JPH04233823A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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JPH04233823A
JPH04233823A JP2409540A JP40954090A JPH04233823A JP H04233823 A JPH04233823 A JP H04233823A JP 2409540 A JP2409540 A JP 2409540A JP 40954090 A JP40954090 A JP 40954090A JP H04233823 A JPH04233823 A JP H04233823A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
transistor
potential
emitter
transistors
base
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP2409540A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroyuki Kadoi
角井 広幸
Naoyuki Miyazawa
宮沢 直行
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体装置に係り、特に
レベルシフト用ダイオードを含む出力回路を有する半導
体装置に関する。
【0002】近年の大規模集積回路(LSI)は高速化
、低消費電力化、高集積化の要求が益々強くなってきた
。そのため、LSI内で用いられる半導体装置も、高速
で低消費電力の回路構成であることが必要とされる。
【0003】
【従来の技術】図2は従来の半導体装置の一例の回路図
を示す。同図中、NPNトランジスタQ1 及びQ2 
は各エミッタが共通接続され、かつ、各コレクタが別々
に抵抗R1 ,R2 を介して高電位側電源電圧VCC
に接続されて電流スイッチ回路を構成している。トラン
ジスタQ1 のベースは入力端子1に接続され、パルス
が入力される。トランジスタQ2 のベースには入力端
子1の入力パルスのハイレベル(例えば−0.9 V)
とローレベル(例えば−1.7 V)の中間レベルの電
圧VBB(例えば−1.3 V)が与えられる。すなわ
ち、この電圧VBBはスレッシュホールド電圧となる。
【0004】NPNトランジスタQ3 のコレクタはト
ランジスタQ1 及びQ2 の両エミッタに接続され、
Q3 のエミッタは抵抗R3 を介して低電位側電源電
圧VEEに接続されている。トランジスタQ3 と抵抗
R3 は、トランジスタQ3 のベースに印加される定
電圧VCSとQ3 のベース・エミッタ間電圧VBE及
び抵抗R3 の値によって決まる定電流ICSを発生さ
せる定電流回路を構成している。この定電流回路と上記
トランジスタQ1 ,Q2 ,抵抗R1 ,R2 によ
る電流スイッチ回路とにより論理回路2が構成されてい
る。
【0005】トランジスタQ2 のコレクタと抵抗R2
 の接続点はNPNトランジスタQ4 及びQ5 の両
ベースに夫々接続されている。トランジスタQ4 のエ
ミッタはレベルシフト用ダイオードD1 及び抵抗R4
 を直列に介して低電位側電源電圧VEEに接続されて
いる。PNPトランジスタQ6 はベースがダイオード
D1 のカソードと抵抗R4 との接続点に接続され、
そのエミッタはトランジスタQ5 のエミッタに接続さ
れ、そのコレクタは低電位側電源電圧VEEに接続され
ている。これらのトランジスタQ4 ,Q5 ,Q6 
,ダイオードD1及び抵抗R4 に出力回路3を構成し
ており、トランジスタQ5 とQ6 の両エミッタより
端子4へ信号を出力する。なお、CL は次段の入力容
量や各種の寄生容量による負荷容量を示す。
【0006】上記の論理回路2と出力回路3はECL(
エミッタ・カップルト・ロジック)回路となっている。 いま、端子1にハイレベルの信号が入力されたものとす
ると、トランジスタQ1 がオン、トランジスタQ2 
がオフとなるため、トランジスタQ2 にコレクタ電流
が流れないのでトランジスタQ2 のコレクタ電位、す
なわちトランジスタQ4 及びQ5 のベース電位が略
VCCのハイレベルとなる。
【0007】他方、端子1にローレベルの信号が入力さ
れたものとすると、トランジスタQ1 がオフ、トラン
ジスタQ2 がオンとなり、定電流ICSが抵抗R2 
を流れてR2 ・ICSなる電圧降下が生じるので、ト
ランジスタQ4 ,Q5 の両ベース電位はローレベル
となる。従って、論理回路2はバッファとなっている。
【0008】トランジスタQ2 がオフのとき(端子1
にハイレベルの信号が入力されたとき)には、トランジ
スタQ4 及びQ5 の両ベース電位がハイレベルとな
るので、論理回路2の出力電位(トランジスタQ2 の
コレクタ電位)からトランジスタQ5 のベース・エミ
ッタ間電圧VBE下がったハイレベルの電位が端子4へ
出力される。
【0009】また、トランジスタQ2 がオンのとき(
端子1にローレベルの信号が入力されたとき)にも、論
理回路2の出力電位からトランジスタQ5 のベース・
エミッタ間電圧VBE下がったローレベルの電位が端子
4へ出力される。
【0010】このように、出力回路3は端子1の入力電
位がハイレベルのときにはハイレベル、入力電位がロー
レベルのときにはローレベルを端子4へ出力する回路で
、アクティブプルダウン回路と呼ばれ、出力端子4での
ローレベルからハイレベルへの変化(以下、これを「L
→H」と記す)あるいはハイレベルからローレベルへの
変化(以下、これを「H→L」と記す)の遷移時間を最
終段のエミッタフォロワトランジスタとエミッタ抵抗と
の接続点より信号を出力する回路などよりも短くした回
路である。
【0011】すなわち、出力端子4の出力電圧がH→L
へ変化するときには、負荷容量CL に蓄えられている
電荷をトランジスタQ6 のエミッタ、コレクタを通し
て急速に放電させ、また出力電圧がL→Hに変化すると
きには、トランジスタQ5 のコレクタ、エミッタを通
して負荷容量CL に急速に充電を行なうことによって
、上記の遷移時間を短縮できる。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】しかるに、上記の従来
の半導体装置では、高速化のためにトランジスタQ5 
及びQ6 に大電流が流れるため、消費電力が大きく、
高集積化が困難でLSIに対する要求を満足できないと
いう問題がある。
【0013】本発明は上記の点に鑑みなされたもので、
低消費電力の半導体装置を提供することを目的とする。
【0014】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体装置は、
互いに逆導電型で両ベース間にレベルシフト用ダイオー
ドが接続された第1及び第2のトランジスタのうち、第
1のトランジスタのベースに信号を入力し、第1及び第
2のトランジスタの両エミッタ共通接続点から出力を取
り出す出力回路を備えた半導体装置において、レベルシ
フト用ダイオードのカソード面積を、少なくとも第2の
トランジスタのエミッタ面積より大に構成したものであ
る。
【0015】
【作用】本発明は第1及び第2のトランジスタの出力が
変化する時(過渡状態)のみ、一方がオンで他方がオフ
となればよく、定常状態(出力が変化しない時)では極
端には電流が第1及び第2のトランジスタに流れなくて
もよい点に着目し、第1及び第2のトランジスタに定常
状態にて流れる電流を減少させるようにしたものである
【0016】第1及び第2のトランジスタに流れる定常
状態での電流は、第1のトランジスタのベース・エミッ
タ間電圧VBEとレベルシフト用ダイオードの順方向降
下電圧VD の和に指数関数的に比例する。そこで、本
発明ではレベルシフト用ダイオードのカソード面積を少
なくとも第2のトランジスタのエミッタ面積よりも大き
くすることにより、上記電圧VD を小にし、第1及び
第2のトランジスタに流れる定常状態での電流を従来よ
りも小とする。
【0017】
【実施例】図1は本発明の一実施例の回路図を示す。同
図中、図2と同一構成部分には同一符号を付し、その説
明を適宜省略する。図1において、出力回路5内のNP
NトランジスタQ4 のベースはレベルシフト用ダイオ
ードD2a,D2bのアノードに夫々共通接続されてい
る。また、PNPトランジスタQ6 のベースと抵抗R
4 ´の接続点は上記のレベルシフト用ダイオードD2
a,D2bの各カソードに共通接続されている。トラン
ジスタQ4 ,Q5 及びQ6の各エミッタ面積は夫々
等しく設定されている。
【0018】上記のダイオードD2a及びD2bはカソ
ード面積がトランジスタQ6 のエミッタ面積と同一の
ダイオードが2個並列接続されている。これにより、ダ
イオードD2a,D2b全体のカソード面積はトランジ
スタQ6 のエミッタ面積の2倍になっている。なお、
ダイオードD2a,D2bとして、トランジスタQ6 
のエミッタ面積の2倍のカソード面積をもつ1個のダイ
オードを用いてもよい。
【0019】これにより、本実施例で用いられるレベル
シフト用ダイオードD2a,D2b全体のカソード面積
は、トランジスタQ6 のエミッタ面積と等しいカソー
ド面積の従来のレベルシフト用ダイオードD1 のそれ
の2倍になる。
【0020】次に本実施例の動作について説明する。入
力端子1の入力信号がハイレベルのときには、トランジ
スタQ4 及びQ5 の各ベースにハイレベルの信号が
入力され、トランジスタQ4 ,ダイオードD2a,D
2b及び抵抗R4 ´に電流I1 が流れ、一方、トラ
ンジスタQ5 及びQ6 を夫々通して電流I2 が流
れ、出力端子4にはトランジスタQ2 のコレクタ電位
からトランジスタQ5 のベース・エミッタ間電位下が
ったハイレベルの信号が出力され、負荷容量CL が充
電される。
【0021】この出力ハイレベルの定常状態では、ダイ
オードD2a,D2b全体のカソード面積が従来の2倍
であることから、その順方向降下電圧が従来より小で、
トランジスタQ6 のベース電位が高く、トランジスタ
Q5 及びQ6 を流れる電流I2 はI1 を従来と
等しく設定すると従来の約70%と小である。
【0022】この状態で入力信号がハイレベルからロー
レベルへ変化したものとすると、トランジスタQ4 及
びQ5 のベース電位がH→Lへ変化し、トランジスタ
Q6 のベース電位もH→LへトランジスタQ4 のベ
ース電位と略同時に変化する。しかし、負荷容量CL 
がハイレベルに充電されているため、出力端子4の電位
はなかなかH→Lへ変化しない。
【0023】すると、トランジスタQ5 はベース電位
がH→Lへ変化しているが、そのエミッタ電位(出力端
子4の電位)はまだハイレベルなので、トランジスタQ
5 のベース・エミッタ間電位が小さくなり、トランジ
スタQ5 がオフする。
【0024】一方、トランジスタQ6 のベース電位も
H→Lへ変化しているが、そのエミッタ電位(出力端子
4の電位)が前記したようにまだハイレベルなので、ト
ランジスタQ6 のベース・エミッタ間電位が大となり
、オンとなる。その結果、負荷容量CL の充電電荷は
大電流を流す状態になったトランジスタQ6 のエミッ
タ・コレクタを夫々通して急速に放電され、出力端子4
の電位が急速にH→Lに変化する。
【0025】出力端子4の電位がローレベルに安定する
と、入力信号がH→Lへ変化した時よりも、トランジス
タQ5 のベース・エミッタ間電位が大となるので、Q
5 のオフ状態が解除され、また同時にトランジスタQ
6 のベース・エミッタ間電位が小となるも、Q6 が
オフにはならない程度に小となる。
【0026】よって、入力端子1の入力電位がローレベ
ルで安定すると、トランジスタQ5 及びQ6 に夫々
定常電流I2 が流れ、かつ、ダイオードD2a,D2
bにも定常電流I1 が流れる。このときの定常電流I
1 ,I2 は入力信号がハイレベルのときに比べて小
なる値であるが、I2 が従来の約70%の値である点
は入力信号がハイレベルのときと同様である。
【0027】次に入力信号がローレベルからハイレベル
へと変化すると、トランジスタQ4 及びQ5 のベー
ス電位がL→Hへ変化し、トランジスタQ6 のベース
電位もL→Hへ変化する。このとき、出力端子4の電位
はローレベルであるから、トランジスタQ6 のベース
・エミッタ間電位が小さくなり、Q6 がオフする一方
、トランジスタQ5 のベース・エミッタ間電位が大き
くなり、Q5 がオンとなる。その結果、電源電圧VC
CからトランジスタQ5 のコレクタ、エミッタを通し
て負荷容量CL を急速に充電し、出力端子4の電位が
急速にL→Hへ変化する。
【0028】負荷容量CL の充電が終ると、入力信号
のL→Hへの変化時点に比べてトランジスタQ5 のベ
ース・エミッタ間電位が小さくなり、かつ、トランジス
タQ6 のベース・エミッタ間電位が大きくなりオフで
なくなるので、夫々トランジスタQ5 及びQ6に定常
電流が流れる。
【0029】このように、本実施例によれば、定常状態
のときにトランジスタQ5 及びQ6 に流れる電流を
従来に比べ小とできる。また、H→L又はL→Hの過渡
状態のときにトランジスタQ5 又はQ6に流れる大電
流はレベルシフト用ダイオードD2a,D2bの順方向
降下電圧によらないので、従来に比べて殆ど変らないた
め、従来と同じ程度の高速性(遷移時間の短縮化)を確
保することができる。
【0030】なお、本発明は上記の実施例に限定される
ものではなく、トランジスタQ4 〜Q6 の各エミッ
タ面積が同一の場合に、レベルシフト用ダイオードのカ
ソード面積をトランジスタQ6 のエミッタ面積より大
きくすればよく、2倍に限らないことは勿論であり、ま
たトランジスタQ5 及びQ6 の各エミッタ面積が異
なる場合はレベルシフト用ダイオードのカソード面積を
従来より大にすればよい。
【0031】
【発明の効果】上述の如く、本発明によれば、出力段の
第1及び第2のトランジスタに定常状態で流れる電流を
、レベルシフト用ダイオードのカソード面積を従来に比
べて大きくすることで減少させるようにしたため、同一
電源電圧の場合は消費電力を従来に比べて低減すること
ができ、よって集積回路化する場合に高集積化を可能に
でき、また入力信号が変化した時の過渡状態で第1又は
第2のトランジスタに流れる電流は従来と略同じなので
、従来と同じ程度の高速性を確保することができる等の
特長を有するものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の回路図である。
【図2】従来の一例の回路図である。
【符号の説明】
Q4 ,Q5   出力回路用NPNトランジスタQ6
   出力回路用PNPトランジスタD2a,D2b 
 レベルシフト用ダイオードCL   負荷容量 4  出力端子

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  互いに逆導電型の第1及び第2のトラ
    ンジスタ(Q5 ,Q6 )と、該第1及び第2のトラ
    ンジスタ(Q5 ,Q6 )の両ベース間にレベルシフ
    ト用ダイオード(D2a,D2b)を接続し、該第1の
    トランジスタ(Q5 )のベースに信号を入力して該第
    1及び第2のトランジスタ(Q5 ,Q6 )の両エミ
    ッタの共通接続点より出力を取り出す出力回路を備える
    半導体装置において、前記レベルシフト用ダイオード(
    D2a,D2b)のカソード面積を、少なくとも前記第
    2のトランジスタ(Q6 )のエミッタ面積より大に構
    成したことを特徴とする半導体装置。
JP2409540A 1990-12-28 1990-12-28 半導体装置 Withdrawn JPH04233823A (ja)

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JP2409540A JPH04233823A (ja) 1990-12-28 1990-12-28 半導体装置

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Effective date: 19980312