JPH0461602A

JPH0461602A - 磁気ディスクテスターのエラー検出回路

Info

Publication number: JPH0461602A
Application number: JP17056590A
Authority: JP
Inventors: Kiyomi Yamaguchi; 山口　清美
Original assignee: Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
Current assignee: Hitachi High Tech Corp
Priority date: 1990-06-28
Filing date: 1990-06-28
Publication date: 1992-02-27
Anticipated expiration: 2014-06-07
Also published as: JP2903335B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】［産業上の利用分野コこの発明は磁気ディスクテスターのエラー検出回路に関
し、詳しくは、エラーを検出するアナログコンパレータ
の応動周波数を超えた周波数のテスト信号によるテスト
を可能とするエラー検出回路に関する。

［従来の技術］情報記録媒体のハード磁気ディスク（以下単に磁気ディ
スク）は、媒体に欠陥があるとデータにエラーが生ずる
ので、磁気ディスクテスターにより検査が行われる。

第２図（ａ）〜（ｄ）により磁気ディスクのエラー検査
方法を説明する。図（ａ）において、被検査の磁気ディ
スク１のトラック１ａに対して、磁気ヘッド２ａ＋　ア
ンプ２ｂにより適当な周波数のテスト信号が書込み／読
み出しされる。読み出されたテスト信号ＳＲには、磁気
ディスクの欠陥により波形が消失するミッシングエラー
や、波形の振幅がｆ動するモジュレーションエラーなど
があり、またテスト信号を消去した後に読み出しを行う
とき、消去不完全の信号によるエキストラエラーがある
。エラー検査においては、図（ｂ）に示すように、読み
出されたテスト信号ＳＲをＴＡＡ測定回路３に入力して
トラックの１周に対する平均値（ＴＡＡ）を算出する。

ＴＡＡは基準電圧作成回路４により％刻みの係数が乗ぜ
られて基準電圧ＳＬとされ、アナログコンパレータ５の
十端子に与えられ、これに対してテスト信号ＳＲが一端
子に加えられて両者が比較される。図（Ｃ）において、
テスト信号ＳＲの波形（イ）のピーク値は基準電圧ＳＬ
を超えるので検出パルスＰｃが出力され、これは正常で
ある。しかし、波形（ロ）のピーク値はＳＬに達しない
のでＰｃが出力されない。エラー判定回路６においては
、テスト信号ＳＲに同期したタイミングでＰｃの佇無が
チエツクされ、ＰＣかそのタイミングで入力しないとき
はミッシングエラーＥｗと判定され、マイクロプロセッ
サ（ＭＰＵ）８の制御のドに、エラーデータかメモリ７
に記録される。

以上において、図（Ｃ）の波形（ハ）のようにテスト信
号ＳＲのピーク値が基準電圧ＳＬと同一、または僅かに
超える場合は、アナログコンパレータによる両者の比較
が必ずしも安定確実になされない。すなわち、基準電圧
ＳＬにより切断されるテスト信号ＳＲの時間幅Δｔが非
常に短いときは、アナログコンパレータの応動特性の如
何によっては検出パルスＰｃが出力されず、従ってＳＲ
＞ＳＬであるにも拘らずエラー判定回路においてミッシ
ングエラーＥｔａと判定される。図（ｄ）はエキストラ
エラーの場合で、この場合はテスト信号を消去した後読
み出しを行い、基準電圧を上記と異なるＳＬ’　として
アナログコンパレータ５により両者が比較され、基準電
圧ＳＬ’を超える消去不完全な信号の波形（二ンに対し
て検出パルスＰＣ′が検出され、エラー判定回路６にお
いてエキストラエラーＥｅと判定される。この場合にお
いても、基準電圧ＳＬ’により切断される時間幅Δｔが
非常に短いときは、検出パルスＰｃ　’が出力されず、
従って波形のピーク値がＳＬ’を超えているにも拘らず
、エキストラエラーＥｅが検出されない。

［解決しようとする課題］以上の問題、すなわちアナログコンパレータの応動特性
時間Δｔを求めるために、この発明の発明者により次の
ような試験と解析が行われた。第３図（ａ）は試験回路
を示し、アナログコンパレータ５の＋、一端子のそれぞ
れに同一周波数ｆで同一振幅の逆位相の正弦波電圧ｖ、
　　ｖ’を与える。

また両端子にそれぞれ適当なバイアス電圧を与え、図（
ｂ）に示すように電圧Ｖの一側のピークと、電圧Ｖ′の
＋側のピークを交差させる。交差した部分の時間幅をΔ
ｔとすると周波数ｆの変化によりΔｔが変化し、Δｔが
ある値以上となる周波数に対しては、コンパレータ５が
動作して検出パルスＰｃが出力される。しかし、それ以
上の周波数ではΔｔが短いのでＰｃは出力されない。Δ
ｔの最小値として２ｎＳｅｃ　（２Ｘ１０−’秒）の値
がえられている。ただしこの段階では周波数ｆの限界は
まだ特定されない。なぜならば、交差する両ピークの位
置関係でΔｔの値が変わるからである。

なお、付言すると、−殻内にはアナログコンパレータの
規格として上記のΔｔの最小値は明示されてない。また
、試験に用いたアナログコンパレータは、現在数も高速
な応動特性を有するものが使用された。

以上に対して、周波数ｆの上限が次の解析により特定さ
れた。上記のテスト信号のエラー検出においては、基準
電圧ＳＬまたはＳＬ’は％刻みで変化して行われる。図
（Ｃ）において、曲線は位相角度範囲（０〜π／２）の
正弦波電圧Ｖを示す。

■のピーク値１と、その９９％（０，９９）の点の位相
角Δθを計算し、これをΔｔ／２、すなわち１ｎＳｅｃ
とおくと、正弦波電圧Ｖの周波数が直ちに求められる。

計算結果周波数ｆは２２．５ＭＨｚで、これがすなわち
１％刻みに対する検出口■能な周波数ｆの上限である。

従来においてはエラー検査のテスト信号には、１５〜２
０ＭＨｚの周波数が使用されているが、最近における磁
気ディスクの記録密度の向上に対応して、周波数を例え
ば４０ＭＨｚまで向上する必要がある。これに対してア
ナログコンパレータには上記した周波数の上限があるの
で、そのままでは適用できず、なんらかの対策を必要と
する。

この発明は以上に鑑みてなされたもので、磁気ディスク
テスターのアナログコンパレータに対して適当な回路を
付加して、テスト信号の周波数を向上できるエラー検出
回路を提供することを目的とするものである。

［課題を解決するための手段］この発明は、被検査の磁気ディスクのトラックに書込ま
れたテスト信号の、トラックの１周に対する読み出し電
圧の平均値を算出し、これに％刻みの係数を乗じて基準
電圧とし、基準電圧とテスト信号の読み出し電圧とをア
ナログコンパレータにより比較して、テスト信号のエラ
ーを検査する磁気ディスクテスターにおけるエラー検出
回路であって、読み出し電圧の各立ち上がり点を検出し
て適当な時間幅の矩形パルスを発生するパルス発生回路
と、この矩形パルスの位相を読み出し電圧のピーク点に
同期化してピークホールド信号とするパルス同期化回路
、およびピークホールド信号により制御され、読み出し
電圧の各ピーク値を検出し、このピーク値をピークホー
ルド信号の時間幅づつ延長してホールドするピークホー
ルド回路とにより構成され、ピークホールド回路の出力
する各ピーク延長信号をアナログコンパレータに入力し
、基準電圧と比較するものである。

［作用コ以上のエラー検出回路においては、パルス発生回路によ
りテスト信号の読み出し電圧の立ち上がり点を検出して
、適当な時間幅の矩形パルスを発生する。この矩形パル
スの位相が、パルス同期化回路により読み出し電圧のピ
ーク点に同期化されテヒークホールド信号か作成され、
このピークホールド信号によりピークホールド回路を制
御し、読み出し電圧の各ピーク値を検出するとともに、
各ピーク値をピークホールド信号の時間幅（矩形パルス
の時間幅に等しい）づつ延長してホールドする。ホール
ドされたピーク延長信号がアナログコンパレータに入力
して基準電圧と比較され、基ｆ、電圧を超える読み出し
電圧の時間幅がアナログコンパレータの応動時間幅より
小さい場合でも、ピーク値が延長されているので確実に
検出される。

これにより、応動時間幅の制約によるアナログコンパレ
ータの周波数の上限に拘らず、テスト信号の周波数を向
上することが可能となる。

［実施例］第１図（ａ）、（ｂ）は、この発明による磁気ディスク
テスターのエラー検出回路の実施例の構成図と、その動
作に対する波形のタイムチャートを示す。

図（ａ）において、磁気ディスク１のトラックｌａに対
して磁気ヘッド２ａ、アンプ２ｂによりテスト信号が書
込み／読み出しされ、読み出されたテスト信号ＳＲはＴ
　Ａ　Ａ　ｔｉｔ１１定回路３によりトラックの１周に
対する平均値が算出され、基準電圧作成回路４において
平均値に％刻みの係数が乗ぜられてミッシングエラー、
モノュレーションエラーに対する基準電圧ＳＬ、または
エキストラエラーに対する基準電圧ＳＬ’が作成され、
アナログコンパレータ５の子端子に与えられる。以上は
第２図（ａ）で説明した従来の基準電圧の作成方法と同
様である。以下図（ａ）、（ｂ）により説明すると、こ
の発明においては、テスト信号ＳＲをパルス発生回路９
に入力してテスト信号ＳＲの各立ち上がり点を検出し、
適当な時間幅ｔｈの矩形パルス列Ｐｈを発生する。つい
でパルス同期化回路１０により、矩形パルス列ｐｈの位
相をテスト信号ＳＲのピーク点に同期化してピークホー
ルド信号ＳＰＨを作成し、これによりピークホールド回
路１１を制御する。ピークホールド回路ＩＩに対してテ
スト信号ＳＲが入力して各波形のピーク値が検出され、
ピークホールド信号ＳＰＨの制御により、ピーク値が図
示のように時間幅ｔｈづつ延長されたピーク延長信号Ｓ
ｈがえられる。ピーク延長信号ｓｈはアナログコンパレ
ータ５の一端子に入力して、上記の基準電圧ＳＬまたは
ＳＬ’　と比較される。いま、テスト信号ＳＲの電圧ｖ
ａが基準電圧ＳＬを僅かに超えるのみで、両者の交差す
る時間幅Δｔがアナログコンパレータの最低の応動時間
２ｎＳｅｃより短い場合でも、ピーク延長信号ｓｈでは
ピーク値が延長されて交差時間が長いので、比較動作が
確実に行われて検出パルスＰｃが出力される。従って、
アナログコンパレータの上限の周波数、例えば２２．５
ＭＨｚに拘らず、％刻みの基準電圧ＳＬまたはＳＬ’に
対してテスト信号の周波数をピークホールド回路１１の
応動周波数の範囲内で、例えば４０ＭＨｚまで向上する
ことが可能である。なお、パルス同期化回路１０は位相
ロック回路な七により構成することができ、またピーク
ホールド回路は通常の回路技術により容易に構成できる
ので説明を省略する。

以上により出力された検出パルスＰｃは、従来と同様に
、エラー判定回路６に入力して各エラーが判定され、Ｍ
ＰＵ８の制御の下にメモリ７に記録される。

［発明の効果コ以上の説明により明らかなように、この発明による磁気
ディスクテスターのエラー検出回路においては、パルス
発生回路とパルス同期化回路により、読み出し電圧のピ
ーク点に同期化されたピークホールド信号が作成され、
この信号によりピークホールド回路を制御し、読み出し
電圧の各ピーク値を検出するとともに、ピーク値をピー
クホールド信号の時間幅づつ延長してホールドし、ホー
ルドされたピーク延長信号がアナログコンパレータに入
力して基準電圧と比較される。基準電圧を超える読み出
し電圧の時間幅がアナログコンパレータの応動時間幅よ
り小さい場合でも、ピーク値が延長されているので確実
に検出される。これにより、応動時間幅の制約によるア
ナログコンパレータの周波数の上限に拘らず、テスト信
号の周波数をより高めることが可能となるもので、高密
度化された磁気ディスクに対してテスターの検査性能を
向上できる効果には大きいものがある。

【図面の簡単な説明】

第１図（ａ）および（ｂ）は、この発明による磁気ディ
スクテスターのエラー検出回路の実施例における構成図
と、各部の波形のタイムチャート、第２図（ａ）、（ｂ
）、（ｃ）および（ｄ）は、従来の磁気ディスクテスタ
ーのエラー検査方法と、問題点を説明する波形図、第３
図（ａ）、（ｂ）および（Ｃ）はアナログコンパレータ
の応動特性に対する試験と解析方法の説明図である。１・・・磁気ディスク、　　　１ａ・・・トランク、２
ａ・・・磁気ヘッド、　　　２ｂ・・・アンプ、３・・
・ＴＡＡ（トラック１周の平均値）測定回路、４・・・
基準電圧作成回路、５・・・アナログコンパレータ、６・・・エラー判定回路、　７・・・メモリ、８・・・
マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）、９・・・パルス発生回
路、ＩＯ・・・パルス同期化回路、■・・・ピークホー
ルド回路、ＳＲ・・・読み出しテスト信号、Ｐｃ・・・検出パルス、　　　Ｐｈ・・・矩形パルス、
ＳＬ、ＳＬ　’・・・基準電圧、　ｓｂ・・・ピーク延
長信号。ｐ（’　　　　′　　　　〜

Claims

【特許請求の範囲】

（１）被検査の磁気ディスクのトラックに書込まれたテ
スト信号の、上記トラックの１周に対する読み出し電圧
の平均値を算出し、該平均値に％刻みの係数を乗じて基
準電圧とし、該基準電圧と上記読み出し電圧とをアナロ
グコンパレータにより比較して、上記テスト信号のエラ
ーを検査する磁気ディスクテスターにおいて、上記読み
出し電圧の各立ち上がり点を検出して適当な時間幅の矩
形パルスを発生するパルス発生回路と、該矩形パルスの
位相を上記読み出し電圧波形のピーク点に同期化してピ
ークホールド信号とするパルス同期化回路、および該ピ
ークホールド信号により制御され、上記読み出し電圧の
各ピーク値を検出し、該検出された各ピーク値を該ピー
クホールド信号の時間幅づつホールドするピークホール
ド回路とにより構成され、該ピークホールド回路より出
力される各ピーク延長信号を上記アナログコンパレータ
に入力して上記基準電圧と比較することを特徴とする、
磁気ディスクテスターのエラー検出回路。