JPS61289535A - 情報記録担体の欠陥検出装置 - Google Patents
情報記録担体の欠陥検出装置Info
- Publication number
- JPS61289535A JPS61289535A JP13110285A JP13110285A JPS61289535A JP S61289535 A JPS61289535 A JP S61289535A JP 13110285 A JP13110285 A JP 13110285A JP 13110285 A JP13110285 A JP 13110285A JP S61289535 A JPS61289535 A JP S61289535A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、情報記録担体から光学的に情報を読みとる情
報再生装置の情報記録担体の欠陥を検出する装置に関す
る。
報再生装置の情報記録担体の欠陥を検出する装置に関す
る。
従来の技術
情報記録担体から光学的に読みとられた検出信号には第
５図（ａ）に示す様な情報記録担体の欠陥に起因する情
報欠陥部分が含まれる。焦点制御、トラッキング制御等
、読みとりヘッドを制御する回路、読みとられた検出信
号から情報を読みとる為にクロックを抽出するＰＬＬ回
路、情報記録担体を回すモータ制御回路、等は情報記録
担体から読みとられた検出信号をもとにそれぞれの誤差
信号を生成している為、検出信号にこの様な情報欠除部
分があるとそれぞれの誤差信号が乱されやすい。
５図（ａ）に示す様な情報記録担体の欠陥に起因する情
報欠陥部分が含まれる。焦点制御、トラッキング制御等
、読みとりヘッドを制御する回路、読みとられた検出信
号から情報を読みとる為にクロックを抽出するＰＬＬ回
路、情報記録担体を回すモータ制御回路、等は情報記録
担体から読みとられた検出信号をもとにそれぞれの誤差
信号を生成している為、検出信号にこの様な情報欠除部
分があるとそれぞれの誤差信号が乱されやすい。
そこで通常は検出信号から情報記録担体の欠陥を検出し
てそれぞれの制御回路に保護をかける必要がある。第４
図は従来の情報記録担体の欠陥検出装置の一例を示すブ
ロック図であり、検出信号から放電時定数の異なる二つ
の包路線検波信号をとりだし、放電時定数の長い包絡線
検波信号に適当なバイアスを与えた後、両者を比較する
事により情報記録担体の欠陥を検出していた（例えば、
特願昭５８−２０３０００号）。第５図（ｂ）、 （Ｃ
）は電圧比較器４４の再入力の波形、第５図＋ｄ）は欠
陥検出パルスである。
てそれぞれの制御回路に保護をかける必要がある。第４
図は従来の情報記録担体の欠陥検出装置の一例を示すブ
ロック図であり、検出信号から放電時定数の異なる二つ
の包路線検波信号をとりだし、放電時定数の長い包絡線
検波信号に適当なバイアスを与えた後、両者を比較する
事により情報記録担体の欠陥を検出していた（例えば、
特願昭５８−２０３０００号）。第５図（ｂ）、 （Ｃ
）は電圧比較器４４の再入力の波形、第５図＋ｄ）は欠
陥検出パルスである。
発明が解決しようとする問題点
この様な従来の情報記録担体の欠陥検出装置では傷区間
で検出信号のレベルが変化せねば検出できない欠点があ
った０本発明はかかる点に鑑みてなされたもので、検出
信号のレベルの変化しない傷に対しても検出可能な情報
記録担体の欠陥検出装置を提供することを目的としてい
る。
で検出信号のレベルが変化せねば検出できない欠点があ
った０本発明はかかる点に鑑みてなされたもので、検出
信号のレベルの変化しない傷に対しても検出可能な情報
記録担体の欠陥検出装置を提供することを目的としてい
る。
問題点を解決するための手段
本発明は上記問題点を解決するために光ビームを放射し
情報記録担体の情報トラック上に光スポットを形成する
光集束手段と上記情報トラックからの反射光あるいは透
過光を検出して記録されている情報に応じて振幅が変化
するすくなくとも２つの検出信号を出す光検出器と上記
２つの検出信号をそれぞれ波形整形して２つのデジタル
検出信号を出力する波形整形手段と２つのデジタル検出
信号が互いに等価なハイ又はローの状態からどちらか一
方のデジタル検出信号が２回続けて状態反転して再び元
の互いに等価な状態になった事を検出して欠陥検出パル
スを出力する状態検出手段とを具備する様にしたもので
ある。
情報記録担体の情報トラック上に光スポットを形成する
光集束手段と上記情報トラックからの反射光あるいは透
過光を検出して記録されている情報に応じて振幅が変化
するすくなくとも２つの検出信号を出す光検出器と上記
２つの検出信号をそれぞれ波形整形して２つのデジタル
検出信号を出力する波形整形手段と２つのデジタル検出
信号が互いに等価なハイ又はローの状態からどちらか一
方のデジタル検出信号が２回続けて状態反転して再び元
の互いに等価な状態になった事を検出して欠陥検出パル
スを出力する状態検出手段とを具備する様にしたもので
ある。
作用
本発明は上記した構成により、検出信号のレベルに関係
せずに情報記録担体の欠陥を検出するのでより広範囲の
種類の欠陥を検出できる。
せずに情報記録担体の欠陥を検出するのでより広範囲の
種類の欠陥を検出できる。
実施例
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図であり、１
は情報記録担体、２は情報記録担体１の回転軸、３は情
報トラック、４はレーザ光源、５はコリメートレンズ、
６はビームスプリッタ、７は集束レンズ、８．９．１０
．１１は光検知器、１２．１３は和回路、１４．１５は
高域通過フィルタ、１６．１７は電圧比較器、１８は交
流発振器、１９は状態検出手段、２０は単安定マルチバ
イブレータである。
は情報記録担体、２は情報記録担体１の回転軸、３は情
報トラック、４はレーザ光源、５はコリメートレンズ、
６はビームスプリッタ、７は集束レンズ、８．９．１０
．１１は光検知器、１２．１３は和回路、１４．１５は
高域通過フィルタ、１６．１７は電圧比較器、１８は交
流発振器、１９は状態検出手段、２０は単安定マルチバ
イブレータである。
情報記録担体１はその回転軸２を中心に回転される。レ
ーザ光源４から発生された光はコリメートレンズ５、ビ
ームスプリンタ６、集束レンズ７を通って情報記録担体
上の情報トラック３にスポットを結ぶ。情報トラック３
によって変調を受けた後その反射光は集束レンズ７、ビ
ームスブリフタロを通り光検知器８．９．１０．１１に
あたり電気信号に変換される。ここで光検知器８．９．
１０．１１は情報トラック３の遠視野領域におかれてお
り、各対角線方向の成分を和回路１２．１３で求めると
、それぞれの信号は情報トラック３上の情報によって振
幅が変動すると共に前記スポットと情報トラック３との
相対位置誤差（トラッキング誤差）によって位相がわず
かにずれている。それぞれ高域通過フィルタ１４．１５
を通り、Ｓ ｌ、Ｓ’ｓ となる。
ーザ光源４から発生された光はコリメートレンズ５、ビ
ームスプリンタ６、集束レンズ７を通って情報記録担体
上の情報トラック３にスポットを結ぶ。情報トラック３
によって変調を受けた後その反射光は集束レンズ７、ビ
ームスブリフタロを通り光検知器８．９．１０．１１に
あたり電気信号に変換される。ここで光検知器８．９．
１０．１１は情報トラック３の遠視野領域におかれてお
り、各対角線方向の成分を和回路１２．１３で求めると
、それぞれの信号は情報トラック３上の情報によって振
幅が変動すると共に前記スポットと情報トラック３との
相対位置誤差（トラッキング誤差）によって位相がわず
かにずれている。それぞれ高域通過フィルタ１４．１５
を通り、Ｓ ｌ、Ｓ’ｓ となる。
第２図は第１図における各点の信号波形を示した波形図
である。信号Ｓｔ、Ｓｚは、情報記録担体の傷区間では
情報トラック３上の情報とは無関係であり、たとえば情
報記録担体上の傷の乱反射光あるいは迷光等の雑音であ
る。信号Ｓ＋、Ｓｔはそれぞれ電圧比較器１６．１７に
入力され波形整形されてデジタル検出信号Ｓ３、Ｓ４に
なり状態検出手段１９に入力される。電圧比較器１６に
は交流発振器１８が接続されており、入力閾値電圧がわ
ずかに変動されている。その為、乱反射光、迷光などが
ない場合でも電圧比較器１６の出力は交流発振器１８の
信号によりある適当な周期の矩形波となっている。信号
Ｓ３、Ｓ４は状態検出手段１９に入力され、Ｓｏｌ 、
３４が互いにハイ又はローの状態からどちらか一方が２
回続けて状態反転した時にはＳ５にハイの信号を又、傷
区間以外の様に３３ 、Ｓ、がたがいに位相がわずかず
つずれてハイ、ローを繰りかえしている区間ではローの
信号をＳ、に出力する。具体的には例えば第３図に示す
様な構成にすれば良い。以下第３図の状態検出手段の構
成図を混えて説明する。フリップフロップ３４はＳ３、
Ｓ４が共にハイのときアンド回路３１を通してセットさ
れ、Ｓ、 、Ｓ、が共にローのときオア回路３２を通し
てリセットされる。すなわちフリップフロップ３４には
入力が共にハイであったか又はローであったかを示す情
報が蓄えられる。ここでＳｌ、Ｓ４のどちらか一方の状
態がかわってハイとローの組み合わせの状態になると排
他的論理和回路３３の出力がハイとなってゲート回路３
５．３６が開きフリップフロップ３４の情報がフリップ
フロップ３７に移される。次に状態の変わった方の入力
が再び状態が変化して入力が再び共にハイ又はローの組
み合わせになるとフリップフロップ３４は変化しない。
である。信号Ｓｔ、Ｓｚは、情報記録担体の傷区間では
情報トラック３上の情報とは無関係であり、たとえば情
報記録担体上の傷の乱反射光あるいは迷光等の雑音であ
る。信号Ｓ＋、Ｓｔはそれぞれ電圧比較器１６．１７に
入力され波形整形されてデジタル検出信号Ｓ３、Ｓ４に
なり状態検出手段１９に入力される。電圧比較器１６に
は交流発振器１８が接続されており、入力閾値電圧がわ
ずかに変動されている。その為、乱反射光、迷光などが
ない場合でも電圧比較器１６の出力は交流発振器１８の
信号によりある適当な周期の矩形波となっている。信号
Ｓ３、Ｓ４は状態検出手段１９に入力され、Ｓｏｌ 、
３４が互いにハイ又はローの状態からどちらか一方が２
回続けて状態反転した時にはＳ５にハイの信号を又、傷
区間以外の様に３３ 、Ｓ、がたがいに位相がわずかず
つずれてハイ、ローを繰りかえしている区間ではローの
信号をＳ、に出力する。具体的には例えば第３図に示す
様な構成にすれば良い。以下第３図の状態検出手段の構
成図を混えて説明する。フリップフロップ３４はＳ３、
Ｓ４が共にハイのときアンド回路３１を通してセットさ
れ、Ｓ、 、Ｓ、が共にローのときオア回路３２を通し
てリセットされる。すなわちフリップフロップ３４には
入力が共にハイであったか又はローであったかを示す情
報が蓄えられる。ここでＳｌ、Ｓ４のどちらか一方の状
態がかわってハイとローの組み合わせの状態になると排
他的論理和回路３３の出力がハイとなってゲート回路３
５．３６が開きフリップフロップ３４の情報がフリップ
フロップ３７に移される。次に状態の変わった方の入力
が再び状態が変化して入力が再び共にハイ又はローの組
み合わせになるとフリップフロップ３４は変化しない。
つまりフリップフロップ３４と３７の出力は共に同じ状
態となり排他的論理和回路３８の出力はローになり、反
転回路３９を通してハイが出力される。ここで反対に状
態の変わらなかった方の入力の状態が変わるとフリップ
フロップ３４の出力は反転されフリップフロップ３４と
３７の出力はハイとローの組み合わせとなり排他的論理
和回路３８の出力はハイ、反転回路３９の出力はローと
なって目的を達成する事ができる。すなわち、傷のない
区間ではＳ、と８４はわずかの位相差をもって同相の信
号であるので状態検出手段１９の出力は常にローであり
、傷区間ではＳ、と３４との間には相関関係がないため
、どちらか一方の信号が状態を２回続けて反転する。そ
の為、状態検出手段１９の出力がハイとなり傷である事
を検出することができる。単安定マルチバイブレータ２
０は状態検出手段１９の出力がばたつくのを防止する為
のものであり、通常はな（でもかまわない。又、交流発
振回路１８も傷区間で出力がとぎれたり検出もれを防ぐ
のに効果があるがなくてもかまわない。
態となり排他的論理和回路３８の出力はローになり、反
転回路３９を通してハイが出力される。ここで反対に状
態の変わらなかった方の入力の状態が変わるとフリップ
フロップ３４の出力は反転されフリップフロップ３４と
３７の出力はハイとローの組み合わせとなり排他的論理
和回路３８の出力はハイ、反転回路３９の出力はローと
なって目的を達成する事ができる。すなわち、傷のない
区間ではＳ、と８４はわずかの位相差をもって同相の信
号であるので状態検出手段１９の出力は常にローであり
、傷区間ではＳ、と３４との間には相関関係がないため
、どちらか一方の信号が状態を２回続けて反転する。そ
の為、状態検出手段１９の出力がハイとなり傷である事
を検出することができる。単安定マルチバイブレータ２
０は状態検出手段１９の出力がばたつくのを防止する為
のものであり、通常はな（でもかまわない。又、交流発
振回路１８も傷区間で出力がとぎれたり検出もれを防ぐ
のに効果があるがなくてもかまわない。
発明の効果
本発明は光ビームを放射し、情報記録担体の情報トラッ
ク上に光スポットを形成する光集束手段と上記情報トラ
ックからの反射光あるいは透過光を検出して記録されて
いる情報に応じて振幅が変化するすくなくとも２つの検
出信号を出す光検知器と上記２つの検出信号をそれぞれ
波形整形して２つのデジタル検出信号が互いに等価なハ
イ又はローの状態からどちらか一方のデジタル検出信号
が２回続けて状態反転して再び元の互いに等価な状態に
なった事を検出して欠陥検出パルスを出力する状態検出
手段とを具備したもので傷区間で各デジタル検出信号の
間で相関関係がない事を利用していて信号の波高値を利
用していない為広範囲の傷を検出できるといった利点を
有するものである。
ク上に光スポットを形成する光集束手段と上記情報トラ
ックからの反射光あるいは透過光を検出して記録されて
いる情報に応じて振幅が変化するすくなくとも２つの検
出信号を出す光検知器と上記２つの検出信号をそれぞれ
波形整形して２つのデジタル検出信号が互いに等価なハ
イ又はローの状態からどちらか一方のデジタル検出信号
が２回続けて状態反転して再び元の互いに等価な状態に
なった事を検出して欠陥検出パルスを出力する状態検出
手段とを具備したもので傷区間で各デジタル検出信号の
間で相関関係がない事を利用していて信号の波高値を利
用していない為広範囲の傷を検出できるといった利点を
有するものである。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図、第２図は
第１図における各点の波形を示す図、第３図は状態検出
手段の構成図、第４図は従来の情報記録担体の欠陥検出
装置の一例を示すブロック図、第５図は第４図各点の波
形を示す図である。 １４．１５・・・高域通過フィルタ、１６．１７・・・
電圧比較器、１８・・・交流発振器、１９・・・状態検
出手段、２０・・・単安定マルチバイブレータ。 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 はか１名＠１ 図 第２図 特開 第３図 第５図 一傷区朋一 菊間
第１図における各点の波形を示す図、第３図は状態検出
手段の構成図、第４図は従来の情報記録担体の欠陥検出
装置の一例を示すブロック図、第５図は第４図各点の波
形を示す図である。 １４．１５・・・高域通過フィルタ、１６．１７・・・
電圧比較器、１８・・・交流発振器、１９・・・状態検
出手段、２０・・・単安定マルチバイブレータ。 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 はか１名＠１ 図 第２図 特開 第３図 第５図 一傷区朋一 菊間
Claims (3)
- （１）光ビームを放射し情報記録担体の情報トラック上
に光スポットを形成する光集束手段と、上記情報トラッ
クからの反射光あるいは透過光を検出して記録されてい
る情報に応じて振幅が変化するすくなくとも２つの検出
信号を出す光検出器と、上記２つの検出信号をそれぞれ
波形整形して２つのデジタル検出信号を出力する波形整
形手段と、２つのデジタル検出信号が互いに等価なハイ
又はローの状態からどちらか一方のデジタル検出信号が
２回続けて状態反転して再び元の互いに等価な状態にな
った事を検出して欠陥検出パルスを出力する状態検出手
段とを具備してなる情報記録担体の欠陥検出装置。 - （２）状態検出手段は２つのデジタル検出信号が互いに
等価なハイまたはローの状態からどちらか一方のデジタ
ル検出信号が２回続けて状態反転して再び元の互いに等
価な状態になったことを検出して再トリガ可能な単安定
マルチバイブレータをトリガし、上記単安定マルチバイ
ブレータの出力を欠陥検出パルスとすることを特徴とす
る特許請求の範囲第１項記載の情報記録担体の欠陥検出
装置。 - （３）すくなくとも一方の波形整形手段の閾値は適当な
交流信号に応じて実質的に変化することを特徴とする特
許請求の範囲第１項記載の情報記録担体の欠陥検出装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13110285A JPS61289535A (ja) | 1985-06-17 | 1985-06-17 | 情報記録担体の欠陥検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13110285A JPS61289535A (ja) | 1985-06-17 | 1985-06-17 | 情報記録担体の欠陥検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61289535A true JPS61289535A (ja) | 1986-12-19 |
| JPH047015B2 JPH047015B2 (ja) | 1992-02-07 |
Family
ID=15050022
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13110285A Granted JPS61289535A (ja) | 1985-06-17 | 1985-06-17 | 情報記録担体の欠陥検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61289535A (ja) |
-
1985
- 1985-06-17 JP JP13110285A patent/JPS61289535A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH047015B2 (ja) | 1992-02-07 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |