JPH0483564A - 保護膜の形成方法 - Google Patents
保護膜の形成方法Info
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- JPH0483564A JPH0483564A JP19825090A JP19825090A JPH0483564A JP H0483564 A JPH0483564 A JP H0483564A JP 19825090 A JP19825090 A JP 19825090A JP 19825090 A JP19825090 A JP 19825090A JP H0483564 A JPH0483564 A JP H0483564A
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Landscapes
- Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的コ
(産業上の利用分野)
本発明は保護膜の形成方法に関し、特にサーマルプリン
トヘッドや液晶表示装置など、基板上に形成される保護
膜の形成方法に関する。
トヘッドや液晶表示装置など、基板上に形成される保護
膜の形成方法に関する。
(従来の技術)
基板上に有機金属化合物溶液を被着させ、その後焼成し
て酸化物に転化する保護膜の形成方法は、真空を必要と
しないため設備コストが安い、スループットが上がる、
溶液を用いているため複雑な形状でも被着させることが
できる、組成の制御が容易などの優れた利点を有してい
ることから、次に示すような各種の分野で広く応用され
るようになっている。
て酸化物に転化する保護膜の形成方法は、真空を必要と
しないため設備コストが安い、スループットが上がる、
溶液を用いているため複雑な形状でも被着させることが
できる、組成の制御が容易などの優れた利点を有してい
ることから、次に示すような各種の分野で広く応用され
るようになっている。
■ハロゲンランプの赤外反射膜(照明学会誌、80(1
985)、537〜542頁)■表示素子用ガラスから
のアルカリ金属のマイグレーション防止用のパッシベー
ション膜(液晶デイスプレィ総合技術(−シー・エム・
シー)1987.94〜107頁) ■ポリイミド等の高耐熱性樹脂を保温層に用いたサーマ
ルプリントヘッドの樹脂保護層(以下、下地膜と称する
)(特開昭63−189253号公報)■サーマルプリ
ントヘッドの保護膜(特開昭63−166554号公報
) しかし、有機金属化合物溶液を被着させ、その後焼成し
て酸化物に転化する保護膜の形成方法は上述したような
利点を有する一方、まだ改善の余地が残されている。
985)、537〜542頁)■表示素子用ガラスから
のアルカリ金属のマイグレーション防止用のパッシベー
ション膜(液晶デイスプレィ総合技術(−シー・エム・
シー)1987.94〜107頁) ■ポリイミド等の高耐熱性樹脂を保温層に用いたサーマ
ルプリントヘッドの樹脂保護層(以下、下地膜と称する
)(特開昭63−189253号公報)■サーマルプリ
ントヘッドの保護膜(特開昭63−166554号公報
) しかし、有機金属化合物溶液を被着させ、その後焼成し
て酸化物に転化する保護膜の形成方法は上述したような
利点を有する一方、まだ改善の余地が残されている。
その一つとして焼成温度の問題がある。つまり、残留炭
素を残さず、きちんと有機金属化合物溶液を酸化物に転
化させるためには高い焼成温度が必要とされている。た
とえば、ポリイミドなどの高耐熱性樹脂を保護層に用い
たサーマルプリントヘッドの下地膜に、有機金属化合物
としてAI(0−is。
素を残さず、きちんと有機金属化合物溶液を酸化物に転
化させるためには高い焼成温度が必要とされている。た
とえば、ポリイミドなどの高耐熱性樹脂を保護層に用い
たサーマルプリントヘッドの下地膜に、有機金属化合物
としてAI(0−is。
C3H7>のような金属アルコキシドを用いて、AI2
03の酸化膜を形成する場合、400℃以上、望ましく
は500℃以上の焼成温度が必要となる。
03の酸化膜を形成する場合、400℃以上、望ましく
は500℃以上の焼成温度が必要となる。
ところが、このような温度条件下で焼成を行うと、AI
203膜と酸化膜とポリイミド樹脂との熱膨張係数の違
いから、冷却過程において、剥離やクラックが発生する
という問題が生じている。
203膜と酸化膜とポリイミド樹脂との熱膨張係数の違
いから、冷却過程において、剥離やクラックが発生する
という問題が生じている。
また、表示素子用ガラスからのアルカリ金属のマイグレ
ーション防止用のパッシベーション膜を形成するにあた
り、有機金属化合物として5i(QC2H5)4のよう
な金属アルコキシドを用い、5i02の酸化膜を形成す
る場合、500℃以上、望ましくは600℃以上の焼成
温度が必要である。
ーション防止用のパッシベーション膜を形成するにあた
り、有機金属化合物として5i(QC2H5)4のよう
な金属アルコキシドを用い、5i02の酸化膜を形成す
る場合、500℃以上、望ましくは600℃以上の焼成
温度が必要である。
ところが、このような高温では、加熱・冷却工程中にガ
ラスに反りの現象がみられ、形状不良を起こし易くなる
。このため、液晶表示装置など正確なセルギャップを必
要とする装置においては適用が困難となっている。
ラスに反りの現象がみられ、形状不良を起こし易くなる
。このため、液晶表示装置など正確なセルギャップを必
要とする装置においては適用が困難となっている。
(発明が解決しようとする課題)
このように、基板上に有機金属化合物を被着させ、その
後焼成して酸化物に転化する保護膜の形成方法において
は、炭素の残留を防ぐため1こ高い焼成温度が必要とさ
れ、焼成工程中、ある0(マ焼成後の冷却過程において
、保護膜や基板自体の損傷、変形が生じるという問題が
あった。
後焼成して酸化物に転化する保護膜の形成方法において
は、炭素の残留を防ぐため1こ高い焼成温度が必要とさ
れ、焼成工程中、ある0(マ焼成後の冷却過程において
、保護膜や基板自体の損傷、変形が生じるという問題が
あった。
これに対して、低温で焼成可能な有機金属化合物もいく
つか提案されているか、この低温焼成有機金属化合物は
、保存中での反応が進行しやすく、実際に使用する際に
、保護膜の組成、膜厚などを正確に制御できないという
新たな問題が生じて(Aる。
つか提案されているか、この低温焼成有機金属化合物は
、保存中での反応が進行しやすく、実際に使用する際に
、保護膜の組成、膜厚などを正確に制御できないという
新たな問題が生じて(Aる。
したがって、保護膜を含めた製品の損傷や変形を防止し
、かつ、保護膜の特性をコントロールすることができる
保護膜の形成方法が望まれている。
、かつ、保護膜の特性をコントロールすることができる
保護膜の形成方法が望まれている。
本発明はこのような従来の事情に対処してなされたもの
で、金属化合物の材料によらず、低温焼成によって十分
な信頼性を得ることのできる保護膜の形成方法を得るこ
とを目的としている。
で、金属化合物の材料によらず、低温焼成によって十分
な信頼性を得ることのできる保護膜の形成方法を得るこ
とを目的としている。
[発明の構成]
(課題を解決するための手段)
本発明の保護膜の形成方法は、基体上に有機金属化合物
材料を被着させ、この有機金属化合物材料を焼成して膜
化する保護膜の形成方法において、前記有機金属化合物
材料を前記基体に被着させた後、前記有機金属材料に対
して紫外線照射とオゾン処理とを同時に行う処理を施し
、その後、焼成を行うことを特徴としている。
材料を被着させ、この有機金属化合物材料を焼成して膜
化する保護膜の形成方法において、前記有機金属化合物
材料を前記基体に被着させた後、前記有機金属材料に対
して紫外線照射とオゾン処理とを同時に行う処理を施し
、その後、焼成を行うことを特徴としている。
本発明において、紫外線照射とオゾン処理とは同時に行
われ、紫外線照射により大気中の酸素をオゾン化し、同
時処理する方法や、不活性ガス中で、紫外線の照射と表
面へのオゾンガスの吹き付けを同時に行う方法などが挙
げられる。
われ、紫外線照射により大気中の酸素をオゾン化し、同
時処理する方法や、不活性ガス中で、紫外線の照射と表
面へのオゾンガスの吹き付けを同時に行う方法などが挙
げられる。
上記分解処理において、これら両者を併用しない場合、
有機金属材料の結合の切断、分解は十分に行われず、ひ
いては焼成温度の低減効果を十分に得ることができない
。
有機金属材料の結合の切断、分解は十分に行われず、ひ
いては焼成温度の低減効果を十分に得ることができない
。
本発明は、サーマルプリントヘッドに形成される下地膜
および保護膜や、液晶表示装置および薄膜ELパネルの
ガラス基板上に形成されるパッシベーション膜など、基
体上に有機金属化合物材料を被着させて焼成し、膜を形
成する場合において適用することができ、低温域での焼
成で効率良く有機金属化合物を酸化物へ転化させること
ができる。
および保護膜や、液晶表示装置および薄膜ELパネルの
ガラス基板上に形成されるパッシベーション膜など、基
体上に有機金属化合物材料を被着させて焼成し、膜を形
成する場合において適用することができ、低温域での焼
成で効率良く有機金属化合物を酸化物へ転化させること
ができる。
(作 用)
本発明の保護膜の形成方法では、有機金属化合物を被着
させる工程と、焼成して酸化物に転化する工程との間に
、紫外線照射とオゾン処理を行う工程を設けているため
、有機金属化合物の結合切断を熱に依存せずに行うこと
ができる。
させる工程と、焼成して酸化物に転化する工程との間に
、紫外線照射とオゾン処理を行う工程を設けているため
、有機金属化合物の結合切断を熱に依存せずに行うこと
ができる。
このため、焼成温度を下げることが可能となり、保護膜
や他の構成部品に加わる処理条件が緩和され、剥離、変
形などの欠陥発生を防止することができる。
や他の構成部品に加わる処理条件が緩和され、剥離、変
形などの欠陥発生を防止することができる。
紫外線照射とオゾン処理の同時処理により、有機金属化
合物の酸化物への転化温度が低下するのは、熱エネルギ
ーに替わって、紫外線のエネルギーにより、酸化物に転
化に必要な結合が切断しやすくなり、オゾン処理を併用
することによって、結合の切断しやすくなった部分に活
性なオゾンが作用して揮発しやすいCO2やH2Oを形
成するためと考えられる。
合物の酸化物への転化温度が低下するのは、熱エネルギ
ーに替わって、紫外線のエネルギーにより、酸化物に転
化に必要な結合が切断しやすくなり、オゾン処理を併用
することによって、結合の切断しやすくなった部分に活
性なオゾンが作用して揮発しやすいCO2やH2Oを形
成するためと考えられる。
そして、焼成温度を低減することができることから、保
存時の安定性が良いこれまでの材料を用いることができ
、経済的にも有利である。
存時の安定性が良いこれまでの材料を用いることができ
、経済的にも有利である。
(実施例)
次に、本発明の実施例について図面を用いて説明する。
実施例1
第1図は本発明の保護膜の形成方法を用いて作製された
サーマルプリントヘッドの一例であり、このサーマルプ
リントヘッドの下地層形成時に本発明が適用されている
。
サーマルプリントヘッドの一例であり、このサーマルプ
リントヘッドの下地層形成時に本発明が適用されている
。
はじめに、Crを18%含有する厚さ 0.51■程度
のFe合金からなる金属基板1の表面に存在する酸化物
を除去して粗面化処理を行う。
のFe合金からなる金属基板1の表面に存在する酸化物
を除去して粗面化処理を行う。
をN−メチル−2−ピロリドン(NMP)などの有機溶
剤を用いて所定の粘度に調整し、ロールコータ−を用い
て金属基板上に所定の膜厚になるように塗布する。
剤を用いて所定の粘度に調整し、ロールコータ−を用い
て金属基板上に所定の膜厚になるように塗布する。
その後焼成炉を用いて窒素中で加熱し、脱水環化反応を
進行させ、次式で示される化合物を含むポリイミド層2
を形成する。
進行させ、次式で示される化合物を含むポリイミド層2
を形成する。
(以下余白)
次いで、AI(0−iso C3H7) iなる金属ア
ルコキシドを含有する溶液(この金属アルコキシド溶液
は、七ツマ−だけでなく重合度の異なるポリマーを含有
していても差支えない)に、ポリイミド層2を形成した
金属基板1を浸漬し、一定温度で引き上げて下地層3を
形成する。
ルコキシドを含有する溶液(この金属アルコキシド溶液
は、七ツマ−だけでなく重合度の異なるポリマーを含有
していても差支えない)に、ポリイミド層2を形成した
金属基板1を浸漬し、一定温度で引き上げて下地層3を
形成する。
この後、100℃で10分乾燥後、紫外線照射とオゾン
処理を同時に実施する。即ち、低圧水銀ランプ500W
3灯(東芝ライチック社製)を用い、密閉された大気
雰囲気下で、基板との照射距離100m■、照射時間3
分の条件で紫外線を基板に照射するとともに、オゾンガ
スを発生させて4〜513/分の流速で排風し、オゾン
処理を行う。
処理を同時に実施する。即ち、低圧水銀ランプ500W
3灯(東芝ライチック社製)を用い、密閉された大気
雰囲気下で、基板との照射距離100m■、照射時間3
分の条件で紫外線を基板に照射するとともに、オゾンガ
スを発生させて4〜513/分の流速で排風し、オゾン
処理を行う。
この後、焼成温度を変化させてそれぞれ30分の焼成を
行い、各温度条件における処理後の下地層3に対してX
線光電子分光装置(以下XPSと称する)を用い、残留
炭素の量を測定した。この結果を第2図に示す。
行い、各温度条件における処理後の下地層3に対してX
線光電子分光装置(以下XPSと称する)を用い、残留
炭素の量を測定した。この結果を第2図に示す。
さらにここで、比較品として、紫外線照射とオゾン処理
を施さず、その他の条件はこの実施例と同様にしてポリ
イミド層上に下地層を形成した基板を作製した。
を施さず、その他の条件はこの実施例と同様にしてポリ
イミド層上に下地層を形成した基板を作製した。
これらの基板に対する焼成温度を実施例と同様に変化さ
せ、30分の焼成後にXPSを用いて残留炭素量を測定
した。この結果を第2図に示す。
せ、30分の焼成後にXPSを用いて残留炭素量を測定
した。この結果を第2図に示す。
第2図の結果から、紫外線照射とオゾン処理とを施した
基板は、低い焼成温度で炭素が検出されなくなり、炭素
がほぼ完全に無くなる温度は230℃であった。そして
、この温度で焼成した基板には同等欠陥を生じさせなか
った。
基板は、低い焼成温度で炭素が検出されなくなり、炭素
がほぼ完全に無くなる温度は230℃であった。そして
、この温度で焼成した基板には同等欠陥を生じさせなか
った。
これに対して、紫外線照射とオゾン処理を行わない従来
の方法によってポリイミド層を形成した基板は、下地層
上の残留炭素がほぼ完全に無くなる温度は500℃であ
り、この実施例による温度よリ 2倍程度も高い温度が
必要であった。
の方法によってポリイミド層を形成した基板は、下地層
上の残留炭素がほぼ完全に無くなる温度は500℃であ
り、この実施例による温度よリ 2倍程度も高い温度が
必要であった。
しかも、この温度で焼成した場合、形成されたA1□0
1層にはクラックが生じた。
1層にはクラックが生じた。
このように、焼成前に紫外線照射とオゾン処理を行うこ
とにより、有機金属化合物溶液の酸化物への転化を低い
温度で起こさせ、焼成温度を低く抑えることが可能とな
った。
とにより、有機金属化合物溶液の酸化物への転化を低い
温度で起こさせ、焼成温度を低く抑えることが可能とな
った。
この後、常法にしたがって下地層3上に発熱抵抗体層4
、導電層5、保護膜6を順次形成し、サーマルプリント
ヘッドを得た。このような形成方法によって得たサーマ
ルプリントヘッドは、歩留まりが高いだけでなく、炭素
の残留が無く、かつ形状精度に優れたものであり、信頼
性を向上させることができた。
、導電層5、保護膜6を順次形成し、サーマルプリント
ヘッドを得た。このような形成方法によって得たサーマ
ルプリントヘッドは、歩留まりが高いだけでなく、炭素
の残留が無く、かつ形状精度に優れたものであり、信頼
性を向上させることができた。
なお、この実施例では、紫外線照射により大気中の酸素
をオゾン化し、同時処理する方法について述べたが、不
活性ガス中で、紫外線の照射と表面へのオゾンガスの吹
き付けを同時に行う方法でも、同様の効果が得られる。
をオゾン化し、同時処理する方法について述べたが、不
活性ガス中で、紫外線の照射と表面へのオゾンガスの吹
き付けを同時に行う方法でも、同様の効果が得られる。
実施例2
次に、本発明の保護膜の形成方法を、液晶表示装置のガ
ラス基板のパッシベーション膜形成に適用した例につい
て述べる。
ラス基板のパッシベーション膜形成に適用した例につい
て述べる。
第3図は液晶表示装置の一例を示す図で、同図において
、厚さ 0,7龍の青板ガラス基板31上には、有機金
属化合物材料として51(QC2H5)なる金属アルコ
キシドを用いこれを焼成してSi02の酸化膜とするこ
とにより得たパッシベーション膜32が形成されている
。
、厚さ 0,7龍の青板ガラス基板31上には、有機金
属化合物材料として51(QC2H5)なる金属アルコ
キシドを用いこれを焼成してSi02の酸化膜とするこ
とにより得たパッシベーション膜32が形成されている
。
5i(QC2Hs )なる金属アルコキシドの焼成時に
は、紫外線照射およびオゾンガス吹き付けを実施例1と
同様の条件で行っている。
は、紫外線照射およびオゾンガス吹き付けを実施例1と
同様の条件で行っている。
そして、パッシベーション膜32の上には透明電極33
が形成され、この上には配向膜34が被覆形成されてい
る。このような基板31はスペーサ35を介して対向配
置され、基板間に液晶36か封入されるとともに、シー
ル剤37により封止されている。
が形成され、この上には配向膜34が被覆形成されてい
る。このような基板31はスペーサ35を介して対向配
置され、基板間に液晶36か封入されるとともに、シー
ル剤37により封止されている。
この実施例においては、紫外線照射とオゾン処理とを同
時に行うことによって、これまで600”Cで焼成を行
っていたところを、300’Cの焼成温度で炭素を残留
させることなくパッシベーション膜を形成することがで
きた。
時に行うことによって、これまで600”Cで焼成を行
っていたところを、300’Cの焼成温度で炭素を残留
させることなくパッシベーション膜を形成することがで
きた。
そして、600℃の焼成においてしばしば発生していた
ガラスの反りや割れを大幅に低減することができた。
ガラスの反りや割れを大幅に低減することができた。
[発明の効果]
以上説明したように、本発明の保護膜の形成方法では、
有機金属化合物の焼成前に、紫外線照射とオゾン処理工
程を設けたため、炭素の残留を生じさせることなく、低
温域での焼成を可能とし、高温処理に伴う基板の変形や
剥離など欠陥の発生を防止することができる。これによ
って、保護膜を用いた製品の信頼性を大きく向上させる
ことができる。
有機金属化合物の焼成前に、紫外線照射とオゾン処理工
程を設けたため、炭素の残留を生じさせることなく、低
温域での焼成を可能とし、高温処理に伴う基板の変形や
剥離など欠陥の発生を防止することができる。これによ
って、保護膜を用いた製品の信頼性を大きく向上させる
ことができる。
第1図は本発明の保護膜の形成方法を適用したサーマル
プリントヘッドを示す図、第2図は有機金属酸化物の焼
成温度と残留炭素量との関係を示す図、第3図は本発明
の保護膜の形成方法を適用した液晶表示装置を示す図で
ある。 1・・・金属基板、2・・・保温層、3・・・下地層、
4・・・発熱抵抗体層、5・・・導電層、6・・・保護
膜、31・・・ガラス基板、32・・・パッシベーショ
ン膜、33・・・透明電極、34・・・配向膜、35・
・・スペーサ、36・・・液晶、37・・・シール剤。 出願人 株式会社 東芝 同 東芝電子デバイス エンジニアリング株式会社
プリントヘッドを示す図、第2図は有機金属酸化物の焼
成温度と残留炭素量との関係を示す図、第3図は本発明
の保護膜の形成方法を適用した液晶表示装置を示す図で
ある。 1・・・金属基板、2・・・保温層、3・・・下地層、
4・・・発熱抵抗体層、5・・・導電層、6・・・保護
膜、31・・・ガラス基板、32・・・パッシベーショ
ン膜、33・・・透明電極、34・・・配向膜、35・
・・スペーサ、36・・・液晶、37・・・シール剤。 出願人 株式会社 東芝 同 東芝電子デバイス エンジニアリング株式会社
Claims (1)
- (1)基体上に有機金属化合物材料を被着させ、この有
機金属化合物材料を焼成して膜化する保護膜の形成方法
において、 前記有機金属化合物材料を前記基体に被着させた後、前
記有機金属材料に対して紫外線照射とオゾン処理とを同
時に行う処理を施し、その後、焼成を行うことを特徴と
する保護膜の形成方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19825090A JPH0483564A (ja) | 1990-07-24 | 1990-07-24 | 保護膜の形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19825090A JPH0483564A (ja) | 1990-07-24 | 1990-07-24 | 保護膜の形成方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0483564A true JPH0483564A (ja) | 1992-03-17 |
Family
ID=16388006
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19825090A Pending JPH0483564A (ja) | 1990-07-24 | 1990-07-24 | 保護膜の形成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0483564A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0649254A1 (en) * | 1993-10-14 | 1995-04-19 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Method of storing coded image information |
BE1007658A3 (nl) * | 1993-10-14 | 1995-09-05 | Philips Electronics Nv | Werkwijze voor het in gecodeerde vorm opslaan van beeldinformatie van bewegende beelden, een diagnostisch systeem waarin de werkwijze wordt toegepast, alsmede een beeldcoderings- en optekeneenheid voor toepassing in een dergelijk systeem. |
JP2008252072A (ja) * | 2007-03-05 | 2008-10-16 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 配線及び記憶素子の作製方法 |
-
1990
- 1990-07-24 JP JP19825090A patent/JPH0483564A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0649254A1 (en) * | 1993-10-14 | 1995-04-19 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Method of storing coded image information |
BE1007658A3 (nl) * | 1993-10-14 | 1995-09-05 | Philips Electronics Nv | Werkwijze voor het in gecodeerde vorm opslaan van beeldinformatie van bewegende beelden, een diagnostisch systeem waarin de werkwijze wordt toegepast, alsmede een beeldcoderings- en optekeneenheid voor toepassing in een dergelijk systeem. |
JP2008252072A (ja) * | 2007-03-05 | 2008-10-16 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 配線及び記憶素子の作製方法 |
JP2014027322A (ja) * | 2007-03-05 | 2014-02-06 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 配線の作製方法、記憶素子の作製方法 |
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