燃料量に見合った燃焼用空気を該バ
ーナ３へこの送風機２２で送風させている。該バーナ３
から発生する熱風と該バーナケース１３内を通過する外
気風とが混合して乾燥熱風になる構成である。

【００１２】拡散盤２４は、移送樋５底板の前後方向中
央部で、移送穀粒を貯留室７へ供給する供給口の下側に
設け、該貯留室７へ穀粒を均等に拡散還元させている。
昇穀機２５は、前側機壁４外側部に設けられ、内部には
バケットコンベア２６付ベルトを張設してなり、上端部
は、移送樋５始端部との間において投出筒２７を設けて
連通させて、下端部は、集穀樋１２終端部との間におい
て供給樋２８を設けて連通させている。

【００１３】昇穀機モータ２９は、バケットコンベア２
６付ベルト、移送樋５内の移送螺旋、拡散盤２４、及び
集穀樋１２内の移送螺旋等を回転駆動させている。前記
水分センサ２は、昇穀機２５の上下方向ほぼ中央部に設
けている。この水分センサ２は、操作装置１４からの電
気的測定信号の発信により、水分モータ３０が回転し
て、この水分センサ２の各部が回転駆動され、バケット
コンベア２６で上部へ搬送中に落下する穀粒を繰込ロー
ル３０ａと案内板３０ｂとで受けて、この穀粒を一粒づ
つ繰込み、下側の検出ロール３０ｃ，３０ｃへ供給さ
れ、この穀粒を該検出ロール３０ｃ，３０ｃで、例え
ば、１００粒を挾圧粉砕しながら、この粉砕穀粒の水分
を検出させて平均値を算出させ、この平均値を一回の検
出した穀粒水分値ＭＳとしている。又、この初期（一回
目）に検出した１００粒の穀粒水分の結果から偏差αが
算出され、この偏差αに基づいて、次回に測定する穀粒
の粒数を設定する構成である。

【００１４】前記操作装置１４は、箱形状でこの箱体の
表面板には、乾燥機１、水分センサ２、及びバーナ３等
を張込、乾燥、及び排出の各作業別に始動操作する押ボ
タン方式でＯＮ−ＯＦＦスイッチの各始動手段３１、停
止操作する停止手段３２、穀粒の仕上目標水分を操作位
置によって設定する水分設定抓み３３、該バーナ３から
発生する熱風の温度を操作位置によって設定する穀物種
類設定抓み３４、及び張込量設定抓み３５、各種表示項
目をデジタル表示する表示部３６、及びモニタ表示３７
等を設けている。

【００１５】制御装置３９は、操作装置１４内に設けら
れ、水分センサ２、及び熱風温センサ３８等が検出する
検出値、各始動手段３１、停止手段３２、及び各設定抓
み３３，３４，３５の操作等が入力され、これらの入力
を算術論理演算、及び比較演算するＣＰＵ４０等よりな
り、このＣＰＵ４０で各モータ１８，１９，２３，２
９，３０、燃料バルブ、及び燃料ポンプ２０等を始動、
停止、及び調節制御等を行う構成である。該各設定抓み
３３，３４，３５はロータリースイッチ方式とし、操作
位置によって所定の数値、及び種類等が設定される。

【００１６】前記水分センサ２で穀粒の水分値の検出制
御、及びこの水分値の検出結果から偏差αを算出し、こ
の偏差αに基づいて次回に測定する穀粒の粒数を算出す
る算出制御は、制御装置３９のＣＰＵ４０により、下記
の如く行われる構成である。前記水分センサ２で、例え
ば、穀粒開始の初期（一回目）に検出する一回１００粒
の穀粒の水分値がＣＰＵ４０へ入力され、この検出した
１００粒の平均値がこのＣＰＵ４０で算出され、この平
均値を一回の検出した穀粒水分値ＭＳとする構成であ
る。

【００１７】上記で１００粒入力された穀粒水分値から
偏差αが、前記ＣＰＵ４０で算出され、この算出した偏
差αにより、このＣＰＵ４０で次回に測定する穀粒の粒
数が下記計算式によって求める構成であり、この式によ
って算出された粒数の穀粒の水分値が検出される構成と
している。尚、次回の水分検出誤差を確率９５％で水分
測定誤差値ｍｄ％を、例えば２．５％以下におさめるた
めに必要な粒数Ｎは下記計算式によって算出する構成で
ある。乾燥中の穀粒の性状を正確に把握して、正確な穀
粒水分値ＭＳを検出する構成である。

【００１８】Ｎ＝（２×α／ｍｄ％）×２ 前記水分センサ２の粒数制御は、図１で示すフローチャ
ートに沿って作用を説明すると、乾燥作業がスタートさ
れ（Ｓ−１０１）、乾燥始動手段３１がＯＮ操作され
（Ｓ−１０２）、穀粒の水分測定開始か判定され（Ｓ−
１０３）、ＮＯと判定されると（Ｓ−１０３）へ戻る。
ＹＥＳと判定されると穀粒の水分測定が終了か判定され
（Ｓ−１０４）、ＮＯと判定されると（Ｓ−１０４）へ
戻る。ＹＥＳと判定されると偏差αが算出されたか判定
され（Ｓ−１０５）、ＮＯと判定されると（Ｓ−１０
５）へ戻る。ＹＥＳと判定されると次回の穀粒の水分測
定粒数が算出され、偏差αが大であると判定されると、
粒数は多く検出すべく設定され、又、偏差αが小である
と判定されると、粒数は少なくすべく設定され（Ｓ−１
０６）、リターンされる（Ｓ−１０７）。

【００１９】前記水分センサ２で検出する穀粒の粒数の
制御は、この水分センサ２で、例えば、乾燥開始の初期
（一回目）に検出する一回１００粒の穀粒の水分値がＣ
ＰＵ４０へ入力され、この入力された１００粒の所定値
以上、及び所定値以下がカット処理され、残った水分値
を有効水分値とし、この有効水分値の平均値が算出さ
れ、この平均値を一回の検出した穀粒水分値ＭＳとする
構成とすると共に、この有効水分値から偏差αが算出さ
れ、この算出した偏差αにより、次回に測定する穀粒の
粒数が下記計算式によって算出する構成である。尚、水
分測定誤差値ｍｄ％を加味した計算式としている。

【００２０】Ｎ＝（２×α／ｍｄ％）×２ 前記水分センサ２の粒数制御は、図７で示すフローチャ
ートに沿って作用を説明すると、乾燥作業がスタートさ
れ（Ｓ−２０１）、（Ｓ−２０２）へ進み、（Ｓ−２０
２）〜（Ｓ−２０５）は図示の如く制御され、有効水分
値から偏差αが算出されたか判定され（Ｓ−２０６）、
ＮＯと判定されると（Ｓ−２０６）へ戻る。ＹＥＳと判
定されると（Ｓ−２０７）へ進み（Ｓ−２０７）、及び
（Ｓ−２０８）は図示の如く制御される。（Ｓ−２０
７）で偏差αが大であると判定されると、粒数は多く検
出すべく設定され、又、偏差αが小であると判定される
と、粒数は少く検出すべく設定される。

【００２１】これにより、穀粒の性状は水分値によって
移行する傾向にあるために、有効水分値を検出して、こ
の有効水分値によって測定誤差を考慮した粒数の的確な
変更が可能になる。前記水分センサ２で検出する穀粒の
粒数制御は、この水分センサ２で、例えば、乾燥開始の
初期（一回目）に検出する一回１００粒の穀粒の水分値
がＣＰＵ４０へ入力され、この入力された１００粒の平
均値が算出され、この平均値を一回の検出した穀粒水分
値ＭＳとすると共に、この１００粒の水分値の偏差αが
算出され、この偏差αが該ＣＰＵ４０へ設定して記憶さ
せた偏差α₁以上であれば、下記計算式により、次回に
測定する穀粒の粒数を算出する構成であり、この算出さ
れた粒数で穀粒の水分値を検出する構成である。又、偏
差αが偏差α₁以下であれば、規定の粒数で穀粒の水分
値を検出する構成である。

【００２２】Ｎ＝（２×α／ｍｄ％）×２ 前記水分センサ２の粒数制御は、図８で示すフローチャ
ートに沿って作用を説明すると、乾燥作業がスタートさ
れ（Ｓ−３０１）、（Ｓ−３０２）へ進み、（Ｓ−３０
２）〜（Ｓ−３０５）は図示の如く制御され、偏差α≧
設定して記憶させた偏差α₁か判定され、ＹＥＳと判定
されると次回の水分測定粒数が増加設定制御され（Ｓ−
３０７）、ＯＮと判定されると次回の水分測定粒数は規
定粒数値に制御され（Ｓ−３０８）、（Ｓ−３０７）、
及び（Ｓ−３０８）はリターンする（Ｓ−３０９）。

【００２３】これにより、穀粒の水分値を正確に検出で
きると共に、検出による穀粒のロスを減少させることが
できる。前記水分センサ２で検出する穀粒の粒数制御
は、この水分センサ２で、例えば、乾燥開始の初期（一
回目）に検出する一回１００粒の穀粒の水分値がＣＰＵ
４０へ入力され、この入力された１００粒の平均値が算
出され、この平均値を一回の検出した穀粒水分値ＭＳと
すると共に、この１００粒の水分値の偏差αを算出す
る。又、所定回数（Ｎ回）目までの偏差αデータを算出
する。この算出で得た値により、最小二乗法（近似関数
算出）によって、図９で示す如く所定回数（Ｎ回）目ま
での傾きｎを求め、この傾きｎによって所定回数（Ｎ
回）目以降の検出する穀粒の粒数を増減設定制御する構
成である。

【００２４】前記水分センサ２の粒数制御は、図１０で
示すフローチャートに沿って作用を説明すると、乾燥作
業がスタートされ（Ｓ−４０１）、（Ｓ−４０２）へ進
み、（Ｓ−４０２）〜（Ｓ−４０６）は図示の如く制御
され、傾きｎ≧所定傾きＫ１か判定され、ＹＥＳと判定
されると測定粒数は１５０粒測定され（Ｓ−４０８）、
（Ｓ−４０７）でＮＯと判定されると所定傾きＫ１＞傾
きｎ≧所定傾きＫ２か判定され（Ｓ−４０９）、ＹＥＳ
と判定されると測定粒数は１００粒測定され（Ｓ−４１
０）、（Ｓ−４０９）でＮＯと判定される所定傾きＫ２
＞傾きｎか判定され（Ｓ−４１１）、ＹＥＳと判定され
ると測定粒数は７５粒測定され（Ｓ−４１２）、（Ｓ−
４１１）でＮＯと判定されると（Ｓ−４０７）へ戻る。
（Ｓ−４０８）、（Ｓ−４１０）、及び（Ｓ−４１２）
はリターンする（Ｓ−４１３）。

【００２５】乾燥中の穀粒の性状は、乾燥経過にともな
って変化する傾向にあり、偏差αの変化は図９で示す傾
向であり、高水分値では測定粒数が少ないと誤差が増加
し、又、穀粒の性状の安定したところで多量に測定する
と穀粒がロスになるが、これらの問題点を本発明によっ
て解消して、適正粒数で水分測定が可能になる。前記水
分センサ２で検出する穀粒の粒数の制御は、この水分セ
ンサ２で、例えば、乾燥開始の初期（一回目）に検出す
る一回１００粒の穀粒の水分値がＣＰＵ４０へ入力さ
れ、この入力された１００粒の平均値が算出され、この
平均値を一回の検出した穀粒水分値ＭＳとすると共に、
この１００粒の水分値の偏差αを算出する。又、所定回
数（Ｎ回）目までの偏差αデータを算出すると共に、平
均水分値を算出する。この算出で得た値により、最小二
乗法（近似関数算出）によって、図９で示す如く所定回
数（Ｎ回）目までの傾きｎを求め、この傾きｎと平均水
分値とによって所定回数（Ｎ回）目以降の検出する穀粒
の粒数を増減設定制御する構成である。

【００２６】前記水分センサ２の粒数制御は図１１で示
すフローチャートに沿って作用を説明すると、乾燥作業
がスタートされ（Ｓ−５０１）、（Ｓ−５０２）へ進
み、（Ｓ−５０２）〜（Ｓ−５０６）は図示の如く制御
され、平均水分値ＭＳ≧所定水分値Ｍｎ１か、又、傾き
ｎ≧所定傾きＫ１か判定され（Ｓ−５０７）、ＹＥＳと
判定されると測定粒数１５０粒測定され（Ｓ−５０
８）、（Ｓ−５０７）でＮＯと判定されると平均水分値
ＭＳ≧所定水分値Ｍｎ１か、又、所定傾きＫ１＞傾きｎ
か判定され（Ｓ−５０９）、ＹＥＳと判定されると測定
粒数１２５粒測定され（Ｓ−５１０）、（Ｓ−５０９）
でＮＯと判定されると所定水分値Ｍｎ１＞平均水分値Ｍ
Ｓか、又、傾きｎ≧所定傾きＫ１か判定され（Ｓ−５１
１）、ＹＥＳと判定されると測定粒数１００粒測定され
（Ｓ−５１２）、（Ｓ−５１１）でＮＯと判定されると
所定水分値Ｍｎ１＞平均水分値ＭＳか、又、所定傾きＫ
１＞傾きｎか判定され（Ｓ−５１３）、ＹＥＳと判定さ
れると測定粒数７５粒測定され（Ｓ−５１４）、ＮＯと
判定されると（Ｓ−５０７）へ戻る。（Ｓ−５０８）、
（Ｓ−５１０）、（Ｓ−５１２）、及び（Ｓ−５１４）
はリターンする（Ｓ−５１５）。

【００２７】乾燥中の穀粒の性状は変化し、このため
に、高水分値では測定粒数が少ないと誤差が発生し、
又、低水分値では測定粒数が多いとロスになるが、本発
明によって解消し、適正粒数で水分測定が可能になる。
前記乾燥機１で乾燥する穀粒の乾減率ＤＲを設定する乾
減率設定抓み４１を有する該乾燥機１であり、この乾減
率設定抓み４１の操作で設定する乾減率ＤＲにより、水
分センサ２で検出する穀粒の粒数を設定制御する構成で
あり、例えば、設定する乾減率ＤＲが０．６％／Ｈのと
きは、検出する一回の粒数は７５粒とし、０．１％／Ｈ
増加設定する毎に２５粒増加して穀粒水分値を検出する
構成である。

【００２８】前記水分センサ２の粒数制御は、図１２で
示すフローチャートに沿って作用を説明すると、乾燥作
業がスタートされ（Ｓ−６０１）、（Ｓ−６０２）へ進
み、（Ｓ−６０２）〜（Ｓ−６０４）は図示の如く制御
され、乾減率ＤＲ０．６％／Ｈが設定されたか判定され
（Ｓ−６０５）、ＹＥＳと判定されると測定粒数７５粒
が設定され（Ｓ−６０６）、（Ｓ−６０５）でＮＯと判
定されると（Ｓ−６０７）へ進み、（Ｓ−６０７）〜
（Ｓ−６１３）は図示の如く制御され、リターンする
（Ｓ−６１４）。

【００２９】乾燥する穀粒の種類、及び品種等により、
設定する乾減率ＤＲが異なり、このために、乾燥途中で
穀粒の性状の変化の仕方が異なり、水分測定の誤差が大
きくなることがあり、又、乾減率ＤＲが大きいときは、
穀粒の検出した水分値のばらつきが大きくなることがあ
り、測定粒数を多くする必要がある。又、乾減率ＤＲが
小さいときは、穀粒の性状は安定しながら乾燥すること
により、測定粒数を少くすることができる。本発明によ
り、上記の問題点を解消することができ、適正粒数で水
分測定が可能である。

【００３０】前記乾燥機１で乾燥する穀粒の乾減率ＤＲ
の設定値と、検出した初期（一回目）の穀粒粒水分値Ｍ
Ｓとにより、一回に測定する穀粒の粒数を設定制御する
構成としている。前記水分センサ２の粒数制御は、図１
３で示すフローチャートに沿って作用を説明すると、乾
燥作業がスタートされ（Ｓ−７０１）、（Ｓ−７０２）
へ進み、（Ｓ−７０２）〜（Ｓ−７０７）は図示の如く
制御され、乾減率ＤＲ＞０．７％／Ｈか、又、初期（一
回目）の穀粒水分値ＭＳ＞２０％か判定され（Ｓ−７０
８）、ＹＥＳと判定されると測定粒数１５０粒が設定さ
れ（Ｓ−７０９）、（Ｓ−７０８）でＮＯと判定される
と（Ｓ−７１０）へ進み、（Ｓ−７１０）〜（Ｓ−７１
６）は図示の如く制御され、リターンする（Ｓ−７１
７）。

【００３１】穀粒の種類、品種、及び乾減率ＤＲ等によ
り、乾燥中の穀粒の性状が変化の仕方が異なり、水分測
定の誤差が大きくなり、又、乾減率ＤＲの設定が大きい
ときは、検出した穀粒水分値ＭＳを算出する一粒毎の水
分値のばらつきが大きくなり、測定粒数を多くする必要
がある。乾減率ＤＲの設定が小さいときは、性状が安定
しながら乾燥することにより、測定粒数を少くすること
ができる。本発明により、水分値ＭＳと乾減率ＤＲとに
より、一回の測定粒数を設定制御することにより、高水
分域では多粒測定し、低水分域では少粒測定することに
より、適正粒数で水分測定が可能になる。

【００３２】前記水分センサ２で検出する穀粒の粒数の
制御は、検出した穀粒水分値ＭＳと乾燥中に算出される
穀粒の乾減率ＤＲ０により、設定制御するが、この乾燥
中に算出される穀粒の乾減率ＤＲ０は、低乾減率ＤＲ０
が算出され、この低乾減率ＤＲ０が所定時間Ｔ以上経過
したときは、乾燥状態が特異状態であり、例えば、餅米
粒であったり、湿度が高湿度で乾燥が進まないとき、張
込穀粒量が極端に少量であり、乾燥室８を乾燥熱風が吹
き抜け状態となり、穀粒が乾燥されてない状態のとき等
は、次回に検出する穀粒の粒数を変更して設定制御する
構成である。

【００３３】前記水分センサ２の粒数制御は、図１４で
示すフローチャートに沿って作用を説明すると、乾燥作
業がスタートされ（Ｓ−８０１）、（Ｓ−８０２）へ進
み、（Ｓ−８０２）〜（Ｓ−８０９）は図示の如く制御
され、所定時間Ｔ以上経過か判定され（Ｓ−８１０）、
ＹＥＳと判定されると測定粒数７５粒が設定され（Ｓ−
８１１）、（Ｓ−８１０）でＮＯと判定されると測定粒
数１００粒が設定され（Ｓ−８１２），（Ｓ−８１
１）、及び（Ｓ−８１２）はリタ−ンする（Ｓ−８１
３）。

【００３４】これにより、乾燥状態が特異状態での多粒
の測定が防止され、穀粒のロスを減少させることができ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】フローチャート図

【図２】一部断面した穀粒乾燥機の全体側面図

【図３】図２のＡ−Ａ拡大断面図

【図４】水分センサの一部の拡大側面斜視図

【図５】操作装置の一部破断した拡大正面図

【図６】ブロック図

【図７】他の実施例を示す図で、フローチャート図

【図８】他の実施例を示す図で、フローチャート図

【図９】他の実施例を示す図で、偏差と乾燥経過時間と
の関係図

【図１０】他の実施例を示す図で、フローチャート図

【図１１】他の実施例を示す図で、フローチャート図

【図１２】他の実施例を示す図で、フローチャート図

【図１３】他の実施例を示す図で、フローチャート図

【図１４】他の実施例を示す図で、フローチャート図

【符号の説明】

２ 水分センサ ８ 穀粒乾燥室 ３９ 制御装置 ＭＳ 平均穀粒水分値 α 偏差

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 穀粒を乾燥する穀粒乾燥室８と、所定粒
   数の穀粒水分を測定して平均値処理して検出した平均穀
   粒水分値ＭＳとする水分センサ２とを設けた穀粒乾燥機
   において、初期水分測定結果から偏差αを算出して該偏
   差αに基づいて次回に測定する粒数を設定すべく制御す
   る制御装置３９を設けたことを特徴とする穀粒乾燥機の
   水分測定装置。