JPH04229633A - 真空ウェハ搬送処理装置及び方法 - Google Patents

真空ウェハ搬送処理装置及び方法

Info

Publication number
JPH04229633A
JPH04229633A JP3141247A JP14124791A JPH04229633A JP H04229633 A JPH04229633 A JP H04229633A JP 3141247 A JP3141247 A JP 3141247A JP 14124791 A JP14124791 A JP 14124791A JP H04229633 A JPH04229633 A JP H04229633A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
processing
chamber
wafer transfer
vacuum chamber
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3141247A
Other languages
English (en)
Inventor
Owen P Williams
オーウェン・ピー・ウィリアムズ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Motorola Solutions Inc
Original Assignee
Motorola Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Motorola Inc filed Critical Motorola Inc
Publication of JPH04229633A publication Critical patent/JPH04229633A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67155Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations
    • H01L21/67161Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the layout of the process chambers
    • H01L21/67167Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the layout of the process chambers surrounding a central transfer chamber
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67155Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations
    • H01L21/6719Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the construction of the processing chambers, e.g. modular processing chambers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67155Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations
    • H01L21/67196Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the construction of the transfer chamber
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S414/00Material or article handling
    • Y10S414/135Associated with semiconductor wafer handling
    • Y10S414/137Associated with semiconductor wafer handling including means for charging or discharging wafer cassette
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S414/00Material or article handling
    • Y10S414/135Associated with semiconductor wafer handling
    • Y10S414/139Associated with semiconductor wafer handling including wafer charging or discharging means for vacuum chamber

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、一般的には半導体デ
バイスの製造方法に関し、より具体的には、真空ウェハ
搬送処理装置及び方法に関する。
【0002】
【従来の技術】デバイス及び集積回路を製造するための
半導体ウェハの処理は、様々な形式のリアクタ及びウェ
ハ処理チャンバ内において多数の工程を必要とする。処
理されるウェハは、チャンバ間では人手を介して移動さ
れるのが普通である。ウェハのマニュアル搬送は、ウェ
ハを微粒子や他の不純物にも汚されやすくする。ウェハ
上の微粒子及び他の不純物は結果として欠陥密度を増加
し、デバイス品質を低下させる。
【0003】アプライド・マテリアルズ(Applie
d Materials) 社のモデル5000のよう
なクラスタ装置(Cluster tools) は、
真空状態を保持しながら、数多くのプロセス工程を行な
う能力がある。この装置ではマニュアル操作はもちろん
のこと、ウェハが大気に覆される機会を非常に減少させ
る。典型的クラスタ装置は、多数のプロセス(処理)モ
ジュールが結合された1つの中央搬送モジュールを含ん
でいる。その搬送モジュールは、単一のロボットアーム
を含み、このアームは、その搬送モジュールと様々なプ
ロセスモジュールとの間でウェハを搬送する。ある特定
のプロセスモジュールに1枚のウェハが搬入されれば、
そのプロセスモジュールは搬送モジュールから密封され
、その中で処理が行なわれる。処理モジュールの真空度
は搬送モジュールの真空度と等しいこともありまた異な
ることもあり、それは個々の処理工程に依存する。
【0004】クラスタ装置は、その設計により、即ち、
搬送モジュールと種々のプロセスモジュールとの間でウ
ェハを搬送するための、単一ロボットアームのみの存在
により、能力がひどく制限されている。第1に、全ウェ
ハ搬送は単一ロボットアームに依存する故に、処理量(
throughput)が限定されている。第2に、ク
ラスタ装置の全動作は、完全にロボットアームに依存す
る。もしもそのアームが誤動作すれば、アームが修理さ
れるまで全システムが運転不能となる。
【0005】従って、高い生産処理量を可能にし、単一
ロボットアームに依存しない、真空ウェハ搬送処理装置
を有することが非常に望ましいことである。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】従って、連続真空状態
のもとで多数の処理工程を実施できる、改善された真空
ウェハ搬送処理装置及び方法を提供することが本発明の
目的の1つである。
【0007】処理量の増加を可能にする真空ウェハ搬送
処理装置及び方法を提供することが本発明の他の目的の
1つである。
【0008】単一ロボットアームの動作に依存しない真
空ウェハ搬送処理装置及び方法を提供することが本発明
のさらに別の目的の1つである。
【0009】
【課題を解決するための手段】上述の及び他の目的及び
利点は、その中に配置されるウェハ保持手段を有する中
央真空チャンバを、その一部として含む一つの実施例に
よって、本発明において達成される。複数のウェハ搬送
アームが、中央真空チャンバに接続され、中央真空チャ
ンバから伸張(extend)される。複数のウェハ搬
送アームの内の少なくともいくつかのアームはさらにウ
ェハ処理チャンバに結合される。これらのウェハ搬送ア
ームは中央真空チャンバのウェハ保持手段と様々なウェ
ハ処理チャンバとの間で、ウェハを搬送する。さらに、
他のウェハ搬送アームは保管その他にも使用できる。本
発明はまた、種々のウェハ処理チャンバの間でウェハを
直接的に搬送する、ウェハ搬送アームを含むこともある
【0010】
【概要】ウェハ保持手段を有する1つの中央真空チャン
バを含む真空ウェハ搬送処理装置及びその方法が開示さ
れた。複数のウェハ搬送アームが中央真空チャンバと複
数のウェハ処理チャンバとの間に配置されている。ウェ
ハ搬送アームは、ウェハを様々な処理チャンバと中央真
空チャンバとの間で搬送するので、数多くのウェハ処理
工程は真空中で実施できるという特徴を有する。
【0011】
【実施例】第1図は、アプライド・マテリアルズ(Ap
plied Materials) 社のモデル500
0に類似する、従来技術によるクラスタ装置10の概略
図である。クラスタ装置10はその中に配置された単一
ロボットアーム14を有する1つの搬送モジュール12
を含む。カセットモジュール16は搬送モジュール12
にゲートバルブ18により結合される。複数のプロセス
モジュール20A−20Eはまたゲートバルブ18によ
って、搬送モジュール12に結合される。
【0012】クラスタ装置10は一般的には、以下のよ
うに動作する。ウェハ24を含むウェハカセット22は
、カセットモジュール16の中に配置される。ウェハカ
セット22がカセットモジュール16の中に配置されて
いる間、カセットモジュール16を搬送モジュール12
に結合するゲートバルブ18は密封されている故に、搬
送モジュール12は大気には覆されていない。ウェハカ
セット22がカセットモジュール16にロードされたな
らば、カセットモジュール16は大気から密封され、あ
る特定の真空度に減圧される。典型的には、カセットモ
ジュール16の真空度は搬送モジュール12の真空度と
同じである。一度、カセットモジュール16が所望の真
空度に達すれば、ゲートバルブ18は開かれロボットア
ーム14はゲートバルブ18を介してウェハ24をカセ
ット22から搬送モジュール12に搬送する。
【0013】ロボットアーム14によって、ウェハ24
が一度搬送モジュール12内に配置されたならば、それ
はさらに、種々のプロセスモジュール20A−Eの内の
1つに搬送される。特定のプロセスモジュール20を搬
送モジュール12に結合するゲートバルブ18は、そこ
で密封され、プロセスモジュール20はその処理工程に
必要とされる特定の真空即ち圧力に、加圧または減圧さ
れる。プロセスモジュール20A−Eの各々は、搬送モ
ジュール12の圧力とは異なった圧力に、加圧または減
圧されると理解されるべきである。処理工程が一度完了
されれば、ゲートバルブ18は開き、ロボットアーム1
4は特定のプロセスモジュール20からウェハ24を取
り出し、それを搬送モジュール12に戻す。ウェハ24
はそこで、次の処理のため別のプロセスモジュール20
に入れられることもできる。
【0014】クラスタ装置10は、数多くの処理工程が
真空中で行なわれるのを可能にし、それにより、微粒子
や他の不純物の影響を受けにくくするが、一方で相対的
に能率が上がらない。単一ロボットアーム14が搬送モ
ジュール12内に配置されるだけである故に、所定時間
内においては制限された枚数のウェハ24しか搬送でき
ない。従って、処理量が相対的に低い。さらに、クラス
タ装置10の全体としての動作はロボットアーム14に
依存する。もしもロボットアーム14が不調または故障
の場合には、ウェハ24は装置中で搬送不能となるため
、クラスタ装置10は全く運転不能となる。
【0015】第2図は真空ウェハ搬送処理装置30の概
略図を示す。真空ウェハ搬送処理装置30は1つの中央
真空チャンバ32を含む。1つのウェハパッド34が中
央真空チャンバ32内に配置され、そこにウェハを保持
する働きをする。ウェハパッド34は必要な場合には垂
直方向の運動の能力も所有していてもよい。ここでは、
ウェハパッド34は単一パッドとして図示されているが
、所定時において同時に数多くのウェハを保持する能力
を有するウェハ保持手段を使用してもよいことは容易に
理解されるべきである。
【0016】真空ウェハ搬送処理装置30はさらに複数
のウェハ搬送アーム36を含み、これらの搬送アーム3
6は、それらの第1端部38においてバルブ40によっ
て、中央真空チャンバ32に結合されている。ウェハ搬
送アーム36の第1端部38を中央真空チャンバ32に
結合するのに加え、バルブ40は各ウェハ搬送アーム3
6から中央真空チャンバ32を密封する動作をする。バ
ルブ40はさらに中央真空チャンバ32内の真空を維持
しつつ、ウェハ搬送アーム36が中央真空チャンバ32
から取り外されるのを可能にするであろう。これは保守
やその他の目的で、ウェハ搬送アーム36が取り外され
ることを可能とするものである。ウェハ搬送アーム36
は実質的に直線的な様式で動作する。これはクラスタ装
置の中で典型的に使用され、一般に位置合わせが難しい
ロボットアームと比較して、位置合わせを比較的容易に
する。しかしまた、ウェハ搬送アーム36は必要ならば
垂直移動の能力を有することも可能であると理解される
べきである。
【0017】ウェハ搬送アーム36はさらに第2端部4
2を含む。第2端部42は単一処理チャンバ44, ク
ラスタ装置46またはウェハローダ48のような様々な
ウェハ処理チャンバに結合することができる。第2端部
42は、またステッパー等のような非真空チャンバまた
は装置その他に結合することも可能でありリソグラフィ
工程が実行されることが可能であり、完了すれば、ウェ
ハ24は真空ウェハ搬送処理装置30内に直接的に搬送
されうる。ウェハ搬送アーム36の第2端部42は一般
的にはバルブ50によって様々なウェハ処理チャンバに
結合される。バルブ50はウェハ搬送アーム36及び中
央真空チャンバ32から様々な処理チャンバが密封され
ることを可能にする。さらにバルブ50は様々な処理チ
ャンバがウェハ搬送アーム36から取り外されることを
可能にする。
【0018】真空ウェハ搬送処理装置30のあるウェハ
搬送アーム36は様々な処理チャンバに結合される第2
端部42を保有していない。このようなウェハ搬送アー
ム36はウェハの保管または冷却工程等に使用されうる
。ウェハの保管、冷却工程等に使用されるウェハ搬送ア
ーム36は保管または冷却に用いられるチャンバにまた
結合されていてもよい。
【0019】チャンバ間ウェハ搬送アーム52は単一処
理チャンバ44とクラスタ装置46との間に配置される
。チャンバ間ウェハ搬送アーム52は単一処理チャンバ
44とクラスタ装置46にバルブ54を介して結合され
る。バルブ54は単一処理チャンバ44とクラスタ装置
46が、チャンバ間ウェハ搬送アーム52からと同様に
、お互いからも密封されるのを可能にする。チャンバ間
ウェハ搬送アーム52は様々な処理チャンバの間でウェ
ハが直接的に搬送できるようにする。ウェハ24は必ず
しも中央真空チャンバ32を通り常に搬送されることを
要しないため、チャンバ間ウェハ搬送アーム52は処理
量を増加させる働きをする。チャンバ間ウェハ搬送アー
ム52は単一処理チャンバ44とクラスタ装置46との
間に常に配置されることを要しないと、理解されるべき
である。真空ウェハ搬送処理装置の個々の設計に依存し
て、これらの配置関係はチャンバ間または各エレメント
間で所望のように配置可能である。
【0020】ここに図示するように、ウェハ処理チャン
バはウェハローディングチャンバ48を含む。ウェハロ
ーディングチャンバ48はロードされるウェハのために
バルブ40または50のいずれかを介して真空ウェハ搬
送処理装置30の他の部分から密封される。ウェハはウ
ェハローディングチャンバ48の中に、個々にまたはカ
セットでロードされてもよい。ウェハが一度ロードされ
たならば、ウェハローディングチャンバ48は所望の真
空度、典型的には中央真空チャンバ32の圧力に減圧さ
れる。ウェハアーム36の内部搬送機構はそこで、ウェ
ハローディングチャンバ48から1枚のウェハを取り出
し、中央真空チャンバ32内のウェハパッド34にそれ
を搬送する。別のウェハ搬送アーム36はそこで、その
ウェハをウェハパッド34から、保管、単一処理チャン
バ、または、クラスタ装置46に搬送するであろう。
【0021】1枚のウェハ、または、所望枚数のウェハ
が単一処理チャンバ44またはクラスタ装置46のいず
れかに一度置かれれば、バルブ40、50、のいずれか
、または、単一処理チャンバ44またはクラスタ装置4
6のいずれかへの内部バルブ (図示されず) によっ
て、そのウェハは中央真空チャンバ32から密封され、
所望の処理工程または諸工程が実施されるだろう。望ま
しい処理工程または諸工程が実施されれば、密封された
バルブ40, 50または内部バルブ (図示されず)
は開放され、ウェハ搬送アーム36は単一処理チャンバ
44、または、クラスタ装置46のいずれかから、ウェ
ハを中央真空チャンバ32のウェハパッド34に戻すよ
うに搬送する。1枚のウェハあるいは複数のウェハは、
そこで、保管のため他のウェハ搬送アームに送られ、ま
たは、さらに処理するため他の処理チャンバに搬送され
、あるいは、真空ウェハ搬送処理装置30から除去され
るようにウェハローディングチャンバに送り戻されても
よい。チャンバ間ウェハ搬送アーム52が使用されれば
、様々なチャンバ間で望み通りにウェハを搬送するのに
利用できる。
【0022】本発明の別の特徴として、ウェハ搬送アー
ム36の部分の間にチャンバ (図示せず) を置くこ
とが望ましいことがある。これは真空排気をより容易に
するためである。即ち、装置の一部分が真空にされると
きに真空排気量が少なくてすむからである。リソグラフ
ィ工程から多くの真空処理工程の1つへ移向する場合の
ような、真空及び非真空工程の間を移動する作業状況に
対し、これは特に望ましいものである。これはまた、ウ
ェハのローディング及びアンローディングに対し特に望
ましいものである。ウェハ搬送アーム36及びチャンバ
間ウェハ搬送アーム52は、特定の応用に依存して長さ
が変えられるものであると理解されるべきである。様々
なウェハ搬送アーム36をある角度で使用するのも可能
であるから、望ましい床配置図が達成できる。例えば、
1対のウェハ搬送アーム36を小形の補助チャンバに対
し及び小形の補助チャンバから異なる方向に伸張させる
ことは非常に望ましいものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来技術によるクラスタ装置の概略図である。
【図2】本発明の一実施例による真空ウェハ搬送処理装
置の概略図である。
【符号の説明】
10,46  クラスタ装置 12  搬送モジュール 14  ロボットアーム 16  カセットモジュール 18  ゲートバルブ 20  プロセスモジュール 20A−E  プロセスモジュール 22  ウェハカセット 24  ウェハ 30  真空ウェハ搬送処理装置 32  中央真空チャンバ 34  ウェハパッド(ウェハ保持手段)36  ウェ
ハ搬送アーム 38  第1端部 40,50,54  バルブ 42  第2端部 44  単一処理チャンバ 48  ウェハローダ(ウェハローディングチャンバ)
52  チャンバ間ウェハ搬送アーム

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  1つの中央真空チャンバと、前記中央
    真空チャンバの中に配置されるウェハ保持手段と、各々
    前記中央真空チャンバに結合される第1端部及び第2端
    部を有する複数のウェハ搬送アームと、及び前記複数の
    ウェハ搬送アームの内の少なくともいくつかの前記第2
    端部に結合される複数のウェハ処理チャンバとを有する
    真空ウェハ搬送処理装置。
  2. 【請求項2】  1つの中央真空チャンバと、前記中央
    真空チャンバの中に配置されるウェハ保持手段と、各々
    第1端部及び第2端部を有する複数のウェハ搬送アーム
    と、前記中央真空チャンバと前記複数のウェハ搬送アー
    ムの前記第1端部との間に配置され両者を結合し、前記
    ウェハ搬送アームから前記中央真空チャンバを密封し、
    また、その中の真空を維持しつつ前記中央真空チャンバ
    から前記ウェハ搬送アームの取り外しを可能にする働き
    をする第1バルブ手段と、前記複数のウェハ搬送アーム
    の内の少なくともいくつかの第2端部に結合される複数
    のウェハ処理チャンバと、及び、前記ウェハ搬送アーム
    の内の少なくともいくつかの前記第2端部と前記複数の
    ウェハ処理チャンバとの間に配置され、両者を結合し、
    処理中に前記ウェハ処理チャンバを密封し、かつまたそ
    の中の真空を維持しつつ前記ウェハ搬送アームから前記
    ウェハ処理チャンバが取り外しできるように、ウェハ処
    理チャンバを密封する働きをする第2バルブ手段とを含
    む真空ウェハ搬送処理装置。
  3. 【請求項3】  少なくとも1枚の処理用ウェハを準備
    する工程と、中央真空チャンバ内に配置されるウェハ保
    持手段と、各々中央真空チャンバに結合される第1端部
    、及び第2端部を有する複数のウェハ搬送アームと、及
    び前記複数のウェハ搬送アームの内の少なくともいくつ
    かの前記第2端部に結合される複数のウェハ処理チャン
    バとを含む真空ウェハ搬送処理装置の中の中央真空チャ
    ンバ内に前記少なくとも1枚のウェハを配置する工程と
    、前記少なくとも1枚のウェハを、前記中央真空チャン
    バから、前記複数のウェハ搬送アームの内の1つを介し
    て前記複数のウェハ処理チャンバの内の第1のウェハ処
    理チャンバへ搬送する工程と、前記複数のウェハ処理チ
    ャンバの内の前記第1のウェハ処理チャンバを、前記複
    数のウェハ搬送アームの内の前記1つのウェハ搬送アー
    ムから密封する工程と、前記複数のウェハ処理チャンバ
    内の前記第1のウェハ処理チャンバ内において、前記の
    少なくとも1枚のウェハ上において前記第1の処理工程
    を実施する工程と、前記少なくとも1枚のウェハを、前
    記複数のウェハ処理チャンバの内の前記第1のウェハ処
    理チャンバから第2のウェハ処理チャンバへ搬送し、前
    記複数のウェハ処理チャンバの内の前記第2のウェハ処
    理チャンバを密封し、また、前記の少なくとも1枚のウ
    ェハに第2の処理工程を実施する工程と、及び前記の少
    なくとも1枚のウェハを、前記複数のウェハ処理チャン
    バの内の前記第2のウェハ処理チャンバから、前記第2
    の処理工程に引きつづいて取りはずす工程とを含む真空
    ウェハ搬送処理方法。
JP3141247A 1990-05-21 1991-05-16 真空ウェハ搬送処理装置及び方法 Pending JPH04229633A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US526,255 1990-05-21
US07/526,255 US5067218A (en) 1990-05-21 1990-05-21 Vacuum wafer transport and processing system and method using a plurality of wafer transport arms

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04229633A true JPH04229633A (ja) 1992-08-19

Family

ID=24096564

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3141247A Pending JPH04229633A (ja) 1990-05-21 1991-05-16 真空ウェハ搬送処理装置及び方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US5067218A (ja)
JP (1) JPH04229633A (ja)

Families Citing this family (44)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL8900544A (nl) * 1989-03-06 1990-10-01 Asm Europ Behandelingsstelsel, behandelingsvat en werkwijze voor het behandelen van een substraat.
KR0155158B1 (ko) * 1989-07-25 1998-12-01 카자마 젠쥬 종형 처리 장치 및 처리방법
EP0468409B1 (en) * 1990-07-23 1995-10-04 Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. Interface apparatus for transporting substrates between substrate processing apparatus
US5286296A (en) * 1991-01-10 1994-02-15 Sony Corporation Multi-chamber wafer process equipment having plural, physically communicating transfer means
JPH0812847B2 (ja) * 1991-04-22 1996-02-07 株式会社半導体プロセス研究所 半導体製造装置及び半導体装置の製造方法
JPH04336428A (ja) * 1991-05-13 1992-11-24 Nitto Denko Corp ウエハのテープ貼合わせ剥離装置
FR2678775B1 (fr) * 1991-07-05 1997-02-28 Thomson Csf Procede de realisation d'un dispositif optoelectronique
JP3238432B2 (ja) * 1991-08-27 2001-12-17 東芝機械株式会社 マルチチャンバ型枚葉処理装置
JP2598353B2 (ja) * 1991-12-04 1997-04-09 アネルバ株式会社 基板処理装置、基板搬送装置及び基板交換方法
FR2697003B1 (fr) * 1992-10-16 1994-11-18 Commissariat Energie Atomique Système de manipulation et de confinement d'objets plats dans des boîtes individuelles.
US5913149A (en) * 1992-12-31 1999-06-15 Micron Technology, Inc. Method for fabricating stacked layer silicon nitride for low leakage and high capacitance
JP3654597B2 (ja) * 1993-07-15 2005-06-02 株式会社ルネサステクノロジ 製造システムおよび製造方法
KR100291971B1 (ko) * 1993-10-26 2001-10-24 야마자끼 순페이 기판처리장치및방법과박막반도체디바이스제조방법
JP2994553B2 (ja) * 1994-04-08 1999-12-27 大日本スクリーン製造株式会社 基板処理装置
JPH07297258A (ja) * 1994-04-26 1995-11-10 Tokyo Electron Ltd 板状体の搬送装置
JP3660391B2 (ja) * 1994-05-27 2005-06-15 株式会社東芝 半導体装置の製造方法
KR100310249B1 (ko) * 1995-08-05 2001-12-17 엔도 마코토 기판처리장치
US5849629A (en) * 1995-10-31 1998-12-15 International Business Machines Corporation Method of forming a low stress polycide conductors on a semiconductor chip
US5820692A (en) * 1996-01-16 1998-10-13 Fsi Interntional Vacuum compatible water vapor and rinse process module
JP3537269B2 (ja) * 1996-05-21 2004-06-14 アネルバ株式会社 マルチチャンバースパッタリング装置
US5795356A (en) * 1996-05-31 1998-08-18 Slsp Partners, Inc. Microelectronic component fabrication facility, and process for making and using the facility
US5817366A (en) * 1996-07-29 1998-10-06 Tdk Corporation Method for manufacturing organic electroluminescent element and apparatus therefor
US5944857A (en) * 1997-05-08 1999-08-31 Tokyo Electron Limited Multiple single-wafer loadlock wafer processing apparatus and loading and unloading method therefor
US6312525B1 (en) 1997-07-11 2001-11-06 Applied Materials, Inc. Modular architecture for semiconductor wafer fabrication equipment
US6042623A (en) * 1998-01-12 2000-03-28 Tokyo Electron Limited Two-wafer loadlock wafer processing apparatus and loading and unloading method therefor
US6440261B1 (en) 1999-05-25 2002-08-27 Applied Materials, Inc. Dual buffer chamber cluster tool for semiconductor wafer processing
US6376387B2 (en) * 1999-07-09 2002-04-23 Applied Materials, Inc. Method of sealing an epitaxial silicon layer on a substrate
TW504941B (en) * 1999-07-23 2002-10-01 Semiconductor Energy Lab Method of fabricating an EL display device, and apparatus for forming a thin film
US6428262B1 (en) 1999-08-11 2002-08-06 Proteros, Llc Compact load lock system for ion beam processing of foups
US6558509B2 (en) * 1999-11-30 2003-05-06 Applied Materials, Inc. Dual wafer load lock
EP1124252A2 (en) * 2000-02-10 2001-08-16 Applied Materials, Inc. Apparatus and process for processing substrates
US6591850B2 (en) 2001-06-29 2003-07-15 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for fluid flow control
WO2005022602A2 (en) * 2003-08-29 2005-03-10 Crossing Automation, Inc. A method and apparatus for semiconductor processing
US10086511B2 (en) 2003-11-10 2018-10-02 Brooks Automation, Inc. Semiconductor manufacturing systems
US8029226B2 (en) * 2003-11-10 2011-10-04 Brooks Automation, Inc. Semiconductor manufacturing systems
TW200715448A (en) * 2005-07-25 2007-04-16 Canon Anelva Corp Vacuum processing apparatus, semiconductor device manufacturing method and semiconductor device manufacturing system
JP2010253795A (ja) * 2009-04-24 2010-11-11 Seiko Epson Corp 記録装置
DE102010048909A1 (de) * 2010-10-11 2012-04-12 Ekra Automatisierungssysteme Gmbh Prozessmaschine, insbesondere zum Bearbeiten und/oder Inspizieren von Substraten
JP5785712B2 (ja) * 2010-12-28 2015-09-30 株式会社日立ハイテクノロジーズ 真空処理装置
US9748434B1 (en) 2016-05-24 2017-08-29 Tesla, Inc. Systems, method and apparatus for curing conductive paste
US9954136B2 (en) 2016-08-03 2018-04-24 Tesla, Inc. Cassette optimized for an inline annealing system
US10115856B2 (en) 2016-10-31 2018-10-30 Tesla, Inc. System and method for curing conductive paste using induction heating
US10998209B2 (en) * 2019-05-31 2021-05-04 Applied Materials, Inc. Substrate processing platforms including multiple processing chambers
WO2021192001A1 (ja) 2020-03-24 2021-09-30 株式会社日立ハイテク 真空処理装置

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3404661A (en) * 1965-08-26 1968-10-08 Sperry Rand Corp Evaporation system
FR2498813A1 (fr) * 1981-01-27 1982-07-30 Instruments Sa Installation de traitement de materiaux pour la production de semi-conducteurs
DE3466135D1 (en) * 1984-10-16 1987-10-15 Ibm Vacuum transfer device
JPS61107720A (ja) * 1984-10-31 1986-05-26 Hitachi Ltd 分子線エピタキシ装置
US4923584A (en) * 1988-10-31 1990-05-08 Eaton Corporation Sealing apparatus for a vacuum processing system

Also Published As

Publication number Publication date
US5067218A (en) 1991-11-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH04229633A (ja) 真空ウェハ搬送処理装置及び方法
JP7263639B2 (ja) 基板搬送部
US11631605B2 (en) Sealed substrate carriers and systems and methods for transporting substrates
US6473989B2 (en) Conveying system for a vacuum processing apparatus
US5613821A (en) Cluster tool batchloader of substrate carrier
JP3486462B2 (ja) 減圧・常圧処理装置
US5607276A (en) Batchloader for substrate carrier on load lock
US5664925A (en) Batchloader for load lock
JP4327599B2 (ja) ウエーハ取り扱い装置及び方法
TWI408766B (zh) Vacuum processing device
WO1999035673B1 (en) Two-wafer loadlock wafer processing apparatus and loading and unloading method therefor
JP2011049585A (ja) 基板搬送装置及び方法
JP2007036284A (ja) 半導体装置素子の製造方法
JPH04190840A (ja) 真空処理装置
JP2011124565A (ja) 半導体被処理基板の真空処理システム及び半導体被処理基板の真空処理方法
JP3522796B2 (ja) 半導体製造装置
JPH01251734A (ja) マルチチャンバ型cvd装置
JPH1079412A (ja) 半導体製造装置
WO2021179437A1 (zh) 硅片输运装置
JP2767142B2 (ja) 真空処理装置用ユニット
JP2004080053A (ja) 半導体製造装置
JP3121022B2 (ja) 減圧処理装置
JPH04271139A (ja) 半導体製造装置
JP2001319959A (ja) 減圧・常圧処理装置
JPH0237742A (ja) 半導体装置の製造装置