JPH04247645A - 金属基板の実装構造 - Google Patents
金属基板の実装構造Info
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- JPH04247645A JPH04247645A JP3013088A JP1308891A JPH04247645A JP H04247645 A JPH04247645 A JP H04247645A JP 3013088 A JP3013088 A JP 3013088A JP 1308891 A JP1308891 A JP 1308891A JP H04247645 A JPH04247645 A JP H04247645A
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 29
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 32
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims abstract description 29
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims abstract description 29
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims abstract description 11
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 6
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 5
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73251—Location after the connecting process on different surfaces
- H01L2224/73265—Layer and wire connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/181—Encapsulation
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、半導体素子を搭載す
る金属基板の実装構造に関する。
る金属基板の実装構造に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の金属基板の実装構造としては、例
えば、図4に示すようなものがある。図4において、金
属基板1上には、チップ部品を含めた半導体素子2が搭
載される。半導体素子2の電極部と金属基板1の配線層
3はワイヤ4によって電気的に結線される。また、半導
体素子2は保護用の封止樹脂(チップコートレジン)5
でコーティングされている。この際、封止樹脂を選択的
に塗布できるようにするため、樹脂止め用のリング6を
用いている。また、金属基板1のエッジコネクタ部(外
部電極部)7を除く基板全体をケース8によって包装し
ている。このケース8は通常樹脂等によって形成されて
いる。上記の実装例は、金属基板の実装として最も一般
的な構造である。
えば、図4に示すようなものがある。図4において、金
属基板1上には、チップ部品を含めた半導体素子2が搭
載される。半導体素子2の電極部と金属基板1の配線層
3はワイヤ4によって電気的に結線される。また、半導
体素子2は保護用の封止樹脂(チップコートレジン)5
でコーティングされている。この際、封止樹脂を選択的
に塗布できるようにするため、樹脂止め用のリング6を
用いている。また、金属基板1のエッジコネクタ部(外
部電極部)7を除く基板全体をケース8によって包装し
ている。このケース8は通常樹脂等によって形成されて
いる。上記の実装例は、金属基板の実装として最も一般
的な構造である。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような従来の金属基板の実装構造においては、■半導体
素子の封止に樹脂止め用のリング6を用いているため、
製造工数がかかり、また、予め樹脂などによってケース
を製造することが必要である等の理由によって実装コス
トが高くなる。■樹脂製のケースで覆っているため、素
子からの放熱性が悪く、そのため素子の信頼性が低下す
る。■ケースが樹脂等で形成されるため、半導体素子へ
の熱応力が大きく、そのため素子が劣化して信頼性が低
下する。■実装形状が厚くなるため薄型化、軽量化が困
難である。等の問題があった。本発明は、上記のごとき
従来技術の種々の問題を解決することを目的とするもの
である。
ような従来の金属基板の実装構造においては、■半導体
素子の封止に樹脂止め用のリング6を用いているため、
製造工数がかかり、また、予め樹脂などによってケース
を製造することが必要である等の理由によって実装コス
トが高くなる。■樹脂製のケースで覆っているため、素
子からの放熱性が悪く、そのため素子の信頼性が低下す
る。■ケースが樹脂等で形成されるため、半導体素子へ
の熱応力が大きく、そのため素子が劣化して信頼性が低
下する。■実装形状が厚くなるため薄型化、軽量化が困
難である。等の問題があった。本発明は、上記のごとき
従来技術の種々の問題を解決することを目的とするもの
である。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明においては、特許請求の範囲に記載するよう
に構成している。すなわち、本発明においては、一部に
貫通孔を設けた金属基板を二つ折りに折り曲げ、折り曲
げられた一方の片にある貫通孔が他方の片を底面として
凹部を形成する形状とし、上記凹部内に半導体素子を設
置し、かつ上記凹部内に半導体素子の上から封止樹脂を
注入して半導体素子を封止した構造を有するものである
。
め、本発明においては、特許請求の範囲に記載するよう
に構成している。すなわち、本発明においては、一部に
貫通孔を設けた金属基板を二つ折りに折り曲げ、折り曲
げられた一方の片にある貫通孔が他方の片を底面として
凹部を形成する形状とし、上記凹部内に半導体素子を設
置し、かつ上記凹部内に半導体素子の上から封止樹脂を
注入して半導体素子を封止した構造を有するものである
。
【0005】
【作用】本発明においては、貫通孔の側壁が従来の樹脂
止め用のリング6の作用を果たすので、別個に製造した
リングを用いる必要がなく、かつ、折り曲げた金属基板
とコーティング用の封止樹脂とがケースの役目を果たす
ので、別個のケースを設ける必要がない。そのため製造
コストを大幅に低減することが出来る。また、従来のよ
うに樹脂製のケースで覆っておらず、しかも熱伝導性の
良好な金属基板がケースとなっているので、放熱性が向
上すると共に半導体素子への熱応力も減少し、そのため
信頼性を向上させることが出来る。また、構造が簡素に
なるので、実装形状が薄くすることが出来、かつ軽量化
を図ることが出来る。
止め用のリング6の作用を果たすので、別個に製造した
リングを用いる必要がなく、かつ、折り曲げた金属基板
とコーティング用の封止樹脂とがケースの役目を果たす
ので、別個のケースを設ける必要がない。そのため製造
コストを大幅に低減することが出来る。また、従来のよ
うに樹脂製のケースで覆っておらず、しかも熱伝導性の
良好な金属基板がケースとなっているので、放熱性が向
上すると共に半導体素子への熱応力も減少し、そのため
信頼性を向上させることが出来る。また、構造が簡素に
なるので、実装形状が薄くすることが出来、かつ軽量化
を図ることが出来る。
【0006】
【発明の実施例】図1は、この発明の一実施例図であり
、(a)は斜視図、(b)は断面図を示す。まず構成を
説明すると、金属基板10は二つ折りに折り曲げられて
いる。そして折り曲げられた一方の片10−1には予め
貫通孔12が設けられており、貫通孔12のない方の片
10−2が貫通孔12の底面となって凹部15を形成す
るようになっている。また、半導体素子2は上記底面を
形成する片10−2上の貫通孔12内、すなわち凹部1
5内に搭載され、ワイヤ4によって配線層3と電気的に
接続される。また、凹部15内には半導体素子2の上か
ら封止樹脂5が注入され、半導体素子2に均一に塗布さ
れている。また、金属基板10の一方の端部は、外部端
子(エッジコネクタ7)として形成されている。上記の
ように、図1の実施例における金属基板10は、配線層
3、絶縁層9、金属ベース11から成る複合積層基板で
ある。
、(a)は斜視図、(b)は断面図を示す。まず構成を
説明すると、金属基板10は二つ折りに折り曲げられて
いる。そして折り曲げられた一方の片10−1には予め
貫通孔12が設けられており、貫通孔12のない方の片
10−2が貫通孔12の底面となって凹部15を形成す
るようになっている。また、半導体素子2は上記底面を
形成する片10−2上の貫通孔12内、すなわち凹部1
5内に搭載され、ワイヤ4によって配線層3と電気的に
接続される。また、凹部15内には半導体素子2の上か
ら封止樹脂5が注入され、半導体素子2に均一に塗布さ
れている。また、金属基板10の一方の端部は、外部端
子(エッジコネクタ7)として形成されている。上記の
ように、図1の実施例における金属基板10は、配線層
3、絶縁層9、金属ベース11から成る複合積層基板で
ある。
【0007】次に作用を説明する。本実施例においては
、貫通孔12の側壁が従来の樹脂止め用のリング6の作
用を果たすので、半導体素子2の封止には、樹脂止めリ
ング等を用いる必要がなく、封止樹脂(チップコートレ
ジン)を均一に半導体素子へ塗布可能である。また、ケ
ースとなる材料が金属ベース材であるため、樹脂等に比
べて熱膨張係数が小さく、そのため半導体素子に加わる
熱応力も小さい。また、樹脂製のケースで覆っておらず
、しかも半導体素子で発生する熱も熱伝導率の高いケー
ス(金属ベース11)を介して効率的に放熱することが
出来るので、放熱性がよい。このようにケースと基板お
よび樹脂止めリングを同一材(金属基板の一部)で構成
することにより、リング材とケース材を廃止することが
出来、それにかかる工数を削減できるため、大幅なコス
ト低減を図ることが出来る。また放熱性および熱応力を
改善することが出来、性能アップ並びに信頼性の向上を
図ることが出来る。さらに構造が簡素で薄く構成できる
と共に軽量化も図ることが出来る。
、貫通孔12の側壁が従来の樹脂止め用のリング6の作
用を果たすので、半導体素子2の封止には、樹脂止めリ
ング等を用いる必要がなく、封止樹脂(チップコートレ
ジン)を均一に半導体素子へ塗布可能である。また、ケ
ースとなる材料が金属ベース材であるため、樹脂等に比
べて熱膨張係数が小さく、そのため半導体素子に加わる
熱応力も小さい。また、樹脂製のケースで覆っておらず
、しかも半導体素子で発生する熱も熱伝導率の高いケー
ス(金属ベース11)を介して効率的に放熱することが
出来るので、放熱性がよい。このようにケースと基板お
よび樹脂止めリングを同一材(金属基板の一部)で構成
することにより、リング材とケース材を廃止することが
出来、それにかかる工数を削減できるため、大幅なコス
ト低減を図ることが出来る。また放熱性および熱応力を
改善することが出来、性能アップ並びに信頼性の向上を
図ることが出来る。さらに構造が簡素で薄く構成できる
と共に軽量化も図ることが出来る。
【0008】なお、図1においては、半導体素子2のみ
が封止樹脂で保護されている状態を例示しているが、そ
の他の電子部品等も同様に凹部15内に配置し、封止樹
脂で封止するように構成してもよい。ただし、その場合
には貫通孔12を大きくする必要がある。
が封止樹脂で保護されている状態を例示しているが、そ
の他の電子部品等も同様に凹部15内に配置し、封止樹
脂で封止するように構成してもよい。ただし、その場合
には貫通孔12を大きくする必要がある。
【0009】次に、図2および図3は、本発明の他の実
施例図であり、図2の(a)は斜視図、(b)は断面図
、図3は一部の拡大断面図を示す。この実施例は、半導
体素子2と配線層3との電気的接続を前記図1のワイヤ
4からリードリボン13に変更したものである。なお、
この実施例においては、前記図1とは逆に、折り曲げら
れた金属基板10のエッジコネクタ7のある方(長い方
)に貫通孔12を設けた例を示している。
施例図であり、図2の(a)は斜視図、(b)は断面図
、図3は一部の拡大断面図を示す。この実施例は、半導
体素子2と配線層3との電気的接続を前記図1のワイヤ
4からリードリボン13に変更したものである。なお、
この実施例においては、前記図1とは逆に、折り曲げら
れた金属基板10のエッジコネクタ7のある方(長い方
)に貫通孔12を設けた例を示している。
【0010】図3に示すように、金属基板10の配線層
3は、貫通孔12の中で延長されており、端部がリード
リボン13になっている。そしてそのリードリボン13
を半導体素子2の電極部に、はんだ14等で接続してい
る。このような構造を用いることにより、今まで必要で
あったワイヤボンディング工程をなくすことが出来るの
で、製造工数をさらに低減することが出来る。
3は、貫通孔12の中で延長されており、端部がリード
リボン13になっている。そしてそのリードリボン13
を半導体素子2の電極部に、はんだ14等で接続してい
る。このような構造を用いることにより、今まで必要で
あったワイヤボンディング工程をなくすことが出来るの
で、製造工数をさらに低減することが出来る。
【0011】
【発明の効果】以上説明したように、本発明においては
、一部に貫通孔を設けた金属基板を二つ折りに折り曲げ
、折り曲げられた一方の片にある貫通孔が他方の片を底
面として凹部を形成する形状とし、上記凹部内に半導体
素子等の電子部品を設置し、かつ上記凹部内に半導体素
子の上から封止樹脂を注入するように構成したことによ
り、従来の樹脂止めリングやケースに伴う材料や工数が
削減されるので、コストを大幅に低減することが出来る
。また、ケースに金属ベースを用いるため、放熱性、熱
応力が改善され、性能と信頼性を向上させることが出来
る。また、構造が簡素になるので、実装形状を薄くする
ことが出来ると共に軽量化を実現することが出来る、等
の多くの効果が得られる。また、図2、図3の構成にお
いては、ワイヤボンディング工程をなくすことが出来、
はんだ付けのみによって処理することが可能となる。
、一部に貫通孔を設けた金属基板を二つ折りに折り曲げ
、折り曲げられた一方の片にある貫通孔が他方の片を底
面として凹部を形成する形状とし、上記凹部内に半導体
素子等の電子部品を設置し、かつ上記凹部内に半導体素
子の上から封止樹脂を注入するように構成したことによ
り、従来の樹脂止めリングやケースに伴う材料や工数が
削減されるので、コストを大幅に低減することが出来る
。また、ケースに金属ベースを用いるため、放熱性、熱
応力が改善され、性能と信頼性を向上させることが出来
る。また、構造が簡素になるので、実装形状を薄くする
ことが出来ると共に軽量化を実現することが出来る、等
の多くの効果が得られる。また、図2、図3の構成にお
いては、ワイヤボンディング工程をなくすことが出来、
はんだ付けのみによって処理することが可能となる。
【図1】本発明の一実施例の斜視図および断面図。
【図2】本発明の他の実施例の斜視図および断面図。
【図3】図2の部分拡大断面図。
【図4】従来例の斜視図および断面図。
1…金属基板
2…半導体素子
3…配線層
4…ワイヤ
5…封止樹脂
6…樹脂止めリング
7…エッジコネクタ部
8…ケース
9…絶縁層
10…金属基板
10−1…金属基板の折り曲げられた一方の片(貫通孔
のある方) 10−2…金属基板の折り曲げられた他方の片(貫通孔
の底部を形成する方) 11…金属ベース 12…貫通孔 13…リードリボン 14…はんだ 15…凹部
のある方) 10−2…金属基板の折り曲げられた他方の片(貫通孔
の底部を形成する方) 11…金属ベース 12…貫通孔 13…リードリボン 14…はんだ 15…凹部
Claims (1)
- 【請求項1】半導体素子を金属基板へ搭載し、上記半導
体素子と上記金属基板の配線部とを結線して電気的な接
続を行なう金属基板の実装構造において、所定の位置に
貫通孔を設けた金属基板を二つ折りに折り曲げ、折り曲
げられた一方の片にある貫通孔が他方の片を底面として
凹部を形成する形状とし、上記凹部内に半導体素子を配
置し、結線を行なった後、上記凹部内に上記半導体素子
の上から封止樹脂を注入して上記半導体素子を封止した
構造を有することを特徴とする金属基板の実装構造。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3013088A JP2757570B2 (ja) | 1991-02-04 | 1991-02-04 | 金属基板の実装構造 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3013088A JP2757570B2 (ja) | 1991-02-04 | 1991-02-04 | 金属基板の実装構造 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04247645A true JPH04247645A (ja) | 1992-09-03 |
JP2757570B2 JP2757570B2 (ja) | 1998-05-25 |
Family
ID=11823412
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3013088A Expired - Lifetime JP2757570B2 (ja) | 1991-02-04 | 1991-02-04 | 金属基板の実装構造 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2757570B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06188324A (ja) * | 1992-12-16 | 1994-07-08 | Kyocera Corp | 半導体装置 |
JP2006525679A (ja) * | 2003-05-05 | 2006-11-09 | ラミナ セラミックス インコーポレーテッド | 高温動作用にパッケージ化された発光ダイオード |
JP2007042669A (ja) * | 2005-07-29 | 2007-02-15 | Toyoda Gosei Co Ltd | 光源装置 |
JP2013080924A (ja) * | 2011-09-30 | 2013-05-02 | Samsung Electro-Mechanics Co Ltd | 電力モジュールパッケージ及びその製造方法 |
-
1991
- 1991-02-04 JP JP3013088A patent/JP2757570B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06188324A (ja) * | 1992-12-16 | 1994-07-08 | Kyocera Corp | 半導体装置 |
JP2006525679A (ja) * | 2003-05-05 | 2006-11-09 | ラミナ セラミックス インコーポレーテッド | 高温動作用にパッケージ化された発光ダイオード |
JP4912876B2 (ja) * | 2003-05-05 | 2012-04-11 | ラミナ ライティング インコーポレーテッド | 高温動作用にパッケージ化された発光ダイオード |
JP2007042669A (ja) * | 2005-07-29 | 2007-02-15 | Toyoda Gosei Co Ltd | 光源装置 |
JP2013080924A (ja) * | 2011-09-30 | 2013-05-02 | Samsung Electro-Mechanics Co Ltd | 電力モジュールパッケージ及びその製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2757570B2 (ja) | 1998-05-25 |
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