JPH04355366A - 成分純度検定方法 - Google Patents
成分純度検定方法Info
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- JPH04355366A JPH04355366A JP15542691A JP15542691A JPH04355366A JP H04355366 A JPH04355366 A JP H04355366A JP 15542691 A JP15542691 A JP 15542691A JP 15542691 A JP15542691 A JP 15542691A JP H04355366 A JPH04355366 A JP H04355366A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、高速液体クロマトグラ
フを利用して成分の純度を検定する方法に関する。
フを利用して成分の純度を検定する方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】高速液体クロマトグラフから溶出された
成分の純度は、その溶出特性がピ−ク点に対して対称で
あるという性質を積極的に利用して、図５に示したよう
にピ−ク頂点を対称点ａとｂの２つの吸光度との比を求
めることにより行なわれていた。すなわち、純粋な物質
であれば対称性が高いためその比が１に極めて近くなり
、また不純物が含まれていると一方側の形状が異なって
対称性が無くなるのでその比が１から遠ざかることにな
る。したがってこれらの比を求めることにより同一ピ−
クを構成している成分の純度を検定することが可能とな
る。
成分の純度は、その溶出特性がピ−ク点に対して対称で
あるという性質を積極的に利用して、図５に示したよう
にピ−ク頂点を対称点ａとｂの２つの吸光度との比を求
めることにより行なわれていた。すなわち、純粋な物質
であれば対称性が高いためその比が１に極めて近くなり
、また不純物が含まれていると一方側の形状が異なって
対称性が無くなるのでその比が１から遠ざかることにな
る。したがってこれらの比を求めることにより同一ピ−
クを構成している成分の純度を検定することが可能とな
る。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら一方の採
用点を点ａにとり、また他方の採用点をピ−クに対して
対称なｂ点に取ると、図に示した挾雑成分によるピ−ク
Ｃの吸光度が検定用データに含まれなくなって、検定結
果に誤差を含むことになる。このため、信頼性が高い検
定結果を得るためには経験を必要とするという問題があ
る。本発明はこのような問題に鑑みてなされたものであ
って、その目的とするところは短時間に信頼性の高い測
定結果を得ることができる成分純度検定方法を提案する
ことにある。
用点を点ａにとり、また他方の採用点をピ−クに対して
対称なｂ点に取ると、図に示した挾雑成分によるピ−ク
Ｃの吸光度が検定用データに含まれなくなって、検定結
果に誤差を含むことになる。このため、信頼性が高い検
定結果を得るためには経験を必要とするという問題があ
る。本発明はこのような問題に鑑みてなされたものであ
って、その目的とするところは短時間に信頼性の高い測
定結果を得ることができる成分純度検定方法を提案する
ことにある。
【０００４】
【課題を解消するための手段】このような問題を解消す
るために本発明においては、分離分析手段から溶出され
た単一ゾーンを複数波長でその吸光度の時間的変化を測
定する工程と、前記複数波長により構成される三次元ク
ロマトグラムの全体積を求める工程と、主成分に起因す
るピ−クのみの体積を求める工程と、前記両工程の体積
を比較する工程を備えるようにした。
るために本発明においては、分離分析手段から溶出され
た単一ゾーンを複数波長でその吸光度の時間的変化を測
定する工程と、前記複数波長により構成される三次元ク
ロマトグラムの全体積を求める工程と、主成分に起因す
るピ−クのみの体積を求める工程と、前記両工程の体積
を比較する工程を備えるようにした。
【０００５】
【作用】三次元クロマトグラムの全体の体積と主成分の
ピ−クに基づくピ−クの体積とを比較するから、全ての
時間的、波長的な要素を加味したデータを検定データに
用いることになり、人的な判断要素の介入がなくなって
客観的な判定結果を得ることができる。
ピ−クに基づくピ−クの体積とを比較するから、全ての
時間的、波長的な要素を加味したデータを検定データに
用いることになり、人的な判断要素の介入がなくなって
客観的な判定結果を得ることができる。
【０００６】
【実施例】そこで以下に本発明の詳細を図示した実施例
に基づいて説明する。図１は、本発明に使用する装置の
一実施例を示すものであって、図中符号１は、高速液体
クロマトグラフで、分析用カラム２の流入口には試料注
入機構３を介して送液ポンプ４が接続され、タンク５に
収容されている移動相液を試料注入機構３を経由させて
分析用カラム２に送出するように構成されている。分析
用カラム２の排出口には後述する分光分析用セル６が接
続されていて、分析用カラム２から分離された成分をセ
ル６に送り込むようになっている。６は、前述の分光分
析用セルで、例えば重水素放電ランプやタングステンハ
ロゲンランプなどの多波長成分を含む光源７、集光ミラ
ー８、及び回折分光器９により構成した分光光路１０内
に配置されている。回折分光器９の出射側にはフォトダ
イオード１１，１１，１１…を一列に配列したフォトダ
イオードアレイからなる受光器１２を配置して、分光器
９からの各波長λ１、λ２、λ３、λ４の強度を電気信
号に変換するようになっており、また分光器９と受光器
１２を恒温槽１３に収容して温度変化による測定誤差を
無くするようになっている。受光器１２からの各スペク
トル信号は、スキャナ１４を介してデータ処理装置１５
に出力している。このデータ処理装置１５は、マイクロ
コンピュータにより構成され、各測定波長により検出さ
れたピ−クの面積と波長間隔との積の値、及びメインピ
−クに起因する体積を演算し、これらの比を出力するよ
うに構成されている。
に基づいて説明する。図１は、本発明に使用する装置の
一実施例を示すものであって、図中符号１は、高速液体
クロマトグラフで、分析用カラム２の流入口には試料注
入機構３を介して送液ポンプ４が接続され、タンク５に
収容されている移動相液を試料注入機構３を経由させて
分析用カラム２に送出するように構成されている。分析
用カラム２の排出口には後述する分光分析用セル６が接
続されていて、分析用カラム２から分離された成分をセ
ル６に送り込むようになっている。６は、前述の分光分
析用セルで、例えば重水素放電ランプやタングステンハ
ロゲンランプなどの多波長成分を含む光源７、集光ミラ
ー８、及び回折分光器９により構成した分光光路１０内
に配置されている。回折分光器９の出射側にはフォトダ
イオード１１，１１，１１…を一列に配列したフォトダ
イオードアレイからなる受光器１２を配置して、分光器
９からの各波長λ１、λ２、λ３、λ４の強度を電気信
号に変換するようになっており、また分光器９と受光器
１２を恒温槽１３に収容して温度変化による測定誤差を
無くするようになっている。受光器１２からの各スペク
トル信号は、スキャナ１４を介してデータ処理装置１５
に出力している。このデータ処理装置１５は、マイクロ
コンピュータにより構成され、各測定波長により検出さ
れたピ−クの面積と波長間隔との積の値、及びメインピ
−クに起因する体積を演算し、これらの比を出力するよ
うに構成されている。
【０００７】このように構成された装置において、送液
ポンプ４によりタンク５内の移動相をカラム２に送液し
た状態で試料注入機構３に試料を注入すると、試料に含
まれている各成分は分析カラム２により決るリテンショ
ンタイムでもってゾーンを形成してカラム２から順次排
出され、分光分析用セル６に流入する。分光分析用セル
６に流入した各ゾーンを形成する成分は、分析光路１０
の光を受けて成分により決る波長の光を吸収する。セル
６を出た光は回折分光器９により波長λ１、λ２、λ３
、λ４の成分に分光され、各波長に対応して配置されて
いるフォトダイオード１１，１１，１１…に入射する。 各波長λ１、λ２、λ３、λ４の光は、その強度を電気
信号に変換されてスキャナー１４を介して信号処理装置
１５に出力される。いうまでもなく、分析用カラム２か
ら排出されるゾーンを構成している成分の濃度は、時間
的に変化するから、各スペクトル光も時間とともに変化
し、その結果波長λ１、λ２、λ３、λ４毎の吸光度は
、図２に示したように波長λ１、λ２、λ３、λ４をパ
ラメータとしたピ−ク波形として三次元的に表示される
。つまり時間軸をＸ軸に、波長をＹ軸に、吸光度をＺ軸
にした３次元のクロマトグラムが得らることになる。と
ころで、分析用カラム２から排出されたゾーンが単一成
分で構成されている場合には、各波長のクロマトグラム
も単一のピ−クとなるが、ゾーンに挾雑成分が含まれて
いる場合には、挾雑成分が主成分溶出時間と若干時間差
を有するとともに、吸光特性も異なるから、各波長毎に
主成分のピ−クＰに付属する第２のピ−クＰ’が発生す
ることになる。 データ処理装置１５は、各波長λ１、λ２、λ３、λ４
のそれぞれのピ−ク波形を時間軸でスライスし、各波長
毎の吸光度の和を求め、この和と波長間隔Δλとの積Ｓ
１を演算する。このような操作を時間軸全体にわたって
実行し、各面積Ｓ１、Ｓ２、Ｓ３…（図３）を求め、こ
れにサンプリング毎の時間差ΔＴを乗算したものの和、
つまりＶ１＝Ｓ１ΔＴ＋Ｓ２ΔＴ＋…＋ＳｎΔＴを算出
する。これにより図２に示す挾雑物を含む三次元クロマ
トグラムの全体の体積Ｖ１が求まることになる。
ポンプ４によりタンク５内の移動相をカラム２に送液し
た状態で試料注入機構３に試料を注入すると、試料に含
まれている各成分は分析カラム２により決るリテンショ
ンタイムでもってゾーンを形成してカラム２から順次排
出され、分光分析用セル６に流入する。分光分析用セル
６に流入した各ゾーンを形成する成分は、分析光路１０
の光を受けて成分により決る波長の光を吸収する。セル
６を出た光は回折分光器９により波長λ１、λ２、λ３
、λ４の成分に分光され、各波長に対応して配置されて
いるフォトダイオード１１，１１，１１…に入射する。 各波長λ１、λ２、λ３、λ４の光は、その強度を電気
信号に変換されてスキャナー１４を介して信号処理装置
１５に出力される。いうまでもなく、分析用カラム２か
ら排出されるゾーンを構成している成分の濃度は、時間
的に変化するから、各スペクトル光も時間とともに変化
し、その結果波長λ１、λ２、λ３、λ４毎の吸光度は
、図２に示したように波長λ１、λ２、λ３、λ４をパ
ラメータとしたピ−ク波形として三次元的に表示される
。つまり時間軸をＸ軸に、波長をＹ軸に、吸光度をＺ軸
にした３次元のクロマトグラムが得らることになる。と
ころで、分析用カラム２から排出されたゾーンが単一成
分で構成されている場合には、各波長のクロマトグラム
も単一のピ−クとなるが、ゾーンに挾雑成分が含まれて
いる場合には、挾雑成分が主成分溶出時間と若干時間差
を有するとともに、吸光特性も異なるから、各波長毎に
主成分のピ−クＰに付属する第２のピ−クＰ’が発生す
ることになる。 データ処理装置１５は、各波長λ１、λ２、λ３、λ４
のそれぞれのピ−ク波形を時間軸でスライスし、各波長
毎の吸光度の和を求め、この和と波長間隔Δλとの積Ｓ
１を演算する。このような操作を時間軸全体にわたって
実行し、各面積Ｓ１、Ｓ２、Ｓ３…（図３）を求め、こ
れにサンプリング毎の時間差ΔＴを乗算したものの和、
つまりＶ１＝Ｓ１ΔＴ＋Ｓ２ΔＴ＋…＋ＳｎΔＴを算出
する。これにより図２に示す挾雑物を含む三次元クロマ
トグラムの全体の体積Ｖ１が求まることになる。
【０００８】次いで、メインピ−クを構成している成分
だけでサンプルが構成されていると仮定した場合の三次
元クロマトグラムの体積を求めるのであるが、純度１０
０パーセントの成分のピ−クは、模式的には伏摺り鉢状
となるから、波長方向で、また時間軸方向でスライスし
ても単一のピ−クを持つことになる。そこで、図２に示
された三次元クロマトグラムの内、主成分に起因するピ
−クをそのピ−ク頂点となる時間でスライスする。そし
てこの図形の各波長λ１、λ２、λ３、λ４での吸光度
を求め、これら吸光度に波長間隔Δλを乗算すると、ピ
−ク頂点となる時間での三次元クロマトグラムの断面積
Ｓｐが求まる。一方、ピ−ク頂点から時間ΔＴだけずれ
ると、単一成分によるピ−ク各吸光度との比に比例して
その面積も小さくなり、またその減少する比率は時間で
のピ−ク波形の各時間の吸光度β１、β２、β３…との
比、つまりβ１／α、β２／α、β３／α…に比例する
から（図４）、各時間での断面積は（β１／α）Ｓｐ、
（β２／α）Ｓｐ、…（βｎ／α）Ｓｐとなる。したが
ってこれらの断面積に時間差ΔＴを乗算し、これらの和
、つまりＶ２＝（β１／α）ＳｐΔＴ＋（β２／α）Ｓ
ｐΔＴ＋‥‥＋（β１９／α）ＳｐΔＴを演算すること
により、単一成分による三次元クロマトグラムの体積Ｖ
２が求まることになる。
だけでサンプルが構成されていると仮定した場合の三次
元クロマトグラムの体積を求めるのであるが、純度１０
０パーセントの成分のピ−クは、模式的には伏摺り鉢状
となるから、波長方向で、また時間軸方向でスライスし
ても単一のピ−クを持つことになる。そこで、図２に示
された三次元クロマトグラムの内、主成分に起因するピ
−クをそのピ−ク頂点となる時間でスライスする。そし
てこの図形の各波長λ１、λ２、λ３、λ４での吸光度
を求め、これら吸光度に波長間隔Δλを乗算すると、ピ
−ク頂点となる時間での三次元クロマトグラムの断面積
Ｓｐが求まる。一方、ピ−ク頂点から時間ΔＴだけずれ
ると、単一成分によるピ−ク各吸光度との比に比例して
その面積も小さくなり、またその減少する比率は時間で
のピ−ク波形の各時間の吸光度β１、β２、β３…との
比、つまりβ１／α、β２／α、β３／α…に比例する
から（図４）、各時間での断面積は（β１／α）Ｓｐ、
（β２／α）Ｓｐ、…（βｎ／α）Ｓｐとなる。したが
ってこれらの断面積に時間差ΔＴを乗算し、これらの和
、つまりＶ２＝（β１／α）ＳｐΔＴ＋（β２／α）Ｓ
ｐΔＴ＋‥‥＋（β１９／α）ＳｐΔＴを演算すること
により、単一成分による三次元クロマトグラムの体積Ｖ
２が求まることになる。
【０００９】もとより分析用カラムから溶出した成分が
挾雑物を含んでいない場合には、単一のピ−クとなるか
ら、上記２つの体積Ｖ１，Ｖ２との比Ｖ１／Ｖ２が１と
なり、また挾雑物が含まれている場合には挾雑成分に起
因する体積分だけ全体積が大きくなるから比は、１より
も小さくなる。いうまでもなく、これら体積の演算には
クロマトグラムを構成している時間要素と波長要素の両
方が加味されているから、この比は極めて客観的なデー
タで、挾雑物の有無を極めて高い信頼性で判定すること
ができる。なお、この実施例においては液体クロマトグ
ラフに例を採って説明したが、ガスクロマトグラフ等他
の分離分析法に適用しても同様の作用を奏することは明
らかである。
挾雑物を含んでいない場合には、単一のピ−クとなるか
ら、上記２つの体積Ｖ１，Ｖ２との比Ｖ１／Ｖ２が１と
なり、また挾雑物が含まれている場合には挾雑成分に起
因する体積分だけ全体積が大きくなるから比は、１より
も小さくなる。いうまでもなく、これら体積の演算には
クロマトグラムを構成している時間要素と波長要素の両
方が加味されているから、この比は極めて客観的なデー
タで、挾雑物の有無を極めて高い信頼性で判定すること
ができる。なお、この実施例においては液体クロマトグ
ラフに例を採って説明したが、ガスクロマトグラフ等他
の分離分析法に適用しても同様の作用を奏することは明
らかである。
【００１０】
【発明の効果】以上説明したように本発明においては、
分離分析手段から溶出された単一ゾーンを複数波長でそ
の吸光度の時間的変化を測定する工程と、複数波長によ
り構成される三次元クロマトグラムの全体積を求める工
程と、主成分に起因するピ−クのみの体積を求める工程
と、これら両工程の体積を比較する工程とを備えたので
、波長全体のスペクトルを綜合して判断できて、判定ポ
イントの選択による個人差をなくして純度を高い信頼性
で検定することができる。
分離分析手段から溶出された単一ゾーンを複数波長でそ
の吸光度の時間的変化を測定する工程と、複数波長によ
り構成される三次元クロマトグラムの全体積を求める工
程と、主成分に起因するピ−クのみの体積を求める工程
と、これら両工程の体積を比較する工程とを備えたので
、波長全体のスペクトルを綜合して判断できて、判定ポ
イントの選択による個人差をなくして純度を高い信頼性
で検定することができる。
【図１】本発明に使用する装置の一例を示す構成図であ
る。
る。
【図２】同上装置により得た挾雑成分を含むゾーンの３
次元クロマトグラムの一例を示す図である。
次元クロマトグラムの一例を示す図である。
【図３】上記三次元クロマトグラムを時間軸によりスラ
イスしたピ−ク図形を示す線図である。
イスしたピ−ク図形を示す線図である。
【図４】単一ゾーンを構成している主成分のみによるピ
−クの体積を算出する過程を示す説明図である。
−クの体積を算出する過程を示す説明図である。
【図５】分離分析手段から排出された単一ゾーンの純度
を検定する従来の方法を示す説明図である。
を検定する従来の方法を示す説明図である。
Claims (1)
- 【請求項１】 分離分析手段から溶出された単一ゾー
ンを複数波長でその吸光度の時間的変化を測定する工程
と、前記複数波長により構成される三次元クロマトグラ
ムの全体積を求める工程と、主成分に起因するピ−クの
みの体積を求める工程と、前記両工程の体積を比較する
工程からなる成分純度検定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15542691A JPH04355366A (ja) | 1991-05-31 | 1991-05-31 | 成分純度検定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15542691A JPH04355366A (ja) | 1991-05-31 | 1991-05-31 | 成分純度検定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04355366A true JPH04355366A (ja) | 1992-12-09 |
Family
ID=15605754
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15542691A Pending JPH04355366A (ja) | 1991-05-31 | 1991-05-31 | 成分純度検定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04355366A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7144740B2 (en) * | 2000-12-08 | 2006-12-05 | Council Of Scientific And Industrial Research | Method for chromatographic finger printing and standardization of single medicines and formulations |
| US7662638B2 (en) * | 2001-02-08 | 2010-02-16 | Council Of Scientific And Industrial Research | Method for chromatographic finger printing and standardization of single medicines and formulations |
| JP2011185743A (ja) * | 2010-03-09 | 2011-09-22 | Shimadzu Corp | クロマトグラムピーク純度判定装置 |
| JP2013171014A (ja) * | 2012-02-23 | 2013-09-02 | Shimadzu Corp | クロマトグラフ用データ処理装置及びデータ処理方法 |
| WO2014087770A1 (ja) * | 2012-12-07 | 2014-06-12 | 株式会社島津製作所 | クロマトグラフ用データ処理装置及びデータ処理方法 |
| JP2014219379A (ja) * | 2013-04-09 | 2014-11-20 | 株式会社島津製作所 | クロマトグラフ用データ処理装置及びデータ処理方法 |
| JP2016017941A (ja) * | 2014-07-11 | 2016-02-01 | 株式会社島津製作所 | クロマトグラフ用データ処理装置及びデータ処理方法並びにクロマトグラフ分析システム |
| CN105659081A (zh) * | 2013-10-16 | 2016-06-08 | 株式会社岛津制作所 | 色谱数据处理装置 |
-
1991
- 1991-05-31 JP JP15542691A patent/JPH04355366A/ja active Pending
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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