JP4158489B2 - ハンダ付け検査装置 - Google Patents

ハンダ付け検査装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4158489B2
JP4158489B2 JP2002318314A JP2002318314A JP4158489B2 JP 4158489 B2 JP4158489 B2 JP 4158489B2 JP 2002318314 A JP2002318314 A JP 2002318314A JP 2002318314 A JP2002318314 A JP 2002318314A JP 4158489 B2 JP4158489 B2 JP 4158489B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lead
soldering
light
bright
imaging
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2002318314A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2004151010A (ja
Inventor
浩一 北岸
久士 長谷川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Denso Corp
Original Assignee
Denso Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Denso Corp filed Critical Denso Corp
Priority to JP2002318314A priority Critical patent/JP4158489B2/ja
Publication of JP2004151010A publication Critical patent/JP2004151010A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4158489B2 publication Critical patent/JP4158489B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ハンダ付け箇所の検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来から、プリント基板の所定のランド上(電極部)にハンダを印刷し、その上に電子部品等を仮止めしてプリント基板をリフロー炉に通し、電子部品などのハンダ付けを行うリフロー半田付け方法が用いられている。
【0003】
上述したようなハンダ付け製品の検査方法としては、例えば特許文献1に記載される方法が知られている。この検査方法では、多段照明を用いてハンダ付け箇所に対し、順次異なる角度にて光を照射するとともに、ハンダ付け箇所を基板表面の鉛直方向から撮像する。その画像データに基づいて、ハンダ付けにより形成されたハンダフィレットの各照射段に対応した反射光分布を求める。そして、この反射光分布に基づいて、ハンダフィレットの外観形状に対応した稜線を推定し、この稜線データからハンダ付けの良否を判定する。
【0004】
また、特許文献2に記載される検査方法も知られている。この検査方法では、基板上の全てのハンダフィレットに対して、ビームを照射し、この全てのハンダフィレットからの反射光を受光する。そして反射光の総受光量に基づいて、ハンダのフヌレを検出する。
【0005】
【特許文献1】
特開平10−261084号公報
【0006】
【特許文献2】
特開昭63−177042号公報
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、特許文献1、特許文献2のいずれの検査方法においても、撮像方向もしくは照射方向が基板表面に対する鉛直方向に設定されている。この為特に電子部品のリードによって、照射光もしくは反射光が遮られて、リードの近傍におけるハンダフィレットの形状を正確に検出出来ない場合がある。
【0008】
本発明は、上記の点を鑑みてなされたものである。すなわち、基板表面の鉛直方向から所定角度傾斜した斜め方向からの視点で、ハンダ付け箇所を撮像する事により、リードへのハンダのぬれ上がり状態を正確に把握する事で、ハンダ付けの良否判定の精度を向上した検査装置を提供する事を目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】
請求項1に記載のハンダ付け検査装置は、電子部品のリードを基板のランドにハンダ付けした際の、当該ハンダ付けの良否を検査する検査装置であって、
前記リードのハンダ付け箇所に光を照射する光照射手段と、
前記光照射手段からの光が照射された前記ハンダ付け箇所を含む領域を撮像する撮像手段と、
前記撮像手段が撮像した画像から、ハンダ付けの良否を判定する判定手段とを備え、
前記撮像手段は、前記基板表面の鉛直方向から所定角度傾斜した方向からハンダ付け箇所を含む領域を撮像するものであって、
前記光照射手段と前記撮像手段とは、前記撮像手段が撮像した画像において、前記ハンダ表面と前記基板表面とのなす角度が所定角度よりも小さい平坦もしくは平坦に近い面である場合に、その平坦もしくは平坦に近い面が明部となる位置関係に配置され、
前記判定手段は、前記リードの上面先端からランド上の明部位置までの距離が前記リード厚以上であって、前記リードの先端側でかつリード側面近傍のランド部に所定の閾値よりも大きい面積の明部が存在する場合、ハンダ付け箇所を不良と判定することを特徴とする。
【0010】
このように、撮像手段が鉛直方向から所定角度傾斜した方向から、ハンダ付け箇所を撮像出来るように、撮像手段及び光照射手段が配置される。この為、撮像手段によりリードへのハンダぬれ上がり状態をとらえた画像データを取得出来る。そしてその画像データに基づく、ぬれ上がり状態の良否判定は、リードの先端側におけるハンダのぬれ上がり状態に基づいて行なう。すなわち、リードの上面先端からハンダ明部までの距離がリード厚以上であると、ハンダがリードの先端側にぬれ上がる事なく、ランド上で平坦面を形成していたり、ハンダ自体の量が極僅かである可能性がある。この為そのような場合には、更にリード先端側でかつリード側面近傍に明部があるか否か、換言すればその部分のハンダフィレットの傾斜角度を判別する。これによりリードに対して、ハンダフィレットが形成されているか否かを高精度に判別する事が出来る。
【0015】
請求項2に記載のハンダ付け箇所検査装置は、前記撮像手段が、少なくとも前記リードの先端に対向する角度位置を含む複数の角度位置から前記ハンダ付け箇所を含む領域を撮像する事を特徴とする。
【0016】
リードの先端側においては、リード上面先端から明部までの距離とリード厚とを比較するので、これらを画像データから正確に描出する必要がある。この為、撮像手段はリード先端に対向する位置からハンダ付け箇所を撮像する事が好ましい。更に上記したように本発明ではリード側面側のランドの明部の位置に基づいて、ハンダ付けの良否を判別するので、リード先端に対向する角度位置とは異なる角度位置においても、ハンダ付け箇所を撮像する事が好ましいのである。
【0017】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態におけるハンダ付け検査装置100の構成に関して図1を用いて説明する。図1は、本発明に係わるハンダ付け検査装置100の構成を示す構成図である。
【0018】
図1に示す本発明のハンダ付け検査装置100は、リング状ライト1、CCDカメラ2、撮像角度設定装置3、制御装置4から構成されている。また10は被検査体であるハンダ付け箇所10である。
【0019】
リング状ライト1は、請求項で示す光照射手段に相当する。該ライト1は被検査対象であるハンダ付け箇所10に光を照射する照明器具である。リング状ライト1は図1に示すように円形の形状をしており、この円の中心点の略鉛直下に被検査対象であるハンダ付け箇所10が設置され、当該ハンダ付け箇所10の検査領域に対しリング状ライト1の全周から光が照射される。
【0020】
図2はリング状ライト1の光照射の状態を示した説明図である。図2において照射外角aは例えば84°に設定され、照射内角bは45°に設定される。そしてリング状ライト1は照射外角aによる円錐から照射内角bによる円錐の範囲を除いた範囲を照射する。
【0021】
上述の通り、本実施形態では光照射手段をリング状の照明器具として示したが、これに限定するものではなく、略360°の範囲からハンダ付け箇所10の表面に光の照射が出来る器具であるならば、その形状は問わない。
【0022】
CCDカメラ2は、リング状ライト1によって光照射されたハンダ付け箇所10を撮像する撮影機であり、請求項で示す撮像手段である。このCCDカメラ2はデジタルスチルカメラであり、撮像した画像はデジタルデータとして後述する制御装置4に伝送される。
【0023】
撮像角度設定部3は、CCDカメラ2の撮像角度を決定する設定手段である。この撮像角度設定部3が設定する撮像角度とはリング状ライト1の中心から被検査体であるハンダ付け箇所10までの鉛直線(図1のZ軸)に対してαの角度を取る傾斜角度と、ハンダ付け箇所10のリードの長手方向の延長線(図1のX軸)に対してγの角度を取る回転角度との2つの角度があり、撮像角度設定部3は角度α、角度γのどちらをも任意の角度に設定する事が出来る。ただし、共通のハンダ付け箇所10の複数毎の画像を撮像する場合には、傾斜角度αは同一とし、回転角度(γ)のみ変更する。
【0024】
制御装置4は、CCDカメラ2から伝達された画像を処理する画像処理部(不図示)、処理された画像に基づいてハンダ付け箇所10のハンダ付け状態の良否を判定する判定部(不図示)、及び、その判定結果を表示する表示部(不図示)を備える、請求項で示す判定手段である。
【0025】
この制御装置4は周知のCPU、ROM、RAMそして信号入出力部などから構成されるコンピュータであり、リング状ライト1、CCDカメラ2そして撮像角度設定部3と接続されている。
【0026】
CCDカメラ2から伝達された画像データは画像処理部に一旦記憶される。画像処理部は、この記憶した画像データを2値処理(白黒処理)した後に判別部に伝達する。
【0027】
判別部は画像処理部から伝達された2値処理済み画像データに基づき、後述するハンダ付け箇所の良否判定プログラムによる良否判定処理を行い、はんだ付け箇所の良否を判定する。その判定結果情報は表示部に伝達される。
【0028】
表示部は周知の液晶表示装置や陰極線管(CRT)表示装置等から構成される。判別部から伝達される判定結果情報を表示する事により、被検査対象のハンダ付け箇所10の良否を報知する。
【0029】
なお、制御装置4は、ハンダ付け箇所10の良否の報知を表示部にて行うのみでなく、不良の場合、当該ハンダ付け箇所を有する電子部品を自動的に取り除く機構部(不図示)に対して、不良の旨を伝達する信号出力部を備えても良い。
【0030】
次に、被検査対象となるハンダ付け箇所10における良品と不良品とのパターンについて、図3、図4を用いて説明する。図3は、ハンダ付け形状が正常である場合のその概略的なハンダフィレットの形状及び回転角度γを0°、45°、90°として、ハンダ付け箇所を傾斜角度α=45°で撮像した場合の各画像を模式的に示すものである。
【0031】
なお、図3に示すハンダ付け箇所の各模式図において、ピッチの狭い斜線にて描かれている領域が光の反射光量の多い明部である。本実施形態ではリング状ライト1の照明角度を照明外角度a=84°、照明内角度b=45°とし、CCDカメラ2の傾斜角度αが45°に設定されているので、基板に対して1.5〜11.25°または33.75〜43.5°の角度を取るハンダフィレットの表面部分が明部領域となる。
【0032】
正常パターン1はハンダ量が少なく、ハンダぬれ上がり量が少ないタイプである。このタイプはランド端部までハンダがぬれひろがっておらず、ハンダフィレットの裾野部分とランド端部との間に、観察出来るランド面が存在する。これによりこのランド部が光照射によって不完全な明部と化す。この明部の形状は後述する不良パターン3と近似の特徴を持つ。
【0033】
正常パターン2はハンダ量、ハンダぬれ上がり量ともに理想的なタイプである。
【0034】
正常パターン3はハンダ量が多く、リードの長手方向に沿って、ハンダの形状が略凸状となるタイプである。
【0035】
正常パターン4と5とは、正常パターン2と3との中間的なタイプであり、正常パターン4と正常パターン5との違いは、ランドの長さに依存している。
【0036】
次に不良パターン1〜3の特徴を説明する。
【0037】
図4は、ハンダ付け形状が異常であり、ハンダ付け不良とされる各不良パターンを図3と同様にして示すものである。
【0038】
不良パターン1はリードがランドから浮き上がり、リードの下にハンダがフィレットを形成しているタイプである。このタイプはリード側面側や先端側のランド上に1.5°〜11.25°、33.75°〜43.5の角度を持った面を含むフィレットが発生する。すなわち、この面が光照射によって明部と化す部分である。また、ハンダがリードにぬれ上がっていないので、リード端面が観察出来る事が上述した各正常パターンとの違いである。
【0039】
不良パターン2はリードがハンダをはじき、リードの周囲のランドにハンダが盛り上がっているタイプである。このためリード側面側、及びリード先端側のランド上に凸部を持ったハンダフィレットが形成される事が各正常パターンとの違いである。
【0040】
そしてその凸部の頂上付近が1.5°〜11.25の角度を含んでおり、この部分が光照射によって明部と化す部分である。
【0041】
不良パターン3はハンダがランド上に無い、もしくは極微量であるタイプである。このタイプはランドの全面が観察出来る。この部分は基板に対して水平、すなわち0°なので、明部となす下限角度1.5°以下ではあるが、その角度差が僅かな事から、不完全ながらも明部と化す事があり、この不完全な明部の形状の特徴が前述した正常パターン1と近似する事がある。
【0042】
上述したように、不良パターン1〜3のいずれも平坦から平坦に近い面を有しており、この略平坦面に形成される明部の位置及びその大きさによって、不良パターン1〜3を正常パターン1〜5から識別する事が出来る。
【0043】
図5は、上述した構成のハンダ付け検査装置100の制御装置4において、各不良パターン1〜3の光学的共通特徴を利用したハンダ付け箇所10の良否判定に関する処理を示したフローチャートである。
【0044】
図5のステップS1では、被検査対象のハンダ付け箇所10のリードの左右それぞれの側面、すなわち回転角度γ=90°、−90°にて撮像した2枚の2値処理済み画像を読み込む。ステップS2で、リード先端部、すなわち回転角度γ=0°の2値処理済み画像を読み込む。ステップS3で当該左右側面部に存在する明部の面積をそれぞれ計測し、ステップS4で閾値となる判別用のリード側面部における明部の面積データを読み出す。
【0045】
そしてステップS5にてステップS3で計測した左右それぞれの明部面積のデータと、ステップS4で読み出した閾値となる面積データとを各々比較し、計測した左右側面部の明部面積データのどちらか一方でも、閾値面積データより大きい場合は、不良パターン1と2とが持つ明部特徴に該当するので、被検査対象のハンダ付け箇所10は不良と判定する。そしてステップS16に移行し、その旨を表示部にて表示させる。
【0046】
左右の側面部の明部面積データのどちらも閾値面積データよりも小さい場合、すなわち正常パターン1〜と不良パターン3の特徴を持つハンダ付け箇所である場合、ステップS6に移行する。
【0047】
このステップS5の処理にて、上述した不良パターン1、2を識別する事が出来る。すなわち、図3に示すように、正常パターン1〜5のいずれにおいてもリードの左右の側面部に明部が発生する事はない。従ってリードの左右の側面部において、閾値面積以上の明部が検知された場合には、不良パターン1、2に該当するものと判定する事が出来る。なおこの時、明部そのものの存否ではなく明部面積が閾値面積以上であるか否かを判定するのは、各正常パターンによるハンダフィレット形状であってもリードの左右の側面部にはわずかな面積だが明部が存在する事があるからである。なお、図4にリードの左右の側面部の明部面積を判定する場合の対象範囲を示す。
【0048】
ステップS6でハンダ付け箇所のリード上面端部からハンダフィレット明部までの距離を測距し、ステップS7にてリード厚さデータを読み出し、ステップS8で測距値とリード厚さデータとを比較する。
【0049】
このステップにて、測距値がリード厚さデータ以上であるなら、ハンダはリード端部に対してぬれ上がっていない可能性がある。このような関係は正常パターン1と不良パターン1〜3が持つ明部特徴に該当する。ただし不良パターン1、2については、原則としてステップS5にて、ハンダ付け不良と判定されるので、正常パターン1と不良パターン3とを区別する為にステップS9〜ステップS11の処理を行う。不良パターン3にはもともとぬれ上がるハンダが存在しないが、正常パターン1はぬれ上がりの面積が狭いだけでぬれあがってはいる。しかし、ぬれあがりハンダの量が少ないので、ランド部が観察出来てしまい、このランド部が明部となるので不良パターン3と区別しがたくなっている。
【0050】
リード先端部の画像に基づいて、ステップS10にてリード先端部の近傍でかつ、リード側面側のランド部における明部の面積を計測する。この明部面積を計測する為の対象範囲を図6(a)(b)に示す。ステップS11で計測面積データと読み出した閾値面積データとを比較する。そして計測面積データの方が閾値面積データより大きい場合は、不良パターン3の明部特徴である、ランド部が明部と化している事を示すので、ステップS16に移行し、被検査対象のハンダ付け箇所10は不良と判定し、その旨を表示部に表示する。
【0051】
ステップS8にて計測距離がリード厚さデータ以下であると判定された場合及び、ステップS11にて、明部の計測面積が判別面積データよりも小さいと判定した場合には、ステップS12に進む。ステップS12ではリードとランドとのズレの許容限界値であるズレ閾値を読み出す。ステップS13ではリードとランドとのズレ幅を計測する。そしてステップS14にて計測したズレ幅とズレ幅の閾値とを比較し、計測したズレ幅が大きい場合には、ステップS16に進み、小さい場合にはステップS15に進む。(図7参照)ズレ幅の閾値は例えばリード幅の約半分などが適当である。
【0052】
これによりハンダ付け箇所10の良否判定の精度を更に向上させる。
【0053】
ステップS15またはステップS16にて正常、不良の判定表示を行った後は、ステップS17にて次に判定が必要なハンダ付け箇所10が存在するか否かを判定し、存在すればステップS1に戻り、存在しなければ本フローを終了する。(変形例)
次に、前述した実施形態にかかるハンダ付け検査装置100の変形例について説明する。ハンダ付き検査装置100は、ハンダ付き部の明部を計測する部位、例えばリード側面部またはリード端部の画像を、対向する方向から撮像した画像すると2値処理した際のにじみやぼやけ等により、正確な明部面積を計測する事が困難な事がある。
【0054】
この為、図3に示すように水平方向に向かって撮像角度を変更した画像を1〜数枚撮像し、これら複数の画像に現れる明部の面積を各々計測し、その平均値を最終的な明部の面積とする事により、1つの対向画像によってのみ計測する事による計測誤差を低減する事が出来る。
【0055】
なお上述の通り、同一部位を異なる水平撮像角度にて撮像した複数画像を用い、明部面積の計測値の誤差を小さくする計測部位は側面部に限るものではない。
【0056】
このようにして、複数の画像を用いる事で正確な明部の面積が取得出来る事により、より精度の高い明部面積データが取得出来るので、精度の高いハンダ付け箇所10の良否判定が行えるようになる。
【図面の簡単な説明】
【図1】は、本発明のハンダ付け検査装置100の概略構成を示す斜視図である。
【図2】は、リング上ライト1が照射する光の外角aと内角bとの関係を説明する説明図である。
【図3】は、被検査対象のハンダ付け箇所10の正常パターンを示す説明図である。
【図4】は、被検査対象のハンダ付け箇所10の不良パターンを示す説明図である。
【図5】は、本発明のハンダ付け箇所10の良否を判定する判定処理を示したフローチャートである。
【図6】は、リード端部を側面から撮像した画像での正常パターン1と不良パターン3との明部特徴を表した説明図である。
【図7】は、リード端部を対向して撮像した画像でのリードズレ状態を表した説明図である。
【符号の説明】
1 リング状ライト(光照射手段)
2 CCDカメラ(撮像手段)
3 撮像角度設定部(撮像手段)
4 検査装置本体(判定手段)
10 ハンダ付け箇所
100 ハンダ付き検査装置

Claims (2)

  1. 電子部品のリードを基板のランドにハンダ付けした際の、当該ハンダ付けの良否を検査する検査装置であって、
    前記リードのハンダ付け箇所に光を照射する光照射手段と、
    前記光照射手段からの光が照射された前記ハンダ付け箇所を含む領域を撮像する撮像手段と、
    前記撮像手段が撮像した画像から、ハンダ付けの良否を判定する判定手段とを備え、
    前記撮像手段は、前記基板表面の鉛直方向から所定角度傾斜した方向からハンダ付け箇所を含む領域を撮像するものであって、
    前記光照射手段と前記撮像手段とは、前記撮像手段が撮像した画像において、前記ハンダ表面と前記基板表面とのなす角度が所定角度よりも小さい平坦もしくは平坦に近い面である場合に、その平坦もしくは平坦に近い面が明部となる位置関係に配置され、
    前記判定手段は、前記リードの上面先端からランド上の明部位置までの距離が前記リード厚以上であって、前記リードの先端側でかつリード側面近傍のランド部に所定の閾値よりも大きい面積の明部が存在する場合、ハンダ付け箇所を不良と判定することを特徴とするハンダ付け検査装置。
  2. 前記撮像手段は、少なくとも前記リードの先端に対向する角度位置を含む複数の角度位置から前記ハンダ付け箇所を含む領域を撮像することを特徴とする請求項1に記載のハンダ付け検査装置。
JP2002318314A 2002-10-31 2002-10-31 ハンダ付け検査装置 Expired - Fee Related JP4158489B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002318314A JP4158489B2 (ja) 2002-10-31 2002-10-31 ハンダ付け検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002318314A JP4158489B2 (ja) 2002-10-31 2002-10-31 ハンダ付け検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2004151010A JP2004151010A (ja) 2004-05-27
JP4158489B2 true JP4158489B2 (ja) 2008-10-01

Family

ID=32461473

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002318314A Expired - Fee Related JP4158489B2 (ja) 2002-10-31 2002-10-31 ハンダ付け検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4158489B2 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8629557B2 (en) 2012-03-08 2014-01-14 International Business Machines Corporation Structures and methods for detecting solder wetting of pedestal sidewalls
JP5874508B2 (ja) 2012-04-17 2016-03-02 オムロン株式会社 はんだの濡れ上がり状態の検査方法およびこの方法を用いた自動外観検査装置ならびに基板検査システム
US10688578B2 (en) * 2014-08-04 2020-06-23 OK International, Inc Variable temperature controlled soldering iron

Also Published As

Publication number Publication date
JP2004151010A (ja) 2004-05-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4103921B2 (ja) フィレット検査のための検査基準データの設定方法、およびこの方法を用いた基板外観検査装置
JP5874508B2 (ja) はんだの濡れ上がり状態の検査方法およびこの方法を用いた自動外観検査装置ならびに基板検査システム
JP4493421B2 (ja) プリント回路基板検査装置とプリント回路基板組み立て検査ラインシステムおよびプログラム
US7664311B2 (en) Component mounting board inspecting apparatus
JP2007033048A (ja) はんだ接合判定方法,はんだ検査方法,はんだ検査装置およびはんだ検査用プログラムならびに記録媒体
JP6277754B2 (ja) 品質管理システムおよび内部検査装置
JP2011158363A (ja) Pga実装基板の半田付け検査装置
JP4158489B2 (ja) ハンダ付け検査装置
KR20060094844A (ko) 범프 검사 장치 및 방법
US6762428B2 (en) Cream solder inspection method and apparatus therefor
JP2012002681A (ja) 半田検査方法
JP2007242944A (ja) はんだ濡れ性評価装置およびはんだ濡れ性評価方法
JP2003224354A (ja) 半田付け外観検査方法および半田付け外観検査装置
JPH04104044A (ja) 半田ペーストの印刷状態検査装置
JPH0437923B2 (ja)
JP2000097882A (ja) X線検査方法及びx線検査装置
JPH11198343A (ja) クリーム半田印刷検査方法
JP4030914B2 (ja) 外観検査装置
JPH07159338A (ja) はんだ付け検査方法
JP2008157749A (ja) 検査装置
JP2601232B2 (ja) Icリードずれ検査装置
JPS63167208A (ja) 表面凹凸検査装置
KR19990087848A (ko) 검사영역작성방법및외관검사방법
JPH03245548A (ja) 半田付け検査装置
JPH04282406A (ja) はんだ付検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050303

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20071115

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080115

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080228

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080401

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080520

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20080624

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20080707

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110725

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120725

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120725

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130725

Year of fee payment: 5

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees