JPH0443605A - 電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物およびバリスタの製造方法 - Google Patents
電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物およびバリスタの製造方法Info
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- JPH0443605A JPH0443605A JP2151990A JP15199090A JPH0443605A JP H0443605 A JPH0443605 A JP H0443605A JP 2151990 A JP2151990 A JP 2151990A JP 15199090 A JP15199090 A JP 15199090A JP H0443605 A JPH0443605 A JP H0443605A
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Landscapes
- Thermistors And Varistors (AREA)
- Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は電気機器、電子機器で発生する異常高電圧、ノ
イズ、静電気などから、機器の半導体及び回路を保護す
るだめのコンデンサ特性とバリスタ特性を有する電圧依
存性非直線抵抗体磁器組成物およびバリスタの製造方法
に関するものである。
イズ、静電気などから、機器の半導体及び回路を保護す
るだめのコンデンサ特性とバリスタ特性を有する電圧依
存性非直線抵抗体磁器組成物およびバリスタの製造方法
に関するものである。
従来の技術
従来、各種の電気機器、電子機器における異常高電圧の
吸収、ノイズの除去、火花消去、静電気対策のために電
圧依存性非直線抵抗特性を有するSiCバリスタや、Z
nO系バリスタなどが使用されている。このようなバリ
スタの電圧−1i流特性は近似的に次式のように表すこ
とができる。
吸収、ノイズの除去、火花消去、静電気対策のために電
圧依存性非直線抵抗特性を有するSiCバリスタや、Z
nO系バリスタなどが使用されている。このようなバリ
スタの電圧−1i流特性は近似的に次式のように表すこ
とができる。
α
1 =(V/C)
ここで、■はt流、■は電圧、Cはバリスタ固有の定数
、αは電圧−電流非直線指数である。
、αは電圧−電流非直線指数である。
SiCバリスタのαは2〜7程度、ZnO系バリスタで
はαが50にもおよぶものがある。このようなバリスタ
は比較的高い電圧の吸収には優れた性能を有しているが
、誘電率が低く、固有の静電容量が小さいため、バリス
タ電圧以下の比較的低い電圧の吸収にはほとんど効果を
示さず、また誘電損失tanδが5〜10%と大きい。
はαが50にもおよぶものがある。このようなバリスタ
は比較的高い電圧の吸収には優れた性能を有しているが
、誘電率が低く、固有の静電容量が小さいため、バリス
タ電圧以下の比較的低い電圧の吸収にはほとんど効果を
示さず、また誘電損失tanδが5〜10%と大きい。
一方、これらの低電圧のノイズなどの除去には見かけの
誘電率が5X10’程度で、t、anδが1%前後の半
導体コンデンサが利用されている。しかし、このような
半導体コンデンサはサージなどによりある限度以上の電
圧またはt′ftが印加されると、静電容量が減少した
り破壊したりして、コンデンサとしての機能を果たさな
くなったりする。
誘電率が5X10’程度で、t、anδが1%前後の半
導体コンデンサが利用されている。しかし、このような
半導体コンデンサはサージなどによりある限度以上の電
圧またはt′ftが印加されると、静電容量が減少した
り破壊したりして、コンデンサとしての機能を果たさな
くなったりする。
そこで最近になって5rTi03を主成分とし、バリス
タ特性とコンデンサ特性の両方の機能を有するものが開
発され、コンピュータなどの電子機器におけるIc、L
SIなどの半導体素子の保護に利用されている。
タ特性とコンデンサ特性の両方の機能を有するものが開
発され、コンピュータなどの電子機器におけるIc、L
SIなどの半導体素子の保護に利用されている。
発明が解決しようとする課題
上記の5rTiOsを主成分とするバリスタとコンデン
サの両方の機能を有する素子はZnO系バリスタに比べ
誘電率が約10倍と大きいが、αやサージ耐量が小さく
、バリスタ電圧を低くすると特性が劣化しやすいといっ
た欠点を有していた。
サの両方の機能を有する素子はZnO系バリスタに比べ
誘電率が約10倍と大きいが、αやサージ耐量が小さく
、バリスタ電圧を低くすると特性が劣化しやすいといっ
た欠点を有していた。
そこで本発明では、誘電率が大きく、バリスタ電圧が低
く、αが大きいと共にサージ耐量が大きい電圧依存性非
直線抵抗体磁器組成物およびバリスタの製造方法を提供
することを目的とするものである。
く、αが大きいと共にサージ耐量が大きい電圧依存性非
直線抵抗体磁器組成物およびバリスタの製造方法を提供
することを目的とするものである。
課題を解決するための手段
上記の問題点を解決するためQこ本発明では、(Sr+
−Jam)JiOt (0,001≦x≦0.300.
(1,950≦a<1.000) (以下第1成分と
呼ぶ)を90.000〜99.998molL Nb
、Os、TatOs、HO3,DytOz、YtOs、
(、atOvCeOt、SwrtOs、PrbOx、N
dtOsのうち少なくとも1種類以上(以下第2成分と
呼ぶ)を0.001〜5.000solX、 AlzO
x、SbJ、1.RaO,BeO,PbO,BzOz、
C+rO:+FetOs、CdO,KxO,CaO,C
o、0.、CuO,CurO,Li、O,LiFMgO
,Mn0t、MoOs、NaxO,NaF、NiO,R
h、O,、SeO,、Ag、05iO2,SiC,Sr
O,TlzOt、 Th02. TiOx、V2O3,
Bi 203. Zn0ZrO工、 5nOzのうち少
なくとも1種類以上(以下第3成分と呼ぶ)を0.00
1〜5.OOO+nolX含有してなる主成分tool
量部と置部aTi0t 60.000〜32.500
solX、 5i0240.000〜67.5s+ol
zカらftル混合物を1200〜1300°Cで焼成し
てなる添加物(以下第4成分と呼ぶ) 0.001〜
10.0OOIIi1部とからなる電圧依存性非直線抵
抗体磁器組成物を得ることにより、問題を解決しようと
するものである。
−Jam)JiOt (0,001≦x≦0.300.
(1,950≦a<1.000) (以下第1成分と
呼ぶ)を90.000〜99.998molL Nb
、Os、TatOs、HO3,DytOz、YtOs、
(、atOvCeOt、SwrtOs、PrbOx、N
dtOsのうち少なくとも1種類以上(以下第2成分と
呼ぶ)を0.001〜5.000solX、 AlzO
x、SbJ、1.RaO,BeO,PbO,BzOz、
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O,TlzOt、 Th02. TiOx、V2O3,
Bi 203. Zn0ZrO工、 5nOzのうち少
なくとも1種類以上(以下第3成分と呼ぶ)を0.00
1〜5.OOO+nolX含有してなる主成分tool
量部と置部aTi0t 60.000〜32.500
solX、 5i0240.000〜67.5s+ol
zカらftル混合物を1200〜1300°Cで焼成し
てなる添加物(以下第4成分と呼ぶ) 0.001〜
10.0OOIIi1部とからなる電圧依存性非直線抵
抗体磁器組成物を得ることにより、問題を解決しようと
するものである。
また、F起生成分と添加物とからなる組成物を1100
′を以上で焼成したバリスタの製造方法、さらにはその
焼成後、還元性雰囲気中で1200℃以上で焼成し、そ
の後酸化性雰囲気中で900〜1300℃で焼成したバ
リスタの製造方法を提供しようとするものである。
′を以上で焼成したバリスタの製造方法、さらにはその
焼成後、還元性雰囲気中で1200℃以上で焼成し、そ
の後酸化性雰囲気中で900〜1300℃で焼成したバ
リスタの製造方法を提供しようとするものである。
作用
上記の発明において第1成分は主たる成分であり、5r
Ti03のSrの一部をBaで置換することにより粒訝
に形成される高抵抗層がサージに対して強くなる。また
、Sr、 BaなどのAサイトの化学量論比とTiなど
のBサイトの化学量論比をTi過剰にすることにより、
粒子内部の抵抗を低くし、粒界に形成される誘電体の誘
電率を大きくすることができる。さらに、第2成分は主
に第1成分の半導体化を促進する金属酸化物である。ま
た、第3成分は誘電率、α、サージ耐量の改善に寄与す
るものであり、第4成分はバリスタ電圧の低下、誘電率
の改善に有効なものである。特に、第4成分は融点が1
230〜1250″Cと比較的低いため、融点前後の温
度で焼成すると液相となり、その他の成分の反応を促進
すると共に粒子の成長を促進する、そのため粒界部分に
第3成分が偏析しやすくなり、粒界が高抵抗化されやす
くなり、バリスタ機能およびコンデンザ機能が改善され
る。また、粒成長が促進されるためバリスタ電圧が低(
なり、粒径の均一性が向上するため特性の安定性が良く
なり、特にサージ耐量が改善される。
Ti03のSrの一部をBaで置換することにより粒訝
に形成される高抵抗層がサージに対して強くなる。また
、Sr、 BaなどのAサイトの化学量論比とTiなど
のBサイトの化学量論比をTi過剰にすることにより、
粒子内部の抵抗を低くし、粒界に形成される誘電体の誘
電率を大きくすることができる。さらに、第2成分は主
に第1成分の半導体化を促進する金属酸化物である。ま
た、第3成分は誘電率、α、サージ耐量の改善に寄与す
るものであり、第4成分はバリスタ電圧の低下、誘電率
の改善に有効なものである。特に、第4成分は融点が1
230〜1250″Cと比較的低いため、融点前後の温
度で焼成すると液相となり、その他の成分の反応を促進
すると共に粒子の成長を促進する、そのため粒界部分に
第3成分が偏析しやすくなり、粒界が高抵抗化されやす
くなり、バリスタ機能およびコンデンザ機能が改善され
る。また、粒成長が促進されるためバリスタ電圧が低(
なり、粒径の均一性が向上するため特性の安定性が良く
なり、特にサージ耐量が改善される。
実施例
以下に実施例を挙げて本発明を具体的に説明する。
まず、CaTiOs、5iOtを下記の第1表に示すよ
うに組成比を種々変えて秤量し、ボールミルなどで22
Hr混合する0次に、乾燥した後、下記の第1表に示す
ように温度を種々変えて焼成し、再びボールミルなどで
22)1r粉砕した後、乾燥し、第4成分とする0次に
、第1成分、第2成分、第3成分、第4成分を下記の第
1表に示した組成比になるように秤量し、ボールミルな
どで20Hr混合した後、乾燥し、ポリビニルアルコー
ルなどの有機バインダーを10wtχ添加して造粒した
後、1 (t/d)のプレス圧力でlOφXlt(m)
の円板状に成形し、10SO℃で8Hr焼成し脱バイン
ダーする0次いで、第1表に示したように温度と時間を
種々変えて焼成(第1焼成)し、その後還元性雰囲気、
例えばN、:H,−9: 1のガス中で温度と時間を種
々変えて焼成(第2焼成)する。さらにその後、酸化性
雰囲気中で温度と時間を種々変えて焼成(第3焼成)す
る。
うに組成比を種々変えて秤量し、ボールミルなどで22
Hr混合する0次に、乾燥した後、下記の第1表に示す
ように温度を種々変えて焼成し、再びボールミルなどで
22)1r粉砕した後、乾燥し、第4成分とする0次に
、第1成分、第2成分、第3成分、第4成分を下記の第
1表に示した組成比になるように秤量し、ボールミルな
どで20Hr混合した後、乾燥し、ポリビニルアルコー
ルなどの有機バインダーを10wtχ添加して造粒した
後、1 (t/d)のプレス圧力でlOφXlt(m)
の円板状に成形し、10SO℃で8Hr焼成し脱バイン
ダーする0次いで、第1表に示したように温度と時間を
種々変えて焼成(第1焼成)し、その後還元性雰囲気、
例えばN、:H,−9: 1のガス中で温度と時間を種
々変えて焼成(第2焼成)する。さらにその後、酸化性
雰囲気中で温度と時間を種々変えて焼成(第3焼成)す
る。
(以下余白)
こうして得られた第1図および第2図に示す焼結体10
両平面に列用を残すようにしてA、などの導電性ペース
トをスクリーン印刷などにより塗布し、570”C,1
3+inで焼成し、電極2.3を形成する0次に、半田
などによりリード線(図示せず)を取り付け、エポキシ
などの樹脂を塗装する。このようにして得られた素子の
特性を下記の第2表に示す。
両平面に列用を残すようにしてA、などの導電性ペース
トをスクリーン印刷などにより塗布し、570”C,1
3+inで焼成し、電極2.3を形成する0次に、半田
などによりリード線(図示せず)を取り付け、エポキシ
などの樹脂を塗装する。このようにして得られた素子の
特性を下記の第2表に示す。
なお、第2表において誘電率は1に七での静電容量から
計算したものであり、αは α= 1 / log(V +oaa/ V tea)
(ただし、V、、A、V、。□は1 mA、 10mA
の電流を流した時に素子の両端にかかる電圧である。)
で評価した。また、サージ耐量はパルス性の電流を印加
した後のV 1mAの変化率が±10%以内である時の
最大のパルス性電流値により評価している。
計算したものであり、αは α= 1 / log(V +oaa/ V tea)
(ただし、V、、A、V、。□は1 mA、 10mA
の電流を流した時に素子の両端にかかる電圧である。)
で評価した。また、サージ耐量はパルス性の電流を印加
した後のV 1mAの変化率が±10%以内である時の
最大のパルス性電流値により評価している。
(以下余白)
また、第1成分の(Srl−18am)、TiO3のX
の範囲を規定したのは、Xが0.001よりも小さいと
効果を示さず、0.300を趙えると格子欠陥が発生し
にくくなるため半導体化が促進されず、粒界に88が単
一相として析出するため組織が不均一になり、VI++
iAが高くなりすぎて特性が劣化するためである。さら
に、aの範囲を規定したのは0.950より小さくなる
とTi単体の結晶が析出し組織が不均一になるため特性
が劣化し、1.000を超えると誘電体の誘電率が小さ
くなるためである。そして、第2成分は0.001wo
fχ未満では効果を示さず、5.000 molχを超
えると粒界に偏析して粒界の高抵抗化を抑制し、粒界に
第2相を形成することから特性が劣化するものである。
の範囲を規定したのは、Xが0.001よりも小さいと
効果を示さず、0.300を趙えると格子欠陥が発生し
にくくなるため半導体化が促進されず、粒界に88が単
一相として析出するため組織が不均一になり、VI++
iAが高くなりすぎて特性が劣化するためである。さら
に、aの範囲を規定したのは0.950より小さくなる
とTi単体の結晶が析出し組織が不均一になるため特性
が劣化し、1.000を超えると誘電体の誘電率が小さ
くなるためである。そして、第2成分は0.001wo
fχ未満では効果を示さず、5.000 molχを超
えると粒界に偏析して粒界の高抵抗化を抑制し、粒界に
第2相を形成することから特性が劣化するものである。
また、第3成分は0.001 molχ未満では効果を
示さず、5.000siolχを趨えると粒界に偏析し
て第2相を形成することから特性が劣化するものである
。さらに、第4成分はCaTiO3と5i02の2成分
系の相図のなかで最も融点の低い領域の物質であり、そ
の範囲外では融点が高くなるものである。また、第4成
分の添加量は、0.001重量部未満では効果を示さず
、10.000重量部を趙えると粒界の抵抗は高くなる
が粒界の幅が厚くなるため、静電容量が小さくなると共
にV、□が高くなり、サージに対して弱くなるものであ
る。さらに、第4成分の焼成温度を規定したのは、低融
点の第4成分が合成される温度が1200℃であるため
である。また、第1焼成の温度を規定したのは、第4成
分の融点が1230〜1250℃であるため、1100
°C以上の温度で焼成すると第4成分が液相に近い状態
になって焼結が促進されるためであり、1100℃未満
では第4成分による液相焼結効果がないためである。さ
らに、第2焼成の温度を規定したのは、1200℃未満
では第1焼成後の焼結体が十分に還元されず、バリスタ
特性、コンデンサ特性が共に劣化するためである。そし
て、第3焼成の温度を規定したのは、900°C未満で
は粒界の高抵抗化が十分に進まないため、V 1mAが
低くなりすぎバリスタ特性が劣化するためであり、13
00°Cを超えると静電容量が小さくなりすぎコンデン
サ特性が劣化するためである。また、第1焼成の雰囲気
は酸化性雰囲気でも還元性雰囲気でも同様の効果がある
ことをfI認した。
示さず、5.000siolχを趨えると粒界に偏析し
て第2相を形成することから特性が劣化するものである
。さらに、第4成分はCaTiO3と5i02の2成分
系の相図のなかで最も融点の低い領域の物質であり、そ
の範囲外では融点が高くなるものである。また、第4成
分の添加量は、0.001重量部未満では効果を示さず
、10.000重量部を趙えると粒界の抵抗は高くなる
が粒界の幅が厚くなるため、静電容量が小さくなると共
にV、□が高くなり、サージに対して弱くなるものであ
る。さらに、第4成分の焼成温度を規定したのは、低融
点の第4成分が合成される温度が1200℃であるため
である。また、第1焼成の温度を規定したのは、第4成
分の融点が1230〜1250℃であるため、1100
°C以上の温度で焼成すると第4成分が液相に近い状態
になって焼結が促進されるためであり、1100℃未満
では第4成分による液相焼結効果がないためである。さ
らに、第2焼成の温度を規定したのは、1200℃未満
では第1焼成後の焼結体が十分に還元されず、バリスタ
特性、コンデンサ特性が共に劣化するためである。そし
て、第3焼成の温度を規定したのは、900°C未満で
は粒界の高抵抗化が十分に進まないため、V 1mAが
低くなりすぎバリスタ特性が劣化するためであり、13
00°Cを超えると静電容量が小さくなりすぎコンデン
サ特性が劣化するためである。また、第1焼成の雰囲気
は酸化性雰囲気でも還元性雰囲気でも同様の効果がある
ことをfI認した。
また、本実施例では添加物の組み合わせについては、第
1成分として(Sr+−xBax)−TiOs (0,
001≦x ≦0.300.0.950≦a<1.00
0>、第2成分としてNbz03 、 Ta t03
、 WJ 、 DyzOs、 y、o、、 Laz03
+ CeO2、Nd20z、第3成分とし7 A It
’3. PbO,CrzOx+ CdO,KzO,Co
zO3CuO,CuzO,MgO,Mn0z、MoOs
、NiO,AgzO,SiC,TlzOsZrO2、第
4成分としてCaTi0.5iftについてのみ示した
が、その他の組み合わせとして第2成分とし7SmzO
+、PrbOzを、また第3成分とし7Sbtos8a
O+ Bed、 LO31F ezo3、Cab、 L
+ t01L+ F + NatO、NaFRhzOs
、 5eat 、 5ift、 SrO,Th0zIT
jOz+ VtOs+ Bi、o、、 ZnO5n島を
用いた組成の組み合わせでも同様の効果が得られること
をV#認した。
1成分として(Sr+−xBax)−TiOs (0,
001≦x ≦0.300.0.950≦a<1.00
0>、第2成分としてNbz03 、 Ta t03
、 WJ 、 DyzOs、 y、o、、 Laz03
+ CeO2、Nd20z、第3成分とし7 A It
’3. PbO,CrzOx+ CdO,KzO,Co
zO3CuO,CuzO,MgO,Mn0z、MoOs
、NiO,AgzO,SiC,TlzOsZrO2、第
4成分としてCaTi0.5iftについてのみ示した
が、その他の組み合わせとして第2成分とし7SmzO
+、PrbOzを、また第3成分とし7Sbtos8a
O+ Bed、 LO31F ezo3、Cab、 L
+ t01L+ F + NatO、NaFRhzOs
、 5eat 、 5ift、 SrO,Th0zIT
jOz+ VtOs+ Bi、o、、 ZnO5n島を
用いた組成の組み合わせでも同様の効果が得られること
をV#認した。
また、第2成分および第4成分については、それぞれ2
種類以上を所定の範囲で組み合わせて用いても差支えな
いことを併せて確認した。
種類以上を所定の範囲で組み合わせて用いても差支えな
いことを併せて確認した。
なお、第1成分、第2成分、第3成分、第4成分を11
00°C以上で焼成するだけでも第4成分が液相となり
、その他の成分の反応を促進すると共に粒子の成長を促
進するため、粒界部分に第3成分が偏析しやすくなり、
粒界が高抵抗化されやすくなり、バリスタ機能およびコ
ンデンサ機能が改善されるという効果がある。
00°C以上で焼成するだけでも第4成分が液相となり
、その他の成分の反応を促進すると共に粒子の成長を促
進するため、粒界部分に第3成分が偏析しやすくなり、
粒界が高抵抗化されやすくなり、バリスタ機能およびコ
ンデンサ機能が改善されるという効果がある。
発明の効果
以上に示したように本発明によれば、第4成分による液
相焼結効果により、粒子径が大きいためバリスタ電圧が
低く、誘電率εおよびαが大きく、粒子径のばらつきが
小さいためサージ電流が素子に均一に流れ、またBaに
よって粒界が効果的に高抵抗化されるため、サージ耐量
が大きくなるという効果が得られる。
相焼結効果により、粒子径が大きいためバリスタ電圧が
低く、誘電率εおよびαが大きく、粒子径のばらつきが
小さいためサージ電流が素子に均一に流れ、またBaに
よって粒界が効果的に高抵抗化されるため、サージ耐量
が大きくなるという効果が得られる。
第1図は本発明による素子を示す上面図、第2図は本発
明による素子を示す断面図である。 l・・・・・・焼結体、2.3・・・・・・電穫。 代理人の氏名 弁理士 粟野重孝 はか1名第 図 第 図
明による素子を示す断面図である。 l・・・・・・焼結体、2.3・・・・・・電穫。 代理人の氏名 弁理士 粟野重孝 はか1名第 図 第 図
Claims (3)
- (1)(Sr_1_−_xBa_x)_aTiO_3(
0.001≦x≦0.300,0.950≦a<1.0
00)を90.000〜99.998mol%、Nb_
2O_5,Ta_2O_5,WO_3,Dy_2O_3
,Y_2O_3,La_2O_3,CeO_2,Sm_
2O_3,Pr_6O_1_1,Nd_2O_3のうち
少なくとも1種類以上を0.001〜5.000mol
%、Al_2O_3,Sb_2O_3,BaO,BeO
,PbO,B_2O_3,Cr_2O_3,Fe_2O
_3,CdO,K_2O,CaO,Co_2O_3,C
uO,Cu_2O,Li_2O,LiF,MgO,Mn
O_2,MoO_3,Na_2O,NaF,NiO,R
h_2O_3,SeO_2,Ag_2O,SiO_2,
SiC,SrO,Tl_2O_3,ThO_2,TiO
_2,V_2O_5,Bi_2O_3,ZnO,ZrO
_2,SnO_2のうち少なくとも1種類以上を0.0
01〜5.000mol%含有してなる主成分100重
量部と、CaTiO_3 60.000〜32.500
mol%,SiO_2 40.000〜67.5mol
%からなる混合物を1200℃以上で焼成してなる添加
物0.001〜10.000重量部とからなることを特
徴とする電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物。 - (2)(Sr_1_−_xBa_x)_aTiO_3(
0.001≦x≦0.300,0.950≦a<1.0
00)を90.000〜99.998mol%、Nb_
2O_3,Ta_2O_5,WO_3,Dy_2O_3
,Y_2O_3,La_2O_3,CeO_2,Sm_
2O_3,Pr_6O_1_1,Nd_2O_3のうち
少なくとも1種類以上を0.001〜5.000mol
%、Al_2O_3,Sb_2O_3,BaO,BeO
,PbO,B_2O_3,Cr_2O_3,Fe_2O
_3,CdO,K_2O,CaO,Co_2O_3,C
uO,Cu_2O,Li_2O,LiF,MgO,Mn
O_2,MoO_3,Na_2O,NaF,NiO,R
h_2O_3,SeO_2,Ag_2O,SiO_2,
SiC,SrO,Tl_2O_3,ThO_2,TiO
_2,V_2O_5,Bi_2O_3,ZnO,ZrO
_2,SnO_2のうち少なくとも1種類以上を0.0
01〜5.000mol%含有してなる主成分100重
量部と、CaTiO_3 60.000〜32.500
mol%,SiO_2 40.000〜67.5mol
%からなる混合物を1200℃以上で焼成してなる添加
物0.001〜10.000重量部とからなる組成物を
、1100℃以上で焼成したことを特徴とするバリスタ
の製造方法。 - (3)(Sr_1_−_xBa_x)_aTiO_3(
0.001≦x≦0.300,0.950≦a<1.0
00)を90.000〜99.998mol%、Nb_
2O_5,Ta_2O_5,WO_3,Dy_2O_3
,Y_2O_3,La_2O_3,CeO_2,Sm_
2O_3,Pr_6O_1_1,Nd_2O_3のうち
少なくとも1種類以上を0.001〜5.000mol
%、Al_2O_3,Sb_2O_3,BaO,BeO
,PbO,B_2O_3,Cr_2O_3,Fe_2O
_3,CdO,K_2O,CaO,Co_2O_3,C
uO,Cu_2O,Li_2O,LiF,MgO,Mn
O_2,MoO_3,Na_2O,NaF,NiO,R
h_2O_2,SeO_2,Ag_2O,SiO_2,
SiC,SrO,Tl_2O_3,ThO_2,TiO
_2,V_2O_5,Bi_2O_3,ZnO,ZrO
_2,SnO_2のうち少なくとも1種類以上を0.0
01〜5.000mol%含有してなる主成分100重
量部と、CaTiO_2 60.000〜32.500
mol%,SiO_2 40.000〜67.5mol
%からなる混合物を1200℃以上で焼成してなる添加
物0.001〜10.000重量部とからなる組成物を
、1100℃以上で焼成した後、還元性雰囲気中で12
00℃以上で焼成し、その後酸化性雰囲気中で900〜
1300℃で焼成したことを特徴とするバリスタの製造
方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2151990A JPH0443605A (ja) | 1990-06-11 | 1990-06-11 | 電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物およびバリスタの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2151990A JPH0443605A (ja) | 1990-06-11 | 1990-06-11 | 電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物およびバリスタの製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0443605A true JPH0443605A (ja) | 1992-02-13 |
Family
ID=15530653
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2151990A Pending JPH0443605A (ja) | 1990-06-11 | 1990-06-11 | 電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物およびバリスタの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0443605A (ja) |
-
1990
- 1990-06-11 JP JP2151990A patent/JPH0443605A/ja active Pending
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