JPH0437923B2 - - Google Patents
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- JPH0437923B2 JPH0437923B2 JP59113609A JP11360984A JPH0437923B2 JP H0437923 B2 JPH0437923 B2 JP H0437923B2 JP 59113609 A JP59113609 A JP 59113609A JP 11360984 A JP11360984 A JP 11360984A JP H0437923 B2 JPH0437923 B2 JP H0437923B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- soldering
- chip component
- land
- area
- soldered
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11360984A JPS60256004A (ja) | 1984-06-01 | 1984-06-01 | チツプ部品のはんだ付検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11360984A JPS60256004A (ja) | 1984-06-01 | 1984-06-01 | チツプ部品のはんだ付検査方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60256004A JPS60256004A (ja) | 1985-12-17 |
JPH0437923B2 true JPH0437923B2 (enrdf_load_stackoverflow) | 1992-06-22 |
Family
ID=14616552
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11360984A Granted JPS60256004A (ja) | 1984-06-01 | 1984-06-01 | チツプ部品のはんだ付検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60256004A (enrdf_load_stackoverflow) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0663751B2 (ja) * | 1986-03-19 | 1994-08-22 | 東京エレクトロン株式会社 | 電子部品の認識方式 |
JPH061165B2 (ja) * | 1986-06-23 | 1994-01-05 | 松下電工株式会社 | チツプ部品外観検査方法 |
JPH0785012B2 (ja) * | 1986-07-26 | 1995-09-13 | シグマツクス株式会社 | 物体認識装置 |
JPH083471B2 (ja) * | 1988-08-03 | 1996-01-17 | 松下電器産業株式会社 | 半田フィレットの検査方法 |
JP4648660B2 (ja) * | 2004-07-21 | 2011-03-09 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 画像の領域分割による物体の表面領域配置の取得 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57163807A (en) * | 1981-04-01 | 1982-10-08 | Mitsubishi Electric Corp | Shape detector |
JPS57208404A (en) * | 1981-06-19 | 1982-12-21 | Hitachi Ltd | Configuration detecting method |
JPS5842906A (ja) * | 1981-09-08 | 1983-03-12 | Eiwa Denki Kk | 光学的外形検査装置 |
JPS58190708A (ja) * | 1982-04-30 | 1983-11-07 | Fuji Electric Co Ltd | X−y2次元画像中の基準位置決定方式 |
-
1984
- 1984-06-01 JP JP11360984A patent/JPS60256004A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS60256004A (ja) | 1985-12-17 |
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