JPH0443607A - 電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物およびバリスタの製造方法 - Google Patents
電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物およびバリスタの製造方法Info
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- JPH0443607A JPH0443607A JP2151992A JP15199290A JPH0443607A JP H0443607 A JPH0443607 A JP H0443607A JP 2151992 A JP2151992 A JP 2151992A JP 15199290 A JP15199290 A JP 15199290A JP H0443607 A JPH0443607 A JP H0443607A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は電気機器、電子機器で発生する異常高電圧、ノ
イズ、静電気などから機器の半導体及び回路を保護する
ためのコンデンサ特性とバリスタ特性を有する電圧依存
性非直線抵抗体磁器組成物およびバリスタの製造方法に
関するものである。
イズ、静電気などから機器の半導体及び回路を保護する
ためのコンデンサ特性とバリスタ特性を有する電圧依存
性非直線抵抗体磁器組成物およびバリスタの製造方法に
関するものである。
従来の技術
従来、各種の電気機器、電子機器における異常高電圧の
吸収、ノイズの除去、火花消去、静電気対策のために電
圧依存性非直線抵抗特性を有するSiCバリスタや、Z
nO系バリスタなどが使用されている。このようなバリ
スタの電圧−電流特性は近位的に次式のように表すこと
ができる。
吸収、ノイズの除去、火花消去、静電気対策のために電
圧依存性非直線抵抗特性を有するSiCバリスタや、Z
nO系バリスタなどが使用されている。このようなバリ
スタの電圧−電流特性は近位的に次式のように表すこと
ができる。
α
1=(V/C)
ここで、■は電流、■は電圧、Cはバリスタ固有の定数
、αは電圧−電流非直線指数である。
、αは電圧−電流非直線指数である。
SiCバリスタのαは2〜7程度、ZnO系バリスタで
はαが50にもおよぶものがある。このようなバリスタ
は比較的高い電圧の吸収には優れた性能を有しているが
、誘電率が低く、固有の静電容量が小さいため、バリス
タ電圧以下の比較的低い電圧の吸収にはほとんど効果を
示さず、また誘電損失tanδが5〜10%と大きい。
はαが50にもおよぶものがある。このようなバリスタ
は比較的高い電圧の吸収には優れた性能を有しているが
、誘電率が低く、固有の静電容量が小さいため、バリス
タ電圧以下の比較的低い電圧の吸収にはほとんど効果を
示さず、また誘電損失tanδが5〜10%と大きい。
一方、これらの低電圧のノイズなどの除去には見かけの
誘電率が5X10’程度で、tanδが1%前後の半導
体コンデンサが利用されている。しかし、このような半
導体コンデンサはサージなどによりある限度以上の電圧
または電流が印加されると、静電容量が減少したり破壊
したりして、コンデンサとしての機能を果たさなくなっ
たりする。
誘電率が5X10’程度で、tanδが1%前後の半導
体コンデンサが利用されている。しかし、このような半
導体コンデンサはサージなどによりある限度以上の電圧
または電流が印加されると、静電容量が減少したり破壊
したりして、コンデンサとしての機能を果たさなくなっ
たりする。
そこで最近になって5rTiOsを主成分とし、バリス
タ特性とコンデンサ特性の両方の機能を有するものが開
発され、コンピュータなどの電子機器におけるIC,L
SIなどの半導体素子の保護に利用されている。
タ特性とコンデンサ特性の両方の機能を有するものが開
発され、コンピュータなどの電子機器におけるIC,L
SIなどの半導体素子の保護に利用されている。
発明が解決しようとする課題
l記の5rTiOsを主成分とするバリスタとコンデン
サの両方の機能を有する素子はZnO系バリスタに比べ
誘電率が約10倍と大きいが、αやサージ耐量が小さく
、バリスタ電圧を低くすると特性が劣化しゃずいといっ
た欠点を有していた。
サの両方の機能を有する素子はZnO系バリスタに比べ
誘電率が約10倍と大きいが、αやサージ耐量が小さく
、バリスタ電圧を低くすると特性が劣化しゃずいといっ
た欠点を有していた。
そこで本発明では、誘電率が大きく、バリスタ電圧が低
く、αが大きいと共にサージ耐量が大きい電圧依存性非
直線抵抗体磁器組成物およびバリスタの製造方法を提供
することを目的とするものである。
く、αが大きいと共にサージ耐量が大きい電圧依存性非
直線抵抗体磁器組成物およびバリスタの製造方法を提供
することを目的とするものである。
課題を解決するための手段
上記の問題点を解決するために本発明では、(Sr+−
Jg*)aTios (0,001≦x≦0.300.
0.950≦a<1.000) (以下第1成分と呼ぶ
)を90.000〜99.998mo1′!、、NbJ
s、TazOs、WOa+DVtOi、YzOs、I、
a20゜Ce01,5IlzC1s、Prl、O++、
NdzO*のうち少なくとも1種類以上C以下第2成分
と呼ぶ)を05001〜5.000@olX、AItO
x1SbtOs+BaO,BeO,PbO,BtO,l
、CrtOyFezO7CdO1KzO,CaO,Co
t03.CuO,CuJ、LizO,LiF門go、
Mn01. Moat、 NatO,NaF、 Nip
、 RhzOs、 5eat、 Ag2゜5i02.S
iC,SrO,TIJ、、Th0t+Ti0z、シzo
s、RitO:+、Zn0ZrOt、Snowのうぢ少
なくとも1種類以下(以下第3成分と呼ぶ)を0.00
1〜5.000molχ含有してなる主成分100重量
部と、CaTi0− 60.000”32.500so
lχ、 Sin、 40.000〜67.5■olχ
からなる混合物を1200〜1300°Cで焼成してな
る添加物(以下第4成分と呼ぶ) 0.001〜10
.000重量部とからなる電圧依存性非直線抵抗体磁器
組成物を得ることにより、問題を解決しようとするもの
である。
Jg*)aTios (0,001≦x≦0.300.
0.950≦a<1.000) (以下第1成分と呼ぶ
)を90.000〜99.998mo1′!、、NbJ
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と呼ぶ)を05001〜5.000@olX、AItO
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s、RitO:+、Zn0ZrOt、Snowのうぢ少
なくとも1種類以下(以下第3成分と呼ぶ)を0.00
1〜5.000molχ含有してなる主成分100重量
部と、CaTi0− 60.000”32.500so
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からなる混合物を1200〜1300°Cで焼成してな
る添加物(以下第4成分と呼ぶ) 0.001〜10
.000重量部とからなる電圧依存性非直線抵抗体磁器
組成物を得ることにより、問題を解決しようとするもの
である。
また、上記主成分と添加物とからなる組成物を1100
’C以上で焼成したバリスタの製造方法、さらにはその
焼成後、還元性雰囲気中で1200℃以上で焼成し、そ
の後酸化性雰囲気中で900〜1300″Cで焼成した
バリスタの製造方法を提供しようとするものである。
’C以上で焼成したバリスタの製造方法、さらにはその
焼成後、還元性雰囲気中で1200℃以上で焼成し、そ
の後酸化性雰囲気中で900〜1300″Cで焼成した
バリスタの製造方法を提供しようとするものである。
作用
上記の発明において第1成分は主たる成分であり、5r
Ti03のSrの一部を?1gで置換することにより粒
界に形成される高抵抗層がサージに対して強くなる。ま
た、Sr、 MgなどのAサイトの化学量論比とTiな
どのBサイトの化学量論比をTi過剰にすることにより
、粒子内部の抵抗を低くし粒界に形成される誘電体の誘
電率を大きくすることができる。さらに、第2成分は主
に第1成分の半導体化を促進する金属酸化物である。ま
た、第3成分は誘電率、α、サージ耐量の改善に寄与す
るものであり、第4成分はバリスタ電圧の低下、誘電率
の改善に有効なものである。特に、第4成分は融点が1
230〜1250°Cと比較的低いため、融点前後の温
度で焼成すると液相となり、その他の成分の反応を促進
すると共に粒子の成長を促進する。そのため粒界部分に
第3成分が偏析しやすくなり、粒界が高抵抗化されやす
くなり、バリスタ機能およびコンデンサ機能が改善され
る。また、粒成長が促進されるためバリスタ電圧が低く
なり、粒径の均一性が向上するため特性の安定性が良く
なり、特にサージ耐量が改善される。
Ti03のSrの一部を?1gで置換することにより粒
界に形成される高抵抗層がサージに対して強くなる。ま
た、Sr、 MgなどのAサイトの化学量論比とTiな
どのBサイトの化学量論比をTi過剰にすることにより
、粒子内部の抵抗を低くし粒界に形成される誘電体の誘
電率を大きくすることができる。さらに、第2成分は主
に第1成分の半導体化を促進する金属酸化物である。ま
た、第3成分は誘電率、α、サージ耐量の改善に寄与す
るものであり、第4成分はバリスタ電圧の低下、誘電率
の改善に有効なものである。特に、第4成分は融点が1
230〜1250°Cと比較的低いため、融点前後の温
度で焼成すると液相となり、その他の成分の反応を促進
すると共に粒子の成長を促進する。そのため粒界部分に
第3成分が偏析しやすくなり、粒界が高抵抗化されやす
くなり、バリスタ機能およびコンデンサ機能が改善され
る。また、粒成長が促進されるためバリスタ電圧が低く
なり、粒径の均一性が向上するため特性の安定性が良く
なり、特にサージ耐量が改善される。
実施例
以下に実施例を挙げて本発明を具体的に説明する。
まず、CaTiOs、5iOzを下記の第1表に示すよ
うに組成比を種々変えて秤量し、ボールミルなどで24
Hr混合する0次に、乾燥した後、下記の第1表に示す
ように温度を種々変えて焼成し、再びボールミルなどで
24Hr粉砕した後、乾燥し、第4成分とする。次いで
、第1成分、第2成分、第3成分、第4成分を下記の第
1表に示した組成比になるように秤量し、ボールミルな
どで22Hr混合した後、乾燥し、ポリビニルアルコー
ルなどの有機バインダーを10wtχ添加して造粒した
後、1 (t/cd)のプレス圧力で10φXIt(m
)の円板状に成形し、1020℃で108r焼成し脱バ
インダーする0次に、第1表に示したように温度と時間
を種々変えて焼成(第1焼成)し、その後還元性雰囲気
、例えばNt:p+t−9: 1のガス中で温度と時間
を種々変えて焼成(第2焼成)する、さらにその後、酸
化性雰囲気中で温度と時間を種々変えて焼成(第3焼成
)する。
うに組成比を種々変えて秤量し、ボールミルなどで24
Hr混合する0次に、乾燥した後、下記の第1表に示す
ように温度を種々変えて焼成し、再びボールミルなどで
24Hr粉砕した後、乾燥し、第4成分とする。次いで
、第1成分、第2成分、第3成分、第4成分を下記の第
1表に示した組成比になるように秤量し、ボールミルな
どで22Hr混合した後、乾燥し、ポリビニルアルコー
ルなどの有機バインダーを10wtχ添加して造粒した
後、1 (t/cd)のプレス圧力で10φXIt(m
)の円板状に成形し、1020℃で108r焼成し脱バ
インダーする0次に、第1表に示したように温度と時間
を種々変えて焼成(第1焼成)し、その後還元性雰囲気
、例えばNt:p+t−9: 1のガス中で温度と時間
を種々変えて焼成(第2焼成)する、さらにその後、酸
化性雰囲気中で温度と時間を種々変えて焼成(第3焼成
)する。
(以下余白)
こうして得られた第1図および第2図に示す焼結体1の
側平面に外周を残すようにしてAgなとの導電性ペース
トをスクリーン印刷などにより塗布し、575℃、 1
Qsinで焼成し、電極2.3を形成する0次に、半田
などによりリード!(図示せず)を取り付け、エポキシ
などの樹脂を塗装する。このようにして得られた素子の
特性を下記の第2表に示す。
側平面に外周を残すようにしてAgなとの導電性ペース
トをスクリーン印刷などにより塗布し、575℃、 1
Qsinで焼成し、電極2.3を形成する0次に、半田
などによりリード!(図示せず)を取り付け、エポキシ
などの樹脂を塗装する。このようにして得られた素子の
特性を下記の第2表に示す。
なお、第2表において誘電率はIKHzでの静電容量か
ら計夏したものであり、αは (x−1/ log(V l0IIA/ V IIII
A)(ただし、V、、A、V、。、Aは1 mA、 1
0++Aの電流を流した時に素子の両端にかかる電圧で
ある。)で評価した。また、サージ耐量はパルス性の電
流を印加した後のVlmAの変化率が±10%以内であ
る時の最大のパルス性電流値により評価している。
ら計夏したものであり、αは (x−1/ log(V l0IIA/ V IIII
A)(ただし、V、、A、V、。、Aは1 mA、 1
0++Aの電流を流した時に素子の両端にかかる電圧で
ある。)で評価した。また、サージ耐量はパルス性の電
流を印加した後のVlmAの変化率が±10%以内であ
る時の最大のパルス性電流値により評価している。
(以下余白)
本発明において、第1成分の(Sr+−JgJaTiO
sのXの範囲を規定したのは、Xがo、ooiよりも小
さいと効果を示さず、0.300を超えると格子欠陥が
発生しにくくなるため半導体化が促進されず、粒界にM
gが単一相として析出するため組織が不均一になり、V
lmAが高くなりすぎて特性が劣化するためである。ま
た、aの範囲を規定したのは、0.950よりも小さく
なるとTi単体の結晶が析出し組織が不均一になるため
特性が劣化し、1.000を超えると粒界に形成される
誘電体の誘電率が小さくなるためである。さらに、第2
成分は0.001molχ未満では効果を示さず、5.
OOOmolχを超えると粒界に偏析して粒界の高抵抗
化を抑制し、粒界に第2相を形成することから特性が劣
化するものである。また、第3成分は0.OO1++o
lχ未満では効果を示さず、5.OOO+wolχを超
えると粒界に偏析して第2相を形成することから特性が
劣化するものである。さらに、第4成分はCaTi0.
とSiO□の2成分系の相図のなかで最も融点の低い領
域の物質であり、その範囲外では融点が高くなるもので
ある。そして、第4成分の添加量は、0.001重量部
未満では効果を示さず、io、ooo重量部を超えると
粒界の抵抗は高くなるが粒界の幅が厚くなるため、静電
容量が小さくなると共に■11.が高くなり、サージに
対して弱くなるものである。また、第4成分の焼成温度
を規定したのは、低融点の第4成分が合成される温度が
1200℃以上であるためである。さらに、第1焼成の
温度を規定したのは、第4成分の融点が1230〜12
50°Cであるため、1100″C以上の温度で焼成す
ると第4成分が液相に近い状態になって焼結が促進され
るためであり、1100℃未満では第4成分の液相焼結
効果がないためである。また、第2焼成の温度を規定し
たのは、1200℃未満では第1焼成後の焼結体が十分
に還元されず、バリスタ特性、コンデンサ特性が共に劣
化するためである。さらに、第3焼成の温度を規定した
のは、900 ’C未満では粒界の高抵抗化が十分に進
まないため、VISAが低くなりすぎバリスタ特性が劣
化するためであり、1300’Cを超えると静電容量が
小さくなりすぎコンデンサ特性が劣化するためである。
sのXの範囲を規定したのは、Xがo、ooiよりも小
さいと効果を示さず、0.300を超えると格子欠陥が
発生しにくくなるため半導体化が促進されず、粒界にM
gが単一相として析出するため組織が不均一になり、V
lmAが高くなりすぎて特性が劣化するためである。ま
た、aの範囲を規定したのは、0.950よりも小さく
なるとTi単体の結晶が析出し組織が不均一になるため
特性が劣化し、1.000を超えると粒界に形成される
誘電体の誘電率が小さくなるためである。さらに、第2
成分は0.001molχ未満では効果を示さず、5.
OOOmolχを超えると粒界に偏析して粒界の高抵抗
化を抑制し、粒界に第2相を形成することから特性が劣
化するものである。また、第3成分は0.OO1++o
lχ未満では効果を示さず、5.OOO+wolχを超
えると粒界に偏析して第2相を形成することから特性が
劣化するものである。さらに、第4成分はCaTi0.
とSiO□の2成分系の相図のなかで最も融点の低い領
域の物質であり、その範囲外では融点が高くなるもので
ある。そして、第4成分の添加量は、0.001重量部
未満では効果を示さず、io、ooo重量部を超えると
粒界の抵抗は高くなるが粒界の幅が厚くなるため、静電
容量が小さくなると共に■11.が高くなり、サージに
対して弱くなるものである。また、第4成分の焼成温度
を規定したのは、低融点の第4成分が合成される温度が
1200℃以上であるためである。さらに、第1焼成の
温度を規定したのは、第4成分の融点が1230〜12
50°Cであるため、1100″C以上の温度で焼成す
ると第4成分が液相に近い状態になって焼結が促進され
るためであり、1100℃未満では第4成分の液相焼結
効果がないためである。また、第2焼成の温度を規定し
たのは、1200℃未満では第1焼成後の焼結体が十分
に還元されず、バリスタ特性、コンデンサ特性が共に劣
化するためである。さらに、第3焼成の温度を規定した
のは、900 ’C未満では粒界の高抵抗化が十分に進
まないため、VISAが低くなりすぎバリスタ特性が劣
化するためであり、1300’Cを超えると静電容量が
小さくなりすぎコンデンサ特性が劣化するためである。
また、第1焼成の雰囲気は酸化性雰囲気でも還元性雰囲
気でも同様の効果があることを確認した。
気でも同様の効果があることを確認した。
また、本実施例では添加物の組み合わせについては、第
1成分として(Sr+−XMgx)sTiOs (0,
001≦x≦0.300.0.950≦a <1.00
0)、第2成分としてNbJ5. TazOs+ 11
0z、 DytOs+ YtCh+ LaxOs・Ce
O,NdtOs。
1成分として(Sr+−XMgx)sTiOs (0,
001≦x≦0.300.0.950≦a <1.00
0)、第2成分としてNbJ5. TazOs+ 11
0z、 DytOs+ YtCh+ LaxOs・Ce
O,NdtOs。
第3成分としてAltOx、PbO,CrJz、CdO
,KtO,CozO*CuOCuzO,MgO,MnO
x、MoOs、NiO,Ag1O,SiC,TIrOs
Zr(h、第4成分としてCaTi03,5iOtにつ
いてのみ示したが、第2成分としてS*Ji+PrhO
zを、また第3成分としてS b ! 03 + B
a O+ B e O+ B ! Os + F e
x 01 + Ca 0LiyO,LiF、NatO,
NaF、R11tOs、5eOx、5jOt、SrO,
Th0xTi(h、■20B、B+tos+Zno、S
nowを用いた組成の組み合わせでも同様の効果が得ら
れることを確認した。
,KtO,CozO*CuOCuzO,MgO,MnO
x、MoOs、NiO,Ag1O,SiC,TIrOs
Zr(h、第4成分としてCaTi03,5iOtにつ
いてのみ示したが、第2成分としてS*Ji+PrhO
zを、また第3成分としてS b ! 03 + B
a O+ B e O+ B ! Os + F e
x 01 + Ca 0LiyO,LiF、NatO,
NaF、R11tOs、5eOx、5jOt、SrO,
Th0xTi(h、■20B、B+tos+Zno、S
nowを用いた組成の組み合わせでも同様の効果が得ら
れることを確認した。
また、第2成分および第4成分については、それぞれ2
種類以上を所定の範囲で組み合わせて用いても差支えな
いことを併せて確認した。
種類以上を所定の範囲で組み合わせて用いても差支えな
いことを併せて確認した。
なお、第1成分、第2成分、第3成分、第4成分を11
00’C以上で焼成するだけでも第4成分が液相となり
、その他の成分の反応を促進すると共に粒子の成長を促
進するため、粒界部分に第3成分が偏析しやすくなり、
粒nが高抵抗化されやすくなり、バリスタ機能およびコ
ンデンサ機能が改善されるという効果がある。
00’C以上で焼成するだけでも第4成分が液相となり
、その他の成分の反応を促進すると共に粒子の成長を促
進するため、粒界部分に第3成分が偏析しやすくなり、
粒nが高抵抗化されやすくなり、バリスタ機能およびコ
ンデンサ機能が改善されるという効果がある。
発明の効果
以上に示したように本発明によれば、第4成分による液
相焼結効果により、粒子径が大きいためバリスタ電圧が
低く、誘電率とおよびαが大きく、粒子径のばらつきが
小さいためサージ電流が素子に均一に流ね、また、11
gによって粒界が効果的に高抵抗化されるため、サージ
耐量が大きくなるという効果が得られる。
相焼結効果により、粒子径が大きいためバリスタ電圧が
低く、誘電率とおよびαが大きく、粒子径のばらつきが
小さいためサージ電流が素子に均一に流ね、また、11
gによって粒界が効果的に高抵抗化されるため、サージ
耐量が大きくなるという効果が得られる。
第1図は本発明による素子を示す上面図、第2図は本発
明による素子を示す断面図である。 1・・・・・焼結体、2.3・・・・電極。 代理人の氏名 弁理士 粟野重孝 はか1名昆 図 電 皆 1紘滲 第 図 \3
明による素子を示す断面図である。 1・・・・・焼結体、2.3・・・・電極。 代理人の氏名 弁理士 粟野重孝 はか1名昆 図 電 皆 1紘滲 第 図 \3
Claims (3)
- (1)(Sr_1_−_xMg_x)_aTiO_3(
0.001≦x≦0.300,0.950≦a<1.0
00)を90.000〜99.998mol%、Nb_
2O_5,Ta_2O_5,WO_3,Dy_2O_3
,Y_2O_3,La_2O_3,CeO_2,Sm_
2O_3,Pr_6O_1_1,Nd_2O_3のうち
少なくとも1種類以上を0.001〜5.000mol
%、Al_2O_3,Sb_2O_3,BaO,BeO
,PbO,B_2O_3,Cr_2O_3,Fe_2O
_3,CdO,K_2O,CaO,Co_2O_3,C
uO,Cu_2O,Li_2O,LiF,MgO,Mn
O_2,MoO_3,Na_2O,NaF,NiO,R
h_2O_3,SeO_2,Ag_2O,SiO_2,
SiC,SrO,Tl_2O_3,ThO_2,TiO
_2,V_2O_5,Bi_2O_3,ZnO,ZrO
,SnO_2のうち少なくとも1種類以上を0.001
〜5.000mol%含有してなる主成分100重量部
と、CaTiO_3 60.000〜32.500mo
l%,SiO_2 40.000〜67.5mol%か
らなる混合物を1200℃以上で焼成してなる添加物0
.001〜10.000重量部とからなることを特徴と
する電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物。 - (2)(Sr_1_−_xMg_x)_aTiO_3(
0.001≦x≦0.300,0.950≦a<1.0
00)を90.000〜99.998mol%、Nb_
2O_5,Ta_2O_5,WO_3,Dy_2O_3
,Y_2O_3,La_2O_3,CeO_2,Sm_
2O_3,Pr_6O_1_1,Nd_2O_3のうち
少なくとも1種類以上を0.001〜5.000mol
%、Al_2O_3,Sb_2O_3,BaO,BeO
,PbO,B_2O_3,Cr_2O_3,Fe_2O
_3,CdO,K_2O,CaO,Co_2O_3,C
uO,Cu_2O,Li_2O,LiF,MgO,Mn
O_2,MoO_3,Na_2O,NaF,NiO,R
h_2O_3,SeO_2,Ag_2O,SiO_2,
SiC,SrO,Tl_2O_3,ThO_2,TiO
_2,V_2O_5,Bi_2O_3,ZnO,ZrO
_2,SnO_2のうち少なくとも1種類以上を0.0
01〜5.000mol%含有してなる主成分100重
量部と、CaTiO_3 60.000〜32.500
mol%、SiO_2 40.000〜67.5mol
%からなる混合物を1200℃以上で焼成してなる添加
物0.001〜10.000重量部とからなる組成物を
、1100℃以上で焼成したことを特徴とするバリスタ
の製造方法。 - (3)(Sr_1_−_xMg_x)_aTiO_3(
0.001≦x≦0.300,0.950≦a<1.0
00)を90.000〜99.998mol%、Nb_
2O_5,Ta_2O_5,WO_3,Dy_2O_3
,Y_2O_3,La_2O_3,CeO_2,Sm_
2O_3,Pr_6O_1_1,Nd_2O_3のうち
少なくとも1種類以上を0.001〜5.000mol
%、Al_2O_3,Sb_2O_3,BaO,BeO
,PbO,B_2O_3,Cr_2O_3,Fe_2O
_3,CdO,K_2O,CaO,Co_2O_3,C
uO,Cu_2O,Li_2O,LiF,MgO,Mn
O_2,MoO_3,Na_2O,NaF,NiO,R
h_2O_3,SeO_2,Ag_2O,SiO_2,
SiC,SrO,Tl_2O_3,ThO_2,TiO
_2,V_2O_5,Bi_2O_3,ZnO,ZrO
_2,SnO_2のうち少なくとも1種類以上を0.0
01〜5.000mol%含有してなる主成分100重
量部と、CaTiO_3 60.000〜32.500
mol%,SiO_2 40.000〜67.5mol
%からなる混合物を1200℃以上で焼成してなる添加
物0.001〜10.000重量部とからなる組成物を
、1100℃以上で焼成した後、還元性雰囲気中で12
00℃以上で焼成し、その後酸化性雰囲気中で900〜
1300℃で焼成したことを特徴とするバリスタの製造
方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2151992A JPH0443607A (ja) | 1990-06-11 | 1990-06-11 | 電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物およびバリスタの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2151992A JPH0443607A (ja) | 1990-06-11 | 1990-06-11 | 電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物およびバリスタの製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0443607A true JPH0443607A (ja) | 1992-02-13 |
Family
ID=15530696
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2151992A Pending JPH0443607A (ja) | 1990-06-11 | 1990-06-11 | 電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物およびバリスタの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0443607A (ja) |
-
1990
- 1990-06-11 JP JP2151992A patent/JPH0443607A/ja active Pending
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