JPS59218755A - 被覆または包封製品およびその製造方法 - Google Patents
被覆または包封製品およびその製造方法Info
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- JPS59218755A JPS59218755A JP59067822A JP6782284A JPS59218755A JP S59218755 A JPS59218755 A JP S59218755A JP 59067822 A JP59067822 A JP 59067822A JP 6782284 A JP6782284 A JP 6782284A JP S59218755 A JPS59218755 A JP S59218755A
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/28—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
- H01L23/29—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the material, e.g. carbon
- H01L23/293—Organic, e.g. plastic
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B44—DECORATIVE ARTS
- B44C—PRODUCING DECORATIVE EFFECTS; MOSAICS; TARSIA WORK; PAPERHANGING
- B44C1/00—Processes, not specifically provided for elsewhere, for producing decorative surface effects
- B44C1/22—Removing surface-material, e.g. by engraving, by etching
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01B—CABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
- H01B1/00—Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
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- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
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- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
- Formation Of Insulating Films (AREA)
- Polymerisation Methods In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は被覆または包封(encapsulated)
製品の製造に関する。
製品の製造に関する。
ある種の製品、例えば金属ノぐネルおよび電子音す品の
被覆または包封は周知である。かかる被覆または包封は
これらの製品を環境から保勲するためkおよび(または
)絶H誘電体(insulating C11e −1
ectric)として作用させるために使用し得る。電
子工業においては、集積回路の被覆または包封は例えば
ポリイミドを用いて行われる。
被覆または包封は周知である。かかる被覆または包封は
これらの製品を環境から保勲するためkおよび(または
)絶H誘電体(insulating C11e −1
ectric)として作用させるために使用し得る。電
子工業においては、集積回路の被覆または包封は例えば
ポリイミドを用いて行われる。
今般、本発明者はある種の基体をある種の、シクロヘキ
サジエンの重合体または共重合体で被覆または包封しつ
いでこの重合体または共重合体をアリーレンの重合体ま
たは共重合体に転化し得ることを知見した。かかるアリ
ーレン重合体の被覆または包封J碕はしばしば、かかる
用途に従来使用されていた他のN合体1例えばポリイミ
Pの被覆または包封層より良好な熱安定性を有する。
サジエンの重合体または共重合体で被覆または包封しつ
いでこの重合体または共重合体をアリーレンの重合体ま
たは共重合体に転化し得ることを知見した。かかるアリ
ーレン重合体の被覆または包封J碕はしばしば、かかる
用途に従来使用されていた他のN合体1例えばポリイミ
Pの被覆または包封層より良好な熱安定性を有する。
従って本発明の第1の発明によれば、ガラスまたは臭化
カリウムを含まない基体と、この基体上に施されたアリ
ーレンの重合体または共重合体からなる被覆または包封
層とからなることを特徴とする、被覆または包封製品が
提供される。
カリウムを含まない基体と、この基体上に施されたアリ
ーレンの重合体または共重合体からなる被覆または包封
層とからなることを特徴とする、被覆または包封製品が
提供される。
本発明の第2の発明によれば、(A)基体を適当な/、
、2−J!換−シクロヘキサ−31!−ジエンの単独重
合体または共重合体で被覆または包封し、ついで(13
)工程(A)の製品を適当な処理にかけて、上記単独重
合体または共重合体をアリーレンの単独重合体または共
重合体に転化することを特徴とする。ガラスまたは臭化
カリウムを含まない基体と、この基体上に施されたアリ
ーレン単独重合体または共重合体からなる被覆または包
封層とからなる被覆または包封製品の製造方法が提供さ
れる。
、2−J!換−シクロヘキサ−31!−ジエンの単独重
合体または共重合体で被覆または包封し、ついで(13
)工程(A)の製品を適当な処理にかけて、上記単独重
合体または共重合体をアリーレンの単独重合体または共
重合体に転化することを特徴とする。ガラスまたは臭化
カリウムを含まない基体と、この基体上に施されたアリ
ーレン単独重合体または共重合体からなる被覆または包
封層とからなる被覆または包封製品の製造方法が提供さ
れる。
本発明の好ましい具体列においては、基体は集積回路の
)<IX品である。
)<IX品である。
不発L11.Iの紀/の発明による被覆または包封製品
を構成するアリーレン重合体または共重合体は、好まし
くは、一般式: (式中、残基Ar)☆びXが存在する場合Xは重合体鎖
中で単位によって異なってもよ(、Arは二価芳香族又
は置換芳香族基を表わし、Xは一種又はそれ以上の重合
し得る共単隣体の残基全表わし、n及びmは整数であシ
かりn:mの比は/:Oないし/:100の範、囲であ
る)の(,5私造をもつ。
を構成するアリーレン重合体または共重合体は、好まし
くは、一般式: (式中、残基Ar)☆びXが存在する場合Xは重合体鎖
中で単位によって異なってもよ(、Arは二価芳香族又
は置換芳香族基を表わし、Xは一種又はそれ以上の重合
し得る共単隣体の残基全表わし、n及びmは整数であシ
かりn:mの比は/:Oないし/:100の範、囲であ
る)の(,5私造をもつ。
本発明の第λの発明による方法において使用される/、
コージ置換−シクロヘキザ−3,!−ジエン単独重合体
又は共重合体に好1しくは一般式〔式中、シクロヘキサ
ジエン環及び残基Xが存在する場8Xは重合体鎖中で単
位によって異なってもよく、;各FLlは同一でも異な
ってもよく、水素、ハイドロカルビル基、たとえば炭素
数5個までの低級アルキル基、アロイル基、炭素数/′
0 (1ii1までのアルカノイル基又は好ましくはR
2(100基(式中、R・2はアリール基又は炭素数1
o(Iilまで、好ましくは炭素数7個又は−個のアル
キル基である)であり: X l o及びmは前記の意
義含有する〕で表わされる)’Iff造金もつ。
コージ置換−シクロヘキザ−3,!−ジエン単独重合体
又は共重合体に好1しくは一般式〔式中、シクロヘキサ
ジエン環及び残基Xが存在する場8Xは重合体鎖中で単
位によって異なってもよく、;各FLlは同一でも異な
ってもよく、水素、ハイドロカルビル基、たとえば炭素
数5個までの低級アルキル基、アロイル基、炭素数/′
0 (1ii1までのアルカノイル基又は好ましくはR
2(100基(式中、R・2はアリール基又は炭素数1
o(Iilまで、好ましくは炭素数7個又は−個のアル
キル基である)であり: X l o及びmは前記の意
義含有する〕で表わされる)’Iff造金もつ。
用語気重合し得る共単量体〃は重合条件下で前記定義し
たごとき/、、2−1を換基をもつ/、、l!−−)置
喚−シクロヘキサー3.タージエンと反応してそれと共
重合体全形成し得る化付物を意味する。
たごとき/、、2−1を換基をもつ/、、l!−−)置
喚−シクロヘキサー3.タージエンと反応してそれと共
重合体全形成し得る化付物を意味する。
一般式I又は11の共重合体中に残基として存在し得る
適当な重会し得る共単量体の例は特にビニル単蒙体、た
とえばスチレン、メタクリレート。
適当な重会し得る共単量体の例は特にビニル単蒙体、た
とえばスチレン、メタクリレート。
ビニルハライ)’、ヒニルエステル、アクリロニトリル
及びテトラフルオルエチレンのようなオレフィン系炭化
水泰;及び二酸化硫黄のような化合物全包含する。
及びテトラフルオルエチレンのようなオレフィン系炭化
水泰;及び二酸化硫黄のような化合物全包含する。
一般式■の重合体において、lyrはフェニレン環であ
ることが好ましい。
ることが好ましい。
フェニレン環を重仰体の主鎖に連結する結合は互いにオ
ルト位又はノ々う位であり得る。これらの結合の両方が
存在することが屡々好ましい。
ルト位又はノ々う位であり得る。これらの結合の両方が
存在することが屡々好ましい。
一般式Hの重合体において、重合体主部はっぎの二種の
環構造、すなわち、 を含むことが好ましい。
環構造、すなわち、 を含むことが好ましい。
本発明の第2の発明に従う方法に使用されるポリ(/、
2−ジ置換−シクロヘキサ−3,j−ジエン)中の/、
2−置換基は互いにシス型構造であることが部会よい。
2−ジ置換−シクロヘキサ−3,j−ジエン)中の/、
2−置換基は互いにシス型構造であることが部会よい。
これはかかる重合体が、本出願人自身のヨーロッ、o特
許出1y+4公開第71tO6k号公報により詳細に記
載されているごとく、生化学的方法によって容易に製造
し得るシス−7゜、!−4ヒドロキシシクロヘキf=3
.!−4二ンから誘導され得るからである。しかしなが
ら、本発明は前記/+”z−fN−換基が互いにトラン
ス型構造である可能性を除外するものではない。という
ツバ、か\る系は本出願人自身のヨーロッノぐ%許出願
第♂、2 J Oj 02 t、1号明細書に示される
ごとく容易にポリアリーレンに転化され得るからである
。
許出1y+4公開第71tO6k号公報により詳細に記
載されているごとく、生化学的方法によって容易に製造
し得るシス−7゜、!−4ヒドロキシシクロヘキf=3
.!−4二ンから誘導され得るからである。しかしなが
ら、本発明は前記/+”z−fN−換基が互いにトラン
ス型構造である可能性を除外するものではない。という
ツバ、か\る系は本出願人自身のヨーロッノぐ%許出願
第♂、2 J Oj 02 t、1号明細書に示される
ごとく容易にポリアリーレンに転化され得るからである
。
前記/、2−置換基のさらに別の補足的な例としては、
特にアミド、ハライド、チオエステル。
特にアミド、ハライド、チオエステル。
ウレタン及び−Ipンラートをあげることができる。
本発明による′$、覆製品を構成する適当な基体を製造
しイ尋る材料の列とし、ては5%に、金属、列えげ、伯
金属列えば白金;遷移金属例えば銅およびニッケル;工
学的金属(engineering metal )例
えば軟+hiおよびアルミニウム;または好ましくは、
電子工業で使用される材料1例えば珪素、酸化珪宋、(
叶化ガリウムを挙げることができる;これらの材料は処
理されたものおよび(または)この分野において知られ
ている添加剤、列えばこれらの材料を半導体化せしめる
のに適当なドープ剤(do−pant)、例えば@また
は硼累を含有するものであ、リ イ4Iる。
しイ尋る材料の列とし、ては5%に、金属、列えげ、伯
金属列えば白金;遷移金属例えば銅およびニッケル;工
学的金属(engineering metal )例
えば軟+hiおよびアルミニウム;または好ましくは、
電子工業で使用される材料1例えば珪素、酸化珪宋、(
叶化ガリウムを挙げることができる;これらの材料は処
理されたものおよび(または)この分野において知られ
ている添加剤、列えばこれらの材料を半導体化せしめる
のに適当なドープ剤(do−pant)、例えば@また
は硼累を含有するものであ、リ イ4Iる。
電子工業で使用する場合には、基体は典型的に(L」−
チップ、プレートまたはウェファ−の形を有する。基体
の表面は平面であるかあるいはその中に。
チップ、プレートまたはウェファ−の形を有する。基体
の表面は平面であるかあるいはその中に。
例えは印刷回路のパターンの形で、7個才たはそれ以上
の段差(5tep) を有し得る。
の段差(5tep) を有し得る。
基体は三次元物体であり得るが、基体は多くの場合、二
次元のものであp、典型的には適当な支持体上に支持さ
れている薄層、例えば什累板上に支持された酸什珪素の
薄層またはガラス上の銅の薄層の形であり得る。適当な
支持体上に助層を形成させる方法は電子工業の分野にお
いて周知である。
次元のものであp、典型的には適当な支持体上に支持さ
れている薄層、例えば什累板上に支持された酸什珪素の
薄層またはガラス上の銅の薄層の形であり得る。適当な
支持体上に助層を形成させる方法は電子工業の分野にお
いて周知である。
本発明の第2の発明による方法の被覆または包封工程(
A)においては、基体を慣用の被覆または包封方法を使
用して被覆または包封1−る。被覆または包封を回転被
覆法(5pin process )により行うことが
好ましい。
A)においては、基体を慣用の被覆または包封方法を使
用して被覆または包封1−る。被覆または包封を回転被
覆法(5pin process )により行うことが
好ましい。
本発明の第2の発明による方法の被覆または包封工程(
〜においては、/、、2−ジ置換−3,!−シクロヘキ
サー3.!−ジエン重合体または共重合体全適当な溶剤
中に溶解した溶液として使用する。使用し得る適当な溶
剤としては、特に、クロロベンゼン、ジオキサン、クロ
ロホルム、ジグリム、/、:2−ジクロロエタン、テト
ラクロロエタンがとげられる。上言1.!の溶液は、前
記の重合体または共重合体のアリーレン1′会体捷たは
共重合体への転化全促進するために、ヨーロッノぐ特許
出願早に330 t / 741!、7号明細書(その
記載は本明細書中で引用されている)に開示されている
ごとく、触媒、好ましくはイ1ぜ)アミン、例えばトリ
ーローオクチルアミンを含有していることがしばしば好
ましい。
〜においては、/、、2−ジ置換−3,!−シクロヘキ
サー3.!−ジエン重合体または共重合体全適当な溶剤
中に溶解した溶液として使用する。使用し得る適当な溶
剤としては、特に、クロロベンゼン、ジオキサン、クロ
ロホルム、ジグリム、/、:2−ジクロロエタン、テト
ラクロロエタンがとげられる。上言1.!の溶液は、前
記の重合体または共重合体のアリーレン1′会体捷たは
共重合体への転化全促進するために、ヨーロッノぐ特許
出願早に330 t / 741!、7号明細書(その
記載は本明細書中で引用されている)に開示されている
ごとく、触媒、好ましくはイ1ぜ)アミン、例えばトリ
ーローオクチルアミンを含有していることがしばしば好
ましい。
本発明の第2の発明による方法の工程(A)で使用され
る/、2−ジIN換−シクロヘキサー3.j−ジエン単
独重合体または共重合体は、ヨーロッパ11、’r許出
願第1.230オ0コざ、7号明細書(その記載は本明
細病、において引用されている)に記載される万、宍に
より調製し得る。
る/、2−ジIN換−シクロヘキサー3.j−ジエン単
独重合体または共重合体は、ヨーロッパ11、’r許出
願第1.230オ0コざ、7号明細書(その記載は本明
細病、において引用されている)に記載される万、宍に
より調製し得る。
本発明の第2の発明による方法の転化工程(B)におい
ては、l、2−ジ置換−シクロヘキサ−3゜5−ジエン
重合体で被覆または包封された基体をヨーロッノξ特許
出M第♂、230!0.2♂、7号および同第1330
jf/7グ、7号明細書に記載されるごとき、酸素の存
在しない条件下で加熱する。かかる加熱処理@1to−
11,so℃で行うことが好ましい:温度を最初、3θ
OCまで例えば30〜<10分間で、あるいけよシ厚い
被りについては4<時間せでの間に上昇させついでI/
so’cまで瞬間的にあるいは約70分間で上昇させる
ことがより好ましい。
ては、l、2−ジ置換−シクロヘキサ−3゜5−ジエン
重合体で被覆または包封された基体をヨーロッノξ特許
出M第♂、230!0.2♂、7号および同第1330
jf/7グ、7号明細書に記載されるごとき、酸素の存
在しない条件下で加熱する。かかる加熱処理@1to−
11,so℃で行うことが好ましい:温度を最初、3θ
OCまで例えば30〜<10分間で、あるいけよシ厚い
被りについては4<時間せでの間に上昇させついでI/
so’cまで瞬間的にあるいは約70分間で上昇させる
ことがより好ましい。
本発明による製品の被覆または包封層の寸法安定性を改
善するためには、加熱処理で使用する温度は、しばしば
少なくとも、製品が使用時に受ける温度である。
善するためには、加熱処理で使用する温度は、しばしば
少なくとも、製品が使用時に受ける温度である。
被覆または包封層の厚さは特に、工程い)で使用される
溶液の量と濃度および工程(A)において回転被覆法を
使用する場曾には回転の速度によシ変動することは理解
されるであろう。例えば約70ミクロンまでの厚さを得
ることができる。より大きい厚さを希望するときには本
発明の第2の発明による方法全基体上で数回行うことが
好ましい。
溶液の量と濃度および工程(A)において回転被覆法を
使用する場曾には回転の速度によシ変動することは理解
されるであろう。例えば約70ミクロンまでの厚さを得
ることができる。より大きい厚さを希望するときには本
発明の第2の発明による方法全基体上で数回行うことが
好ましい。
本発明の第コの発明による方法において、清浄な部品、
精製された重合体、精製された溶剤、予備焼付工程およ
び後焼付工程を使用することにょシおよび接着促進剤例
えばシラン全使用することによシ、被覆または包封層の
基体への接着が改善され得ることは理解され得るであろ
う。例えば基体はその表面が不純物、ガスおよび水分を
含まないように処理される。かかる処理として、しばし
ば約200℃の加熱炉内で、不活性雰囲気5例えば、窒
素中でし11えば7時1■規付を行うことが挙げられる
。
精製された重合体、精製された溶剤、予備焼付工程およ
び後焼付工程を使用することにょシおよび接着促進剤例
えばシラン全使用することによシ、被覆または包封層の
基体への接着が改善され得ることは理解され得るであろ
う。例えば基体はその表面が不純物、ガスおよび水分を
含まないように処理される。かかる処理として、しばし
ば約200℃の加熱炉内で、不活性雰囲気5例えば、窒
素中でし11えば7時1■規付を行うことが挙げられる
。
抜機または包封層はいわゆる不動態化層、すなわち、部
品に対する水、イオン性不純物およびイオン化性幅側の
有害な作用を減少させる遮断層として使用し得る。また
、被覆または包封層は集積回路の活性層の開の絶縁誘電
体として使用し得る。
品に対する水、イオン性不純物およびイオン化性幅側の
有害な作用を減少させる遮断層として使用し得る。また
、被覆または包封層は集積回路の活性層の開の絶縁誘電
体として使用し得る。
本発明の芙施例を以下に示す。
夾施し!1/
珪素ウェファ−(直径! Omm ) k洗浄しりいで
蒙素界囲下、/30℃で30分、予備焼付を行った。ポ
リ(シスー/、、2−ジヒドロキシシクロヘキサ−3,
!−ジエンのビスメチルカーゼネート)のクロロベンゼ
ン中の、277%溶液f II 000rpmの回転速
度で7分間、回転被覆した。窒素雰四包下、10〜/夕
Q℃で30 % To’l加熱することにより溶剤を除
去した。ついで被覆ウェファ−を真空中。
蒙素界囲下、/30℃で30分、予備焼付を行った。ポ
リ(シスー/、、2−ジヒドロキシシクロヘキサ−3,
!−ジエンのビスメチルカーゼネート)のクロロベンゼ
ン中の、277%溶液f II 000rpmの回転速
度で7分間、回転被覆した。窒素雰四包下、10〜/夕
Q℃で30 % To’l加熱することにより溶剤を除
去した。ついで被覆ウェファ−を真空中。
300℃で1時間加熱した2
被覆ウェファ−のフーリエ変圧赤外分光分析はシクロヘ
キサジエン重合体が実質的に完全にポリフェニレンに転
化したことを示し、また、干渉縞は被覆の厚さが約7ミ
クロンであることを示した。
キサジエン重合体が実質的に完全にポリフェニレンに転
化したことを示し、また、干渉縞は被覆の厚さが約7ミ
クロンであることを示した。
走査電子顕微鏡分析の結果は、フレーキング、ピンホー
ル、亀裂が存在せず、また、基体表面全体に亘って均一
な被覆を形成し得ることから判断されるごとく、被膜が
すぐれた性質を有することを示した。
ル、亀裂が存在せず、また、基体表面全体に亘って均一
な被覆を形成し得ることから判断されるごとく、被膜が
すぐれた性質を有することを示した。
被覆ウェファ−を真空下、too℃で、2時間加熱した
後、走査電子顕微鏡法で分析したところ、被膜の品質に
低下は認められなかった。
後、走査電子顕微鏡法で分析したところ、被膜の品質に
低下は認められなかった。
一般的操作
プレートの形の基体またはプレート上に担持された薄層
の形の基体を9素雰囲気下、2θO℃で30分間焼付け
た。
の形の基体を9素雰囲気下、2θO℃で30分間焼付け
た。
/、ノージヒドロキシ−シクロヘキサ−3,!−ジエン
のビス(メチルカーボネート)の重合体(/重址部)全
適当な溶剤に溶解し、この溶液に)+1−n−オフ千ル
アミン(o、o 4/を重量部)を冷加しついでこの溶
液を0.7〜八へミクロンの孔径のフィルター全通して
沢過した。
のビス(メチルカーボネート)の重合体(/重址部)全
適当な溶剤に溶解し、この溶液に)+1−n−オフ千ル
アミン(o、o 4/を重量部)を冷加しついでこの溶
液を0.7〜八へミクロンの孔径のフィルター全通して
沢過した。
この溶液の一部全基体表面に載せついで基体を使用の回
転被覆装置中で回転させて、基体上に被牛力を沈着させ
た。窒素雰囲気下、周囲温度またはgo〜izo℃の空
気中で乾燥することによ)溶剤を除去した。
転被覆装置中で回転させて、基体上に被牛力を沈着させ
た。窒素雰囲気下、周囲温度またはgo〜izo℃の空
気中で乾燥することによ)溶剤を除去した。
フいで被偵プレートを窒素雰囲気中>(D−to。
℃の力n熱炉中に適当な時間放置するかまたは(11)
加熱炉中に装入しついで実施例3を除いて、7時間かか
つてll10’Cまで連続的に温度を上昇させることに
より加熱した。
加熱炉中に装入しついで実施例3を除いて、7時間かか
つてll10’Cまで連続的に温度を上昇させることに
より加熱した。
芳香族化反応(aromatlzatton reac
tion)の完了は、フーリエ変圧赤外分析によりNF
L−透過基体についての透過形式において、また、II
L−不透化性基体についての反射法(reflect3
nce method)により示された。
tion)の完了は、フーリエ変圧赤外分析によりNF
L−透過基体についての透過形式において、また、II
L−不透化性基体についての反射法(reflect3
nce method)により示された。
反応条件の詳細は第1表に示す。
実施ツlIコで調製した本発明による被覆製品を加圧釜
中において0./ / Nm−”で/J′分間加熱した
。
中において0./ / Nm−”で/J′分間加熱した
。
光学鵡微鏡で観察し′#:、場会、場合の剥離の非候は
認められなかった。Nアラルダイト” (’ Aral
dite〃1を用いて被覆に接着させた金属ドーリイ(
dol ly)を使用する直接剥離(pull−off
) K験においては、剥離応力は0.7♂〜0.3グN
m−2であった。
認められなかった。Nアラルダイト” (’ Aral
dite〃1を用いて被覆に接着させた金属ドーリイ(
dol ly)を使用する直接剥離(pull−off
) K験においては、剥離応力は0.7♂〜0.3グN
m−2であった。
実施列2.3および4で調製した本発明による被覆製品
の光学および走査顕微鏡分析は、被覆はピンホールが力
くまた亀裂がなくそして基体の表面に一致していること
を示した。
の光学および走査顕微鏡分析は、被覆はピンホールが力
くまた亀裂がなくそして基体の表面に一致していること
を示した。
上記実施u1で調製した本発明による被覆製品の試料に
、気プラズマプレゾ# (’Plasmaprep“ン
io。
、気プラズマプレゾ# (’Plasmaprep“ン
io。
の)々レル内で、iooワットの順電力(forwar
dpower)と!ワットの反射電力(reflect
ed power)で低圧(約0.1 )ルンプラズマ
全照射した。70分後、被覆の厚さはO9,2〜o、g
ミクロンだけ減少した。このことは被覆製品は電子工業
においてプラズマ−エツチング法に使用し得ることを示
す。
dpower)と!ワットの反射電力(reflect
ed power)で低圧(約0.1 )ルンプラズマ
全照射した。70分後、被覆の厚さはO9,2〜o、g
ミクロンだけ減少した。このことは被覆製品は電子工業
においてプラズマ−エツチング法に使用し得ることを示
す。
−24:
レー
イギリス国チェシャー・ラン:
−ン・ザ・ヒース(番地その他
表示なし)
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 / ガラスまたは臭化カリウムを含まない基体と、この
基体上に施されたアリーレン単独重合体または共重合体
からなる被覆または包封層とからなることを特徴とする
、被覆または包封製品。 λ アリーレン単独重合体または共重合体が一般式: (式中、残基Ar及びXが存在する場@−Xは重合体鎖
中で単位によって異なってもよ(、Arは二価芳香族又
は置換芳香族基を表わし、Xは一種又はそれ以上の重付
し得る共単量体の残基全表わし、n及びmけ整数であシ
かっn:mの比は/:oないし1:10oの範囲である
)で示される植造を有する、特許請求の範囲第1項記載
の製品。 3、 Arがフェニレン基である、特許請求の範囲第
1項記載の製品。 lAmがOである。特許請求の範囲第2項記載の製品。 よ 基体が集積回路の部品である、特許請求の範囲第1
項記載の製品。 乙、 基体が薄層の形を有する。特許請求の範囲第5項
記載の製品。 2 基体が金属、または導体または半導体材料から形成
される。特許請求の範囲第5項または第6項に記載の製
品。 と 基体が白金、銅、ニッケル、鋼、アルミニウム、珪
素、酸化珪素または砒化ガ゛リウムから形成される、特
許請求の範囲第7項記載の製品。 タ (A)基体全適当な/、2−ジ置換−シクロヘキサ
−3,j−ジエンの単独重合体または共重合体の層で被
覆または包封しついで(B)工程(A)の製品を適当な
処理にかけて、上記単独重合体または共重合体をアリー
レン単独重合体またけ共重合体に転化することを特徴と
する、ガラスまたは臭化カリウム金倉まない基体と、こ
の基体上に施されたアリーレン単独重合体または共重合
体からなる被し塘たd包封層とからなる、被覆または包
封製品の卿造方法。 10、;隙当な/、、2−、−)@換−シクロヘキサー
3、オージエン単独重合体捷たは共重合体が一般式〔式
中、X、nおよびmけ前記と同一の意義を有し、各R,
1は同一でも異ってもよく、かつ、水素。 アロイル基、アルカノイル基またはa2oco基(式中
R2はアロイル基または炭素数70個までのアルカノ
イル基である)である〕で表わされる構造を有する、特
許請求の範囲第2項記載の方法。 //、+nが0である、特許請求の範囲第7θ項記載の
方法。 1.2.工程Aが回転被覆法である、特許請求の範囲第
り項記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB8309363 | 1983-04-06 | ||
GB838309363A GB8309363D0 (en) | 1983-04-06 | 1983-04-06 | Resists |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59218755A true JPS59218755A (ja) | 1984-12-10 |
Family
ID=10540727
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59067822A Pending JPS59218755A (ja) | 1983-04-06 | 1984-04-06 | 被覆または包封製品およびその製造方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0125767A3 (ja) |
JP (1) | JPS59218755A (ja) |
KR (1) | KR920009746B1 (ja) |
GB (2) | GB8309363D0 (ja) |
PH (1) | PH19728A (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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GB8609936D0 (en) * | 1986-04-23 | 1986-05-29 | Ici Plc | Polyaromatics |
US5128418A (en) * | 1991-01-29 | 1992-07-07 | California Institute Of Technology | Polymerization of cis-5,6-bis(trimethylsiloxy)-1,3-cyclohexadiene and other substituted cyclohexadienes |
WO2000037480A1 (en) | 1998-10-26 | 2000-06-29 | University Of Iowa Research Foundation | Novel naphthalene dioxygenase and methods for their use |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2502645A (en) * | 1946-02-08 | 1950-04-04 | California Research Corp | Unsaturated alcohol esters of cyclohexadiene dicarboxylic acids |
US3745082A (en) * | 1970-06-05 | 1973-07-10 | Nasa | Semiconductor surface protection material |
JPS6056171B2 (ja) * | 1980-03-17 | 1985-12-09 | 信越化学工業株式会社 | エポキシ樹脂組成物 |
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GB2101148B (en) * | 1981-04-14 | 1984-10-24 | Hitachi Ltd | Composition of protective coating material |
EP0154162B1 (en) * | 1981-10-06 | 1989-02-08 | Imperial Chemical Industries Plc | Process and polymer |
-
1983
- 1983-04-06 GB GB838309363A patent/GB8309363D0/en active Pending
-
1984
- 1984-03-23 EP EP84301979A patent/EP0125767A3/en not_active Ceased
- 1984-03-23 GB GB848407569A patent/GB8407569D0/en active Pending
- 1984-04-06 PH PH30508A patent/PH19728A/en unknown
- 1984-04-06 JP JP59067822A patent/JPS59218755A/ja active Pending
- 1984-04-06 KR KR1019840001819A patent/KR920009746B1/ko active IP Right Grant
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR920009746B1 (ko) | 1992-10-22 |
PH19728A (en) | 1986-06-17 |
GB8309363D0 (en) | 1983-05-11 |
KR840008538A (ko) | 1984-12-15 |
EP0125767A2 (en) | 1984-11-21 |
EP0125767A3 (en) | 1986-10-15 |
GB8407569D0 (en) | 1984-05-02 |
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