JPH0466204A - 電解コンデンサ用アルミニウム箔の製造方法 - Google Patents
電解コンデンサ用アルミニウム箔の製造方法Info
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- JPH0466204A JPH0466204A JP17378190A JP17378190A JPH0466204A JP H0466204 A JPH0466204 A JP H0466204A JP 17378190 A JP17378190 A JP 17378190A JP 17378190 A JP17378190 A JP 17378190A JP H0466204 A JPH0466204 A JP H0466204A
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Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B21—MECHANICAL METAL-WORKING WITHOUT ESSENTIALLY REMOVING MATERIAL; PUNCHING METAL
- B21B—ROLLING OF METAL
- B21B1/00—Metal-rolling methods or mills for making semi-finished products of solid or profiled cross-section; Sequence of operations in milling trains; Layout of rolling-mill plant, e.g. grouping of stands; Succession of passes or of sectional pass alternations
- B21B1/40—Metal-rolling methods or mills for making semi-finished products of solid or profiled cross-section; Sequence of operations in milling trains; Layout of rolling-mill plant, e.g. grouping of stands; Succession of passes or of sectional pass alternations for rolling foils which present special problems, e.g. because of thinness
-
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- B21—MECHANICAL METAL-WORKING WITHOUT ESSENTIALLY REMOVING MATERIAL; PUNCHING METAL
- B21B—ROLLING OF METAL
- B21B3/00—Rolling materials of special alloys so far as the composition of the alloy requires or permits special rolling methods or sequences ; Rolling of aluminium, copper, zinc or other non-ferrous metals
- B21B2003/001—Aluminium or its alloys
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Metal Rolling (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
本発明は、静電容量の高い電極箔を得るのに好適に使用
しうる電解コンデンサ用アルミニウム箔を製造する方法
に関するものである。
しうる電解コンデンサ用アルミニウム箔を製造する方法
に関するものである。
従来より、電解コンデンサ用アルミニウム箔は、＾ｌ純
度の高いアルミニウム板を冷間圧延して、製造されてい
る。ここで、アルミニウム板のＡｌ線純度、一般の工業
用純アルミニウムよりも高純度である。例えば、陽極用
電解コンデンサ用アルミニウム箔を製造する場合には、
Ａｌ純度９９．９８％（この％は重量％の意味である。 以下同じ、）以上のアルミニウム板を用いている。この
ように極めて高純度のアルミニウム板を用いている理由
は、得られるアルミニウム箔を高純度のものとし、エツ
チング処理によって微細孔を多数設けられるようにして
、静電容量の高い電極箔を得るためである。 また、陽極箔とする場合には、陽極酸化皮膜を形成させ
た後の漏洩電流を少なくしうるからである。 即ち、不純物が多いと、不純物の部分に陽極酸化皮膜が
形成されないため、この部分で漏洩電流が大きくなり、
従って不純物が少ないと漏洩電流を少なくしうるからで
ある。 しかしながら、このように極めて高純度のアルミニウム
板を用いて電解コンデンサ用アルミニウム箔を製造して
も、エツチング処理が十分に行えないということがあっ
た。即ち、静電容量の高い電極箔が得られないという欠
点があった。
度の高いアルミニウム板を冷間圧延して、製造されてい
る。ここで、アルミニウム板のＡｌ線純度、一般の工業
用純アルミニウムよりも高純度である。例えば、陽極用
電解コンデンサ用アルミニウム箔を製造する場合には、
Ａｌ純度９９．９８％（この％は重量％の意味である。 以下同じ、）以上のアルミニウム板を用いている。この
ように極めて高純度のアルミニウム板を用いている理由
は、得られるアルミニウム箔を高純度のものとし、エツ
チング処理によって微細孔を多数設けられるようにして
、静電容量の高い電極箔を得るためである。 また、陽極箔とする場合には、陽極酸化皮膜を形成させ
た後の漏洩電流を少なくしうるからである。 即ち、不純物が多いと、不純物の部分に陽極酸化皮膜が
形成されないため、この部分で漏洩電流が大きくなり、
従って不純物が少ないと漏洩電流を少なくしうるからで
ある。 しかしながら、このように極めて高純度のアルミニウム
板を用いて電解コンデンサ用アルミニウム箔を製造して
も、エツチング処理が十分に行えないということがあっ
た。即ち、静電容量の高い電極箔が得られないという欠
点があった。
本発明者は、上記の欠点の生じる原因を究明するために
、種々研究を行った。その結果、アルミニウム板を冷間
圧延する際、圧延集合組織が回復或いは再結晶するため
であることを見出した。即ち、冷間圧延は常温で行うの
であるが、圧延ロールとアルミニウム板との摩擦によっ
て、アルミニウム板の温度が上昇しく１５０℃程度）、
回復或いは再結晶が生じるのである。これは、一般の工
業用純アルミニウムでは生じにくい現象であるが、電解
コンデンサ用アルミニウム板は高純度であるため、比較
的低温で回復或いは再結晶が生じるのである。また、一
般の工業用アルミニウム箔を製造する場合の如く、冷間
圧延時の１パスにおける圧下率を６０〜８０％にすると
、アルミニウム板の加工度が大きくなって、圧延金属組
織が回復或いは再結晶することも見出した。そして、圧
延金属組織が回復或いは再結晶すると、結晶格子の欠陥
が移動して不純物原子がＡｌ中に拡散し、特にＦｅやＳ
ｔ等が析出する。不純物元素が多く析出すると、エツチ
ング処理時に表面溶解が過剰になって、微細孔を多数形
成することができず、電極箔の静電容量を高めることが
できないのである。即ち、一般の工業用アルミニウム箔
と同様の製造方法で、電解コンデンサ用アルミニウム箔
を製造すると、エツチング処理によって多数の微細孔が
形成できず、高静電容量の電極箔が安定して得られない
ことが多いのである。 そこで、本発明は、アルミニウム板を冷間圧延する際に
、アルミニウム板を低温に維持しながら圧延を行うと同
時に、加工度を小さくすることにより、回復或いは再結
晶が生じるのを防止し、もって高静電容量の電極箔を得
るのに適したアルミニウム箔を製造しようというもので
ある。
、種々研究を行った。その結果、アルミニウム板を冷間
圧延する際、圧延集合組織が回復或いは再結晶するため
であることを見出した。即ち、冷間圧延は常温で行うの
であるが、圧延ロールとアルミニウム板との摩擦によっ
て、アルミニウム板の温度が上昇しく１５０℃程度）、
回復或いは再結晶が生じるのである。これは、一般の工
業用純アルミニウムでは生じにくい現象であるが、電解
コンデンサ用アルミニウム板は高純度であるため、比較
的低温で回復或いは再結晶が生じるのである。また、一
般の工業用アルミニウム箔を製造する場合の如く、冷間
圧延時の１パスにおける圧下率を６０〜８０％にすると
、アルミニウム板の加工度が大きくなって、圧延金属組
織が回復或いは再結晶することも見出した。そして、圧
延金属組織が回復或いは再結晶すると、結晶格子の欠陥
が移動して不純物原子がＡｌ中に拡散し、特にＦｅやＳ
ｔ等が析出する。不純物元素が多く析出すると、エツチ
ング処理時に表面溶解が過剰になって、微細孔を多数形
成することができず、電極箔の静電容量を高めることが
できないのである。即ち、一般の工業用アルミニウム箔
と同様の製造方法で、電解コンデンサ用アルミニウム箔
を製造すると、エツチング処理によって多数の微細孔が
形成できず、高静電容量の電極箔が安定して得られない
ことが多いのである。 そこで、本発明は、アルミニウム板を冷間圧延する際に
、アルミニウム板を低温に維持しながら圧延を行うと同
時に、加工度を小さくすることにより、回復或いは再結
晶が生じるのを防止し、もって高静電容量の電極箔を得
るのに適したアルミニウム箔を製造しようというもので
ある。
即ち、本発明は、Ａｌ純度９９．７％以上のアルミニウ
ム板を冷間圧延して電解コンデンサ用アルミニウム箔を
製造する方法において、冷間圧延の全パスにおいて該ア
ルミニウム板の温度を７０℃以下に維持し、且つアルミ
ニウム板の圧下率は５０％以下／１パスであることを特
徴とする電解コンデンサ用アルミニウム箔の製造方法に
関するものである。 まず、本発明においては、＾ｌ線純度９，７％以上のア
ルミニウム板を準備する。アルミニウム板の純度が９９
．７％未満であると、得られるアルミニウム箔中の不純
物の量が多くなって、電極箔作成時におけるエツチング
処理で過溶解が生じ、静電容量が高くなりにくいので、
好ましくない。 このアルミニウム板は、アルミニウム鋳塊を面側、均質
化処理、熱間圧延、焼鈍等の従来公知の方法を適用して
製造しうるものである。従って、アルミニウム板の厚さ
は、１〜６ｗ程度が一般的である。また、アルミニウム
板にはＡｌ以外の原子として、Ｓｔ＋ Ｆｅｔ Ｍｎ、
Ｍｇｔ Ｃｕ等が含有されている。 次いで、このアルミニウム板を冷間圧延して、アルミニ
ウム箔を製造する０本発明において重要なことは、この
冷間圧延時において、アルミニウム板の温度を７０℃以
下に維持することである。冷間圧延は、−船釣に繰り返
し何度も、アルミニウム板カ圧延ロール間に通される。 アルミニウム板が、圧延ロール間に一回通されることを
１パスといい、通常は５パス程度以上圧延ロール間に通
されて、アルミニウム箔が得られるのである０本発明で
は、この全てのパスにおいて、即ち冷間圧延の全工程に
亙って、アルミニウム板の温度を７０℃以下に維持する
のである。アルミニウム板の温度が７０°Ｃを超えると
、金属組織が回復或いは再結晶しやすくなり、高静電容
量の電極箔が得られる電解コンデンサ用アルミニウム箔
となりにくいので、好ましくない。なお、アルミニウム
板の温度を７０゛Ｃ以下に維持するには、圧延油兼冷却
剤（いわゆるクーラントオイル）を低温にして圧延した
り、或いはさらに低温のクーラントオイルの量を増加さ
せて圧延すればよい。 本発明では、冷間圧延の全パスにおいてアルミニウム板
の温度を７０℃以下に維持すると共に、更にｌパスにお
けるアルミニウム板の圧下率を５０％以下にしなければ
ならない、圧下率が５０％／１パスを超えると、加工度
が大きくなって、圧延集合組織が回復或いは再結晶しや
すくなり、高静電容量の電極箔が得られる電解コンデン
サ用アルミニウム箔となりにくいので、好ましくない。 ここで、圧下率とは、以下に示す式で表されるものであ
る。 即ち、圧下率＝ （（ｔｏ −ｔ＋ ）／ｌｏ ） Ｘ
１００（但し、ｔｏは圧延ロールの入側でのアルミニウ
ム板の厚さであり、ｔｌは前記の圧延ロールの出側での
アルミニウム板の厚さである。）で表される。 以上のようにして得られたアルミニウム箔は、従来公知
の方法でエツチング処理され、電解コンデンサ用の電極
箔として好適に使用されるのである。
ム板を冷間圧延して電解コンデンサ用アルミニウム箔を
製造する方法において、冷間圧延の全パスにおいて該ア
ルミニウム板の温度を７０℃以下に維持し、且つアルミ
ニウム板の圧下率は５０％以下／１パスであることを特
徴とする電解コンデンサ用アルミニウム箔の製造方法に
関するものである。 まず、本発明においては、＾ｌ線純度９，７％以上のア
ルミニウム板を準備する。アルミニウム板の純度が９９
．７％未満であると、得られるアルミニウム箔中の不純
物の量が多くなって、電極箔作成時におけるエツチング
処理で過溶解が生じ、静電容量が高くなりにくいので、
好ましくない。 このアルミニウム板は、アルミニウム鋳塊を面側、均質
化処理、熱間圧延、焼鈍等の従来公知の方法を適用して
製造しうるものである。従って、アルミニウム板の厚さ
は、１〜６ｗ程度が一般的である。また、アルミニウム
板にはＡｌ以外の原子として、Ｓｔ＋ Ｆｅｔ Ｍｎ、
Ｍｇｔ Ｃｕ等が含有されている。 次いで、このアルミニウム板を冷間圧延して、アルミニ
ウム箔を製造する０本発明において重要なことは、この
冷間圧延時において、アルミニウム板の温度を７０℃以
下に維持することである。冷間圧延は、−船釣に繰り返
し何度も、アルミニウム板カ圧延ロール間に通される。 アルミニウム板が、圧延ロール間に一回通されることを
１パスといい、通常は５パス程度以上圧延ロール間に通
されて、アルミニウム箔が得られるのである０本発明で
は、この全てのパスにおいて、即ち冷間圧延の全工程に
亙って、アルミニウム板の温度を７０℃以下に維持する
のである。アルミニウム板の温度が７０°Ｃを超えると
、金属組織が回復或いは再結晶しやすくなり、高静電容
量の電極箔が得られる電解コンデンサ用アルミニウム箔
となりにくいので、好ましくない。なお、アルミニウム
板の温度を７０゛Ｃ以下に維持するには、圧延油兼冷却
剤（いわゆるクーラントオイル）を低温にして圧延した
り、或いはさらに低温のクーラントオイルの量を増加さ
せて圧延すればよい。 本発明では、冷間圧延の全パスにおいてアルミニウム板
の温度を７０℃以下に維持すると共に、更にｌパスにお
けるアルミニウム板の圧下率を５０％以下にしなければ
ならない、圧下率が５０％／１パスを超えると、加工度
が大きくなって、圧延集合組織が回復或いは再結晶しや
すくなり、高静電容量の電極箔が得られる電解コンデン
サ用アルミニウム箔となりにくいので、好ましくない。 ここで、圧下率とは、以下に示す式で表されるものであ
る。 即ち、圧下率＝ （（ｔｏ −ｔ＋ ）／ｌｏ ） Ｘ
１００（但し、ｔｏは圧延ロールの入側でのアルミニウ
ム板の厚さであり、ｔｌは前記の圧延ロールの出側での
アルミニウム板の厚さである。）で表される。 以上のようにして得られたアルミニウム箔は、従来公知
の方法でエツチング処理され、電解コンデンサ用の電極
箔として好適に使用されるのである。
合金番号１及び２のアルミニウム合金を鋳造して、厚さ
４００ｍｍの鋳塊を製造した。ここで、合金番号１のア
ルミニウム合金は、Ｓｔ Ｏ，００５％、 Ｆｅ Ｏ。 ００４％、 Ｃｕ Ｏ，００３％、 Ａｌ ９９．９８
％及びその他年可避不純物の成分組成を持つものである
。また、合金番号２のアルミニウム合金は、Ｓｔ ０．
０８０％、 Ｆｅｏ、ｉｏｏ％、 Ｃｕ Ｏ，００１％
、 Ａｌ ９９．８０％の成分組成を持つものである。 このアルミニウム鋳塊を、固剤。 均質化処理（６００℃×６時間）した後、開始温度５２
０°Ｃで熱間粗圧延を行い、厚さ２５閣のアルミニウム
板を得、更に開始温度４００’Ｃで終了温度２５０°Ｃ
の条件で熱間仕上圧延を行って、厚さ３閣のアルミニウ
ム板を得た。このアルミニウム板をコイル状に巻き上げ
、速やかに室温まで冷却した。そして、第１表に示す１
パスにおける圧下率で、アルミニウム板に冷間圧延を繰
り返し、厚さ０．１閣のアルミニウム箔を製造した。ま
た、この冷間圧延の全パスに亙って、アルミニウム板の
温度を第１表に示す温度に維持した。 以上のようにして得られたアルミニウム箔の静電容量（
μＦ／ｃｄ）を、以下の方法により測定した。即ち、ま
ずエツチング前処理として、１２％塩酸及び６％蓚酸よ
りなる液温８５°Ｃの水溶液中に、得られたアルミニウ
ム箔を１分間浸漬して、ＤＣＯ，Ｉ Ａ ／ｃｉｆの電
流を与えた。次いで、エツチング本処理として、８％塩
酸及び０．２％蓚酸よりなる液温３０″Ｃの水溶液中に
、エツチング前処理を終えたアルミニウム箔を９分間浸
漬して、矩形波５０Ｈｚ±０．２Ａ／ｄの電流を与えた
。その後、化成処理として、アジピン酸アンモニウム１
５０ｇ／Ｉｌよりなる液温７０°Ｃの水溶液中に、エツ
チング本処理を終えたアルミニウム箔を１０分間浸漬し
て、電圧２゜■を与えた０以上の処理を全て終えたアル
ミニウム箔を二枚準備し、これらの箔の幅ＩＣＩ＋、長
さ２１の部分を５％硼酸水溶液中に浸漬して静電容量を
測定した。その結果を第１表に示した。この第１表から
明らかなとおり、実施例に係る方法で得られたアルミニ
ウム箔は、比較例に係る方法で得られたアルミニウム箔
よりも、静電容量が高かった。 （以下余白） 第１表
４００ｍｍの鋳塊を製造した。ここで、合金番号１のア
ルミニウム合金は、Ｓｔ Ｏ，００５％、 Ｆｅ Ｏ。 ００４％、 Ｃｕ Ｏ，００３％、 Ａｌ ９９．９８
％及びその他年可避不純物の成分組成を持つものである
。また、合金番号２のアルミニウム合金は、Ｓｔ ０．
０８０％、 Ｆｅｏ、ｉｏｏ％、 Ｃｕ Ｏ，００１％
、 Ａｌ ９９．８０％の成分組成を持つものである。 このアルミニウム鋳塊を、固剤。 均質化処理（６００℃×６時間）した後、開始温度５２
０°Ｃで熱間粗圧延を行い、厚さ２５閣のアルミニウム
板を得、更に開始温度４００’Ｃで終了温度２５０°Ｃ
の条件で熱間仕上圧延を行って、厚さ３閣のアルミニウ
ム板を得た。このアルミニウム板をコイル状に巻き上げ
、速やかに室温まで冷却した。そして、第１表に示す１
パスにおける圧下率で、アルミニウム板に冷間圧延を繰
り返し、厚さ０．１閣のアルミニウム箔を製造した。ま
た、この冷間圧延の全パスに亙って、アルミニウム板の
温度を第１表に示す温度に維持した。 以上のようにして得られたアルミニウム箔の静電容量（
μＦ／ｃｄ）を、以下の方法により測定した。即ち、ま
ずエツチング前処理として、１２％塩酸及び６％蓚酸よ
りなる液温８５°Ｃの水溶液中に、得られたアルミニウ
ム箔を１分間浸漬して、ＤＣＯ，Ｉ Ａ ／ｃｉｆの電
流を与えた。次いで、エツチング本処理として、８％塩
酸及び０．２％蓚酸よりなる液温３０″Ｃの水溶液中に
、エツチング前処理を終えたアルミニウム箔を９分間浸
漬して、矩形波５０Ｈｚ±０．２Ａ／ｄの電流を与えた
。その後、化成処理として、アジピン酸アンモニウム１
５０ｇ／Ｉｌよりなる液温７０°Ｃの水溶液中に、エツ
チング本処理を終えたアルミニウム箔を１０分間浸漬し
て、電圧２゜■を与えた０以上の処理を全て終えたアル
ミニウム箔を二枚準備し、これらの箔の幅ＩＣＩ＋、長
さ２１の部分を５％硼酸水溶液中に浸漬して静電容量を
測定した。その結果を第１表に示した。この第１表から
明らかなとおり、実施例に係る方法で得られたアルミニ
ウム箔は、比較例に係る方法で得られたアルミニウム箔
よりも、静電容量が高かった。 （以下余白） 第１表
以上のように、本発明は高純度のアルミニウム板を使用
して、特殊な条件で冷間圧延をすることにより、回復或
いは再結晶を防止しながらアルミニウム箔を製造するこ
とができる。従って、回復或いは再結晶によるアルミニ
ウム中の不純物の析出が防止でき、このアルミニウム箔
をエツチング処理した場合には、過溶解を防、止でき、
高静電容量の電極箔が得られるという効果を奏する。依
って、本発明に係る方法で得られるアルミニウム箔は、
電解コンデンサの電極製造用として好適に使用しうるも
のである。
して、特殊な条件で冷間圧延をすることにより、回復或
いは再結晶を防止しながらアルミニウム箔を製造するこ
とができる。従って、回復或いは再結晶によるアルミニ
ウム中の不純物の析出が防止でき、このアルミニウム箔
をエツチング処理した場合には、過溶解を防、止でき、
高静電容量の電極箔が得られるという効果を奏する。依
って、本発明に係る方法で得られるアルミニウム箔は、
電解コンデンサの電極製造用として好適に使用しうるも
のである。
Claims (1)
- Ａｌ純度９９．７％以上のアルミニウム板を冷間圧延
して電解コンデンサ用アルミニウム箔を製造する方法に
おいて、冷間圧延の全パスにおいて該アルミニウム板の
温度を７０℃以下に維持し、且つアルミニウム板の圧下
率は５０％以下／１パスであることを特徴とする電解コ
ンデンサ用アルミニウム箔の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2173781A JP2803762B2 (ja) | 1990-06-30 | 1990-06-30 | 電解コンデンサ用アルミニウム箔の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2173781A JP2803762B2 (ja) | 1990-06-30 | 1990-06-30 | 電解コンデンサ用アルミニウム箔の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0466204A true JPH0466204A (ja) | 1992-03-02 |
| JP2803762B2 JP2803762B2 (ja) | 1998-09-24 |
Family
ID=15967034
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
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1990
- 1990-06-30 JP JP2173781A patent/JP2803762B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| JP2001073054A (ja) * | 1999-09-06 | 2001-03-21 | Nippon Foil Mfg Co Ltd | 電解コンデンサ陽極低圧用アルミニウム圧延箔及びその製造方法 |
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