JPH04186707A - 光磁気記録膜の構造 - Google Patents

光磁気記録膜の構造

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JPH04186707A
JPH04186707A JP31394290A JP31394290A JPH04186707A JP H04186707 A JPH04186707 A JP H04186707A JP 31394290 A JP31394290 A JP 31394290A JP 31394290 A JP31394290 A JP 31394290A JP H04186707 A JPH04186707 A JP H04186707A
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JP
Japan
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magneto
film
rare earth
optical recording
recording film
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Pending
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JP31394290A
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English (en)
Inventor
Fumiyoshi Kirino
文良 桐野
Junko Nakamura
純子 中村
Makoto Suzuki
良 鈴木
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Hitachi Ltd
Maxell Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi Maxell Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、少なくともレーザー光を用いて記録。
再生、或いは消去を行う光磁気記録に関し、特に超高密
度記録に有用な光磁気記録膜の構造に関する。
〔従来の技術〕
近年の高度情報化社会の進展により、高密度。
大容量のファイルメモリーへのニーズは高まる一方で、
これに応えるメモリーとして光ディスクが注目されてい
る。光ディスクは、再生専用型、追記型そして書換え型
と順次製品化され、それぞれ多方面のニーズに応えてい
る。この中で、書換え型の光ディスクとして光磁気記録
が実用化され、多くの研究機関では挾世代以降の製品化
をめざし。
その性能向上に関する研究が行なわれている。その1つ
が、記録密度の向上に関する研究があり、その中心が短
波長光を用いた記録や再生を行う手法に関するもので、
高密度記録を行うのに最も有望な手法である。ここで問
題となるのは、現在記録材料として広く用いられている
Tb−Fe−Coに代表される希土類元素と鉄族元素と
の合金系の光磁気記録膜は、用いる光の波長が短くなる
のにつれて示す磁気光学効果が小さくなり、その結果、
ディスクとした時に再生信号出力ががさくなり、エラー
やノイズの原因となっていた。そこで、波長の短い光に
対して大きな磁気光学効果を示す光磁気記録材料の開発
が望まれていた。この問題を解決した公知な例として特
開昭62−175948をあげることができる。
〔発明が解決しようとする課題〕
上記従来技術では、短波長光に対して大きな磁気光学効
果を示すものの、必ずしも十分大きな垂直磁気異方性エ
ネルギーを有しているとは限らず。
記録した情報の安定性が悪かったり、良好な形状を有す
る記録磁区形状が得られない場合があり、高密度記録実
用化の障害となっていた。
本発明の目的は、十分な大きな垂直磁気異方性エネルギ
ーを有する光磁気記録膜を用いて、記録した情報を安定
に保存でき、しかも微小で小型の記録磁区が安定して得
られる光磁気記録膜を提供することにある。
〔課題を解決するための手段〕
近年の高度情報化社会の進展により、高密度。
大容量のファイルメモリーへのニーズが高まっており、
光メモリーはこれに応えるメモリーとして注目されてい
る。中でも、書換え型の光メモリーとして光磁気記録が
最近実用化された。そして、多くの研究機関では次世代
以降の製品をめざし、高性能化に関する研究開発が活性
化している。その研究の1つに記録密度の向上があり、
それを実現するための手段として波長の短い光を用いて
記録や再生を行うことが有望視されている。この場合、
現在広く用いられているT b F e Co系に代表
される希土類−鉄族元素系光磁気記録材料は、用いる光
の波長が短くなるのにつれてKerr回転角など磁気光
学効果が小さくなるので、エラーやノイズの原因となっ
ていた。
上記問題を解決するための、ptやPdとFeやCoと
を交互に積層した多層構造の光磁気記録材料を用いるこ
とが有効であることが提案されていた。しかしながらこ
れら従来技術では、記録した情報が必ずしも安定に存在
するとは限らず、安定性に問題となる場合があった。こ
れは、光磁気記録膜が十分大きな垂直磁気異方性や保磁
力を有していないためで、実用的な記録膜とするにはこ
の点を改善する必要があった。
そのために、少なくとも再生するための光が入射する側
にPt、、Pd、Rh、Auの内より選ばれる少なくと
も1種類の元素よりなる層と、Fe。
Co、Niの内より少なくとも1種類の元素もしくはF
e、Co、Niの内より選ばれる少なくとも1種類の元
素とPt、Pd、Rh、Au、Tb。
Dy、Ho、Gd、Nd、Pr、Smの内より選ばれる
少なくとも1種類の元素とからなる合金層とを交互に積
層した多層膜を設け、その上にこの層と磁気的に結合す
るように垂直磁気異方性を有する希土類元素と鉄族元素
を主体とする合金層を形成した二種類の磁性層よりなる
光磁気記録膜を用いた。ここで、垂直磁気異方性を有す
る希土類元素と鉄族元素との合金を主体としたフェリ磁
性体の光磁気記録膜において、希土類元素の副格子磁化
が優勢になるように形成した構造を有する光磁気記録膜
の構造を特徴とする。ここで、希土類元素としてTb、
Dy、Ho、Gdの内より選ばれる少なくとも1種類の
元素とNd、Pr、Smの内より選ばれる少なくとも1
種類の元素とを用い、鉄族元素としてFe、Coの内よ
り選ばれる少なくとも1種類の元素を用い、両者の合金
を光磁気記録膜とし、さらに優位にはその合金が非晶質
であることが特徴である。これにより、この希土類−鉄
族元素合金においてNd、Pr、Sm等の軽希土類元素
を含むので、交互積層多層膜の垂直磁気異方性及び保磁
力を見かけ上増大するのに加えて、この希土類−鉄族元
素合金層における磁気光学効果の低下を解消し、逆に増
大させることができた。さらに、希土類元素と鉄族元素
を主体とする合金層にN b + T it T a 
+ Crの内より選ばれる少なくとも1種類の元素を含
んでも良い。
これは、光磁気記録膜の耐食性向上に加え、磁気特性制
御としての機能を有する。また、記録膜の作製にあたっ
ては、光磁気記録膜全体もしくは交互積層多層膜を光が
透過する膜厚とし、その膜厚が交互積層多層膜内もしく
は光磁気記録膜全体で多重干渉する厚さとする。そして
、光の入射と反対側に光を反射するための層を設け、光
の利用率の向上をはかった。さらに具体的には、その光
を反射するための層の材料としてAl,Cu、Ag。
Au、Cr、Pt、Pdt Rh、Pb、Niを主体と
し、これにさらに母元素以外の先の元素或いはNb、T
i、Ta、W、Mo、Mnの内より選ばれる少なくとも
1種類の元素を添加し、複素屈折率や熱伝導率をコント
ロールし、記録磁区形状の制御や記録感度、記録磁区サ
イズを制御した。
特にピットエッチ記録などに有効な記録膜であることは
いうまでもない。
ここで、希土類元素と鉄族元素との合金層の磁気特性が
記録磁区形状に大きく作用する。フェリ磁性体において
は、希土類元素或いは鉄族元素のいずれの副格子磁化が
優勢となるか、検討の結果、希土類元素優勢側とするこ
とが良好形状の記録磁区が得られた。
〔作用〕
二種類の磁性層からなり、これらが互いに磁気的に結合
している光磁気記録膜において、その−方の希土類−鉄
族元素合金層のフェリ磁性体の磁気特性を希土類元素の
副格子磁化優勢側とすることにより、良好形状が得られ
ると同時に、磁区サイズの精密制御が容易に行なえる。
さらに、希土類元素としてNd、Pr、Smなどの軽希
土類をTb等の重希土類元素とともに含んでいるので磁
気光学効果の増大がはかれる。以上のことより、本発明
の光磁気記録膜は超高密度光記録に好適である。
〔実施例〕
以下、本発明の詳細を実施例を用いて説明する。
[実施例1] 本実施例において作製した光磁気ディスクの断面構造を
示す模式図を第1図に示す。凹凸の案内溝を有するガラ
スやプラスチックよりなる基板(1)上に、窒化シリコ
ンよりなる誘導体(2)を500人の膜厚に形成した。
ターゲットにSi、放電ガスにA r/N2(=90/
 l O)をそれぞれ用い、投入RF電力密度6.6W
/al、放電ガス圧力I X 10−”Torrなる条
件にて反応性スパッタ法により形成した。この窒化シリ
コン膜の光学的特性は、屈折率:n=2.05 で吸収
係数二に=Oである。ひきつづき、金属層I(3)とし
てC。
を、金属層■(4)としてptを交互に積層した。
全膜厚を200人とし、各層の一層当りの厚さをCoが
12人、ptが24人である。膜形成は、Pt、Coを
それぞれターゲットに用い、放電ガスにAr、投入電力
密度COが4.2W/cd、ptがIOW/a#、放電
ガス圧カニ3XlO−”Torrであり、直流の二元同
時スパッタ法により行なった。次に、垂直磁化膜(5)
として(Tbo −s Nbo 、4)21 F es
iCoz、Nb3を200人の膜厚に形成した。ターゲ
ットにTbNdFeCoNb合金を、放電ガスにArを
それぞれ用い、投入RF電カニ 4.2W/ad 、放
電ガス圧カニ5X10−’Torr、にてスパッタして
形成した。つづいて、窒化シリコンよりなる誘電体膜(
2′)を100人の膜厚に形成した。スパッタ条件は、
先の誘電体膜(2)と同様である。そして最後に、Af
1goTi□。
の光反射膜(6)を400人の膜厚に形成した。ターゲ
ットにAQTi含Ti、放電ガスにArをそれぞれ用い
、投入RF @カニ 3.3W/al?、放電ガス圧カ
ニ I X I 0−2Torrなる条件にてスパッタ
した。
このようにして作製した光磁気ディスクのKerr回転
角の波長依存性を第2図に示した。比較例としては、希
土類−鉄族元素系合金層としてT b 24 F e 
s L Co z 2N’ b 3  とNdを含まな
い系を用いた場合である。その結果、いずれも450n
m〜550nmの波長の光にてKerr回転角:θ、は
最大となり、その値は1.05° でありNdを含まな
いTbFeCoNb系を用いた場合の0.95° より
0.1° 大きかった。このディスクの記録再生特性を
測定した。比較例は先と同じ垂直磁化膜(5)にT b
 F e Co N bを用いた場合である。その結果
、本発明のディスクはディスク位置:30mn、記録周
波数:20MHz、ディスク回転数:240Orpm、
レーザーパワー:6mWにて記録したところ、搬送波対
雑音比:C/N=52.5dB で比較例のC/N=5
1dBに比べ1.5dB 大きかった。ここで用いたレ
ーザー光の波長は480nmである。そして、得られた
記録磁区形状も良好形状を有していた。
本実施例で得られた効果は、交互積層多層膜において、
ptの代りにPd、Rh、Auのいずれを用いても同様
であり、またCOの代りにFe或いはNiを用いても同
様の効果が得られ、さらにはFeCo、CoNi、Fe
Niなどの合金を用いても同様である。さらに、XCo
、XFe。
XNiでX=Tb、Dy、Ho、Nd、Pr。
Sm、Pt、Pd、Rh、Auのいずれの組合せでも同
様の効果が得られた。さらに、希土類−鉄族元素層とし
てTbNdFeCoNbの他に、Y Z F e y 
Y Z Co g Y Z F e X g Y Z 
Co X +YZFeCoX、YZFeCoでも同様で
あり、ここでX =N b + T i+ T a t
 Cr −Y =T b +Dy、Ho、Gd、Z=N
d、Sm、Prのいずれの組合せでも同様の効果が得ら
れた。
[実施例2コ 本実施例において作製したディスクの断面構造を示す模
式図を第3図に示す。凹凸の案内溝を有するプラスチッ
クもしくはガラスの基板(1)上に、窒化シリコンの誘
電体膜(2)を500人の膜厚に形成した。成膜方法、
光学的性質及び作製条件は実施例1と同様である。次に
金属層■(3)にptを、金属層■(4)にFe7oC
o3゜をそれぞれ用い、実施例1と同様の手法及び条件
にて膜形成を行なった。全膜厚は150人であり、−層
当りの膜厚はFeCo : 9人、Pt :16人であ
る。
つづいて(T he−t P ra−i)zs F e
、、Cox*T aiなる垂直磁化膜(5)を850人
の膜厚に形成した。
スパッタの条件は、ターゲットにTbPrFeCoTa
を用いた他は実施例1のTbFeCoNb膜形成と同じ
である。そして最後に、窒化シリコンの誘電体(2′)
を2000人の膜厚に形成した。スパッタ条件は実施例
1と同じである。
このディスクは、P t / F e Co交互積層多
層膜部分で多重干渉が生じる(再生時)タイプのディス
クである。このようにして作製したディスクのKerr
回転角の波長依存性を第4図に示す。比較例には、垂直
磁化膜(5)にT b F e Co T aを用いた
場合を示した。450nm〜550nmの波長の光にて
Kerr回転角は最大となり、その値はo、79°であ
4J 比較例(7)0.65°、lJo、14゜大きか
った。次に、このディスクの記録−再生特性を実施例1
と同一の記録条件にて測定したところC/N=50dB
t−あり、比較例(7148dBより2dB増大した。
実施例1と比較してC/Nが小さいのは、θkが小さい
ことを反映したものである。
本実施例で得られた効果は、Ptの代りにPd。
Rh、Auのいずれを用いても同様であり、またFeC
o合金以外にCoNi、FeNi合金を用いても良く、
Fe、Co、Niの各単体のいずれの元素を用いても同
様である。FeCoNi三元合金を用いても同様の効果
が得られることはいうまでもない。さらに、XCo、X
Fe、XNiにおいてX=Tb、Dy、Ho、Nd、P
r、Sm。
Pt、Pd、Rh、Au等を用いても同様の効果を示し
た。さらに希土類−鉄族元素合金として、TbPrFe
CoTa以外にもX Z Fe、 X Z Co。
XZFeY、XZCoY、XZFeCo、XZFeCo
YにおいてX : T b 、 D y 、 Ho 、
 G d等の元素の内の一種、Y=Ta、Ti、Nb、
Cr等の元素の内の一種、Z=Nd、Pr、Sm等の内
の一種のいずれの組合を用いても、その効果に変りはな
い。
〔発明の効果〕
本発明によれば、光磁気記録膜全体として垂直磁化膜と
しての安定性を保ったままで、短波長光に対する磁気光
学効果を改善することができ、ディスクを形成したとき
十分大きな再生信号出力が得られ、エラーやノイズが小
さく高密度記録が可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図と第3図は光磁気ディスクの断面構造を示す模式
図、第2図と第4図は光磁気記録媒体の磁気光学効果の
波長依存性を示す図。 1・・・基板、2,2′・・・誘電体膜、3・・・金属
層I、寮 2 図 光り皮表;λ(7(π)

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.少なくともレーザー光を用いて記録,再生、或いは
    消去を行う光磁気記録において、情報を記録するための
    記録膜として、少なくとも再生光の入射する側にPt,
    Pd,Rh,Auの内より選ばれる少なくとも1種類の
    元素よりなる層と、Fe,Co,Niの内より選ばれる
    少なくとも1種類の元素もしくはFe,Co,Niの内
    より選ばれる少なくとも1種類の元素とPt,Pd,R
    h,Au,Tb,Dy,Ho,Gd,Nd,Pr,Sm
    の内より選ばれる少なくとも1種類の元素とからなる合
    金層とを交互に積層した多層膜を設け、これと磁気的に
    結合するように垂直磁気異方性を有する希土類元素と鉄
    族元素を主体とする合金層を形成し、その垂直磁気異方
    性を有するフェリ磁性体の希土類元素と鉄族元素を主体
    とする合金層が希土類元素の副格子磁化が優勢となるよ
    うに形成した、2種類の磁性層よりなることを特徴とす
    る光磁気記録膜の構造。
  2. 2.特許請求の範囲第1項記載の希土類元素と鉄族元素
    を主体とする合金層において、希土類元素としてTb,
    Dy,Ho,Gdの内より選ばれる少なくとも1種類の
    元素及び、Nd,Pr,Smの内より選ばれる少なくと
    も1種類の元素と、鉄族元素としてFe,Coの内より
    選ばれる少なくとも1種類の元素とからなる合金を用い
    て、さらに優位にはその合金層が非晶質であることを特
    徴とする光磁気記録膜の構造。
  3. 3.特許請求の範囲第1項及び第2項記載の希土類元素
    と鉄族元素を主体とする合金層に、Nb,Ti,Ta,
    Crの内より選ばれる少なくとも1種類の元素を垂直磁
    気異方性を失なわない濃度含んだことを特徴とする光磁
    気記録膜と構造。
  4. 4.特許請求の範囲第1項記載の光磁気記録膜において
    、交互積層多層膜の膜厚もしくは光磁気記録膜全体の膜
    厚を光が透過する膜厚とし、さらにその膜厚が交互積層
    多層膜部分もしくは光磁気記録膜全体において多重干渉
    するような厚さであることを特徴とする光磁気記録膜の
    構造。
  5. 5.特許請求の範囲第4項記載の光磁気記録膜全体で多
    重干渉するような膜厚に形成した光磁気記録膜において
    、光の入射する反対側に少なくとも光を反射するための
    層を設け、さらに優位にはその層がAl,Cu,Ag,
    Au,Cr,Pt,Pd,Rh,Pb,Niの内より選
    ばれる少なくとも1種類の元素を主体とした層であるこ
    とを特徴とする光磁気記録膜の構造。
  6. 6.特許請求の範囲第5項記載の光を反射するための層
    に、主元素を除く特許請求の範囲第5項記載の元素或い
    はNb,Ti,Ta,W,Mo,Mnの内より選ばれる
    少なくとも1種類の元素を用いたことを特徴とする光磁
    気記録膜の構造。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1752996A3 (en) * 2005-08-12 2008-05-07 Fujitsu Limited Magnetic film for a magnetic device, magnetic head for a hard disk drive, and solid-state device
US7564648B2 (en) 2004-06-07 2009-07-21 Fujitsu Limited Magnetic film for magnetic device

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US7564648B2 (en) 2004-06-07 2009-07-21 Fujitsu Limited Magnetic film for magnetic device
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