JPH0685102A - 半導体集積回路装置 - Google Patents
半導体集積回路装置Info
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- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 半導体集積回路装置の薄型・狭ピッチ(多ピ
ン)化および低コストを実現する。 【構成】 回路基板1の一方の面から座グリ9加工を
し、底面に導体配線パターン4を露出させて半導体素子
7を搭載する。さらに前記導体配線パターン4と半導体
素子7を金属細線8で接続し、座グリ9に外装樹脂3を
入れることにより半導体素子7および金属細線8を電気
的、かつ機械的に保護する。また導体配線パターン4の
延長に外部電極2を設けている。
ン)化および低コストを実現する。 【構成】 回路基板1の一方の面から座グリ9加工を
し、底面に導体配線パターン4を露出させて半導体素子
7を搭載する。さらに前記導体配線パターン4と半導体
素子7を金属細線8で接続し、座グリ9に外装樹脂3を
入れることにより半導体素子7および金属細線8を電気
的、かつ機械的に保護する。また導体配線パターン4の
延長に外部電極2を設けている。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体集積回路装置に
関し、特に回路基板に半導体素子を搭載する構造に関す
る。
関し、特に回路基板に半導体素子を搭載する構造に関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の半導体集積回路素子は図
6(a),(b)に示すように、有機材料等からなる回
路基板1上に設けた座グリ9の内側に半導体素子7を絶
縁性または導電性の接着剤6を介して搭載すると共に、
接着剤6を加熱することにより回路基板1と半導体素子
7を機械的に固着している。
6(a),(b)に示すように、有機材料等からなる回
路基板1上に設けた座グリ9の内側に半導体素子7を絶
縁性または導電性の接着剤6を介して搭載すると共に、
接着剤6を加熱することにより回路基板1と半導体素子
7を機械的に固着している。
【0003】さらに金属細線8により半導体素子7の上
面に設けられた電極(図示せず)と回路基板1上に設け
られた導体配線パターン4とをワイヤボンディング法に
て電気的に接続すると共に、導体配線パターン4を介し
て回路基板1の側面に形成されたスルーホール電極11
と電気的に接続している。半導体素子7と金属細線8と
は、樹脂枠13により制限された内側の領域に塗布され
た外装樹脂3で機械的、かつ電気的に保護されている。
面に設けられた電極(図示せず)と回路基板1上に設け
られた導体配線パターン4とをワイヤボンディング法に
て電気的に接続すると共に、導体配線パターン4を介し
て回路基板1の側面に形成されたスルーホール電極11
と電気的に接続している。半導体素子7と金属細線8と
は、樹脂枠13により制限された内側の領域に塗布され
た外装樹脂3で機械的、かつ電気的に保護されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】この従来の半導体集積
回路装置では、回路基板1に設けた座グリ9に半導体素
子7を搭載し、さらに金属細線8で接続した後、機械
的,電気的、かつ表面が平坦な面実装対応とするため樹
脂枠13を用い、外装樹脂3で保護する構造となってい
る。従って厚みに限界があり、薄型化の問題があった。
回路装置では、回路基板1に設けた座グリ9に半導体素
子7を搭載し、さらに金属細線8で接続した後、機械
的,電気的、かつ表面が平坦な面実装対応とするため樹
脂枠13を用い、外装樹脂3で保護する構造となってい
る。従って厚みに限界があり、薄型化の問題があった。
【0005】また、スルーホール電極11はドリルで穴
あけ加工を機械的にしているため、狭ピッチ,多ピン対
応として技術的に任意精度および小径化が難しく、さら
にコスト的に高くなるという問題があった。
あけ加工を機械的にしているため、狭ピッチ,多ピン対
応として技術的に任意精度および小径化が難しく、さら
にコスト的に高くなるという問題があった。
【0006】本発明の目的は、薄型・狭ピッチ化及び低
コストを実現した半導体集積回路装置を提供することに
ある。
コストを実現した半導体集積回路装置を提供することに
ある。
【0007】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明に係る半導体集積回路装置は、導体配線パタ
ーンと、半導体素子と、外部端子とを有する半導体集積
回路装置であって、導体配線パターンは、回路基板の座
グリの底面に設けられたものであり、半導体素子は、前
記座グリ内に設けられて導体配線パターンに接続され、
外装樹脂で封止されたものであり、外部端子は、導体配
線パターンの延長部に該パターンに導通されて設けられ
たものである。
め、本発明に係る半導体集積回路装置は、導体配線パタ
ーンと、半導体素子と、外部端子とを有する半導体集積
回路装置であって、導体配線パターンは、回路基板の座
グリの底面に設けられたものであり、半導体素子は、前
記座グリ内に設けられて導体配線パターンに接続され、
外装樹脂で封止されたものであり、外部端子は、導体配
線パターンの延長部に該パターンに導通されて設けられ
たものである。
【0008】
【作用】従来のように樹脂枠を必要とせず、薄型化が実
現される。導体配線パターンの延長部に外部端子が設け
られるため、従来と同一の実装方法を採用できるととも
に、狭ピッチ対応が可能となる。
現される。導体配線パターンの延長部に外部端子が設け
られるため、従来と同一の実装方法を採用できるととも
に、狭ピッチ対応が可能となる。
【0009】
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明す
る。
る。
【0010】図1(a)は、本発明の実施例1を示す斜
視図、図1(b)は、断面図である。
視図、図1(b)は、断面図である。
【0011】図において、所定の導体配線パターン及び
ソルダーレジスト5とを設けた有機材料等からなる回路
基板1の一方の面に座グリ9を加工すると共に、底面に
導体配線パターン4を露出させて設けている。
ソルダーレジスト5とを設けた有機材料等からなる回路
基板1の一方の面に座グリ9を加工すると共に、底面に
導体配線パターン4を露出させて設けている。
【0012】さらに導体配線パターン4にパターンメッ
キ技術によりNiメッキ,Auメッキまたははんだメッ
キを必要に応じて施す。
キ技術によりNiメッキ,Auメッキまたははんだメッ
キを必要に応じて施す。
【0013】次に座グリ9の内側に、例えば300〜5
00μm厚の半導体素子7を搭載し、さらに例えば15
0〜200℃、かつ60〜90分の加熱により固着す
る。また半導体素子7の上面に設けられた電極(図示せ
ず)と座グリ9の内側に設けられた導体配線パターン4
とをボンディング法にて金属細線8で電気的に接続して
いる。
00μm厚の半導体素子7を搭載し、さらに例えば15
0〜200℃、かつ60〜90分の加熱により固着す
る。また半導体素子7の上面に設けられた電極(図示せ
ず)と座グリ9の内側に設けられた導体配線パターン4
とをボンディング法にて金属細線8で電気的に接続して
いる。
【0014】さらに金属細線8及び半導体素子7を電気
的、かつ機械的に保護するために座グリ9の内側に例え
ばエポキシ系の外装樹脂3をポッティング法またはトラ
ンスファモールド法により封止する。また前記導体配線
パターン4の延長部は外部電極2と電気的に接続されて
いる。
的、かつ機械的に保護するために座グリ9の内側に例え
ばエポキシ系の外装樹脂3をポッティング法またはトラ
ンスファモールド法により封止する。また前記導体配線
パターン4の延長部は外部電極2と電気的に接続されて
いる。
【0015】図2は、本発明の実施例2を示す断面図で
ある。本実施例は、半導体素子7と導体配線パターン4
とをはんだバンプ10にて接続したものである。
ある。本実施例は、半導体素子7と導体配線パターン4
とをはんだバンプ10にて接続したものである。
【0016】図3は本発明の実施例3を示す断面図であ
る。本実施例は、図2の半導体素子7の裏面に放熱フィ
ン12を設けて発熱を外部に放散できるようにしたもの
である。
る。本実施例は、図2の半導体素子7の裏面に放熱フィ
ン12を設けて発熱を外部に放散できるようにしたもの
である。
【0017】図4は本発明の実施例4を示す断面図であ
る。本実施例では、図2の半導体素子7の搭載面を貫通
させ、さらに貫通部に半導体素子7を配置したものであ
る。本実施例によれば、半導体集積回路装置の全体厚を
従来より約30〜50%薄型にできると共に、接着剤6
および加熱固着工程を省略できる。
る。本実施例では、図2の半導体素子7の搭載面を貫通
させ、さらに貫通部に半導体素子7を配置したものであ
る。本実施例によれば、半導体集積回路装置の全体厚を
従来より約30〜50%薄型にできると共に、接着剤6
および加熱固着工程を省略できる。
【0018】図5(a),(b)は本発明の実施例5を
示す図である。本実施例は、導体配線パターン4が回路
基板1に埋め込まれた構造としたものである。
示す図である。本実施例は、導体配線パターン4が回路
基板1に埋め込まれた構造としたものである。
【0019】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、回路基板
1の座グリ9の底面に導体配線パターン4を露出させ、
半導体素子7と金属細線8またははんだバンプ10で接
続することにより、従来のパッケージ厚より約30〜5
0%薄型化することができる。
1の座グリ9の底面に導体配線パターン4を露出させ、
半導体素子7と金属細線8またははんだバンプ10で接
続することにより、従来のパッケージ厚より約30〜5
0%薄型化することができる。
【0020】また導体配線パターン4の延長部に外部電
極2を設けることにより従来と同一実装方法ができると
共に、0.5mmピッチ以下の狭ピッチ対応も可動とな
る。さらに加工および資材面ではスルーホール加工の省
略,両面から片面基板化および樹脂枠13の省略等によ
りコスト低減ができる。
極2を設けることにより従来と同一実装方法ができると
共に、0.5mmピッチ以下の狭ピッチ対応も可動とな
る。さらに加工および資材面ではスルーホール加工の省
略,両面から片面基板化および樹脂枠13の省略等によ
りコスト低減ができる。
【0021】また半導体素子7の裏面に放熱フィン12
を設けることで半導体素子7の発熱を放熱フィン12を
介して外部に放散できるため従来より数倍の放熱効果が
ある。従ってハイパワー系の半導体素子7の搭載も可能
となる。
を設けることで半導体素子7の発熱を放熱フィン12を
介して外部に放散できるため従来より数倍の放熱効果が
ある。従ってハイパワー系の半導体素子7の搭載も可能
となる。
【図1】(a)は本発明の実施例1を示す斜視図、
(b)は同断面図である。
(b)は同断面図である。
【図2】本発明の実施例2を示す断面図である。
【図3】本発明の実施例3を示す断面図である。
【図4】本発明の実施例4を示す断面図である。
【図5】(a)は本発明の実施例5を示す斜視図、
(b)は同断面図である。
(b)は同断面図である。
【図6】(a)は従来の半導体集積回路装置を示す斜視
図、(b)は同断面図である。
図、(b)は同断面図である。
1 回路基板 2 外部電極 3 外装樹脂 4 導体配線パターン 5 ソルダーレジスト 6 接着剤 7 半導体素子 8 金属細線 9 座グリ 10 はんだバンプ 11 スルーホール電極 12 放熱フィン 13 樹脂枠
Claims (1)
- 【請求項1】 導体配線パターンと、半導体素子と、外
部端子とを有する半導体集積回路装置であって、 導体配線パターンは、回路基板の座グリの底面に設けら
れたものであり、 半導体素子は、前記座グリ内に設けられて導体配線パタ
ーンに接続され、外装樹脂で封止されたものであり、 外部端子は、導体配線パターンの延長部に該パターンに
導通されて設けられたものであることを特徴とする半導
体集積回路装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4255911A JPH0685102A (ja) | 1992-08-31 | 1992-08-31 | 半導体集積回路装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4255911A JPH0685102A (ja) | 1992-08-31 | 1992-08-31 | 半導体集積回路装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0685102A true JPH0685102A (ja) | 1994-03-25 |
Family
ID=17285286
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4255911A Pending JPH0685102A (ja) | 1992-08-31 | 1992-08-31 | 半導体集積回路装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0685102A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008147251A (ja) * | 2006-12-06 | 2008-06-26 | Murata Mfg Co Ltd | 複合基板 |
US9327552B2 (en) | 2012-05-31 | 2016-05-03 | Hino Motors, Ltd. | Bearing structure |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59215750A (ja) * | 1983-05-23 | 1984-12-05 | Sanyo Electric Co Ltd | 記憶用半導体装置 |
JPH0613488A (ja) * | 1992-06-24 | 1994-01-21 | Fuji Film Micro Device Kk | 回路基板とその製造方法 |
-
1992
- 1992-08-31 JP JP4255911A patent/JPH0685102A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59215750A (ja) * | 1983-05-23 | 1984-12-05 | Sanyo Electric Co Ltd | 記憶用半導体装置 |
JPH0613488A (ja) * | 1992-06-24 | 1994-01-21 | Fuji Film Micro Device Kk | 回路基板とその製造方法 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008147251A (ja) * | 2006-12-06 | 2008-06-26 | Murata Mfg Co Ltd | 複合基板 |
US9327552B2 (en) | 2012-05-31 | 2016-05-03 | Hino Motors, Ltd. | Bearing structure |
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