JPH0421301B2 - - Google Patents

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JPH0421301B2
JPH0421301B2 JP60076080A JP7608085A JPH0421301B2 JP H0421301 B2 JPH0421301 B2 JP H0421301B2 JP 60076080 A JP60076080 A JP 60076080A JP 7608085 A JP7608085 A JP 7608085A JP H0421301 B2 JPH0421301 B2 JP H0421301B2
Authority
JP
Japan
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electron microscope
wobbler
electron beam
camera
wobbler device
Prior art date
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Expired
Application number
JP60076080A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS61233950A (ja
Inventor
Toshuki Oohashi
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Priority to US06/849,836 priority patent/US4737640A/en
Publication of JPS61233950A publication Critical patent/JPS61233950A/ja
Publication of JPH0421301B2 publication Critical patent/JPH0421301B2/ja
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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/21Means for adjusting the focus

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、電子顕微鏡、特にワブラ装置の設け
られている電子顕微鏡本体と、この電子顕微鏡本
体の螢光板上に形成される試料の拡大像を撮像し
モニタテレビに表示するテレビジヨン(以下TV
と称する)カメラとを有する電子顕微鏡に関する
ものである。
〔発明の背景〕
電子顕微鏡(電子顕微鏡本体、以下一般的に
は、単に電子顕微鏡と称する)で試料の観察を行
う場合、螢光板上に形成される拡大像をTVカメ
ラで撮像することが行われるが、これは試料の情
報を電気信号に変換し画像処理を行う場合等の他
に、試料損傷を少なくするために照射電子線量を
極力少なくし肉眼では見えないような拡大像を写
真撮影する際の焦点合せにも用いられる。
電子顕微鏡の拡大像をTVで撮像して焦点合せ
をする場合に、従来は、拡大像のフレネル縞の変
化や像のぼけを見て経験により判断していた。し
かし、フレネル縞は試料と空間との境界でしか見
られないため、全ての試料には適用できず、ま
た、一般に電子顕微鏡の拡大像は焦点深度が深い
ため像のぼけによる正焦点の判断は困難であり、
また、像のぼけは写真撮影すると顕著になるた
め、TVカメラで撮像した拡大像を用いて焦点合
せを行う場合の問題となつていた。
一方、電子顕微鏡では、従来から焦点合せを容
易にする装置としてワブラ装置が使用されてい
る。ワブラ装置は試料に照射される電子線の照射
角が大きいほど対物レンズの焦点深度が浅くなる
原理を応用し、試料に入射する電子線の方向を変
えて見掛上の照射角を大きくし、電子線の入射方
向に対する拡大像の逃げを大きくし焦点合せを容
易にするものである。なお、ワブラ装置は例えば
特開昭52−30154号公報に開示されている。
しかし、ワブラ装置の設けられている電子顕微
鏡と前述の如きTVカメラとを組み合せた場合に
は、TVカメラは撮像面を順次走査して映像信号
を得ているため、TVカメラによる撮像中にワブ
ラ装置を動作させても電子線の方向変化はTVカ
メラの走査とは何等の関係なく行われるため、一
画面の途中から像が動いたり、それが重なつたり
して像の動きを見えづらくしていた。
〔発明の目的〕
本発明は、叙上の問題点を除去し、容易に焦点
合せの可能な、ワブラ装置とモニタテレビを有す
る電子顕微鏡を提供可能とすることを目的とする
ものである。
〔発明の概要〕
本発明は、ワブラ装置の設けられている電子顕
微鏡本体と、該電子顕微鏡本体の螢光板上に形成
される試料の拡大像を撮像しモニタテレビに表示
するテレビジヨンカメラとを有する電子顕微鏡に
おいて、前記テレビジヨンカメラの制御電源から
出される水平同期信号及び垂直同期信号によつて
同期される各走査波の表示期間のうち少なくとも
一方の中間において前記ワブラ装置の偏向角を変
化させ、前記モニタテレビの画面の少なくとも二
部分を前記ワブラ装置の電子線入射角の異なる状
態で形成するワブラ装置制御手段を有しているこ
とを特徴とするものである。
すなわち、本発明はワブラ装置における電子線
の照射方向の切換えをTVカメラの水平・垂直の
同期信号又はそれらから合成した信号を利用して
可能とし、それによつて電子線の照射方向の変化
による拡大像の動きをモニタテレビ画面上に固定
し、判然とした少なくとも二種類のワブラ装置の
電子線入射角の異なる状態で形成された像を得る
ことを可能とし、所期の目的を達成するものであ
る。
〔発明の実施例〕
以下、本発明の実施例について説明する。
第1図は一実施例の構成図で、1は電子銃、2
は収束レンズ、3は偏向コイル、4は試料、5は
対物レンズ、6は結像レンズ、7は螢光板、8は
TVカメラ、9はTVカメラ制御電源、10はモ
ニタテレビ、11はワブラ装置、12は電流増幅
器を示している。
この電子顕微鏡では、電子銃1から出た電子線
は収束レンズ2によつて試料4面に収束され像の
明るさが制御され、対物レンズ5、結像レンズ6
により、その拡大像が螢光板7に形成される。螢
光板7上に形成された拡大像はTVカメラ8によ
つて撮像される。TVカメラ制御電源9はTVカ
メラ8に走査信号を送ると共に、得られた映像信
号を増幅してモニタテレビ10に拡大像を写し出
す。
ワブラ装置11は電流増幅器12を介し偏向レ
ンズ3に接続していると同時に、TVカメラ制御
電源9に接続しており、TVカメラ制御電源9か
ら出される水平同期信号を計数し画面の半分の位
置で出力を切換え、一画面の終了で元に戻され
る。このTVカメラ制御電源9の出力は電流増幅
器12で増幅され偏向コイル3に供給され電子線
の照射方向を変化させる。
第2図はこのようにして得られたモニタテレビ
10の像を示すもので、モニタテレビ10の画面
の上半分と下半分とをワブラ装置の電子線入射角
の異なる状態で形成したものであり、この図の1
2,13は試料の像、14は水平方向走査線、矢
印15は電子線照射方向を示しており、aは正焦
点、bは焦点がづれている場合を示している。す
なわち、電子線の照射方向の変化は一瞬にして行
れるため、正焦点の場合はaに示す如く上下で一
致した像となるが、正焦点でないとbに示す如く
上下でずれた像となるため、正焦点でない場合に
は対物レンズ5を調整して、モニタテレビ10の
像が第2図aのようになるように調整することに
よつて焦点合せを行うことができる。
この効果は、ワブラ装置の偏向角を変化させモ
ニタテレビ画面を分割する方向と電子線の照射方
向とが一致する場合に、モニタテレビ画面での像
のずれが最大となり、より顕著となる。
第3図は他の実施例におけるモニタテレビ10
の像を示すもので、16は試料の像、14は水平
方向走査線、矢印17は電子線照射方向を示して
おり、この実施例は、水平同期信号間の中間でワ
ブラ装置の電子線の入射角を変化させたものであ
る。この実施例はワブラ装置の偏向角を変化させ
モニタテレビ画面を分割する方向と電子線の照射
方向とが直角となる場合であるが、さらに水平・
垂直同期信号を組合せることにより斜め分割も可
能である。
試料は一般に様々な形状をしており、ワブラ装
置を動作させたときの像のずれが観察容易な方向
と、観察容易でない方向があるので、それぞれの
試料に応じてモニタテレビ画面の分割方向及び電
子線の照射方向を選択可能に構成しておけば、ど
のような場合にも容易に焦点合せを行うことがで
き、さらに、例えばモニタテレビ画面の分割方向
を順次変化させるようにすれば、方向性のある焦
点ずれ、すなわち、非点の補正も容易となる。
以上の如く、実施例の電子顕微鏡においては、
モニタテレビ画面上のずれた像を一致させるだけ
で、誰でも容易に焦点合せが可能となる。
〔発明の効果〕
本発明の電子顕微鏡は、容易に焦点合せの可能
な、ワブラ装置とモニタテレビを有する電子顕微
鏡を提供可能とするもので、産業上の効果の大な
るものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の電子顕微鏡の一実施例の構成
図、第2図a及びbは第1図の電子顕微鏡のモニ
タテレビのそれぞれ異なる像の説明図、第3図は
同じく他の実施例のモニタテレビの像の説明図で
ある。 1…電子銃、2…収束レンズ、3…偏向コイ
ル、4…試料、5…対物レンズ、6…結像レン
ズ、7…螢光板、8…TVカメラ、9…TVカメ
ラ制御電源、10…モニタテレビ、11…ワブラ
装置、12…電流増幅器。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 ワブラ装置の設けられている電子顕微鏡本体
    と、該電子顕微鏡本体の螢光板上に形成される試
    料の拡大像を撮像しモニタテレビに表示するテレ
    ビジヨンカメラとを有する電子顕微鏡において、
    前記テレビジヨンカメラの制御電源から出される
    水平同期信号及び垂直同期信号によつて同期され
    る各走査波の表示期間のうち少なくとも一方の中
    間において前記ワブラ装置の偏向角を変化させ、
    前記モニタテレビの画面の少なくとも二部分を前
    記ワブラ装置の電子線入射角の異なる状態で形成
    するワブラ装置制御手段を有していることを特徴
    とする電子顕微鏡。
JP60076080A 1985-04-10 1985-04-10 電子顕微鏡 Granted JPS61233950A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60076080A JPS61233950A (ja) 1985-04-10 1985-04-10 電子顕微鏡
US06/849,836 US4737640A (en) 1985-04-10 1986-04-09 Electron microscope

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60076080A JPS61233950A (ja) 1985-04-10 1985-04-10 電子顕微鏡

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS61233950A JPS61233950A (ja) 1986-10-18
JPH0421301B2 true JPH0421301B2 (ja) 1992-04-09

Family

ID=13594836

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60076080A Granted JPS61233950A (ja) 1985-04-10 1985-04-10 電子顕微鏡

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US (1) US4737640A (ja)
JP (1) JPS61233950A (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000275527A (ja) * 1999-03-24 2000-10-06 Olympus Optical Co Ltd 像検出装置
US6825480B1 (en) * 1999-06-23 2004-11-30 Hitachi, Ltd. Charged particle beam apparatus and automatic astigmatism adjustment method
JP5763992B2 (ja) * 2011-07-05 2015-08-12 日本電子株式会社 透過型電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡のデフォーカス量調整方法、プログラム及び情報記憶媒体

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3917946A (en) * 1972-04-12 1975-11-04 Philips Corp Electron-optical device for the recording of selected diffraction patterns
JPS521869B2 (ja) * 1972-07-11 1977-01-18
NL7609574A (nl) * 1975-09-03 1977-03-07 Siemens Ag Werkwijze voor de beeldweergave van de uit- gangsinformaties van een toestel dat een objekt aftast.
DE2542356C2 (de) * 1975-09-19 1977-10-20 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Verfahren zur Fokussierung der Objektivlinse eines Korpuskular-Durchstrahlungs-Rastermikroskops und Einrichtung zur selbsttätigen Durchführung des Verfahrens, sowie Anwendung
NL8304217A (nl) * 1983-12-07 1985-07-01 Philips Nv Automatisch instelbare electronenmicroscoop.

Also Published As

Publication number Publication date
JPS61233950A (ja) 1986-10-18
US4737640A (en) 1988-04-12

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