JPH0863406A - メモリアクセス制御装置 - Google Patents

メモリアクセス制御装置

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JPH0863406A
JPH0863406A JP6216727A JP21672794A JPH0863406A JP H0863406 A JPH0863406 A JP H0863406A JP 6216727 A JP6216727 A JP 6216727A JP 21672794 A JP21672794 A JP 21672794A JP H0863406 A JPH0863406 A JP H0863406A
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JP
Japan
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memory
initialization
error
address
cpu
Prior art date
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JP6216727A
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Inventor
Kenji Imamura
健二 今村
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Fujifilm Business Innovation Corp
Original Assignee
Fuji Xerox Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 CPUから何らの影響を受けずに、メモリア
クセス制御装置の制御下でメモリの初期化を高速に行
い、また基本的なハードウェアの故障を検出することが
できるメモリアクセス制御装置を提供すること。 【構成】 DRAM制御部1はメモリに対するアドレス
信号と、各制御信号をメモリの要求するタイミングで生
成し、初期化制御部3からメモリの初期化の開始を指示
された時、CPUによるバスサイクルと関係のないサイ
ズの初期化サイクルを発生させてメモリを初期化する。
誤り訂正制御部8はDRAM制御部1により、メモリへ
の書込み時は誤り訂正符号を生成し、読出し時は誤りを
検出し、訂正可能な誤りを訂正し、誤りに関する諸情報
を誤り記憶部9に格納する。また、訂正不可能ならばメ
モリ等に異常があると判断し、メモリの故障としてCP
Uとへ通知する。このようにして、CPUに影響されず
に各処理を行うことができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はメモリアクセス制御装置
に関し、特に大容量のメモリの初期化とメモリの故障の
検出を行うメモリアクセス制御装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のメモリアクセス制御装置の一例と
して、例えば特開平2−116943号公報(以下、先
行技術1とする)や特開平4−153754号公報(以
下、先行技術2とする)に開示されているものがある。
【0003】前記先行技術1は、中央処理装置(以下、
CPUとする)が共通バスを介して複数のメモリに接続
されたシステムのメモリの初期化処理において、メモリ
のアドレス線の内1ビットを初期化処理するか否かを判
断するためのフラグとして用いるようにし、複数のメモ
リの初期化処理を平行して実行させることにより、メモ
リ1つ分の処理時間だけで複数のメモリを初期化処理す
ることができるようにしている。
【0004】また、前記先行技術2は、CPUからバス
を介して、データの読出し命令が入力されると、メモリ
からデータが読出され、エラー検出訂正回路で該データ
からエラーを検出すると、周知の方法で該データのエラ
ーを訂正する。訂正されたエラーはエラーレジスタ制御
手段の制御によって一旦エラーレジスタに格納されると
共に、バス等を介してCPUへ出力される。エラーレジ
スタ制御手段はバスを監視し、メモリへのアクセスがな
いのを見計ってエラーレジスタに格納された訂正済のデ
ータをメモリへ出力し、該メモリのエラーデータを書き
直すようにしている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】近年、半導体技術の大
幅の進歩により、メモリが大容量化しており、中には1
G(ギガ)バイトを越える容量を有するものまで出てき
ている。このため、前記先行技術1のようにCPUによ
るプログラム処理では、この様なメモリを初期化するに
は長時間が掛かるという問題がある。例えば、CPUが
プログラムによって1Gバイトのメモリの全領域を初期
化したとすると、64ビットのサイクルに200n秒掛
かるとすると、処理終了までにおよそ30秒近くかかっ
てしまう計算になる。また、メモリが大容量ゆえに格納
されているデータにエラーが潜在する可能性が高くな
る。このため、誤り符号等を該データに付加してエラー
の検出訂正を行い信頼性を高めなければならないという
問題がある。
【0006】また、前記先行技術2のような、誤り訂正
符号を用いるシステムでは、通常データを任意のビット
幅(例えば8バイト)で管理しており、任意のビット幅
に満たないデータの書込み、すなわちデータが例えば8
バイト未満のデータ(パーシャルライト(部分的書
込))を受け付けると、一旦メモリからデータと誤り符
号の両方を読出して、該データと書込むデータとを合わ
せてから新しい誤り符号を生成して再度メモリに書き込
むようにしている。このため、メモリが使用前に初期化
されていない場合には、該メモリから読み出されたデー
タおよび誤り符号が無効となるので、エラー検出訂正回
路で正常なエラー検出を行うことができないという問題
がある。また、誤り訂正符号を付加してデータのエラー
を検出、訂正しているに過ぎず、メモリの初期化、テス
トという処理について全く考慮されていないという問題
がある。
【0007】本発明の目的は、前記した従来技術の問題
点を除去し、CPUから何らの影響を受けずに、メモリ
アクセス制御装置の制御下でメモリの初期化を高速に行
い、また基本的なハードウェアの故障を検出することが
できるメモリアクセス制御装置を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、請求項1の発明は、CPUによって起動され、メモ
リの任意の指定された領域に対して能動的に初期化の動
作を行う初期化制御手段と、バスに対する応答を行い、
前記メモリに対するデータのやり取りとそのタイミング
とを制御するメモリ制御手段と、データに対する誤り訂
正符号を用いて、誤りの検出と、訂正可能な誤りを訂正
する誤り訂正制御手段と、前記誤り訂正制御手段によっ
て検出された誤りに関する諸情報を格納する誤り記憶手
段とを具備した点に特徴がある。請求項2の発明によれ
ば、前記メモリを物理的に連続しない複数の領域に区分
し、各領域毎に初期化するようにした点に特徴がある。
請求項3の発明によれば、前記メモリ内に任意に設定さ
れた領域をクリアする手段を具備した点に特徴がある。
【0009】
【作用】以上の説明から明らかなように、請求項1の発
明によれば、メモリの初期化動作を、バスからのアクセ
スに頼らずに初期化制御部により、メモリ制御部に対し
て、メモリサイクルを起動させることができるので、メ
モリの初期化およびメモリテストを実行することが可能
になる。請求項2の発明によれば、物理的に連続しない
複数の領域に区分されたメモリを、各領域毎に高速で初
期化することが可能になる。請求項3の発明によれば、
メモリ内に任意に設定された領域を高速でクリアするこ
とが可能になる。
【0010】
【実施例】以下に図面を参照して本発明のメモリアクセ
ス制御装置の一実施例を詳細に説明する。図1は本発明
のメモリアクセス制御装置の概略構成を示すブロック図
である。図において、1はメモリ(例えばDRAM)に
対するアドレス信号と、RAS,CAS,WE等の各制
御信号を図示されていないメモリの要求するタイミング
で生成し、初期化制御部3から起動がかけられた時、C
PUによるバスサイクルと関係のないサイズのサイクル
を発生させる機能を有するDRAM制御部である。該初
期化制御部3はバスからのアクセスにより起動し、DR
AM制御部1に対してメモリの初期化の開始を指示す
る。8は前記DRAM制御部1の制御下で、メモリへの
書込み時に誤り訂正符号を生成し、読み出し時には誤り
を検出し、該誤りが訂正可能ならば誤りを訂正する誤り
訂正制御部、9は誤り訂正制御部8によって検出された
誤りに関する諸情報を格納する誤り記憶部である。前記
誤り記憶部9は、例えば図3に示すようなテーブルによ
り構成されている。前記誤り訂正制御部8によって検出
された誤りが訂正不可能な場合は、メモリ等のハードウ
ェアに異常があると判断し、該誤り訂正制御部8はメモ
リの故障としてCPUへ通知する。
【0011】図2は本発明のメモリアクセス制御装置の
第1実施例を示すブロック図である。図において、2は
バスからアクセス可能で、初期化ビットがセットされる
初期化レジスタ、3´は前記初期化制御部3の機能に加
えて、メモリテストを行う初期化/テスト制御部、4は
該初期化/テスト制御部3によって初期化されるメモリ
の上限アドレスがセットされ、1つのアドレスに対する
メモリサイクルが終了する度にアドレス値をインクリメ
ントするアドレスカウンタ、5は初期化/テスト制御部
3´によって初期化すべきメモリの下限アドレスがセッ
トされるリミットレジスタ、6はアドレスカウンタ4と
リミットレジスタ5との値を比較する比較器、7は初期
化でないメモリサイクル、例えば通常のメモリ書込みサ
イクルと、メモリ初期化サイクルに対応させて入力を切
替えるセレクタ、10はメモリから読出されたメモリデ
ータと現在のアドレスとを比較する比較器である。他の
符号は前記図1と同一または同等物を示す。
【0012】次に、本実施例のメモリの初期化およびメ
モリテストの動作について説明する。まず、バスからの
アクセスによって前記初期化レジスタ2にイニシャルイ
ネーブルビット(以下、INIT ENビットとする)
がセットされると、初期化/テスト制御部3´によっ
て、例えば図4に示すようなメモリ内の斜線で示す領域
に対する初期化サイクルが開始される。
【0013】次に、前記初期化/テスト制御部3´によ
って、初期化されるべきメモリの先頭となる上限アドレ
スがアドレスカウンタ4にセットされ、下限アドレスが
リミットレジスタ5にセットされる。また、初期化/テ
スト制御部3´は、DRAM制御部1へ初期化サイクル
の開始を指示し、該DRAM制御部1はメモリと前記し
た制御信号をやり取りすると共に、セレクタ7へセレク
ト(SEL)信号を出力し、アドレスカウンタ4からの
アドレス値がメモリへ出力されるように該セレクタ7を
切替える。
【0014】次いで、アドレスカウンタ4からアドレス
値が、比較器6とセレクタ7へ出力される。さらに、該
アドレス値はセレクタ7を介してメモリへ出力され、該
メモリの初期化すべきアドレスが指定される。一方、初
期化/テスト制御部3´は、ラインa、誤り訂正制御部
8およびメモリバスbを介して、メモリスペック上で許
される範囲の1データ幅分の初期化データをメモリへ出
力する。このようにして、DRAM制御部1の制御によ
り、指定されたアドレスの領域が周知の方法で初期化さ
れる。但し、この初期化は、メモリのスペック上で許さ
れる範囲の単位で、1データ幅が例えば4バイト、8バ
イト等という非常に大きい容量の単位(以下、Nバイト
単位と呼ぶ)で行われる。指定されたアドレスの初期化
が終了した場合、DRAM制御部1から初期化/テスト
制御部3´へ、1つのアドレスに対する初期化の終了を
表す終了信号が出力され、アドレスカウンタ4のアドレ
ス値が、Nバイトだけインクリメントされる。
【0015】以上のような初期化動作が各アドレス毎に
繰り返され、前記アドレスカウンタ4のアドレス値が、
前記下限アドレスの値と比較器6で比較され、該アドレ
ス値が下限アドレスの値と一致するまで、上記した初期
化動作が繰り返される。比較結果が一致した場合には、
該比較器6から初期化終了信号が初期化/テスト制御部
3´へ出力されてメモリ内の指定されたすべてのアドレ
スに対する初期化動作を終了する。
【0016】次に、初期化サイクルが終了した後に、メ
モリの初期化が正しく行われたかどうかをテストするメ
モリテストの動作について説明する。まず、前記初期化
/テスト制御部3´からDRAM制御部1、アドレスカ
ウンタ4および誤り訂正制御部8へ、メモリテストの開
始が指示される。次に、DRAM制御部1はメモリと前
記した制御信号をやり取りし、アドレスカウンタ4から
上限アドレスが、セレクタ7を介してメモリへ出力さ
れ、メモリテスト開始アドレスが指定される。また、該
アドレスカウンタ4からのアドレスが、誤り訂正制御部
8を介してメモリへ1データ幅(例えば、Nバイト)の
メモリデータとして出力され、指定されたアドレスに書
き込まれる。この時、誤り訂正制御部8は、誤り訂正符
号を生成し、メモリへ送出する。
【0017】メモリデータがメモリに書き込まれてから
一定時間後に、誤り訂正制御部8はメモリからメモリデ
ータを読み出し、比較器10は該メモリデータと現在の
アドレスとを比較し、一致した時はそのアドレスのメモ
リテストは合格とし、不一致の時は該アドレスに関する
諸情報、例えば誤りが検出されたアドレス、そのデー
タ、誤りの有無を示すエラービット、および該データと
チェックビットとの一致不一致を表すMATCHビット
を誤り記憶部9に格納する。
【0018】次に、アドレスカウンタ4の値を、例えば
Nバイト分インクリメントし、上記のメモリテストを再
度行う。以上のようなメモリテストが繰り返され、前記
アドレスカウンタ4のアドレス値が、前記下限アドレス
の値と比較器6で比較される。該アドレス値が1つのア
ドレスに対するメモリテスト終了信号によってインクリ
メントされ、下限アドレスの値と一致するまで、上記し
たメモリテストが繰り返され、メモリ内の指定されたす
べてのアドレスに対するメモリテストを終了する。
【0019】以上のようにして、第1実施例ではメモリ
の初期化動作を、CPUからのアクセスに頼らずに初期
化制御部により、メモリ制御部に対して、メモリサイク
ルを起動させ、メモリの初期化およびメモリテストを実
行することができる。このため、バスを介したCPU等
からのアクセスに何ら影響されずに、大容量のメモリを
効率よく、かつ高速に初期化することができ、メモリを
初期化している間でも、CPUはメモリ以外のデバイス
に対して、アクセスすることができる。また、CPUに
よるソフトウェア的なメモリテストを行う必要がなくな
る。
【0020】次に、本発明の第2実施例について、図5
を参照して説明する。該第2実施例は前記第1実施例に
対し、後述するアドレスレジスタ11を付加した構成で
ある。図において、11は応答可能なアドレス領域を複
数バンク毎にそれぞれ、上限アドレス値と下限アドレス
値を保持するアドレスレジスタである。該バンクとは、
メモリ容量によって決まる物理的に連続しないように区
分された領域のことであり、例えば図7に示すように、
該複数のバンクをメモリ内の斜線のバンク0〜3として
表すことができる。12a〜dはそれぞれアドレスレジ
スタ11内のレジスタ機構であるアドレス保持部であ
り、前記バンクにそれぞれが対応している。13は前記
初期化/テスト制御部3´からの選択信号(SEL)に
よってアドレス保持部12a〜dの下限アドレス値をリ
ミットレジスタ5へ出力する下限アドレス値選択部、1
4は前記初期化/テスト制御部3´からの選択信号(S
EL)によってアドレス保持部12a〜dの上限アドレ
ス値をアドレスカウンタ4へ出力する上限アドレス値選
択部、15は各アドレス保持部12a〜d毎の上限アド
レス値と下限アドレス値とを比較し、実メモリが存在す
るか否か示すBKEN信号i(i=0〜3)を初期化/
テスト制御部3´へ出力する上限下限アドレス値比較部
である。他の符号は前記図1,2と同一または同等物を
示す。
【0021】前記上限下限アドレス値比較部15は、前
記比較結果が一致した時、すなわち比較されているアド
レス保持部の上限アドレス値と下限アドレス値が一致し
た時は、上限、下限アドレス値間のメモリが0であるの
で、該アドレス保持部には実メモリは存在しないと判断
される。
【0022】次に、図6のフローチャートを参照して第
2実施例の動作を説明する。ステップS1では、前記初
期化レジスタ2にINIT ENビットがセットされて
いるか否かが判断され、該INIT ENビットがセッ
トされていれば初期化/テスト制御部3´によってメモ
リに対する初期化サイクルが開始される。ステップS2
では、現在どのアドレス保持部12a〜dに対してアク
セスしているかを示すステータス信号i(i=0)を初
期化する。
【0023】ステップS3では、ステータス信号iが最
大値であるか否かが判断され、該ステータス信号iが最
大値(=3)であれば、ステップS4でINIT EN
ビットをクリアして終了する。ステータス信号iが最大
値(=0〜2)でなければステップS5へ進む。
【0024】ステップS5では、前記上限下限アドレス
値比較部15によって現在のアドレス保持部12a〜d
の上限下限アドレス値を比較し、その結果に応じたBK
EN信号(i)を初期化/テスト制御部3´へ出力す
る。比較結果が一致した場合は偽と判断し、ステップS
6で前記ステータス信号iをインクリメントして前記ス
テップS3へ戻る。また、前記比較結果が不一致の場合
は真と判断し、ステップS7で初期化/テスト制御部3
´から下限アドレス値選択部13および上限アドレス値
選択部14へSEL信号(i)が出力され、i番目のア
ドレス保持部12a〜dのアドレスデータがリミットレ
ジスタ5およびアドレスカウンタ4へ出力されるように
選択される。例えば、前記“i”が0の時はアドレス保
持部12aを、1の時は同12bを、2の時は同12c
を選択するように、該下限アドレス値選択部13および
上限アドレス値選択部14が切替えられる。ここでは、
i=0とすると、ステップS8では、アドレス保持部1
2aに保持されている上限アドレスおよび下限アドレス
が、それぞれアドレスカウンタ4およびリミットレジス
タ5にセットされる。
【0025】ステップS9では、前記MATCHビット
が真であるか否かが、すなわちステップS7で選択され
たアドレス保持部12aのアドレスデータが指示するす
べてのアドレスの初期化が終了したか否かが判断され、
初期化されていなければ、ステップS10で、前記初期
化/テスト制御部3´からメモリの初期化動作の起動が
DRAM制御部1へ指示され、前記第1実施例に示すよ
うな初期化動作が行われる。
【0026】ステップS11では、指定されたアドレス
の初期化が終了したか否かが判断され、この判断が肯定
になると、ステップS12に進み、アドレスをNバイト
といった大きな単位でインクリメントする。そして、ス
テップS9に戻って、再度MATCHビットが真か否か
の判断がなされる。前記ステップS9からS12までの
動作は前記アドレス保持部12aによって指示されたす
べてのアドレスの初期化が終了するまで繰り返され、ス
テップS9の判断が真になった場合は、ステップS6へ
戻ってiがインクリメントされ、次のアドレス保持部1
2bについて、同様の処理が繰り返される。以上のよう
にして、第2実施例では大容量のメモリを物理的に連続
していない複数の領域に区分し、各領域毎に高速で初期
化することができる。なお、レジスタ機構として4個の
アドレス保持部12a〜dを設けたが、これに限らず本
実施例では、該アドレス保持部が2個以上あればよい。
【0027】次に、本発明の第3実施例について、図8
を参照して説明する。該第3実施例は前記第2実施例が
行うメモリの初期化に加えて、例えば図9に示すような
メモリ内の斜線で示す任意のアドレス領域をクリアでき
るようにしたものである。図において、16はバスから
アクセス可能でクリアすべき任意のアドレス領域の上限
アドレス値と下限アドレス値とを保持するクリアレジス
タである。また、初期化レジスタ2´は前記初期化レジ
スタ2の機能に加えて、任意の領域のクリアを行うため
のクリアビットをセットできるようになっている。他の
符号は前記図1,2,5と同一または同等物を示す。
【0028】第3実施例の動作は、前記初期化レジスタ
2´にクリアビットがセットされると、予め指定された
任意のアドレス領域に対するクリア動作が開始され、前
記クリアレジスタ16に保持されている該任意のアドレ
ス領域の上限/下限アドレス値がアドレスカウンタ4、
リミットレジスタ5にセットされ、任意のアドレス領域
内が例えば、Nバイトといった大きな単位で、順次クリ
アされる。以上のようにして、第3実施例では、予め設
定された任意のアドレス領域を高速でクリアすることが
できる。
【0029】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、請求項
1の発明によれば、メモリの初期化動作を、CPUから
のアクセスに頼らずに初期化制御部により、メモリ制御
部に対して、メモリサイクルを起動させ、メモリの初期
化およびメモリテストを実行することができる。このた
め、バスを介したCPU等からのアクセスに何ら影響さ
れずに、大容量のメモリを効率よく、かつ高速に初期化
することができ、メモリを初期化している間でも、CP
Uはメモリ以外のデバイスに対して、アクセスすること
ができる。また、CPUによるソフトウェア的なメモリ
テストを行う必要がなくなる。
【0030】また、前記初期化制御部およびメモリ制御
部の制御により、メモリの初期化が行われるため、メモ
リの容量やアドレスを管理するための発生する必要がな
くなる。また、誤り訂正制御部により、メモリテスト時
にデータから検出された誤りが訂正不可能な場合は、該
データが格納されていたメモリに異常があると判断する
し、該誤り訂正制御部はメモリの故障としてCPUとへ
通知する。このため、メモリの初期化を行うだけで、メ
モリの故障が検出することができる。
【0031】請求項2の発明によれば、物理的に連続し
ない複数の領域に区分されたメモリを、各領域毎に高速
に初期化することができる。このため、CPUはメモリ
の初期化を指示した後、複数に区分されたメモリの領域
のアドレスをそれぞれ管理する必要がなくなる。
【0032】請求項3の発明によれば、メモリ内に任意
に設定された領域をクリアすることができる。このた
め、CPUがページメモリ等の任意の矩形領域を使用し
ている場合でも、高速に該矩形領域をクリアすることが
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明のメモリアクセス制御装置の概略構成
を示すブロック図である。
【図2】 本発明の第1実施例の構成を示すブロック図
である。
【図3】 誤り記憶部の一具体例のテーブルである。
【図4】 第1実施例がメモリの初期化を行う領域を示
す説明図である。
【図5】 第2実施例の構成を示すブロック図である。
【図6】 第2実施例の動作を説明するためのフローチ
ャートである。
【図7】 第2実施例がメモリの初期化を行う領域を示
す説明図である。
【図8】 第3実施例の構成を示すブロック図である。
【図9】 第3実施例がメモリの初期化を行う領域を示
す説明図である。
【符号の説明】
1…DRAM制御部、2…初期化レジスタ、3…初期化
制御部、4…アドレスカウンタ、5…リミットレジス
タ、6,10,15…比較器、7…セレクタ、8…誤り
訂正制御部、9…誤り記憶部、11…アドレスレジス
タ、12a〜d…アドレス保持部、13…下限アドレス
値選択部、14…上限アドレス値選択部、16…クリア
レジスタ。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数のメモリがバスに接続されて利用さ
    れる情報処理システム内で、バスとメモリとの間に接続
    され、CPUからメモリへの要求に応答してメモリを制
    御し、メモリの初期化を行うメモリアクセス制御装置に
    おいて、 前記CPUによって起動され、メモリの任意の指定され
    た領域に対して能動的に初期化の動作を行う初期化制御
    手段と、 バスに対する応答を行い、前記メモリに対するデータの
    やり取りとそのタイミングとを制御するメモリ制御手段
    と、 データに対する誤り訂正符号を用いて、誤りの検出と、
    訂正可能な誤りを訂正する誤り訂正制御手段と、 前記誤り訂正制御手段によって検出された誤りに関する
    諸情報を格納する誤り記憶手段とを具備し、 前記メモリの初期化動作を、バスからのアクセスに頼ら
    ずにメモリサイクルを起動してメモリの初期化を実行す
    ると共に、メモリの故障を検出することができるように
    したことを特徴とするメモリアクセス制御装置。
  2. 【請求項2】 前記メモリを物理的に連続しない複数の
    領域に区分し、各領域毎に初期化するようにしたことを
    特徴とする前記請求項1記載のメモリアクセス制御装
    置。
  3. 【請求項3】 前記メモリ内に任意に設定された領域を
    クリアする手段を具備したことを特徴とする前記請求項
    2記載のメモリアクセス制御装置。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19990032660A (ko) * 1997-10-20 1999-05-15 김영환 시스템 메모리 제어장치
JP2009026019A (ja) * 2007-07-19 2009-02-05 Sharp Corp メモリコントローラ及びメモリ初期化方法
US7941705B2 (en) 2006-10-25 2011-05-10 Samsung Electronics Co., Ltd. Computer system to use memory having defective memory cell and control method thereof
US10002045B2 (en) 2015-07-29 2018-06-19 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor memory devices having input/output gating circuit and memory systems including the same

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19990032660A (ko) * 1997-10-20 1999-05-15 김영환 시스템 메모리 제어장치
US7941705B2 (en) 2006-10-25 2011-05-10 Samsung Electronics Co., Ltd. Computer system to use memory having defective memory cell and control method thereof
US8510605B2 (en) 2006-10-25 2013-08-13 Samsung Electronics Co., Ltd. Computer system inspecting defective cell and control method thereof
JP2009026019A (ja) * 2007-07-19 2009-02-05 Sharp Corp メモリコントローラ及びメモリ初期化方法
US10002045B2 (en) 2015-07-29 2018-06-19 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor memory devices having input/output gating circuit and memory systems including the same

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