JPH0133546B2 - - Google Patents

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JPH0133546B2
JPH0133546B2 JP6619886A JP6619886A JPH0133546B2 JP H0133546 B2 JPH0133546 B2 JP H0133546B2 JP 6619886 A JP6619886 A JP 6619886A JP 6619886 A JP6619886 A JP 6619886A JP H0133546 B2 JPH0133546 B2 JP H0133546B2
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JP
Japan
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aluminum foil
rolling
annealing
roughness
foil
Prior art date
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Expired
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JP6619886A
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English (en)
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JPS62228456A (ja
Inventor
Kikuro Toyose
Kuniaki Matsui
Hideki Nakamura
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kobe Steel Ltd
Original Assignee
Kobe Steel Ltd
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Publication date
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Description

【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野] 本発明は電解コンデンサ陽極高圧用アルミニウ
ム箔の製造方法に関し、さらに詳しくは、電解コ
ンデンサとして使用する定格電圧が200V以上の
電解コンデンサ陽極高圧用アルミニウム箔の製造
方法に関する。 [従来技術] 一般に、電解コンデンサ用のアルミニウム箔は
エツチング処理により表面を粗面化することによ
つて、その表面積を拡大して静電容量を増大して
使用されている。 特に、電解コンデンサ陽極高圧用のアルミニウ
ム箔においては、約200V以上の厚い化成皮膜を
形成しても、粗面化が妨げられないように、所
謂、「トンネルエツチング」と呼ばれるアルミニ
ウム箔の厚さ方向に貫通した形態を有する直流エ
ツチング処理が行なわれている。 このような「トンネルエツチング」を行なうた
めには、アルミニウム箔素材として立方体方位
(001)<001>の結晶を持つ再結晶集合組織を充分
に発達させることが必要であり、従来より、この
ような集合組織を発達させるために種々の製造法
が提案されている。 この製法の例を説明すると、特公昭54−011242
号公報には、冷間圧延材を180〜350℃の温度で中
間焼鈍を行なつた後、硬化率5〜35%の冷間圧延
を行ない、300〜650℃の温度において最終焼鈍を
行なうことが、特公昭60−059982号公報には、析
出処理したアルミニウム材を圧下率60%以上で圧
延し、200〜380℃の温度で中間焼鈍を行なつた
後、5〜70%の冷間圧延を行ない、350〜640℃の
温度で最終焼鈍を行なうことが、特開昭60−
063360号公報には、熱間圧延時に圧下率10〜60%
で先に幅出し圧延を行なつた後、厚さ3〜10mmま
での鋳造方向に圧延して得られる熱間圧延板を、
300〜450℃の温度で焼鈍処理した後、0.14〜0.20
mmまで冷間圧延を行ない、さらに、170〜350℃の
温度で中間焼鈍を行ない、0.11mmまで圧延し、最
終焼鈍を400〜650℃で行なうことが、特開昭60−
063359号公報には、特開昭60−063360号公報に記
載の方法において中間焼鈍を省略した方法が、特
開昭60−110853号公報には、熱間圧延工程と最終
焼鈍工程の間に200〜400℃の温度の第1次焼鈍処
理を行なつた後、75%以上の圧下率で冷間圧延
後、200〜400℃の温度の第2次焼鈍処理を行な
い、さらに、圧下率5〜35%で冷間圧延を行なう
ことが、また、特開昭60−110854号公報には、最
終焼鈍時の昇温速度を100℃/分以上で加熱する
ことが夫々記載されている。 しかしながら、上記に説明した各公報における
従来法においては、仕上焼鈍後の再結晶集合組織
における立方体方位の結晶の集積率が不充分であ
り、また、工程による変動し易いという問題点が
残されており、より優れた電解コンデンサ用アル
ミニウム箔が要望されている。 [発明が解決しようとする問題点] 本発明は上記に説明したような、従来における
電解コンデンサ用アルミニウム箔の製造法の種々
の問題点を解決するために、本発明者が鋭意研究
を行なつた結果、電解コンデンサ用アルミニウム
箔の再結晶集合組織におよぼす製造工程上の影響
を調査したところ、電解コンデンサ用アルミニウ
ム箔の製造においてアルミニウム箔表面の粗さを
細かくすることが有効であることを知見し、電解
コンデンサ陽極高圧用アルミニウム箔の製造方法
を開発したものである。 [問題点を解決するための手段] 本発明に係る電解コンデンサ陽極高圧用アルミ
ニウム箔の製造方法の特徴とするところは、電解
コンデンサ用アルミニウム箔の製造に際し、中間
焼鈍直前および仕上焼鈍直前の箔圧延において、
箔の圧延直角方向の中心線平均粗さ(Ra)を
0.35μm以下にロール粗度を変更して調整するこ
とにある。 本発明に係る電解コンデンサ陽極高圧用アルミ
ニウム箔の製造方法(以下単に本発明に係る製造
方法ということがある。)について以下詳細に説
明する。 本発明に係る製造方法において、アルミニウム
箔の製造とは、アルミニウム箔地(厚さ1〜
2mmt)から、冷間圧延によりアルミニウム箔製
品(厚さ0.15〜0.05mmt)を製造することであ
り、電解コンデンサ陽極高圧用アルミニウム箔の
場合には、通常、圧延中途および仕上圧延後にお
いて、夫々、中間焼鈍および仕上焼鈍を行なうこ
とにより再結晶集合組織の調整を図つているので
ある。 即ち、アルミニウム箔圧延工程における中間焼
鈍においては、最終仕上焼鈍時に発達させるため
の立方体方位結晶の核を生成させることにある。
しかし、圧延時のロール表面の粗さが粗いとロー
ル目に沿つて圧延表面層に不均一な剪断槽が形成
されるために、再結晶核が不均一に生成してしま
い、最終仕上焼鈍時に立方体方位から外れた方位
を持つ結晶粒が生成するので立方体方位の集積が
不充分となる。 また、中間焼鈍後のアルミニウム箔圧延におい
ては、中間焼鈍によつて生成した立方体方位の結
晶粒に歪を付与して最終焼鈍時の再結晶粒の成長
のための駆動力を付加するものであるが、アルミ
ニウム箔圧延時において粗い表面のロールにより
圧延すると、アルミニウム箔に対する歪の付与が
不均一となり、部分的に過剰の歪が立方体方位の
結晶粒に導されてしまい、結晶粒の形、即ち、結
晶方位の変化まで生じることになり、仕上焼鈍時
において立方体方位以外の結晶粒までも生成させ
る原因となる。 従つて、アルミニウム箔の圧延において圧延に
使用するロール粗度を細かくして、アルミニウム
箔表面の圧延直角方向の中心線平均粗さ(Ra)
を0.35μm以下に細かくすることによつて、上記
に説明したアルミニウム箔圧延工程において、中
間焼鈍および仕上焼鈍で立方体方位の結晶粒の集
積が充分に行なわれた電解コンデンサ陽極高圧用
アルミニウム箔が得られるものである。 なお、中心線平均粗さ(Ra)の調整は、ロー
ル粗度を変更することにより実施するものであ
り、この中心線平均粗さ(Ra)はJIS B0601に
おいて、定義されているのである。 即ち、粗さ曲線からその中心線の方向に測定長
さlの部分を抜き取り、この抜き取り部分の中心
線をX軸、縦倍率の方向をY軸として粗さ曲線を
y=f(x)で表した時、次式によつて求められ
る値をマイクロメーター(μm)により表したも
のをいう。 Ra=(l/1)∫lo|f(x)|dx [実施例] 本発明に係る電解コンデンサ陽極高圧用アルミ
ニウム箔の製造方法について実施例を説明する。 実施例 高純度アルミニウム(Fe 15ppm、Si13ppm、
Cu41ppm含有)の400mmtのスラブに590℃×6
時間の均熱処理を行ない、次いで、熱間圧延を行
なつて5mmtの厚さとし、さらに、冷間圧延によ
り、0.4mmtのアルミニウム箔地を作製した。 このアルミニウム箔地を箔圧延により0.140mm
tの厚さにした後、250℃×10時間の中間焼鈍を
行ない、さらに、冷間圧延により厚さ0.1mmtに
した後、真空中600℃×4時間の仕上焼鈍を行な
つた。 上記箔圧延に際して、ロール表面の粗さを種々
に変えることにより、アルミニウム箔圧延後のア
ルミニウム箔表面粗さの調整を行なつた。この場
合の、アルミニウム箔の表面粗さは圧延方向と直
角の方向に接触式表面粗度計により測定を行なつ
た。 このようにして製造された各アルミニウム箔に
ついて、立方体方位結晶粒の集積度をX線回析法
により調査し、また、エツチングおよび化成処理
後の静電容量を調査した。 測定法について以下説明する。 (1) 立方体方位測定法 異方性を持たない標準試験片におけるX線
(200)面の回析強度I0を基準として、各試験片
の(200)面の回析強度Iとの比率I/I0を求
めた。この値が大きい程立方体方位の結晶粒が
多いことを示す。また、(111)極点図による集
合組織による比較も行なつた。 (2) 静電容量測定法 液温90℃の15%塩酸水溶液中において、電流
密度12.5/dm2で7分間直流エツチングを行な
つた後、10%硼酸水溶液で375V化成を行なつ
た場合の静電容量を測定した。 その結果を第1表に示す。 即ち、同一の工程であつてもアルミニウム箔表
面の粗度が細かい程、立方体方位結晶粒の集積度
が大きく、かつ、静電容量も大きいことがわか
る。 また、中間焼鈍前後において、ロール粗度を変
えて圧延した場合についての調査では、仕上焼鈍
時、即ち製品において表面粗度が細かくなつてい
ても、中間焼鈍時にアルミニウム箔の表面粗度が
大きな場合は立方体方位結晶粒の集積度の発達は
不充分である。逆に、中間焼鈍時にアルミニウム
箔の表面粗度が細かくても中間焼鈍後の圧延によ
りアルミニウム箔の表面粗度が大きくなつた場合
も立方体方位結晶粒の集積度は不充分である。 従つて、アルミニウム箔の圧延において、中間
焼鈍時および仕上焼鈍時の両方において、アルミ
ニウム箔表面粗度を細かく調整しなければならな
いことが重要であることがわかる。 第1図に(111)極点図における代表的な例を
示してあるが、静電容量が高いアルミニウム箔で
は立方体方位結晶粒の集積度が大きいが(第1図
a、第1表の試料5で本発明に係る製造方法によ
り得られた電解コンデンサ陽極高圧アルミニウム
箔。)、静電容量が低いアルミニウム箔では立方体
方位結晶粒の外に圧延集合組織の方位結晶粒が残
存していることがわかる(第1図b、第1表の試
料1で、従来法により得られた電解コンデンサ陽
極高圧用アルミニウム箔。)。
【表】 [発明の効果] 以上説明したように、本発明に係る電解コンデ
ンサ陽極高圧アルミニウム箔の製造方法は上記の
構成であるから、立方体方位結晶粒の集積率を大
きくすることができ、かつ、静電容量も大きい電
解コンデンサ用アルミニウム箔が得られ、これを
使用することによつて、高容量の電解コンデンサ
を作製することができるという効果を有するもの
である。
【図面の簡単な説明】
第1図は(111)極点図による集合組織の比較
を示す図である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 電解コンデンサ用アルミニウム箔の製造に際
    し、中間焼鈍直前および仕上焼鈍直前の箔圧延に
    おいて、箔の圧延直角方向の中心線平均粗さ
    (Ra)を0.35μm以下にロール粗度を変更して調
    整することを特徴とする電解コンデンサ陽極高圧
    用アルミニウム箔の製造方法。
JP6619886A 1986-03-25 1986-03-25 電解コンデンサ陽極高圧用アルミニウム箔の製造方法 Granted JPS62228456A (ja)

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JPH06306520A (ja) * 1993-04-20 1994-11-01 Nippon Foil Mfg Co Ltd 軟質アルミ箔およびその製造方法
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