JPH047015B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、情報記録担体から光学的に情報を読
みとる情報再生装置の情報記録担体の欠陥を検出
する装置に関する。

従来の技術 情報記録担体から光学的に読とられた検出信号
には第６図ａに示す様な情報記録担体の欠陥に起
因する情報欠陥部分が含まれる。焦点制御、トラ
ツキング制御等、読みとりヘツドを制御する回
路、読みとられた検出信号から情報を読みとる為
にクロツクを抽出するPLL回路、情報記録担体
を回すモータ制御回路、等は情報記録担体から読
みとれられた検出信号をもとにそれぞれの誤差信
号を生成している為、検出信号はこの様な情報欠
除部分があるとそれぞれの誤差信号が乱されやす
い。そこで通常に検出信号からの情報記録担体の
欠陥を検出してそれぞれの制御回路に保護をかけ
る必要がある。第５図は従来の情報記録担体の欠
陥検出装置の一例を示すブロツク図であり、検出
信号から放電時定数の異なる二つの包絡線検波信
号をとりだし、放電時定数の長い包絡線検波信号
に適当なバイアスを与えた後、両者を比較する事
により情報記録担体の欠陥を検出していた（例え
ば、特願昭58−203000号）。第６図ｂ，ｃは電圧
比較器４４の両入力の波形、第６図ｄは欠陥検出
パルスである。

発明が解決しようとする問題点 この様な従来の情報記録担体の欠陥検出装置で
は傷区間で検出信号のレベルが変化せねば検出で
きない欠点があつた。本発明はかかる点に鑑みて
なされたもので、検出信号のレベルの変化しない
傷に対しても検出可能な情報記録担体の欠陥検出
装置を提供することを目的としている。

問題点を解決するための手段 本発明は上記問題点を解決するために光ビーム
を放射し情報記録担体の情報トラツク上に光スポ
ツトを形成する光集束手段と上記情報トラツクか
らの反射光あるいは透過光を検出して記録されて
いる情報に応じて振幅が変化するとともに前記光
スポツトと前記情報トラツクとの相対位置誤差に
応じて互いの位相が変化する少なくとも２つの検
出信号を出す光検出器と上記２つの検出信号それ
ぞれ波形整形して２つのデジタル検出信号を出力
する波形整形手段と２つのデジタル検出信号が互
いに等価なハイまたはローの状態からどちらか一
方のデジタル検出信号が２回続けて状態反転して
再び元の互いに等価な状態になつたことを検出し
て欠陥検出パルスを出力する状態検出手段とを具
備するようにしたものである。

作 用 本発明は上記した構成により、検出信号のレベ
ルに関係せずに情報記録担体の欠陥を検出するの
でより広範囲の種類の欠陥を検出できる。

実施例 第１図は本発明の一実施例を示すブロツク図で
あり、１は情報記録担体、２は情報記録担体１の
回転軸、３は情報トラツク、４はレーザ光源、５
はコリメートレンズ、６はビームスプリツタ、７
は集束レンズ、８，９，１０，１１は光検知器、
１２，１３は和回路、１４，１５は高域通過フイ
ルタ、１６，１７は電圧比較器、１８は交流発振
器、１９は状態検出手段、２０は単安定マルチバ
イブレータである。

情報記録担体１はその回転軸２を中心に回転さ
れる。レーザ光源４から発生された光はコリメー
トレンズ５、ビームスプリツタ６、集束レンズ７
を通つて情報記録担体上の情報トラツク３にスポ
ツトを結ぶ。情報トラツク３によつて変調を受け
た後その反射光は集束レンズ７、ビームスプリツ
タ６を通り光検知器８，９，１０，１１にあたり
電気信号に変換される。ここで光検知器８，９，
１０，１１は情報トラツク３の遠視野領域におか
れており、各対角線方向の成分を和回路１２，１
３で求めると、それぞれの信号は情報トラツク３
上の情報によつて振幅が変動すると共に前記スポ
ツトと情報トラツク３との相対位置誤差（トラツ
キング誤差）によつて位相がわずかにずれてい
る。それぞれ高域通過フイルタ１４，１５を通
り、S₁，S₂となる。第２図は第１図における各点
の信号波形を示した波形図である。信号S₁，S₂
は、情報記録担体の傷区間では情報トラツク３上
の情報とは無関係であり、たとえば情報記録担体
上の傷の乱反射光、迷光あるいは回路系に生じる
雑音である。信号S₁，S₂はそれぞれ電圧比較器１
６，１７に入力され波形整形されてデジタル検出
信号S₃，S₄になり状態検出手段１９に入力され
る。電圧比較器１６には交流発振器１８が接続さ
れており、入力閾値電圧がわずかに変動されてい
る。その為、乱反射光、迷光あるいは回路系で生
じる雑音などがない場合でも電圧比較器１６の出
力は交流発振器１８の信号によりある適当な周期
の矩形波となつている。信号S₃，S₄は状態検出手
段１９に入力され、S₃，S₄が互いにハイ又はロー
の状態からどちらか一方が２回続けて状態反転し
た時にはS₅にハイの信号を又、傷区間以外の様に
S₃，S₄がたがいに位相がわずかずつずれてハイ、
ローを繰りかえしている区間ではローの信号をS₅
に出力する。具体的には例えば第３図に示す様な
構成にすれば良い。以下第３図の状態検出手段の
構成図を混えて説明する。フリツプフロツプ３４
はS₃，S₄が共にハイのときアンド回路３１を通し
てセツトされ、S₃，S₄が共にローのときノア回路
３２を通してリセツトされる。すなわちフリツプ
フロツプ３４には入力が共にハイであつたか又は
ローであつたかを示す情報が蓄えられる。ここで
S₃，S₄のどちらか一方の状態がかわつてハイとロ
ーの組み合わせの状態になると排他的論理和回路
３３の出力がハイとなつてゲート回路３５，３６
が開きフリツプフロツプ３４の情報がフリツプフ
ロツプ３７に移される。次に状態の変わつた方の
入力が再び状態が変化して入力が再び共にハイ又
はローの組み合わせになるとフリツプフロツプ３
４は変化しない。つまりフリツプフロツプ３４と
３７の出力は共に同じ状態となり排他的論理和回
路３８の出力はローになり、ノア回路３９によつ
て排他的論理和回路３３の出力が反転され断続し
たハイが出力される。ここで反対に状態の変わら
なかつた方の入力の状態が変わるとフリツプフロ
ツプ３４の出力は反転されフリツプフロツプ３４
と３７の出力はゲート回路３５，３６が開いてい
る排他的論理和回路３３の出力がハイの期間を除
いてハイとローの組み合わせとなり排他的論理和
回路３８の出力は断続したハイとなる。ノア回路
３９によつて排他的論理和回路３３の出力と演算
すると出力は連続したローとなつて目的を達成す
ることができる。すなわち、傷のない区間ではS₃
とS₄はわずかの位相差をもつて同相の信号である
ので状態検出手段１９の出力は常にローであり、
傷区間ではS₃とS₄との間には相関関係がないた
め、どちらか一方の信号が状態を２回続けて反転
する。そのため、状態検出手段１９の出力が断続
したハイとなり傷であることを検出することがで
きる。第４図は第３図の各部の波形図である。第
４図を用いてさらに動作を説明する。t₁からt₈ま
での期間はわずかに位相差をもつてS₃，S₄信号が
交互にハイ、ローをくり返している通常再生期間
である。この時フリツプフロツプ３４の出力は入
力が共にハイまたはローの期間にセツトまたはリ
セツトされ入力が同じ組み合わせの時の状態を示
している。またフリツプフロツプ３７はひとつ前
のフリツプフロツプ３４の状態を示している。t₁
からt₈のように交互にハイ、ローをくり返してい
る時には２つのフリツプフロツプも交互にハイ、
ローをくりかえしその排他的論理和出力S₃₈もゲ
ート信号S₃₃がハイの時を除いてハイとなるS₃₈の
ようになる。したがつてノア回路３９を通つたS₅
の出力はローである。次にt₉からt₁₃までの期間に
ついて説明する。

この期間は各入力信号に相関がない傷の区間を
示しており、フリツプフロツプ３４は今までのよ
うに交互にセツト、リセツトされることがない。
したがつてS₃₄はこの場合ハイに固定され変化し
ない。またフリツプフロツプ３７もS₃₄の信号を
保持しており、排他的論理和出力S₃₈はローのま
まである。出力信号S₅はS₃₃によつて断続される
がハイのパルスが出力され目的を達成することが
できる。単安定マルチバイブレータ２０は状態検
出手段１９の出力がばたつくのを防止するための
ものであり、通常はなくてもかまわない。また、
交流発振回路１８がない場合には通常、乱反射
光、迷光、回路系のランダムなノイズ成分等によ
り高域通過フイルタの出力がそれぞれ無相関に微
小変動しているため、状態検出器の出力にはパル
スがたち、通常の欠陥検出として十分機能する。
そのため、交流発振回路１８は傷区間で出力がと
ぎれたり検出もれを防ぐのに効果があるがなくて
もかまわない。

発明の効果 本発明は光ビームを放射し情報記録担体の情報
トラツク上に光スポツトを形成する光集束手段と
上記情報トラツクからの反射光あるいは透過光を
検出して記録されている情報に応じて振幅が変化
するとともに前記光スポツトと前記情報トラツク
との相対位置誤差に応じて互いの位相が変化する
少なくとも２つの検出信号を出す光検知器と上記
２つの検出信号をそれぞれ波形整形して２つのデ
ジタル検出信号が互いに等価なハイ又はローの状
態からどちらか一方のデジタル検出信号が２回続
けて状態反転して再び元の互いに等価な状態にな
つた事を検出して欠陥検出パルスを出力する状態
検出手段とを具備したもので傷区間で各デジタル
検出信号の間で相関関係がない事を利用していて
信号の波高値を利用していない為広範囲の傷を検
出できるといつた利点を有するものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示すブロツク図、
第２図は第１図における各点の波形を示す図、第
３図は状態検出手段の構成図、第４図は第３図に
おける各点の波形を示す図、第５図は従来の情報
記録担体の欠陥検出装置の一例を示すブロツク
図、第６図は第５図各点の波形を示す図である。 １４，１５……高域通過フイルタ、１６，１７
……電圧比較器、１８……交流発振器、１９……
状態検出手段、２０……単安定マルチバイブレー
タ。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 光ビームを放射し情報記録担体の情報トラツ
   ク上に光スポツトを形成する光集束手段と、上記
   情報トラツクからの反射光あるいは透過光を検出
   して記録されている情報に応じて振幅が変化する
   とともに前記光スポツトと前記情報トラツクとの
   相対位置誤差に応じて互いの位相が変化する少な
   くとも２つの検出信号を出す光検出器と、上記２
   つの検出信号をそれぞれ波形整形して２つのデジ
   タル検出信号を出力する波形整形手段と、２つの
   デジタル検出信号が互いに等価なハイまたはロー
   の状態からどちらか一方のデジタル検出信号が２
   回続けて状態反転して再び元の互いに等価な状態
   になつたことを検出して欠陥検出パルスを出力す
   る状態検出手段とを具備してなる情報記録担体の
   欠陥検出装置。 ２ 状態検出手段は２つのデジタル検出信号が互
   いに等価なハイまたはローの状態からどちらか一
   方のデジタル検出信号が２回続けて状態反転して
   再び元の互いに等価な状態になつたことを検出し
   て再トリガ可能な単安定マルチバイブレータをト
   リガし、上記単安定マルチバイブレータの出力を
   欠陥検出パルスとすることを特徴とする特許請求
   の範囲第１項記載の情報記録担体の欠陥検出装
   置。 ３ 少なくとも一方の波形整形手段の閾値は、適
   当な交流信号に応じて実質的に変化することを特
   徴とする特許請求の範囲第１項記載の情報記録担
   体の欠陥検出装置。