JPH04216641A - リードボンディング装置用ステージ - Google Patents

リードボンディング装置用ステージ

Info

Publication number
JPH04216641A
JPH04216641A JP2411112A JP41111290A JPH04216641A JP H04216641 A JPH04216641 A JP H04216641A JP 2411112 A JP2411112 A JP 2411112A JP 41111290 A JP41111290 A JP 41111290A JP H04216641 A JPH04216641 A JP H04216641A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chip
bonding
elements
chip element
stage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2411112A
Other languages
English (en)
Inventor
Masakaze Hosoya
細矢 正風
Mitsue Kumaki
熊木 みつ江
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority to JP2411112A priority Critical patent/JPH04216641A/ja
Publication of JPH04216641A publication Critical patent/JPH04216641A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32245Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/33Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of a plurality of layer connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/484Connecting portions
    • H01L2224/48463Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond
    • H01L2224/48465Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond the other connecting portion not on the bonding area being a wedge bond, i.e. ball-to-wedge, regular stitch
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/50Tape automated bonding [TAB] connectors, i.e. film carriers; Manufacturing methods related thereto
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors

Landscapes

  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はフレキシブル配線板の内
部リードとチップ素子をボンディングする際に、チップ
素子を保持固定するために用いられるリードボンディン
グ装置用ステージに関するものである。
【0002】
【従来技術】フレキシブル配線板を使用してチップ素子
を実装する手段の1つであるTAB(Tape  Au
tomated  Bonding)システムに適用さ
れるリードボンディング装置においては、一般に図3に
示すようなチップ素子の固定方法が採られている。本方
法では、チップ素子1は、ボンディングステージ2の上
面中央部に設けられた直径0.5mm〜2mm程度の吸
着孔3の上に設置され、吸着孔3を真空ポンプによって
真空排気することによりボンディングステージ2上に吸
着固定される。ボンディング手段としては、チップ素子
1を吸着固定した後にTABテープ(図示せず)に連結
されたフレキシブル配線板4を上方に配置し、チップ素
子1の電極端子5とフレキシブル配線板4の内部リード
6の電極端子7とを位置合わせした上で、熱圧着あるい
は熱と図3に示すボンディングツール8による超音波の
併用ボンディングを行なう。
【0003】上述の真空吸着以外にチップ素子1を保持
固定する他の方法としては、図4に示すように押え金具
9を使用し、この押え金具9をばね(図示せず)によっ
てチップ素子1に圧接し、ボンディングステージ2上に
突設した位置決め用突起部10にチップ素子1の反押え
金具9側側面を押し付け保持固定する方法がある。本方
法は、主にチップ素子1をケース内や回路基板上にダイ
ボンディングする際に、ケースや基板を保持固定するた
めに用いられる方法であり、押え金具9の形状寸法をチ
ップ素子1に合わせて小さくすることによって、チップ
素子1の場合でも保持固定が可能である。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】フレキシブル配線板に
よってチップ素子を実装する方法は、大規模集積回路素
子への適用と合わせて高周波素子への適用に向けた検討
が進められている。大規模集積回路素子の場合には、チ
ップ素子寸法が3mm角以上と大きく、通常は一枚のフ
レキシブル配線板に対して、一個のチップ素子がボンデ
ィングされて回路基板等に搭載される。一方、高周波素
子の場合には、一般にチップ素子寸法が小さく0.5m
m角程度のものがあり、また、チップ素子間の配線長を
短くして高周波特性の劣化を抑えるため、およびチップ
素子実装密度向上のために、一枚のフレキシブル配線板
内に複数のチップ素子を実装しなければならない場合が
ある。これに対して、前述の図3に示した真空吸着によ
る素子固定方法では、チップ素子1の寸法が小さい場合
には吸着孔3の穴径も小さくしなければならず吸着力が
低下する。そのため、フレキシブル配線板4の内部リー
ド6とチップ素子1の電極端子5とを熱超音波ボンディ
ングする際に、ボンディングツール8からの超音波振動
によってチップ素子1が位置ずれを起こしたり、極端な
場合にはチップ素子1が弾き飛ばされるという欠点があ
る。また、図4の押え金具9による素子固定方法では、
一枚のフレキシブル配線板4内に複数のチップ素子を実
装する場合において、チップ素子が図5に示すように配
置され、図中のチップ素子1a、1b、1cが既に実装
されている時には、これらチップ素子1a、1b、1c
が妨げとなって、斜線で示すこれから実装しようとする
チップ素子1dを一点鎖線で示す押え金具9で保持固定
することができないという欠点がある。なお、11は外
部リード、12はフイルム開口部である。
【0005】したがって、本発明は上記したような従来
の問題点に鑑みてなされたもので、その目的とするとこ
ろは、寸法の小さいチップ素子が、超音波ボンディング
の際に超音波振動によって位置ずれを起こすのを防止す
ること、さらに、一枚のフレキシブル配線板内に複数の
チップ素子を実装する場合において、隣接するチップ素
子が既に実装されていても当該チップ素子を確実に保持
固定することが可能なリードボンディング装置用ステー
ジを提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するため、フレキシブル配線板に形成された内部リード
に、ベアチップ半導体素子やその他の表面実装用回路素
子等のチップ素子をボンディングする際に使用するリー
ドボンディング装置用ステージにおいて、前記チップ素
子の寸法に応じたテーパ状のチップ吸着面を有するチッ
プ吸着用コレットを、前記チップ吸着面を上方に向けて
取り付けたものである。
【0007】
【作用】チップ吸着面はテーパ状で、横方向の移動を規
制するため確実に吸着保持固定し、超音波ボンディング
の際の超音波振動によるチップ素子の位置ずれを防止す
る。また、チップ吸着用コレットはチップ素子を下方か
ら吸引保持し、当該チップ素子の周囲には押え金具等の
張り出しがないので、一枚のフレキシブル配線板内に複
数のチップ素子を実装する場合においても、先行してボ
ンディングされたチップ素子が、それ以降にボンディン
グされるチップ素子の保持固定に際して妨げとなること
がなく、確実に保持固定する。
【0008】
【実施例】以下、本発明を図面に示す実施例に基づいて
詳細に説明する。図1は本発明に係るリードボンディン
グ装置用ステージの一実施例を示す断面図である。なお
、図中図3〜図5と同一構成部品のものに対しては同一
符号を以て示し、その説明を省略する。同図において、
15はチップ吸着用コレットで、このコレット15は貫
通孔16を有する筒状体に形成されて下端小径部がボン
ディングステージ2の吸着孔3に嵌合され、且つコレッ
ト取付ねじ17によって固定されている。前記貫通孔1
6の上端開口部は下方に至るにしたがって小径化するテ
ーパ孔18とされ、その周面がチップ吸着面19を形成
している。チップ素子1は、テーパ孔18に水平に配置
され、吸着孔3および貫通孔16を真空排気することで
、チップ吸着面19に吸着固定される。しかる後、フレ
キシブル配線板4を上方に配置し、チップ素子1の電極
端子5とフレキシブル配線板4の内部リード6の電極端
子7とを位置合わせした上で、熱圧着あるいは熱とボン
ディングツール8による超音波の併用ボンディングを行
なう。
【0009】かくしてこのような構成からなるリードボ
ンディング装置用ステージにあっては、ボンディングス
テージ2の上面に形成したテーパ孔18の内壁面、すな
わちチップ吸着面19がチップ素子1の横方向のずれを
抑える役目を果たすので、チップ素子1の寸法が小さい
場合でも確実に保持固定でき、ボンディングツール8か
ら与えられる超音波振動による横方向の力に対しても、
フレキシブル配線板4の内部リード6とチップ素子1の
電極端子5とが位置ずれを起こすことがなく、高精度な
ボンディングが可能となる。
【0010】また、図2に示すように一枚のフレキシブ
ル配線板4内に複数のチップ素子1a、1b、1cを実
装する場合においても、これらチップ素子に要するエリ
アが小さいので、先行してボンディングした隣接チップ
素子1a、1cがこれからボンディングするチップ素子
1bの保持固定の妨げとなることがない。したがって、
隣接チップ素子1a、1b、1c間の間隔を狭くするこ
とが可能となり、チップ素子間の配線長を短縮すること
ができ、配線長に起因する電気的特性の劣化を最小限に
抑えることができるとともに、チップ素子実装密度の向
上に大きく寄与する。さらに、先行してボンディングし
た隣接チップ素子1a、1cは、チップ素子1bのボン
ディング作業中もコレット15やボンディングステージ
2に伝わった不要な超音波振動が隣接チップ素子1a、
1cに伝わることがなく、したがって隣接チップ素子1
a、1cのリードボンディング部に無用のストレスが加
わらないのでボンディング剥がれやリード破断等の発生
が抑えられ、製造歩留まりの向上にも寄与する。
【0011】なお、異なる寸法のチップ素子1をボンデ
ィングする場合には、事前にチップ素子1の寸法ごとに
チップ吸着用コレット15を準備しておき、コレットの
みをそのチップ素子1に適合したものに交換するか、あ
るいはそれぞれのコレットを取り付けたボンディングス
テージ2をステージごと交換する方法によって対処すれ
ばよい。
【0012】
【発明の効果】以上説明したように本発明に係るリード
ボンディング装置用ステージは、テーパ状チップ吸着面
を有するチップ吸着用コレットをボンディングステージ
に設け、チップ吸着面にチップ素子を設置し、真空吸着
によって保持固定するように構成したので、チップ素子
の寸法が小さくても確実に保持固定することができ、超
音波ボンディングの際の超音波振動によるフレキシブル
配線板の内部リードとチップ素子の電極端子との位置ず
れを防止することができ、高精度なボンディングが可能
となり、ボンディング作業の歩留まりを向上させること
ができる。また、複数のチップ素子を一枚のフレキシブ
ル配線板内に実装する場合においても、チップ素子の保
持固定に要するエリアが小さいので、隣接するチップ素
子間の間隔を狭くしてチップ素子間配線長を短縮するこ
とができるため、配線長に起因する電気的特性の劣化を
最小限に抑えることができるとともに、チップ素子実装
密度の向上を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るリードボンディング装置用ステー
ジの一実施例を示す断面図である。
【図2】本発明に係るリードボンディング装置用ステー
ジを、一枚のフレキシブル配線板内に複数のチップ素子
を実装する場合に適用した例を示す側面図である。
【図3】従来の真空吸着によるチップ素子の保持固定方
法を示す断面図である。
【図4】従来の押え金具によるチップ素子の保持固定方
法を示す断面図である。
【図5】抑え金具による保持固定方法の欠点を説明する
ための平面図である。
【符号の説明】
1、1a,1b,1c,1d  チップ素子2  ボン
ディングステージ 3  吸着孔 4  フレキシブル配線板 5  電極端子 6  内部リード 7  電極端子 8  ボンディングツール 15  チップ吸着用コレット 18  テーパ孔 19  チップ吸着面

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  フレキシブル配線板に形成された内部
    リードに、ベアチップ半導体素子やその他の表面実装用
    回路素子等のチップ素子をボンディングする際に使用す
    るリードボンディング装置用ステージにおいて、前記チ
    ップ素子の寸法に応じたテーパ状のチップ吸着面を有す
    るチップ吸着用コレットを、前記チップ吸着面を上方に
    向けて取り付けたことを特徴とするリードボンディング
    装置用ステージ。
JP2411112A 1990-12-17 1990-12-17 リードボンディング装置用ステージ Pending JPH04216641A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2411112A JPH04216641A (ja) 1990-12-17 1990-12-17 リードボンディング装置用ステージ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2411112A JPH04216641A (ja) 1990-12-17 1990-12-17 リードボンディング装置用ステージ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04216641A true JPH04216641A (ja) 1992-08-06

Family

ID=18520160

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2411112A Pending JPH04216641A (ja) 1990-12-17 1990-12-17 リードボンディング装置用ステージ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH04216641A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6189760B1 (en) 1998-12-14 2001-02-20 Tdk Corporation Chip junction nozzle

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6189760B1 (en) 1998-12-14 2001-02-20 Tdk Corporation Chip junction nozzle

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1711040B1 (en) Circuit device and manufacturing method thereof
US5273940A (en) Multiple chip package with thinned semiconductor chips
US6049656A (en) Method of mounting an integrated circuit on a printed circuit board
JP3612155B2 (ja) 半導体装置および半導体装置用のリードフレーム
US6417576B1 (en) Method and apparatus for attaching multiple metal components to integrated circuit modules
JPH06244304A (ja) リードレスチップキャリアパッケージ
KR100658120B1 (ko) 필름 기판을 사용한 반도체 장치 제조 방법
JPH04216641A (ja) リードボンディング装置用ステージ
JP3428475B2 (ja) 半導体パッケージの製造方法
JP3363704B2 (ja) リークコレット及び半導体装置の製造方法
JPH08255803A (ja) 半導体モジュール及びその製造方法
JPH10107091A (ja) 電子部品の実装構造およびその製造方法
JP3303825B2 (ja) 半導体装置の製造方法
JPH0714860A (ja) 半導体装置の実装装置及びその実装方法
KR100196900B1 (ko) Loc 방식 및 dca 방식의 반도체 디바이스에 적합한 웨이퍼 가공방법
JP3000976B2 (ja) 有機基板を用いた半導体装置
JPH0888293A (ja) 半導体実装装置およびこれを用いた半導体装置の実装方法
KR940004278Y1 (ko) Cot 패키지
KR100271354B1 (ko) 볼그리드어레이 반도체 패키지용 가요성 회로 기판을 캐리어프레임에 접착하는 방법
JP2002261195A (ja) 半導体装置の形成方法及びボールマウント装置
JPH06163760A (ja) 放熱スラグを有した電子部品搭載用基板
JPH0536875A (ja) 半導体装置及び該装置の製造方法
JPS63246840A (ja) 半導体装置の製造装置
JP2003264202A (ja) 半導体装置の製造方法
KR20020058212A (ko) 반도체 패키지용 다이 본딩장치의 히트 블록 구조