JPH05102114A - 半導体ウエハの仮置台 - Google Patents

半導体ウエハの仮置台

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JPH05102114A
JPH05102114A JP28201391A JP28201391A JPH05102114A JP H05102114 A JPH05102114 A JP H05102114A JP 28201391 A JP28201391 A JP 28201391A JP 28201391 A JP28201391 A JP 28201391A JP H05102114 A JPH05102114 A JP H05102114A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
annular rib
semiconductor wafer
base
outer edge
annular
Prior art date
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Pending
Application number
JP28201391A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuo Kobayashi
一雄 小林
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Shibayama Kikai Co Ltd
Original Assignee
Shibayama Kikai Co Ltd
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Publication date
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  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】 平面自動研削加工前の半導体ウエハの下面を
水流によって洗浄すると同時に位置合わせをする仮置台
の改良。 【構成】 給水管1へ基盤2を嵌着させ、基盤へは円盤
部2bと外縁部2cと内環状2dリブと段部2lと内室
底部2fとを形成すると共に、内部を貯溜室とする水量
制御盤へは複数の流通孔3bと側壁3cと円形天板部3
dとを形成し、円形天板部と内環状リブとの間に環状間
隙を設け、外側環状部材5へは外環状リブ5aと環状リ
ブの任意の直径で切断される半円周側の頂部へ複数のス
トッパー5bとテーパー部5cと平坦環状部5dを形成
させて、外径が相違する複数の外側環状部材を基盤の外
縁部へ着脱自在に嵌着させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は平面自動研削盤等の半導
体ウエハを研削加工するチャック機構の上面へ移送する
前段階での仮置台であって、詳しくは研削加工前の半導
体ウエハの下面を水流によって洗浄すると同時に位置合
わせをする仮置台に関するものである。
【0002】
【従来技術とその問題点】近年、この種の半導体ウエハ
は製品の歩留まりの関係から、仕上面の高精度化に加え
て、極薄化、拡径化が要求されており、其れに伴って半
導体ウエハを研削加工する平面研削盤も仕上面の高精度
化、極薄化、拡径化に対応できる機構が求められてお
り、そのため対応が急務である。
【0003】この種の平面自動研削盤は、半導体ウエハ
をバキューム吸着する機能を有したチャック機構の平坦
面へ吸着させ、上方から先端に研削砥石を備えたスピン
ドル軸を降下させて研削加工を施し、研削加工後はエア
を逆送してバキューム吸着を開放し、吸着パットを先端
に備えた移送アームで吸着させて搬送し洗浄、格納して
いるものであり、研削加工時の半導体ウエハの位置合わ
せは、チャック機構上で行うか、或いは、チャック機構
へ移送する前段階での仮置台で行なっているものであ
る。
【0004】然し乍ら、平坦なチャック機構上で位置合
わせを行う場合には、チャック機構の上面の全面へ涌水
で適宜な水層を形成し、該水層の表面張力によって中心
位置へセンタリングをしていたが、適宜な水層を形成す
るために水量を絶えず管理しなければならず、その上、
水層を形成してセンタリングを行いバキューム吸着させ
るのに時間の係る工程と成っていた。
【0005】又、仮置台で位置合わせをする場合には、
円盤状の基体の外周縁へ縁部を有したもので、予め、周
縁部の内周壁上方へテーパーを形成させる等の位置合わ
せガイドを設けて、該ガイドに沿って位置合わせを行な
い、移送アームの先端に備えた吸着パットで吸着させる
と共に基体の底面の下方から水を給水して、半導体ウエ
ハの下面を洗浄させ乍ら浮上させると共に移送アームを
上昇させて、半導体ウエハを基体の上面より上方へ剥が
して、移送アームの正確に設定された移送工程によっ
て、半導体ウエハを正確にチャック機構の上面の中心へ
移送するものであったが、昨今要求されている極薄化、
拡径化される半導体ウエハでは基体に滞留させた液体特
性による吸着作用によって、半導体ウエハを損傷する事
故が頻繁に発生してしまう等の問題があった。
【0006】又、サイズの異なる半導体ウエハを研削加
工する場合、外径が4インチの半導体ウエハには4イン
チ用の仮置台を用い、5インチの場合では5インチ用の
仮置台を、又、8インチの場合では8インチ用の仮置台
をと、その都度、半導体ウエハの外径のサイズに合わせ
て仮置台を交換しなければより確実に位置合わせと洗浄
ができる仮置台はなかった。
【0007】
【発明の目的】本発明は上記の事由に鑑みて鋭意研鑽の
結果、研削加工する半導体ウエハの外径が異なっても、
仮置台の基盤を交換することなく外側環状部材を着脱自
在としたことによって、該外側環状部材のみを交換する
ことよって直ぐに対処でき、拡径化、極薄化する半導体
ウエハにも対応できる仮置台を創作し、これを供せんと
するものである。
【0008】
【発明の構成】本発明の構成は、半導体ウエハを研削す
る研削盤の仮置台において、研削盤へ立設させた給水管
へ膨出部を設け、膨出部へ基盤を嵌着させ、基盤へは円
盤部を形成し、基盤へは外縁部を形成し、外縁部の内側
へは内環状リブを立設し、内環状リブの内側へは段部を
形成し、段部の内側へは内室底部を形成すると共に、内
部を貯溜室とする水量制御盤へは複数の流通孔を穿設し
た側壁と円形天板部とを形成し、円形天板部と内環状リ
ブとの間に環状間隙を設けると共に円形天板部は内環状
リブの頂部より下方へ位置させ、外側環状部材は外環状
リブを外縁に立設し、外環状リブの任意の直径で切断さ
れる半円周側の頂部へ複数のストッパーを延設すると共
にストッパーの間へはテーパー部を形成し、外環状部材
へは平坦環状部を形成させて、外径が相違する複数の外
側環状部材を基盤の外縁部へ着脱自在に嵌着させた構成
である。
【0009】
【発明の実施例】斯る目的を達成した本発明の平面自動
研削盤の半導体ウエハの仮置台における位置合わせ及び
洗浄機構を実施例の図面をよって説明する。
【0010】図1は本発明の実施例による平面自動研削
盤の仮置台の斜視図であり、図2は説明のための断面概
要断面図である。
【0011】本発明は平面自動研削盤等の半導体ウエハ
Wを研削加工するチャック機構の上面へ移送する前段階
での仮置台であって、研削加工前の半導体ウエハWの下
面を水流によって洗浄すると同時に位置合わせをする仮
置台に関するものであり、半導体ウエハWの上面を研削
する研削盤のチャック機構に移送する前に半導体ウエハ
Wの下面を洗浄させると共に待機させるための仮置台に
おいて、前記研削盤の基台へ立設させた給水管1の上方
辺へ膨出する膨出部1aを設け、該膨出部1aへ合致す
る内径の貫通部2aを有した基盤2を嵌着させ、該基盤
2へはフランジ状に拡径する円盤部2bを形成し、該基
盤2の上面外縁へは外側環状部材5を嵌着させる若干巾
の外縁部2cを形成し、該外縁部2cの内側へは内環状
リブ2dを立設し、該内環状リブ2dの内側へは段部2
eを形成し、該段部2eの内側へは水量制御盤3を嵌置
させる内室底部2fを前記給水管1の先端と連通させて
形成すると共に、内部を貯溜室3aとする前記水量制御
盤3へは前記内室底部2fに嵌置させる複数の流通孔3
bを穿設した短管状の側壁3cと該側壁3cの上端を閉
蓋する円形天板部3dとを形成し、該円形天板部3dと
前記内環状リブ2dの内壁との間に環状隙間4を設ける
と共に前記円形天板部3dは前記内環状リブ2dの頂部
より下方へ位置させ、前記基盤2の外縁部2cへ嵌着さ
せる外側環状部材5は内環状リブ2dと同高の外環状リ
ブ5aを外縁に立設し、該外環状リブ5aの任意の直径
で切断される半円周側の頂部へ複数のストッパー5bを
延設すると共に夫々のストッパー5bの間の外環状リブ
5aの頂部へは外方向に下がるテーパー部5cを形成
し、該外側環状部材5の内側へは若干巾の平坦環状部5
dを形成させて、夫々外径が相違する複数の外側環状部
材5を前記基盤2の外縁部2cへ着脱自在に嵌着させた
ものである。
【0012】即ち、本発明は半導体ウエハWを研削加工
する平面自動研削盤等のテーブルに配設されたチャック
機構の上面の中心位置へ正確に移送するために、予め、
位置合わせをすると共に、研削加工前の半導体ウエハW
の下面を水流によって洗浄し、加えて、一時的に待機さ
せるための仮置台に関するものである。
【0013】前記平面自動研削盤等のテーブルの近傍の
基台から仮置台の上面へ給水するための給水管1の上方
辺を膨出させた膨出部1aを形成し、該膨出部1aと合
致する内径状を形成した当該仮置台の基盤2を装着する
ものである。
【0014】前記基盤2は中心へ貫通部2aを備えフラ
ンジ状に拡径する円盤部2bと、該貫通部2aを形成す
る下方へ延設された短管部と、上面へは後述する水量制
御盤3を嵌置させる内室底部2fと、該内室底部2fの
外周の後述する環状隙間4の底面となる段部2eと、該
段部2eの外周に立設させた内環状リブ2dと、該内環
状リブ2dの外周の後述する外側環状部材5を嵌着させ
るための若干巾の外縁部2cとから成るものである。
【0015】そして、前記基盤2の内室底部2fへ嵌置
させる水量制御盤3は円形天板部3dと、該円形天板部
3dの下方に延設した短管状の側壁3cと、該側壁3c
へ放射状に穿設した複数の流通孔3bと、前記円形天板
部3dと側壁3cとに囲まれた貯溜室3aとから成り、
該貯溜室3aの下方は給水管1と連通状態と成っている
ものである。
【0016】次いで、前記基盤2の若干巾の外縁部2c
へ嵌着させる外側環状部材5は該外縁部2cと合着する
環状底面と、上面は外側にフランジ状に拡がる若干巾の
平坦環状部5dと、該平坦環状部5dの外周へ形成した
外環状リブ5aと、該外環状リブ5aの頂部へ延設した
複数のストッパー5bと、該夫々のスットパーの間の外
環状リブ5aの頂部へ形成した外方向に下がるテーパー
部5cとから成るものである。
【0017】本発明は、前述の夫々の構成から成るもの
であり、前記給水管1の先端の膨出部1aへ基盤2をO
リングを介設して貫通部2aと合着嵌着させると、給水
管1の先端と基盤2の円盤部2bの上面の内室底部2f
は同一平面と成るものであり、該内室底部2fへは水量
制御盤3の側壁3cを下方にして嵌置させると、基盤2
へ形成した内環状リブ2dと水量制御盤3の円形天板部
3dと間に環状隙間4が形成されるものである。
【0018】更に、基盤2の外縁部2cに着脱自在な外
側環状部材5を嵌着するものであり、基盤2へ形成した
内環状リブ2dの頂部と外側環状部材5へ形成した外環
状リブ5aの頂部とは同高とさせるものであり、内環状
リブ2dと外環状リブ5aとに囲まれた平坦環状部5d
は断面凹状に成るものである。
【0019】前記給水管1から水が給水されると、先
ず、基盤2の内室底部2fと水量制御盤3の貯溜室3a
へ貯溜され、貯溜された水は水量制御盤3の側壁3cの
流通孔3bを通水して内環状リブ2dと円形天板部3d
との間の環状隙間4から溢流すると共に、水量制御盤3
の円形天板部3dを上面へ流れ、更に、給水を続けると
内環状リブ2dの頂部を超えて外側環状部材5の外環状
リブ5aと内環状リブ2dとの間の平坦環状部5dに流
水するものであり、そして、外環状リブ5aの頂部に形
成した複数のストッパー5bの間の外方に下がるテーパ
ー部5cから下方へ流れ落ちるものである。
【0020】本発明の当該仮置台は絶えず水を供給して
ストッパー5bの方向へ流しており、水量制御盤3は給
水管1からの水の水圧が半導体ウエハWの中心近傍のみ
に集中させないようにするものであり、該仮置台の上面
に半導体ウエハWを乗載した場合も流水によってストッ
パー5bの方向に絶えず流されるものであり、ストッパ
ー5bは外環状リブ5aの任意の直径で切断される半円
周側へ形成されたもので、ストッパー5bによって位置
合わせされると同時に半導体ウエハWの下面も洗浄され
るものであり、半導体ウエハWのサイズが変わっても外
径のサイズの相違する、つまり、外環状リブ5a及びス
トッパー5bのサイズの相違する外側環状部材5を取り
替えるのみで簡易に行えるものである。
【0021】そして、位置合わせ及び洗浄された後に半
導体ウエハWを取り外す場合、昨今要求される拡径化、
極薄化された半導体ウエハWは水による吸着作用を受け
易く、ストッパー5bは外環状リブ5aの任意の直径で
切断される半円周側のみへ形成されているので、ストッ
パー5bが形成されない側の半円周側へ水平方向へスラ
イドさせて取り外すものであって、拡径化、極薄化され
た半導体ウエハWも破壊させることなく取り外せるもの
である。
【0022】
【発明の効果】以上の如く、本発明は極薄化、拡径化す
る半導体ウエハであっても何等水の吸着作用の影響を受
けることなく取外しができるだけでなく、外径の異なる
半導体ウエハにあっても仮置台本体を交換することなく
外環状部材を取り替えるだけで対応できるものであり、
加えて、位置合わせが適確に行われ、水量を増加させる
ことによってより迅速に位置合わせすることができ、そ
の貢献性計り知れないものが有り、極めて有意義な効果
を有した発明である。
【0023】
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は本発明の実施例による平面自動研削盤の
仮置台の斜視図である。
【図2】図2は説明のための断面概要断面図である。
【0024】
【符号の説明】
W 半導体ウエハ 1 給水管 1a 膨出部 2 基盤 2a 貫通部 2b 円盤部 2c 外縁部 2d 内環状リブ 2e 段部 2f 内室底部 3 水量制御盤 3a 貯溜室 3b 流通孔 3c 側壁 3d 円形天板部 4 環状隙間 5 外側環状部材 5a 外環状リブ 5b ストッパー 5c テーパー部 5d 平坦環状部

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】半導体ウエハの上面を研削する研削盤のチ
    ャック機構に移送する前に半導体ウエハの下面を洗浄さ
    せると共に待機させるための仮置台において、 前記研削盤の基台へ立設させた給水管の上方辺へ膨出す
    る膨出部を設け、該膨出部へ合致する内径の貫通部を有
    した基盤を嵌着させ、該基盤へはフランジ状に拡径する
    円盤部を形成し、該基盤の上面外縁へは外側環状部材を
    嵌着させる若干巾の外縁部を形成し、該外縁部の内側へ
    は内環状リブを立設し、該内環状リブの内側へは段部を
    形成し、該段部の内側へは水量制御盤を嵌置させる内室
    底部を前記給水管の先端と連通させて形成すると共に、
    内部を貯溜室とする前記水量制御盤へは前記内室底部に
    嵌置させる複数の流通孔を穿設した短管状の側壁と該側
    壁の上端を閉蓋する円形天板部とを形成し、該円形天板
    部と前記内環状リブの内壁との間に環状間隙を設けると
    共に前記円形天板部は前記内環状リブの頂部より下方へ
    位置させ、前記基盤の外縁部へ嵌着させる外側環状部材
    は内環状リブと同高の外環状リブを外縁に立設し、該外
    環状リブの任意の直径で切断される半円周側の頂部へ複
    数のストッパーを延設すると共に夫々のストッパーの間
    の外環状リブの頂部へは外方向に下がるテーパー部を形
    成し、該外環状部材の内側へは若干巾の平坦環状部を形
    成させて、夫々外径が相違する複数の外側環状部材を前
    記基盤の外縁部へ着脱自在に嵌着させたことを特徴とす
    る半導体ウエハの仮置台。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005019439A (ja) * 2003-06-23 2005-01-20 Tokyo Seimitsu Co Ltd ウェーハ受渡し方法、ウェーハ受渡し装置及びそれを用いたウェーハ加工装置
JP2015026769A (ja) * 2013-07-29 2015-02-05 株式会社ディスコ 研削装置
WO2019078009A1 (ja) * 2017-10-16 2019-04-25 株式会社Sumco 片面研磨装置へのウェーハ貼付装置、および片面研磨装置へのウェーハ貼付方法

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