JPH04302045A - 障害診断システム - Google Patents

障害診断システム

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JPH04302045A
JPH04302045A JP3065191A JP6519191A JPH04302045A JP H04302045 A JPH04302045 A JP H04302045A JP 3065191 A JP3065191 A JP 3065191A JP 6519191 A JP6519191 A JP 6519191A JP H04302045 A JPH04302045 A JP H04302045A
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Reiko Ishihara
令子 石原
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、メモリを診断するメモ
リ診断方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、プリンタなどのメモリ部の初期診
断は、メモリ上の各アドレスにデータを書き込んだ後、
データを読み出し、書き込んだ値に一致するか否かによ
って行っていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】このメモリ部の初期診
断では、ハードウェアのアドレスバスに障害がった場合
、期待しているアドレスがアクセスされていないにも係
わらず、書き込んだ値と読み出した値とが一致し、診断
結果が良好であるように診断されてしまうという問題が
あった。
【0004】本発明は、メモリ部へのアドレス線の障害
も合わせてチェック可能にすることを目的としている。
【0005】
【課題を解決するための手段】図1を参照して課題を解
決するための手段を説明する。図1において、メモリ1
は、診断対象のメモリである。アドレス線2は、メモリ
1にデータをアクセスするための信号線である。診断ア
ドレス用レジスタA0は、いずれかのビットを1にした
診断用のアドレスを設定するレジスタである。
【0006】診断データ用レジスタD0は、診断データ
を設定するレジスタである。期待値用レジスタD00は
、期待値を設定するレジスタである。
【0007】
【作用】本発明は、図1に示すように、診断アドレス用
レジスタA0からアドレス線2のビットのいずれか1つ
を1にしたアドレスをメモリ1に供給して診断データ用
レジスタD0に設定した異なるデータを書き込んだ後、
全てのビットが0のアドレスをメモリ1に供給して読み
出すことを全てのアドレス線2のビットについて繰り返
し行い、読み出した値が初期値(例えば0)以外のとき
にメモリ1の当該ビット自身あるいはビット線が障害と
診断するようにしている。また、メモリ1に異なるデー
タの書き込みを終了した後、診断アドレス用レジスタA
0からのアドレスをメモリ1に供給して読み出した値と
期待値用レジスタD00の値とを比較することを繰り返
し行い、一致しないときにこのときに書き込んだ値のビ
ットと読み出した値のビットとが連結障害していると診
断するようにしている。
【0008】従って、メモリ1のチェックおよびアドレ
ス線2の障害を合わせて診断することが可能となる。
【0009】
【実施例】次に、図1ないし図8を用いて本発明の実施
例の構成および動作を順次詳細に説明する。図1におい
て、メモリ1は、診断対象のメモリであって、ここでは
説明を簡単にするためにA0ないしA3の4ビットのア
ドレスおよびチップセレクト信号aないしdによって選
択するようにしたメモリである。チップセレクト信号a
ないしdは、アドレスA4、A5をデコーダでデコード
して生成する。
【0010】アドレス線2は、プロセッサ4がメモリ1
をアクセスするためのアドレスを送出する信号線である
。プロセッサ4は、メモリ1をアクセスするものであっ
て、ここでは故障診断ビット記憶レジスタ3、診断アド
レス用レジスタA0、診断データ用レジスタD0、期待
値用レジスタD00などを持つプロセッサである。
【0011】診断アドレス用レジスタA0は、診断アド
レスを生成してアドレス線2に送出するものであって、
ここでは、1ビットのみを1、他を0にしたアドレスを
生成してアドレス線2に順次送出するものである(図3
参照)。診断データ用レジスタD0は、診断用のデータ
を生成して図示外のデータバスを介してメモリ1に供給
するものであって、ここでは、診断アドレス用レジスタ
A0から送出するアドレスに対応づけた値(例えば0番
地のときに0、1番地のときに1、2番地のときに2、
4番地のときに3、8番地のときに4というような値、
図3参照)を生成してメモリ1に供給するものである。
【0012】期待値用レジスタD00は、メモリ1に書
き込んだ値(=期待値)を生成し、メモリ1から読み出
した値が正しいか、エラーのときはいずれのビットに障
害があるかを検出するためのものである(図4、図5、
図6参照)。次に、図2のフローチャートの順序に従っ
て図1の構成の動作の説明する。 (1)  セレクト信号(図1のアドレスA4、A5に
よってメモリ(1)ないしメモリ(4)を選択する信号
)の診断:図2において、S1は、メモリ(1)ないし
メモリ(4)の先頭アドレスに異なるデータを書き込む
【0013】S2は、メモリ(1)の0番地の値をRE
AD(リード)し、そのチェック結果を記憶する。S3
は、S1の書き込みが全ての終了したか否かを判別する
。YESの場合には、S4で記憶されたチェック結果の
チェックを行う。OKのときは、セレクト信号が正常で
あったので、S6ないしS10によって各メモリ(1)
ないしメモリ(4)についてアドレスA0ないしA3に
ついて個別に診断を行う。NGの場合には、S5でER
ROR処理としてエラーアドレスバスを表示する。以下
図1の具体例について説明する。ここでは、アドレスA
0ないしA3は全て0とする。
【0014】(1−1)  アドレスA4=A5=0、
データ0000 0000をアドレス信号線、データ線
に送出してメモリ(1)に書き込んだ後(S1)、アド
レスA4=A5=0をアドレス信号線に送出してデータ
をリードして0と比較し、ここでは等しいのでチェック
結果(正常)を故障ビット記憶レジスタ3に記憶する(
S2)。 (1−2)  次のビットを1、即ちアドレスA4=0
、A5=1、データ00000001をアドレス信号線
、データ線に送出してメモリ(2)に書き込んだ後(S
1)、アドレスA4=A5=0をアドレス信号線に送出
してデータをリードして0と比較する。比較したチェッ
ク結果(正常、エラー)を故障ビット記憶レジスタ3に
記憶する(S2)。
【0015】(1−3)  次のビットを1、即ちアド
レスA4=1、A5=0、データ00000010をア
ドレス信号線、データ線に送出してメモリ(3)に書き
込んだ後(S1)、アドレスA4=A5=0をアドレス
信号線に送出してデータをリードして0と比較する。比
較したチェック結果(正常、エラー)を故障ビット記憶
レジスタ3に記憶する(S2)。
【0016】(1−4)  次のビットを1、即ちアド
レスA4=A5=1、データ0000 0011をアド
レス信号線、データ線に送出してメモリ(4)に書き込
んだ後(S1)、アドレスA4=A5=0をアドレス信
号線に送出してデータをリードして0と比較する。比較
したチェック結果(正常、エラー)を故障ビット記憶レ
ジスタ3に記憶する(S2)。
【0017】(1−5)  以上の(1−1)ないし(
1−4)の処理によってS3のYESとなり、S4で故
障ビット記憶レジスタ3に記憶しておいたチェック結果
を参照し、1つでもエラーのときにS5で該当するビッ
ト線がエラーである旨を表示する。以上の処理によって
、図1のアドレスA4、A5によるメモリ(1)ないし
メモリ(4)を選択するセレクト信号の診断が終了した
こととなる。次に、アドレスA0ないしA3による各メ
モリ(1)ないし(4)の個別の信号をS6ないしS1
0によって行う。
【0018】(2)  下位側番地のアドレス診断:こ
れは、図1ではアドレスA0ないしA3によってメモリ
(1)ないしメモリ(4)をアクセスする信号の診断:
図2において、S6は、メモリの各アドレスに異なるデ
ータを書き込む。S7は、診断対象となるアドレスの信
号を全てOFFにした番地のデータ値をREAD(リー
ド)し、そのチェック結果を記憶する。
【0019】S8は、書き込みを終了したか否かを判別
する。OKの場合には、S9で記憶されたチェック結果
のチェックを行う。NGの場合には、次のアドレスのビ
ットを1にし、S6、S7を繰り返し行う。S9は、記
憶されたチェック結果のチェックを行う。OKのときは
終了する。NGの場合、即ちいずれか1つでもS7のチ
ェックでエラーとなった場合、そのエラーとなった結果
(例えば期待値のアドレスのビットと、リードした値の
アドレスのビットとが連結)としてエラーアドレスなど
を表示する。以下図1の具体例について説明する。ここ
では、アドレスA0ないしA3ついて図3のようなアド
レスおよびデータを、アドレス線、データ線に送出する
【0020】(2−1)  アドレスA3=A2=A1
=A0=0、データ0000 0000をアドレス信号
線、データ線に送出してメモリ1に書き込んだ後(S6
)、アドレスA3=A2=A1=A0=0をアドレス信
号線に送出してデータをリードして0と比較し、ここで
は等しいのでチェック結果(正常)を故障ビット記憶レ
ジスタ3に記憶する(S7)。
【0021】(2−2)  次のアドレスのビットを1
、即ちアドレスA3=A2=A1=0、A0=1、デー
タ0000 0001をアドレス信号線、データ線に送
出してメモリ1に書き込んだ後(S6)、アドレスA3
=A2=A1=A0=0をアドレス信号線に送出してデ
ータをリードして0と比較する。比較したチェック結果
(正常、エラー)を故障ビット記憶レジスタ3に記憶す
る(S7)。
【0022】(2−3)  次のアドレスのビットを1
、即ちアドレスA3=A2=0、A1=1、A0=0、
データ0000 0010をアドレス信号線、データ線
に送出してメモリ1に書き込んだ後(S6)、アドレス
A3=A2=A1=A0=0をアドレス信号線に送出し
てデータをリードして0と比較する。比較したチェック
結果(正常、エラー)を故障ビット記憶レジスタ3に記
憶する(S7)。
【0023】(2−4)  次のアドレスのビットを1
、即ちアドレスA3=0、A2=1、A1=A0=0、
データ0000 0011をアドレス信号線、データ線
に送出してメモリ1に書き込んだ後(S6)、アドレス
A3=A2=A1=A0=0をアドレス信号線に送出し
てデータをリードして0と比較する。比較したチェック
結果(正常、エラー)を故障ビット記憶レジスタ3に記
憶する(S7)。
【0024】(2−5)  次のアドレスのビットを1
、即ちアドレスA3=1、A2=A1=A0=0、デー
タ0000 0100をアドレス信号線、データ線に送
出してメモリ1に書き込んだ後(S6)、アドレスA3
=A2=A1=A0=0をアドレス信号線に送出してデ
ータをリードして0と比較する。比較したチェック結果
(正常、エラー)を故障ビット記憶レジスタ3に記憶す
る(S7)。 (2−6)  以上の(2−1)ないし(2−5)の処
理によってS8のYESとなり、S9で故障ビット記憶
レジスタ3に記憶しておいたチェック結果を参照し、1
つでもエラーのときにS10で該当するビット線がエラ
ーである旨を表示する。
【0025】以上の処理によって、図1のアドレスA0
ないしA3による各メモリ(1)ないしメモリ(4)に
供給するアドレスの診断が終了したこととなる。図3は
、上述した各メモリ(1)ないし(4)に供給する診断
するためにアドレスA0ないしA3およびデータとして
送出する値の例を示す。アドレス線には、A0ないしA
3のうちのいずれか1ビットのみが1のアドレスを■な
いし■のように順次送出する。このときに、■ないし■
のアドレスに対応づけてデータ0ないし4を送出する。 このようにアドレスに対応づけてデータを送出すること
により、図4ないし図6を用いて具体的に説明するよう
に、いずれのビットが固定故障、連結故障かを判定する
ことが可能となる。以下図4ないし図6を用い、図1の
構成のもとで、図3のアドレス、データを送出する場合
について具体的に説明する。
【0026】図4は、本発明の具体例説明図(その1)
を示す。図4の(イ)は、故障例を示す。 ビットの固定故障:“1”固定で1カ所の例を図4の■
に示す。“1”固定で複数カ所の例を図4の■に示す。
【0027】“0”固定で1カ所の例を図4の■に示す
。“0”固定で複数カ所の例を図4の■に示す。混在の
例を図4の■に示す。 連結故障:2ビットの連結で0が強い例を■に示す。
【0028】2ビットの連結で1が強い例を■に示す。 3ビット以上の連結で0が強い例を■に示す。3ビット
以上の連結で1が強い例を■に示す。複数カ所の連結で
0が強い例を(10)に示す。複数カ所の連結で1が強
い例を(11)に示す。
【0029】以下説明する。ここで、アドレス0、1、
2、4、8は、図3の■、■、■、■、■に対応し、こ
のときにデータとして図3に示す0、1、2、3、4を
送出し、メモリ1に書き込むとする。アクセスしたアド
レスは、障害によってアクセスするアドレスを示す。デ
ータは、アクセスしたアドレスによって書き替えられる
データの変化の様子を矢印→で示す。以下の説明は、図
2のS6ないしS10を行ったときの動作である。
【0030】「固定故障の場合」:故障検出方法:デー
タを1つ書き込む毎に0番地の値をリードし、このリー
ド値が“0”以外のときに故障と検出する。故障ビット
切り分け方法:0番地の値の推移を取り出し、(リード
値−1)ビット目を故障ビットとする。
【0031】以下固定故障の■ないし■について場合分
けして具体的に説明する。■1個のビットが“1”固定
の場合、例えばビット2が“1”に固定の場合:アドレ
ス0:0番地にデータ0を書き込んだが、実際には4番
地にデータ0を書き込んでいる。
【0032】アドレス1:1番地にデータ1を書き込ん
だが、実際には5番地にデータ1を書き込んでいる。 アドレス2:2番地にデータ2を書き込んだが、実際に
は6番地にデータ2を書き込んでいる。 アドレス4:4番地にデータ3を書き込む。この際、ア
ドレス0で既に4番地にデータ0が書き込まれているも
のをデータ3に書き替えることとなる。
【0033】アドレス8:8番地にデータ4を書き込ん
だが、実際にはC番地にデータ4を書き込んでいる。 従って、リード時に、アドレス0で読み出したリード値
の推移が“3”であって0以外でありエラーとなる。エ
ラーのビットは、 (リード値−1)=3−1=2 となり、ビット2が固定故障と判明する。
【0034】■複数ビットが“1”固定の場合、例えば
ビット1、ビット2が“1”に固定の場合:アドレス0
:0番地にデータ0を書き込んだが、実際には6番地に
データ0を書き込んでいる。 アドレス1:1番地にデータ1を書き込んだが、実際に
は7番地にデータ1を書き込んでいる。
【0035】アドレス2:2番地にデータ2を書き込ん
だが、実際には6番地にデータ2を書き込み、アドレス
0で既に6番地にデータ0を書き込んだものをデータ2
に書き替えることとなる。 アドレス4:4番地にデータ3を書き込んだが、実際に
は6番地にデータ3を書き込み、アドレス0で6番地に
データ0、アドレス2でデータ2に更新したものを更に
データ3に更新したこととなる。
【0036】アドレス8:8番地にデータ4を書き込ん
だが、実際にはE番地にデータ4を書き込んでいる。 従って、リード時に、アドレス0で読み出したリード値
の推移が“2”、“3”であり0以外でエラーとなる。 エラーのビットは、 (リード値−1)=2−1=1 (リード値−1)=3−1=2 となり、ビット2、ビット1の2つが固定故障と判明す
る。
【0037】■1個のビットが“0”固定の場合、例え
ばビット2が“0”固定の場合: アドレス0:0番地にデータ0を書き込む。 アドレス1:1番地にデータ1を書き込む。 アドレス2:2番地にデータ2を書き込む。 アドレス4:4番地にデータ3を書き込んだが、実際に
は0番地にデータ3を書き込んでいる。
【0038】アドレス8:8番地にデータ4を書き込む
。 従って、リード時に、アドレス0で読み出したリード値
の推移が“3”となり0以外でエラーとなる。エラーの
ビットは、 (リード値−1)=3−1=2 となり、ビット2が固定故障と判明する。
【0039】■複数ビットが“0”固定の場合、例えば
ビット1、ビット2が“0”固定の場合:アドレス0:
0番地にデータ0を書き込む。 アドレス1:1番地にデータ1を書き込む。 アドレス2:2番地にデータ2を書き込んだが、実際に
は0番地にデータ2を書き込み、アドレス0で0番地に
書き込んだデータ0をデータ2に更新することとなる。
【0040】アドレス4:4番地にデータ3を書き込ん
だが、アドレス0に書き込まれているデータ2をデータ
3に更新することとなる。アドレス8:8番地にデータ
4を書き込む。 従って、リード時に、アドレス0で読み出したリード値
の推移が“2”、“3”となり0以外でエラーとなる。 エラーのビットは、 (リード値−1)=2−1=1 (リード値−1)=3−1=2 となり、ビット1、ビット2の2つが固定故障と判明す
る。
【0041】■“1”固定と“0”固定の混在の場合、
例えばビット1が“1”、ビット3が“0”固定の場合
: アドレス0:0番地にデータ0を書き込んだが、実際に
は2番地にデータ0を書き込むこととなる。 アドレス1:1番地にデータ1を書き込んだが、実際に
は3番地にデータ1を書き込むこととなる。
【0042】アドレス2:2番地にデータ2を書き込む
。 アドレス4:4番地にデータ3を書き込んだが、実際に
は6番地にデータ3を書き込むこととなる。 アドレス8:8番地にデータ4を書き込んだが、実際に
は2番地に書き込まれていたデータ2をデータ4に書き
替えることとなる。
【0043】従って、リード時に、アドレス0で読み出
したリード値の推移が“2”、“4”となり0以外でエ
ラーとなる。エラーのビットは、 (リード値−1)=2−1=1 (リード値−1)=4−1=3 となり、ビット1、ビット3の2つが固定故障と判明す
る。
【0044】「連結故障の場合」:故障検出方法:全て
のデータの書き込み終了後に、各アドレスの値をリード
し、このリード値と期待値とが一致しないときに故障と
検出する。 故障ビット切り分け方法:一致しなかったリード値と期
待値から、(リード値−1)ビット目、(期待値−1)
ビット目を連結故障と決定する。
【0045】以下連結故障の場合■ないし■、(10)
、(11)について具体的に説明する。 ■ビットが連結(0が強い)している場合、例えばビッ
ト1、ビット2が連結している場合: アドレス0:0番地にデータ0を書き込む。
【0046】アドレス1:1番地にデータ1を書き込む
。 アドレス2:2番地にデータ2を書き込んだが、実際に
は0番地のデータ0をデータ2に書き替えることとなる
。 アドレス4:4番地にデータ3を書き込んだが、実際に
は0番地のデータ2をデータ3に書き替えることとなる
【0047】アドレス8:8番地にデータ4を書き込む
。 従って、リード時に、リード値と期待値とが一致しない
値は、アドレス0のリード値“3”と期待値“0”、ア
ドレス2のリード値“3”と期待値“2”であるから、
エラーのビットは、 (リード値−1)=3−1=2 (期待値−1)=2−1=1 となり、ビット1、ビット2が連結故障と判明する。
【0048】以下同様に、図5の■ないし■、(10)
、図6の(11)に示すように、連結故障をそれぞれ検
出することが可能となる。図7は、本発明の動作フロー
チャートであって、図2のS6ないしS10を具体化し
たものである。ここで、A0は診断アドレス用レジスタ
、D0は診断データ用レジスタを表わす。
【0049】図7において、S11は、0番地に“0”
を書き込む。S12は、A0に初期値1、D0に初期値
1を設定する。S13は、A0の示すアドレスのメモリ
に、D0の値(データ)を書き込む。S14は、0番地
の値をREAD(リード)する。S15は、READし
た値を故障ビット記憶レジスタに記録する。これは、S
13でデータをメモリに書き込んだ後、0番地から読み
出したリード値が0か否かを判別し、一致しない場合は
(リード値−1)を記憶する。
【0050】S16は、A0の値を2倍して1の立つ位
置を1つシフトさせる。S17は、D0の値を1つ増や
す。S18は、終了か否かを判別する。YESの場合に
は、一連の書き込み、リード・チェックを終了したので
、S19に進む。NOの場合には、S13以降を繰り返
し行う。
【0051】S19は、0番地の値をリードし、リート
値が0か否かを判断する。YESの場合には、正常なの
で、図8のS22に進む。NOの場合には、故障ビット
を表示するために、S20に進む。S20は、故障ビッ
ト記憶レジスタの値をREAD(リード)する。S21
は、故障ビット記憶レジスタの各ビットの1になってい
るビット番号が故障ビットと判別され、それを通知する
【0052】図8において、S22は、メモリのA0の
アドレスからリードしたリード値[A0]が期待値と等
しいか否かを判別する。YRSの場合には、エラーでな
いので、S23で終了か否かを判別する。YESの場合
には、S26に進む。NOの場合には、S25で次のビ
ットを診断するため、アドレスやデータ値を更新し、S
22、S23、S25を繰り返し行う。
【0053】S24は、(READ値−1)ビットと、
(WRITE値−1)ビットが連結故障と判別され、そ
れを記憶する。S26は、エラーが記憶されているか否
かを判別する。YESの場合には、S27でエラー処理
として、 エラーメッセージの表示 エラー発生時に記憶された故障ビットを全て表示などを
行う。NOの場合には、メモリ1が正常として終了する
【0054】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
いずれか1ビットを1にしたアドレスおよびアドレスに
対応づけたデータをメモリ1に書き込んだ後に0番地か
らリードした値、更に一連のデータを書き込んだ後にリ
ードしたリード値と期待値とが一致するか否かをもとに
診断を行う構成を採用しているため、アドレス線2の障
害を診断することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の1実施例構成図である。
【図2】本発明の動作説明フローチャートである。
【図3】本発明の動作説明図である。
【図4】本発明の具体例説明図(その1)である。
【図5】本発明の具体例説明図(その2)である。
【図6】本発明の具体例説明図(その3)である。
【図7】本発明の固定故障動作フローチャートである。
【図8】本発明の連結故障動作フローチャートである。
【符号の説明】
1:メモリ 2:アドレス線 3:故障ビット記憶レジスタ 4:プロセッサ A0:診断アドレス用レジスタ D0:診断データ用レジスタ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  メモリを診断するメモリ診断方法にお
    いて、アドレス線(2)のビットのいずれか1つを1に
    したアドレスを供給してメモリ(1)に異なるデータを
    書き込んだ後、全てのビットが0のアドレスを供給して
    メモリ(1)からデータを読み出すことを全てのアドレ
    ス線(2)のビットについて繰り返し行い、読み出した
    値が初期値(例えば0)以外のときにメモリ(1)の当
    該ビット自身あるいはビット線が障害と診断するように
    構成したことを特徴とするメモリ診断方法。
  2. 【請求項2】  上記請求項第1項によってメモリ(1
    )に異なるデータの書き込みを終了した後、書き込んだ
    アドレスからデータを読み出すことを繰り返し行い、書
    き込んだ値と一致しないときにこのときにこの書き込ん
    だ値のビットと読み出した値のビットとが連結障害して
    いると診断するように構成したことを特徴とするメモリ
    診断方法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009252026A (ja) * 2008-04-08 2009-10-29 Kyocera Mita Corp メモリ診断装置、及び情報処理装置

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