JPH01215959A - 電解コンデンサ陰極用アルミニウム箔の製造方法 - Google Patents
電解コンデンサ陰極用アルミニウム箔の製造方法Info
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- JPH01215959A JPH01215959A JP4100788A JP4100788A JPH01215959A JP H01215959 A JPH01215959 A JP H01215959A JP 4100788 A JP4100788 A JP 4100788A JP 4100788 A JP4100788 A JP 4100788A JP H01215959 A JPH01215959 A JP H01215959A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は電解コンデンサ陰極用アルミニウム箔の製造に
係り、特に静電容量及び強度の優れたアルミニウム箔の
製造方法に関するものである。
係り、特に静電容量及び強度の優れたアルミニウム箔の
製造方法に関するものである。
(従来の技術)
電解コンデンサの陰極箔には、静電容量及び強度アップ
を目的として、従来からCu単独箔或いは各種元素との
組合せによるCu合金箔及びその製造方法が各種提案さ
れている(例、特公昭44−25016号など)。しか
し、Cu合金箔は、合金元素のCuへの固溶、析出の状
況により、エツチング特性や強度が変動し易いほか、コ
ンデンサに組立てた後は、電解液との反応により静電容
量が経時変化により低下し易い欠点がある。
を目的として、従来からCu単独箔或いは各種元素との
組合せによるCu合金箔及びその製造方法が各種提案さ
れている(例、特公昭44−25016号など)。しか
し、Cu合金箔は、合金元素のCuへの固溶、析出の状
況により、エツチング特性や強度が変動し易いほか、コ
ンデンサに組立てた後は、電解液との反応により静電容
量が経時変化により低下し易い欠点がある。
したがって、長寿命を必要とするコンデンサ陰極箔に対
しては、一般にCuを添加しない99.7%以上の純ア
ルミニウム箔が使用されている。これは、Cuを添加し
たアルミニウム合金箔は、強度、静電容量の点では優れ
ているが、静電容量の経時変化を招くために電解コンデ
ンサの寿命が短くなるという欠点があるためである。
しては、一般にCuを添加しない99.7%以上の純ア
ルミニウム箔が使用されている。これは、Cuを添加し
たアルミニウム合金箔は、強度、静電容量の点では優れ
ているが、静電容量の経時変化を招くために電解コンデ
ンサの寿命が短くなるという欠点があるためである。
しかし、このような純アルミニウム箔は、Cu添加アル
ミニウム合金箔に比較し、エツチング性が若干劣るため
、容量が若干低くなり、また十分な強度が得られないこ
とが知られている。
ミニウム合金箔に比較し、エツチング性が若干劣るため
、容量が若干低くなり、また十分な強度が得られないこ
とが知られている。
(発明が解決しようとする課題)
これらの点の改善策に関しては、従来より、種々提案さ
れているところである。
れているところである。
すなわち、純アルミニウム箔の容量アップのためには、
Ti元素の低減による方法(特開昭53−112452
号参照)や、製造工程の改善による方法(特公昭44−
15177号参照)などが提案されているが、いずれも
製造工程が複雑になり、生産性上問題がある。
Ti元素の低減による方法(特開昭53−112452
号参照)や、製造工程の改善による方法(特公昭44−
15177号参照)などが提案されているが、いずれも
製造工程が複雑になり、生産性上問題がある。
一方、強度アップに対してはあまり検討されておらず、
唯、特殊な例として薄板連鋳法により合金元素を固溶化
する方法(特開昭53−118214号参照)が提案さ
れているが、これも製造設備が限定されるため、実用化
が困難である。
唯、特殊な例として薄板連鋳法により合金元素を固溶化
する方法(特開昭53−118214号参照)が提案さ
れているが、これも製造設備が限定されるため、実用化
が困難である。
そこで、強度に関しては、従来より、50μm以下の薄
い厚さの製品では、強度アップを図るために加工硬化を
利用して調質したものをH材として用いられている。し
かし、電解エツチングした後の乾燥工程において軟化し
てしまう欠点があり、このため、コンデンサに組立てる
際には強度不足が生じ、箔切れなどの不具合から生産性
を低下されることがあり、どうしても箔厚を厚くせざる
を得ない状態である。
い厚さの製品では、強度アップを図るために加工硬化を
利用して調質したものをH材として用いられている。し
かし、電解エツチングした後の乾燥工程において軟化し
てしまう欠点があり、このため、コンデンサに組立てる
際には強度不足が生じ、箔切れなどの不具合から生産性
を低下されることがあり、どうしても箔厚を厚くせざる
を得ない状態である。
また容量の点においても、純アルミニウム材はCu添加
アルミニウム合金材に比較して電解エツチング性が劣る
ため、箔厚を厚くして深さ方向に粗面化を進行させ、容
量アップを図る必要があつ゛た。しかし、その際にエツ
チング時間も長くなり、また、深さ方向にエツチングを
進行させることは表面エツチングむらの原因になり易く
、容量のばらつきをしばしば発生させるという不具合が
あった。
アルミニウム合金材に比較して電解エツチング性が劣る
ため、箔厚を厚くして深さ方向に粗面化を進行させ、容
量アップを図る必要があつ゛た。しかし、その際にエツ
チング時間も長くなり、また、深さ方向にエツチングを
進行させることは表面エツチングむらの原因になり易く
、容量のばらつきをしばしば発生させるという不具合が
あった。
本発明は、上記従来技術の欠点を解消し、99゜7%以
上の純アルミニウム材を用いても静電容量、強度ともに
アップさせることができ、高寿命で高性能の電解コンデ
ンサ陰極用箔が得られる製造力=3− 法を提供することを目的とするものである。
上の純アルミニウム材を用いても静電容量、強度ともに
アップさせることができ、高寿命で高性能の電解コンデ
ンサ陰極用箔が得られる製造力=3− 法を提供することを目的とするものである。
(課題を解決するための手段)
前記目的を達成するため、本発明者は、従来の純度99
.7%以上の純アルミニウムの高寿命性を保持しつつ1
強度、容量アップを可能にする方策について鋭意研究を
重ねた結果、不純分元素量を抑制すると共に、均熱処理
、熱間圧延、冷間圧延の各条件を規制することにより、
可能であることを見い出したものである。
.7%以上の純アルミニウムの高寿命性を保持しつつ1
強度、容量アップを可能にする方策について鋭意研究を
重ねた結果、不純分元素量を抑制すると共に、均熱処理
、熱間圧延、冷間圧延の各条件を規制することにより、
可能であることを見い出したものである。
すなわち、本発明に係る電解コンデンサ陰極用アルミニ
ウム箔の製造方法は、純度99.7%以上であり、かつ
、不純分元素として、Feを0.15wt%以下、5i
tr0.10wt%以下、Cuを0.05wt%以下、
Tiを0.05wt%以下にそれぞれ抑制してなる純ア
ルミニウムにつき、均熱処理を540℃以上、4〜20
hrの範囲で施した後、熱間圧延を行って巻取温度30
0℃以下にて終了し、更に最終冷間加工率95%□以上
で冷間圧延を行って製品厚にすることを特徴とするもの
である。
ウム箔の製造方法は、純度99.7%以上であり、かつ
、不純分元素として、Feを0.15wt%以下、5i
tr0.10wt%以下、Cuを0.05wt%以下、
Tiを0.05wt%以下にそれぞれ抑制してなる純ア
ルミニウムにつき、均熱処理を540℃以上、4〜20
hrの範囲で施した後、熱間圧延を行って巻取温度30
0℃以下にて終了し、更に最終冷間加工率95%□以上
で冷間圧延を行って製品厚にすることを特徴とするもの
である。
以下に本発明を更に詳細に説明する。
本発明における化学成分限定理由は以下のとおりである
。なお、各元素の含有量はりt%である。
。なお、各元素の含有量はりt%である。
純度99.7%以上の純アルミニウム材の場合でも、強
度の増加を図るためには、できるだけ合金元素を添加さ
せることが必要である。しかし、合金元素はエツチング
性を劣化させることが多いので、不純分元素として特定
量以下に抑制する必要がある。
度の増加を図るためには、できるだけ合金元素を添加さ
せることが必要である。しかし、合金元素はエツチング
性を劣化させることが多いので、不純分元素として特定
量以下に抑制する必要がある。
Fe、Siは金属間化合物を発生させ易く、エツチング
のむらの原因となるので、Feは0.15%以下、Si
は0.10%以下にそれぞれ抑える。
のむらの原因となるので、Feは0.15%以下、Si
は0.10%以下にそれぞれ抑える。
Cuはエツチング性を向上させるが、容量の経時変化が
生じ易くなるので、0.05%以下に抑える。
生じ易くなるので、0.05%以下に抑える。
また、T1は特にエツチング性に悪影響を与え、異常溶
解の原因となるため、微量に抑えることが必要であり、
0.05%以下、望ましくは0.01%以下にする。
解の原因となるため、微量に抑えることが必要であり、
0.05%以下、望ましくは0.01%以下にする。
次に上記組成の純アルミニウム箔の製造条件について説
明する。
明する。
上記元素は、均熱処理においてできるだけ固溶させるこ
とがエツチング性及び強度のアップに必要である。その
ためには、均熱温度はできるだけ高温度で、540℃以
上にすることが必要である。
とがエツチング性及び強度のアップに必要である。その
ためには、均熱温度はできるだけ高温度で、540℃以
上にすることが必要である。
また、保持時間も長時間が望ましく、4hr以上は必要
である。しかし、20hrを超えると上記効果は飽和す
ると共にコストが上昇して経済的でなくなる。したがっ
て、均熱処理条件は540℃以上で、4〜20hr保持
とする。
である。しかし、20hrを超えると上記効果は飽和す
ると共にコストが上昇して経済的でなくなる。したがっ
て、均熱処理条件は540℃以上で、4〜20hr保持
とする。
均熱処理後は、熱間圧延を行う。熱間圧延に際しては、
これら元素の析出を防止するために300〜500℃で
の温度範囲で長時間保持することは避けるべきである。
これら元素の析出を防止するために300〜500℃で
の温度範囲で長時間保持することは避けるべきである。
したがって、熱間圧延はできるだけ短時間で実施するこ
とが望ましい。特に4000C〜500℃の温度範囲は
10分間以内で冷却することが望ましく、必要により圧
延中にクーラントによる冷却を施すことは効果がある。
とが望ましい。特に4000C〜500℃の温度範囲は
10分間以内で冷却することが望ましく、必要により圧
延中にクーラントによる冷却を施すことは効果がある。
更に重要な点は、コイル巻取り後は、どうしても冷却時
間を要するため、巻取温度をできるだけ低温にし、30
0℃以下の温度に制御することが必要である。300℃
を超えると冷却中にこれら元素の析出が生じるので好ま
しくない。
間を要するため、巻取温度をできるだけ低温にし、30
0℃以下の温度に制御することが必要である。300℃
を超えると冷却中にこれら元素の析出が生じるので好ま
しくない。
熱間圧延後の冷間圧延では、冷間加工率はできるだけ多
くとることが必要であり、加工歪を増大し、組織をでき
るだけ微細なものにして、エツチング性の向上を図り、
更には、転位の絡み合いが生じることから、乾燥工程な
どの加熱処理においても軟化の程度が少なく、製品での
強度アップにつながる。そのためには最終冷間加工率は
95%以上が必要であり、望ましくは99%以上の強圧
下率により、大きな効果が得られる。この加工率が95
%未満では転位の絡み合いの程度が少なく、逆に加工歪
の蓄積が回復再結晶を促進する場合があり、好ましくな
いので注意の必要がある。
くとることが必要であり、加工歪を増大し、組織をでき
るだけ微細なものにして、エツチング性の向上を図り、
更には、転位の絡み合いが生じることから、乾燥工程な
どの加熱処理においても軟化の程度が少なく、製品での
強度アップにつながる。そのためには最終冷間加工率は
95%以上が必要であり、望ましくは99%以上の強圧
下率により、大きな効果が得られる。この加工率が95
%未満では転位の絡み合いの程度が少なく、逆に加工歪
の蓄積が回復再結晶を促進する場合があり、好ましくな
いので注意の必要がある。
なお、冷間圧延に際しては適宜中間焼鈍を実施すること
が可能である。
が可能である。
次に本発明の実施例を示す。
(実施例)
素材として、通常電解コンデンサ陰極箔に使用されてい
る純度99.8%アルミニウムを使用し、また一部につ
いては組成の影響を調査するためにFe、Si、Cu、
Tiなどを添加したものを使用して、それぞれに対して
第1表に示す製造工程を適用した。
る純度99.8%アルミニウムを使用し、また一部につ
いては組成の影響を調査するためにFe、Si、Cu、
Tiなどを添加したものを使用して、それぞれに対して
第1表に示す製造工程を適用した。
すなわち、得られたスラブに各種均熱処理を行った後、
直ちに熱間圧延を行い、巻取温度を種々変えて実施した
。また、熱間圧延板厚もその後の最終冷間加工率の影響
を調査するために一部変化させた。
直ちに熱間圧延を行い、巻取温度を種々変えて実施した
。また、熱間圧延板厚もその後の最終冷間加工率の影響
を調査するために一部変化させた。
その後、冷間圧延を行って製品厚(50μm)にした。
最終冷間加工率の影響を調査するために一部については
中間焼鈍を実施した。
中間焼鈍を実施した。
以上の工程を第1表に示すように種々変えることにより
、それぞれの最適条件を明らかにした。
、それぞれの最適条件を明らかにした。
各製品について、静電容量及び容量安定性を調べる共に
電解エツチング後の引張強度を調べた。
電解エツチング後の引張強度を調べた。
その結果を第1表に併記する。
なお、電解エツチング、静電容量の測定、容量安定性の
測定及び引張試験は以下の要領にて行った。
測定及び引張試験は以下の要領にて行った。
■ 電解エツチング条件
純水中7.5%塩酸+0.5%蓚酸、6o±1℃、AC
30Hz交流、45 A/di” X 2分間。
30Hz交流、45 A/di” X 2分間。
■ 静電容量測定法
純水10中硼酸50g+クエン酸50g+アンモニア5
0mQ、30±5℃、測定周波数120Hz、万能ブリ
ッジによる測定。
0mQ、30±5℃、測定周波数120Hz、万能ブリ
ッジによる測定。
■ 引張強度
短冊状の15n++n幅アルミニウム箔をインストロン
引張試験機にて引張速度10 mm’/minで測定。
引張試験機にて引張速度10 mm’/minで測定。
■ 静電容量安定性
純水10中硼酸50g、60±5℃、10日間浸漬後の
静電容量変化率を測定。
静電容量変化率を測定。
第1表より明らかなとおり、本発明例Nα5、Nα9、
Nα11〜Nα12はいずれも高静電容量、高強度であ
り、しかも容量の経時変化が少なく、高寿命性を示して
いる。
Nα11〜Nα12はいずれも高静電容量、高強度であ
り、しかも容量の経時変化が少なく、高寿命性を示して
いる。
一方、Fe、Si、Cu、Tiのいずれかが多すぎる比
較例Nα1〜Nα4は容量や強度が不足し、或いは高容
量、高強度でも容量の経時変化が生じている。
較例Nα1〜Nα4は容量や強度が不足し、或いは高容
量、高強度でも容量の経時変化が生じている。
また、これらの不純分元素量が本発明範囲内に抑制され
ていても、均熱処理温度が低い比較例Nα6、均熱時間
が短い比較例Nα7、巻取温度が高い比較例Nα8、最
終冷間加工率が少ない比較例Nα10は、いずれも静電
容量が不足していると共に強度も低く、更にNα6は容
量安定性に問題がある。
ていても、均熱処理温度が低い比較例Nα6、均熱時間
が短い比較例Nα7、巻取温度が高い比較例Nα8、最
終冷間加工率が少ない比較例Nα10は、いずれも静電
容量が不足していると共に強度も低く、更にNα6は容
量安定性に問題がある。
【以下余白1
−11=
(発明の効果)
以上詳述したように、本発明によれば、純度99.7%
以上で特定の不純分元素量を抑制すると同時に製造プロ
セス条件を規制するので、以下のような優れた効果が得
られる。
以上で特定の不純分元素量を抑制すると同時に製造プロ
セス条件を規制するので、以下のような優れた効果が得
られる。
■ 静電容量、強度に優れた電解コンデンサ陰極用アル
ミニウム箔が得られる。
ミニウム箔が得られる。
■ 高容量、高強度の材料が得られるために薄肉化が可
能になり、コンデンサの軽小化を図ることができる。
能になり、コンデンサの軽小化を図ることができる。
■ 高強度であるのでエツチング時の箔切れを防止でき
るため、エツチング速度の増大を図ることができ、生産
性が向上する。
るため、エツチング速度の増大を図ることができ、生産
性が向上する。
■ 容量の経時変化が少ないので、Cu添加アルミニウ
ム合金箔に比較して、電解コンデンサの寿命アップを図
ることができる。
ム合金箔に比較して、電解コンデンサの寿命アップを図
ることができる。
特許出願人 株式会社神戸製鋼所
代理人弁理士 中 村 尚
Claims (2)
- (1)純度99.7%以上であり、かつ、不純分元素と
して、Feを0.15wt%以下、Siを0.10wt
%以下、Cuを0.05wt%以下、Tiを0.05w
t%以下にそれぞれ抑制してなる純アルミニウムにつき
、均熱処理を540℃以上、4〜20hrの範囲で施し
た後、熱間圧延を行って巻取温度300℃以下にて終了
し、更に最終冷間加工率95%以上で冷間圧延を行って
製品厚にすることを特徴とする電解コンデンサ陰極用ア
ルミニウム箔の製造方法。 - (2)熱間圧延は400〜500℃の温度範囲を10m
in以内に冷却させるように実施する請求項1記載の方
法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4100788A JPH01215959A (ja) | 1988-02-24 | 1988-02-24 | 電解コンデンサ陰極用アルミニウム箔の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4100788A JPH01215959A (ja) | 1988-02-24 | 1988-02-24 | 電解コンデンサ陰極用アルミニウム箔の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01215959A true JPH01215959A (ja) | 1989-08-29 |
Family
ID=12596337
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4100788A Pending JPH01215959A (ja) | 1988-02-24 | 1988-02-24 | 電解コンデンサ陰極用アルミニウム箔の製造方法 |
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1988
- 1988-02-24 JP JP4100788A patent/JPH01215959A/ja active Pending
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