JPH0484725A - 物理量を検出するセンサの製造方法 - Google Patents

物理量を検出するセンサの製造方法

Info

Publication number
JPH0484725A
JPH0484725A JP2200449A JP20044990A JPH0484725A JP H0484725 A JPH0484725 A JP H0484725A JP 2200449 A JP2200449 A JP 2200449A JP 20044990 A JP20044990 A JP 20044990A JP H0484725 A JPH0484725 A JP H0484725A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sensor
acting
groove
flexible part
pedestal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2200449A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2892788B2 (ja
Inventor
Kazuhiro Okada
和廣 岡田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Wako KK
Original Assignee
Wako KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Wako KK filed Critical Wako KK
Priority to JP2200449A priority Critical patent/JP2892788B2/ja
Priority to EP91900948A priority patent/EP0461265B1/en
Priority to DE69019343T priority patent/DE69019343T2/de
Priority to US07/761,771 priority patent/US5295386A/en
Priority to PCT/JP1990/001688 priority patent/WO1991010118A1/ja
Publication of JPH0484725A publication Critical patent/JPH0484725A/ja
Priority to US08/168,024 priority patent/US6474133B1/en
Priority to US08/393,801 priority patent/US5531092A/en
Priority to US08/641,078 priority patent/US5744718A/en
Priority to US09/019,978 priority patent/US6185814B1/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2892788B2 publication Critical patent/JP2892788B2/ja
Priority to US09/716,773 priority patent/US6512364B1/en
Priority to US10/816,548 priority patent/US6894482B2/en
Priority to US11/042,614 priority patent/US7231802B2/en
Priority to US11/788,849 priority patent/US7578162B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は抵抗素子を用いたセンサ、特に、半導体基板上
に形成された抵抗素子に対して加えられる機械的変形を
、電気抵抗の変化として検出するセンサに関する。
〔従来の技術〕
力、加速度、磁気などのセンサとして、半導体基板上に
抵抗素子を形成し、力、加速度、磁気などの作用により
この抵抗素子に機械的変形を生じさせ、この機械的変形
を電気抵抗の変化として検出するセンサが提案されてい
る。たとえば、特許協力条約に基づく国際出願の国際公
開第WO38108522号公報には、本願発明者と同
一人の発明による抵抗素子を用いた力・加速度・磁気の
検出装置が開示されている。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、従来提案されている抵抗素子を用いたセ
ンサは、感度の高い測定を行う場合に問題があった。た
とえば、加速度センサの場合、車両の衝突検出などに利
用するには、フルスケールでLOG〜100Gといった
程度の加速度を検出できれば十分であるが、カメラの手
振れ制御、車両のサスペンション制御、車両のアンチロ
ックブレーキシステムの制御などを行うためには、IG
〜IOCといった程度の加速度を検出する必要がある。
このような高感度の加速度検出を行うためには、加速度
に基づいて力を発生させる機能をもった作用体の重量を
増す必要がある。ところが、従来のセンサの構造では、
作用体を大きくすることが困難であフた。
また、高感度のセンサでは、所定限界以上の大きな力が
加わった場合に、半導体基板が損傷する危険性が高くな
る。このため、作用体の変位を所定範囲内に制限する部
材を作用体の周囲に設ける必要があり、構造が複雑にな
るという問題が生じる。
更に、三次元方向に作用する力、加速度、磁気などを検
出する場合には、半導体基板の基板面に平行な方向とこ
れに垂直な方向との間で、検出感度に差が生じる。この
ように検出方向によって感度差が生じることは、高感度
のセンサでは特に好ましくない。
そこで本発明は、より高感度な物理量測定に適した抵抗
素子を用いたセンサを提供することを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
(1)  本願箱1の発明は、基板のほぼ中心に作用部
、その周囲に可撓部、更にその周囲に固定部を定義し、
この基板下面の可撓部に溝を掘るが、またはこの基板の
可撓部に貫通孔を形成することにより可撓部に可撓性を
もたせ、基板上面の可撓部に機械的変形に基づいて電気
抵抗が変化する抵抗素子を形成し、作用部の固定部に対
する変位に基づいて生ずる抵抗素子の電気抵抗の変化を
検出することにより、作用部に作用した物理量を検出す
るセンサにおいて、 作用部下面に、この作用部に力を伝達させるだめの作用
体を接合し、 固定部下面の第1の部分に、この固定部を支持するため
の台座を接合し、 かつ、固定部下面の第2の部分と、作用体上面の一部分
とが、所定の間隙をおいて対向するように構成し、この
第2の部分によって作用体の上方への変位を所定範囲内
に制限できるようにしたものである。
(2)  本願第2の発明は、上述の第1の発明に係る
センサにおいて、 台座の内側面と、作用体の外側面とが、所定の間隙をお
いて対向するように構成し、台座の内側面によって作用
体の横方向への変位を所定範囲内に制限できるようにし
たものである。
(3)  本願第3の発明は、上述の第1または第2の
発明に係るセンサにおいて、 所定の制御面と、作用体の下面とが、所定の間隙をおい
て対向するように、台座を制御面に固定し、この制御面
によって作用体の下方向への変位を所定範囲内に制限で
きるようにしたものである。
(4)  本願第4の発明は、基板のほぼ中心に作用部
、その周囲に可撓部、更にその周囲に固定部を定義し、
この基板下面の可撓部に溝を掘るか、またはこの基板の
可撓部に貫通孔を形成することにより可撓部に可撓性を
もたせ、基板上面の可撓部に機械的変形に基づいて電気
抵抗が変化する抵抗素子を形成し、作用部の固定部に対
する変位に基づいて生ずる抵抗素子の電気抵抗の変化を
検出することにより、作用部に作用した物理量を検出す
るセンサにおいて、 作用部下面に、この作用部に力を伝達させるための作用
体を接合し、 かつ、この作用体の重心Gから、基板上面に垂線を下ろ
したとき、この垂線の長さしと、垂線の足Pから溝の外
側部分までの距離にと、の間に、L<rなる関係が成り
立つように構成したものである。
〔作 用〕
(1)  本願第1の発明によれば、作用体の上面中心
部は基板の作用部下面に接合されるが、その側部は基板
の固定部下方にまで延びることになる。
したがって、全体的に作用体の体積を大きく設計するこ
とが可能になり、作用体の重量が増し、感度を向上させ
ることが容易にできる。また、作用体の側部が基板の固
定部下方にまで延びているので、基板の固定部下面を制
御部材として利用し、作用体の上方への変位を制限する
ことができるようになる。したがって、別個に上方への
制御部材を設ける必要がなくなり、構造を単純にするこ
とができるようになる。
(2)  本願第2の発明によれば、更に、台座の内側
面と作用体の外側面とが、所定の間隙をおいて対向する
ように構成される。このため、台座の内側面を制御部材
として利用し、作用体の横方向への変位を制限すること
ができるようになる。したがって、別個に横方向への制
限部材を設ける必要がなくなり、構造を単純にすること
ができるようになる。
(8)  本願第3の発明によれば、更に、所定の制御
面を設け、作用体の下面とこの制御面とが、所定の間隙
をおいて対向するように、台座がこの制御面に固定され
る。したがって、この制御面によって作用体の下方向へ
の変位を所定範囲内に制限できるようになる。
(4)  本願第4の発明は、本願発明者が、基板上面
の中心部に定義された作用点と作用体の重心点との間の
距離について、その最適範囲を発見したことに基づく。
この最適範囲は、三次元方向の物理量を検出するときに
、すべての方向についての感度がほぼ均一になるような
条件を満たすものである。このため、方向による検出感
度に差のないセンサが実現できる。
〔実施例〕
以下本発明を図示する実施例に基づいて説明する。
実施例の構造 第1図は、本発明の一実施例に係る加速度センサの構造
断面図である。装置中枢部100は、半導体ペレット1
0、重錘体20、台座30、制御基板40、の4つの要
素から構成されている。この装置中枢部100は、パッ
ケージ200内部の底面に接合されている。パッケージ
200の上部には蓋210が被せられている。また、パ
ッケージ200の側部からは、リード220が外部に導
出されている。第2図は装置中枢部100の斜視図であ
る。半導体ペレット10の上面には複数の抵抗素子Rが
形成されており、各抵抗素子Rはポンディングパッド5
2に電気的に接続されている。
ポンディングパッド52とリード220との間は、ボン
ディングワイヤ51によって接続されている。
第3図は、第1図に示す加速度センサの装置中枢部10
0の断面詳細図である。半導体ペレット10は、この実
施例ではシリコン基板からなり、抵抗素子Rは、この半
導体ペレット10の上面に不純物を拡散することにより
形成されている。もちろんイオン打込み法を用いてもよ
いし、シリコン基板上にゲージ抵抗を堆積させるSOI
構造にしてもよい。このようにして形成した抵抗素子R
は、ピエゾ抵抗効果を有する。すなわち、機械的変形に
基づいて電気抵抗が変化する性質を示す。
半導体ペレット10の下面には、円環状の溝部C1が形
成されている。この実施例では、溝部C1は深部(第3
図の上方)にゆくほど幅が狭くなるようなテーパー構造
をとっているが、深部まで同一幅の溝にしてもかまわな
い。第4図は、この半導体ペレット10の上面図である
。下面に掘られた溝部C1は破線で示されている。いま
、第3図および第4図に矢印で示すような座標軸X。
y、  zを定義すれば、第4図に示す半導体ペレット
10をX軸に沿って切断した断面が、第3図に示されて
いることになる。この溝部C1の形成により、半導体ペ
レット10を3つの部分に分けることができる。すなわ
ち、溝部、C1の内側に位置する作用部11、溝部C1
のちょうど上方に位置する可撓部12、そして溝部C1
の外側に位置する固定部13、の3つの部分である。別
言すれば、半導体ペレット10の中心部分に作用部11
、その周囲に可撓部12、更にその周囲に固定部13、
がそれぞれ位置する。可撓部12は溝部C1によって肉
厚が他の部分より薄くなっており、このため可撓性をも
つことになる。このような溝を形成するかわりに、基板
に部分的に貫通孔を形成して可撓性をもたせるようにし
てもよい。
作用部11の下面には重錘体20が接合されており、固
定部13の下面には台座30が接合されている。第5図
は、重錘体20および台座30の上面図である。第5図
の切断線A−Aに沿った断面が第3図に示されているこ
とになる。重錘体20の上面には段差がついており、重
錘体上面中心部21と重錘体上面周囲部22とが形成さ
れている。重錘体上面中心部21は、重錘体20の上面
の中心部分においてやや隆起した部分であり、この部分
が作用部11の下面に接合されている。
したがって、重錘体上面周囲部22と半導体ペレット1
0の下面との間には、間隙部C2が形成されることにな
る。台座30は、この重錘体20の周囲8方に配置され
た8つの部材から成り、M錘体20と台座30との間に
は、溝部C3および溝部C4が形成されている。後述す
るように、もともと重錘体20と台座30とは、同一基
板から構成されていた部材であり、溝部C3および溝部
C4によって切断分離されたものである。第5図に示さ
れているように、溝部C3は幅L1、溝部C4はこれよ
り狭い幅L2をもっており、第3図から明らかなように
、溝部C3は上方、溝部C4は下方に形成されている。
もちろん、加工上、Ll−L2としてもかまわない。。
台座30の下面には、制御基板40が接合されている。
第6図にこの制御基板40の上面図を示す。制御基板4
0にはその周囲部分だけを残して溝部C5が掘られてお
り、この溝部C5の底面が制御面41を形成している。
第6図の切断線A−Aに沿った断面が第3図に示されて
いることになる。第3図に示すように、台座30の下面
には、制御基板40の周囲部分だけが接合されている。
実施例の製造方法 この装置中枢部100の構造の理解を助けるために、そ
の製造方法を簡単に説明する。まず、第4図に示すよう
な半導体ペレット10を用意する。
ここで、溝部C1は、たとえばエツチングプロセスによ
り形成することができ、抵抗素子Rは所定のマスクを用
いた不純物注入プロセスにより形成することができる。
続いて、第7図に断面図が、第8図に上面図が、それぞ
れ示されるような補助基板50を用意する。ここで、第
8図の切断線A−Aに沿った断面が第7図に相当する。
補助基板50の材質としては、半導体ペレット10と同
じシリコンか、ガラスを用いるのが好ましい。これは、
半導体ペレット10と補助基板50とは後に接合される
ので、両者の熱膨張係数を等しくしておくことによりク
ラックの発生を抑制し、温度特性を改善するためである
。この補助基板50の上面には、幅L1をもつ溝部C3
が井桁状に掘られており、その内側に幅L3をもった間
隙部C2が形成されている。この結果、重錘体上面中心
部21と重錘体上面周囲部22との間で段差が生してい
る。間隙部C2は、たとえばエツチングプロセスにより
形成することができ、溝部C3はダイシングブレードを
用いた切削加工により形成することができる。ここで注
意すべき点は、第3図や第5図に示した溝部C4は、ま
だ形成されていない点である。したがって、補助基板5
0はあくまでも1枚の基板の状態である。このようにし
て用意した補助基板50の上面を、半導体ペレット10
の下面に接合する。このとき、重錘体上面中心部21を
作用部11の下面に接合し、補助基板50の周囲の部分
(後に台座30を構成することになる部分)を固定部1
3下面に接合する。このような接合を完了した後に、補
助基板50の下面を幅L2のダイシングブレードで切削
加工し、溝部C4を形成する。こうして、溝部C3と溝
部C4とが繋がり、補助基板50は中央部分の重錘体2
0と、周囲部分の台座30とに分割されることになる。
この後、第6図に示すような制御基板40を用意し、エ
ツチングプロセスなどで溝部C5を形成し、これを台座
30の下面に接合する。以上の製造工程を経ることによ
り、第3図に示す装置中枢部100が得られる。
実施例の動作 続いて、この装置の動作を説明する。第1図に示すよう
に、装置中枢部100はパッケージ200の内部の底面
に固着される。制御基板40、台座30、そして固定部
13は、互いに固着された状態となっているので、固定
部13は間接的にパッケージ200に固着される。一方
、重錘体20は台座30によって周囲を囲まれた空間内
で、宙吊りの状態となっている。すなわち、第3図に示
すように、重錘体20の下面には溝部C5が形成され、
側面には溝部C3および溝部C4が形成され、上面周囲
部には間隙部C2が形成されている。
そして、この重錘体20の上面中心部だけが作用部11
に接合されている。このような宙吊りの状態にある重錘
体20に加速度が作用すると、この加速度により作用部
11に力が作用することになる。前述のように、可撓部
12は可撓性をもった部分であるから、作用部11に力
が作用すると、可撓部12が撓みを生じ、作用部11が
固定部13に対して変位を生じるようになる。この可撓
部12の撓みは、抵抗素子Rに機械的変形をもたらし、
抵抗素子Rの電気抵抗に変化が生じる。この電気抵抗の
変化は、第1図に示すように、ボンディングワイヤ51
およびリード220を利用して、装置外部で検出するこ
とができる。この実施例の装置は、第4図に示すような
位置に抵抗素子Rを配置することにより、図のxyz各
軸方向についての加速度成分を独立して検出することが
できる。この検出原理についての説明は、本明細書では
省略する。詳細については、前掲の特許協力条約に基づ
く国際出願の国際公開第WO38108522号公報を
参照されたい。
実施例の特徴 ここに述べた加速度センサの特徴は、高感度の加速度測
定に適しているという点である。その第1の理由は、限
られたスペース内で、重錘体20の体積をできる限り大
きくとることができるためである。第3図に示すように
、重錘体20は重錘体上面中心部21でのみ作用部11
に接合されているが、その周囲は横に広がり、溝部C1
を跨いで固定部13の内側部分にまで延びている。この
ため、重錘体20の質量を大きくすることができ、わず
かな加速度が加わっても十分な力を作用部11に伝達す
ることができる。そして第2の理由は、単純な構造で重
錘体20の変位を所定範囲内に制限する制御部材を構成
することができるためである。第3図に示す構造におい
て、重錘体2゜の上方向への変位、横方向への変位、下
方向への変位、のそれぞれがいずれも所定範囲内に制限
されている。まず、上方向の変位については、固定部1
3の下面の一部が制御部材として機能することが理解で
きよう。第3図において、重錘体2゜が上方向に動こう
とした場合、可撓部12の撓みにより、作用部11が上
方向に動き、それに伴い重錘体上面中心部21も上方向
に動く。ところが、重錘体上面周囲部22の外周部分は
、固定部13の下面に当接して動きが妨げられる。別言
すれば、重錘体20の上方向の変位は、間隙部C2の寸
法の範囲内に制限される。この制限作用は、第9図を参
照するとより明瞭になろう。第9図は半導体ペレット1
0の下面図であり、重錘体20の位置を破線で示しであ
る。重錘体20は、中央の斜線によるハツチングを施し
た部分(作用部11の下面)にのみ接合されている。溝
部C1の外側の部分が固定部13となるが、このうち、
ドツトにょるハツチングを施した部分が、制御部材とし
ての機能を果たす面である。重錘体20はこの面に当接
し上方への動きが制限される。一方、横方向の動きにつ
いては、第3図から明らかなように、台座30の内側面
に重錘体20の側面が当接し、溝部C4の寸法の範囲内
に変位は制限される。また、下方向の動きについては、
制御基板40の制御面41に重錘体20の下面が当接し
、溝部C5の寸法の範囲内に変位は制限される。このよ
うに、すべての方向の動きについて、重錘体20の変位
が所定範囲内に制限されているため、過度な変位により
半導体ペレット10が破損する危険を回避することがで
きる。このような変位の制御は、高感度のセンサの場合
は特に重要である。本発明の構造によれば、上方向の変
位を半導体ペレット10を利用して制御し、横方向の変
位を台座30を利用して制御しているため、それぞれ別
途制御部材を設ける必要がなくなり、構造が非常に単純
になる。したがって、量産化を図れるというメリットも
生じる。
他の実施例 以上、本発明を図示する一実施例に基づいて説明したが
、本発明はこの実施例のみに限定されるものではなく、
種々の態様で実施可能である。以下に、別な実施例をい
くつか示す。
第7図および第8図に示す補助基板50を形成する方法
として、前述の実施例では、ダイシングブレードによる
切削加工により溝部C3を形成し、エツチングプロセス
により間隙部C2を形成する方法を一例として示したが
、ダイシングブレードによる切削加工により間隙部C2
を形成してもかまわない。これは、たとえば、第10図
に示すように、幅L3のダイシングブレード61を用意
し、第11図の破線で示す経路を通るようにして切削加
工を行って補助基板50′を形成すればよい。
もちろん、幅L3以下のダイシングブレードを何回か通
過させて幅L3の溝を掘るようにしてもかまわない。第
11図で、ハツチングを施した領域だけが、切削加工を
受けなかった部分である。このような切削加工を行うと
、台座30となる部分も一部切削されてしまうが、台座
30としての機能に何ら支障は生じない。一般に、補助
基板を大量生産する場合、第11図に示すような補助基
板50′を1単位とし、これをウェハ上に縦横に多数配
置し、ウェハ単位で基板の加工を行った後、ダイシング
工程により各単位を切断することになる。このようなウ
ェハ単位の加工には、上述した切削加工は非常に効率的
である。ダイシングブレード61をウェハ上で一直線に
移動させれば、多数の補助基板に対する切削加工を一度
に行うことができるのである。
前述の実施例では、半導体ペレット10に掘られた溝部
C1は、第4図に示すように円環状のものであった。こ
のような円環状の溝は、エツチングプロセスによって容
易に形成することができるが、ダイシングブレードによ
る切削工程で形成するには、ダイシングブレードの移動
制御が複雑になり不適当である。本発明では、半導体ペ
レット10に形成する溝部は円環状に限定されるもので
はない。ここでは、半導体ペレット10′の下面に井桁
状の溝部C6を形成した実施例の断面図を第12図に、
下面図を第13図にそれぞれ示す。
第13図に示すように、幅L4のダイシングブレード6
2を用意し、破線で示す経路を通るようにして切削加工
を行えばよい。もちろん、幅L4以下のダイシングブレ
ードを何回か通過させて幅L4の溝を掘るようにしても
かまわない。第13図で、ハツチングを施した領域だけ
が、切削加工を受けなかった部分である。このような切
削加工を行うと、作用部11′、可撓部12′、固定部
13′の形状は、前述の実施例とは若干具なってくるが
、各部の機能については何ら支障は生じない。第14図
は、この半導体ペレット10′の下面図であり、重錘体
20の位置を破線で示しである。重錘体20は、中央の
斜線によるハツチングを施した部分(作用部11′の下
面)にのみ接合されている。溝部C6の外側の部分が固
定部13′ となるが、このうち、ドツトによるハツチ
ングを施した部分が、制御部材としての機能を果たす面
となる。この実施例も、ウェハ単位での加工に適した方
法となる。
第15図に示す実施例は、制御基板40の代わりにスペ
ーサ70を用いたものである。このスペーサ70として
は、たとえば、ガラス繊維のフィルムなどを用いればよ
い。このスペーサ70を台座30の下面とパッケージ2
00の内部底面との間に挟み、ダイボンドなどの方法に
より固着すれば、パッケージ200の内部底面自体を、
重錘体20の下方向の変位を制御する部材として利用す
ることができる。重錘体20の下方向の許容変位は、ス
ペーサ70の厚みによって決定される。
以上の実施例は、いずれも加速度センサに本発明を適用
したものであるが、前述の重錘体20を一般的な作用体
に置き換えれば、本発明は磁気センサや力センサにも適
用可能である。たとえば、磁気センサに適用する場合は
、重錘体20の代わりに磁気に反応する何らかの作用体
(磁性体でよい)を用いればよい。また、力センサに適
用する場合は、たとえば、第16図に示すように、半導
体ペレット10を支持部材80によって支持すれば、作
用体20′に図のように作用する外力Fを検出すること
ができる。あるいは、第17図に示すように、半導体ペ
レット10および台座30の側面を支持部材90によっ
て支持しても同様である。
加速度センサの利用例 以上述べたように、本発明を加速度センサに適用すれば
、三次元方向の加速度を高感度で検出することが可能に
なる。このような高感度加速度センサは種々の分野で利
用可能である。たとえば、自動車事故から搭乗者を保護
するためのシステムとして、エアバッグが普及しはじめ
ている。ところが、いまのところ、−次元方向の加速度
センサしか実用化されていないため、現在のエアバッグ
は正面衝突を想定したシステムとなっている。すなわち
、第18図に示すように、矢印方向の衝撃を検出したと
きに、搭乗者300の正面でエアーバッグ310を膨ら
ませ、搭乗者300をシート305とエアーバッグ31
0との間に挟むようにして保護している。したがって、
エアーバッグ310は球状のものが用いられている。こ
れに対し、本発明による加速度センサは、三次元方向の
加速度を高感度で検出することができるので、側面衝突
が起こった場合でも衝撃を検出することができる。した
がって、第19図に示すように、搭乗者300の側方を
も覆うような形状のエアーバッグ320を用意しておき
、本発明による加速度センサの検出信号でこれを膨らま
せるようにすれば、側面衝突についても対処できるエア
ーバッグシステムが導入できる。
三次元の各軸方向の検出感度 本発明のセンサによれば、三次元方向の力、加速度、磁
気、を検出することができるが、各軸方向についてのこ
れらの物理量の検出感度に大きな差があると問題である
。いま、第20図に示すような加速度センサの単純なモ
デルを考える。この加速度センサは、重錘体20に与え
られた加速度を、半導体ペレット10の上面の点P(重
錘体20の重心Gから半導体ペレット10の上面に下ろ
した垂線の足)に作用する力(あるいはモーメント)と
して検出していることになる。ここで、第20図の矢印
に示すような方向に、X軸、y軸(紙面に垂直な方向)
、z軸を定義し、質量mの重錘体20に作用する加速度
を、重心Gに作用する加速度として考えることにする。
すると、重心Gに作用するz軸方向の加速度azは、点
Pにおいてz軸方向に作用する力Fz(−m・α2)と
して検出される。これに対し、重心Gに作用するX軸方
向の加速度αXは、点Pにおけるy軸まわりのモーメン
トMy(−mIIαX・L)として検出され、重心Gに
作用するy軸方向の加速度αyは、点PにおけるX軸ま
わりのモーメントMx(−m・αy−L)として検出さ
れる。したがって、半導体ペレット10を平面的にシン
メトリックな構造としておけば、X軸方向に作用する加
速度の検出感度とy軸方向に作用する加速度の検出感度
とは、はぼ等しくできる。ところが、これらと2軸方向
に作用する加速度の検出感度とは一般に異なる。
本願発明者は、モーメントMxおよびMyが、垂線の長
さLをパラメータとしてもつ量であることに着目し、L
を適当な値に定めてやることにより、xyzB軸方向の
検出感度をほぼ同じにできることに気が付いた。そして
、実験の結果、Lが次のような条件を満たせば、3軸方
向の検出感度がほぼ等しくなることを発見した。すなわ
ち、第20図に示すように、点Pから半導体ベレットl
Oに掘られた溝深部の内側部分までの距離をrl、点P
からこの溝深部の外側部分までの距離をr2としたとき
、rl<L<r2なる関係が成り立つようにすれば、3
軸方向の検出感度がほぼ等しくなるのである。ただし、
X、V+  Z各軸の感度は可撓部や作用部などの形状
によっても多少変化を受ける。このためrl<Lなる関
係を完全に満たさない場合もあり、少なくともl、<r
2なる関係が保たれていれば検出感度を均一にする効果
があられれる。したがって、本発明に係るセンサを実際
に製造する場合は、このような条件を考慮して各部の寸
法設計を行うのが好ましい。
センサの試験方法 本願発明に係るセンサを大量生産する場合、各センサを
出荷前に試験する必要が生じる。このような試験を容易
に行うための方法が、特願平1−343354号明細書
に開示されている。この試験方法は、本願発明に係るセ
ンサにも適用可能である。第21図は、この試験方法を
第3図に示す装置中枢部100に適用したときの構造を
示す側断面図、第22図はこのときの制御基板40の上
面図である。重錘体20の底面には、1枚の電極板EO
が形成され、制御基板40の制御面41上には、この電
極板EOに対向するように4枚の電極板E1〜E4が形
成される。各電極板に対しては、それぞれ配線層が接続
されるが、ここでは図示を省略する。また、ここでは図
が繁雑になるのを避けるため、各電極層についてのみハ
ツチングを施して示す。このような電極層を形成してお
き、各電極層に所定の極性の電圧を印加すると、対向す
る電極層間にクーロン力が作用し、加速度が作用してい
ないにもかかわらす重錘体20に力を作用させることが
できる。各電極層に印加する電圧の極性を変えることに
より、種々の方向へ力を加えることが可能になる。各電
極層に印加した電圧と、そのときのセンサ本来の出力と
を比較すれば、このセンサが正常に動作するか否かを試
験することができる。なお、詳細については、前掲明細
書を参照されたい。
〔発明の効果〕
(1)  本願第1の発明による抵抗素子を用いたセン
サによれば、作用体の側部を基板の固定部下方にまで延
ばすようにしたため、全体的に作用体の体積を大きく設
計することが可能になり、作用体の重量が増し、感度を
向上させることが容易にできる。また、基板の固定部下
面を制御部材として利用し、作用体の上方への変位を制
限することができるようになるため、高感度な物理量測
定に適したセンサを単純な構造で実現できる。
(2)  本願第2の発明によれば、上述のセンサにお
いて、台座の内側面を制御部材として利用し、作用体の
横方向への変位を制限するようにしたため、高感度な物
理量測定に適したセンサを単純な構造で実現できる。
(3)  本願第3の発明によれば、上述のセンサにお
いて、作用体の下面と所定の制御面とが、所定の間隙を
おいて対向するように台座を固定し、この制御面によっ
て作用体の下方向への変位を所定範囲内に制限できるよ
うにしたため、高感度な物理量測定に適したセンサを単
純な構造で実現できる。
(4)  本願第4の発明による抵抗素子を用いたセン
サによれば、基板上面の中心部に定義された作用点と作
用体の重心点との間の距離を最適範囲に設計するように
したため、三次元の各軸方向の検出感度を均一にするこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例に係る加速度センサの構造側
断面図、第2図は第1図に示すセンサの装置中枢部の斜
視図、第3図は第2図に示す装置中枢部の詳細側断面図
、第4図は第3図に示す半導体ペレット10の上面図、
第5図は第3図に示す重錘体20および台座30の上面
図、第6図は第3図に示す制御基板40の上面図、第7
図および第8図は第5図に示す重錘体20および台座3
0を形成するもとになる補助基板50の側断面図および
上面図、第9図は第3図に示す半導体ペレット10に重
錘体20を接合する位置を示す図、第10図および第1
1図は本発明の別な実施例に係る補助基板を示す側断面
図および上面図、第12図および第13図は本発明の更
に別な実施例に係る半導体ペレットを示す側断面図およ
び下面図、第14図は第13図に示す半導体ペレット1
0′に重錘体20を接合する位置を示す図、第15図は
本発明のまた別な実施例に係る加速度センサの構造側断
面図、第16図および第17図は本発明の一実施例に係
る力センサの側断面図、第18図は従来のエアーバッグ
システムの説明図、第19図は本発明に係る加速度セン
サを利用したエアーバッグシステムの説明図、第20図
は本発明による寸法設計の原理を示す図、第21図は本
発明に係るセンサに特有な試験方法を適用したときの構
造を示す側断面図、第22図は第21図に示す制御基板
40の上面図である。 10.10’ ・・・半導体ペレット、11.11’・
・・作用部、12. 12’・・・可撓部、13.13
’・・・固定部、20・・・重錘体、20′・・・作用
体、21・・・重錘体上面中心部、22・・・錘体上面
周囲部、30・・・台座、40・・・制御基板、41・
・・制御面、50.50’・・・補助基板、51・・・
ボンディングワイヤ、52・・・ポンディングパッド、
61.62・・・ダイシングブレード、70・・・スペ
ーサ、80゜90・・・支持部材、100・・・装置中
枢部、200・・・パッケージ、210・・・蓋、22
0・・・リード、300・・・搭乗者、305・・・シ
ート、310゜320・・・エアーバッグ、C1・・・
溝部、C2・・・間隙部、03〜C6・・・溝部、EO
〜E4・・・電極層、G・・・重心、P・・・垂線の足
、抵抗素子R0図面の浄書(内容に変更なし) 第1図

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)基板のほぼ中心に作用部、その周囲に可撓部、更
    にその周囲に固定部を定義し、この基板下面の前記可撓
    部に溝を掘るか、またはこの基板の前記可撓部に貫通孔
    を形成することにより前記可撓部に可撓性をもたせ、前
    記基板上面の前記可撓部に機械的変形に基づいて電気抵
    抗が変化する抵抗素子を形成し、前記作用部の前記固定
    部に対する変位に基づいて生ずる前記抵抗素子の電気抵
    抗の変化を検出することにより、前記作用部に作用した
    物理量を検出するセンサにおいて、 前記作用部下面に、この作用部に力を伝達させるための
    作用体を接合し、 前記固定部下面の第1の部分に、この固定部を支持する
    ための台座を接合し、 かつ、前記固定部下面の第2の部分と、前記作用体上面
    の一部分とが、所定の間隙をおいて対向するように構成
    し、前記第2の部分によって前記作用体の上方への変位
    を所定範囲内に制限できるようにしたことを特徴とする
    抵抗素子を用いたセンサ。
  2. (2)請求項1に記載の抵抗素子を用いたセンサにおい
    て、 台座の内側面と、作用体の外側面とが、所定の間隙をお
    いて対向するように構成し、前記台座の内側面によって
    前記作用体の横方向への変位を所定範囲内に制限できる
    ようにしたことを特徴とする抵抗素子を用いたセンサ。
  3. (3)請求項1または2に記載の抵抗素子を用いたセン
    サにおいて、 所定の制御面と、作用体の下面とが、所定の間隙をおい
    て対向するように、台座を前記制御面に固定し、前記制
    御面によって前記作用体の下方向への変位を所定範囲内
    に制限できるようにしたことを特徴とする抵抗素子を用
    いたセンサ。
  4. (4)基板のほぼ中心に作用部、その周囲に可撓部、更
    にその周囲に固定部を定義し、この基板下面の前記可撓
    部に溝を掘るか、またはこの基板の前記可撓部に貫通孔
    を形成することにより前記可撓部に可撓性をもたせ、前
    記基板上面の前記可撓部に機械的変形に基づいて電気抵
    抗が変化する抵抗素子を形成し、前記作用部の前記固定
    部に対する変位に基づいて生ずる前記抵抗素子の電気抵
    抗の変化を検出することにより、前記作用部に作用した
    物理量を検出するセンサにおいて、 前記作用部下面に、この作用部に力を伝達させるための
    作用体を接合し、 かつ、前記作用体の重心Gから、前記基板上面に垂線を
    下ろしたとき、この垂線の長さLと、前記垂線の足Pか
    ら前記溝の外側部分までの距離にと、の間に、L<rな
    る関係が成り立つように構成したことを特徴とする抵抗
    素子を用いたセンサ。
JP2200449A 1989-12-28 1990-07-27 物理量を検出するセンサの製造方法 Expired - Lifetime JP2892788B2 (ja)

Priority Applications (13)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2200449A JP2892788B2 (ja) 1990-07-27 1990-07-27 物理量を検出するセンサの製造方法
EP91900948A EP0461265B1 (en) 1989-12-28 1990-12-26 Acceleration sensors
DE69019343T DE69019343T2 (de) 1989-12-28 1990-12-26 Beschleunigungssensoren.
US07/761,771 US5295386A (en) 1989-12-28 1990-12-26 Apparatus for detecting acceleration and method for testing this apparatus
PCT/JP1990/001688 WO1991010118A1 (en) 1989-12-28 1990-12-26 Apparatus for detecting physical quantity that acts as external force and method of testing and producing this apparatus
US08/168,024 US6474133B1 (en) 1989-12-28 1993-12-15 Apparatus for detecting a physical quantity acting as an external force and method for testing and manufacturing this apparatus
US08/393,801 US5531092A (en) 1989-12-28 1995-02-24 Device for moving a suspended weight body
US08/641,078 US5744718A (en) 1989-12-28 1996-04-26 Sensor using a resistance element
US09/019,978 US6185814B1 (en) 1989-12-28 1998-02-06 Method of manufacturing a sensor detecting a physical action as an applied force
US09/716,773 US6512364B1 (en) 1989-12-28 2000-11-20 Testing sensor
US10/816,548 US6894482B2 (en) 1989-12-28 2004-04-01 Apparatus for detecting a physical quantity acting as an external force and method for testing and manufacturing this apparatus
US11/042,614 US7231802B2 (en) 1989-12-28 2005-01-25 Apparatus for detecting a physical quantity acting as an external force and method for testing and manufacturing the apparatus
US11/788,849 US7578162B2 (en) 1989-12-28 2007-04-20 Apparatus for detecting a physical quantity acting as an external force and method for testing and manufacturing this apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2200449A JP2892788B2 (ja) 1990-07-27 1990-07-27 物理量を検出するセンサの製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0484725A true JPH0484725A (ja) 1992-03-18
JP2892788B2 JP2892788B2 (ja) 1999-05-17

Family

ID=16424491

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2200449A Expired - Lifetime JP2892788B2 (ja) 1989-12-28 1990-07-27 物理量を検出するセンサの製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2892788B2 (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1994023272A1 (en) * 1993-03-30 1994-10-13 Kazuhiro Okada Multishaft angular velocity sensor
JPH06342006A (ja) * 1993-06-02 1994-12-13 Nec Corp 加速度センサ
JP2012083164A (ja) * 2010-10-08 2012-04-26 Rohm Co Ltd Memsセンサおよびその製造方法
WO2018220725A1 (ja) * 2017-05-30 2018-12-06 株式会社 トライフォース・マネジメント 重錘体素子、及び、重錘体付き振動発電素子の製造方法
WO2022181191A1 (ja) * 2021-02-26 2022-09-01 ローム株式会社 Memsセンサおよびmemsセンサの製造方法

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003004561A (ja) * 2001-06-22 2003-01-08 K-Tech Devices Corp 応力センサ及びその製造法
JP5853121B1 (ja) * 2015-09-24 2016-02-09 株式会社ワコー 力覚センサ
JP7135934B2 (ja) * 2019-02-27 2022-09-13 日本電気硝子株式会社 加速度センサ

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1994023272A1 (en) * 1993-03-30 1994-10-13 Kazuhiro Okada Multishaft angular velocity sensor
JPH06342006A (ja) * 1993-06-02 1994-12-13 Nec Corp 加速度センサ
JP2012083164A (ja) * 2010-10-08 2012-04-26 Rohm Co Ltd Memsセンサおよびその製造方法
WO2018220725A1 (ja) * 2017-05-30 2018-12-06 株式会社 トライフォース・マネジメント 重錘体素子、及び、重錘体付き振動発電素子の製造方法
JP6451041B1 (ja) * 2017-05-30 2019-01-16 株式会社トライフォース・マネジメント 重錘体素子、及び、重錘体付き振動発電素子の製造方法
WO2022181191A1 (ja) * 2021-02-26 2022-09-01 ローム株式会社 Memsセンサおよびmemsセンサの製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2892788B2 (ja) 1999-05-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0401635B1 (en) Manufacturing method of a detector using resistance elements
EP0461265B1 (en) Acceleration sensors
US8186221B2 (en) Vertically integrated MEMS acceleration transducer
TWI427293B (zh) An acceleration sensor element and an acceleration sensor having its acceleration
US5284057A (en) Microaccelerometer having low stress bonds and means for preventing excessive Z-axis deflection
US7578162B2 (en) Apparatus for detecting a physical quantity acting as an external force and method for testing and manufacturing this apparatus
US6662659B2 (en) Acceleration sensor
JP2658949B2 (ja) 半導体加速度センサ
US5760290A (en) Semiconductor acceleration sensor and testing method thereof
JP2004245760A (ja) 圧力と加速度との双方を検出するセンサおよびその製造方法
US20030057447A1 (en) Acceleration sensor
JP3686147B2 (ja) 加速度センサ
JPH0484725A (ja) 物理量を検出するセンサの製造方法
JP3985214B2 (ja) 半導体加速度センサー
JP3025313B2 (ja) 静電容量の変化を利用したセンサの製造方法
JPH04249727A (ja) 力および加速度の検出装置
JP3265641B2 (ja) 半導体加速度センサ
JP2006098323A (ja) 半導体型3軸加速度センサ
JP5475946B2 (ja) センサモジュール
JP4665733B2 (ja) センサエレメント
JP2802954B2 (ja) 力の作用体を有するセンサの試験方法およびこの方法を実施しうるセンサ
JP2006300904A (ja) 物理量センサ
JP5069410B2 (ja) センサエレメント
JP5401820B2 (ja) センサ
JP4000169B2 (ja) チップサイズパッケージ

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090226

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110226

Year of fee payment: 12

EXPY Cancellation because of completion of term
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110226

Year of fee payment: 12