JPH04174582A - マーク率検出回路 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、レーザダイオードの光出力制御回路を構成す
る場合に必要となるマーク率検出回路に関し、特に、少
ない素子数で経済的に構成されると共に、信号波形の劣
化を発生させることのないマーク率検出回路に関する。

〔従来の技術〕

第３図に従来のマーク率検出回路の一例の回路図を示す
。このマーク率検出回路８は、トランジスタＱｔ、抵抗
Ｒ】、容量Ｃ１及び定電流源１２により構成され、レー
ザダイオードＤ１の駆動回路６の入力であるデータ信号
を分岐して入力信号とし、抵抗Ｒ５，容量Ｃ１で構成さ
れる積分器で積分して出力端子２より８力している。こ
の積分器で積分された直流信号は、入力データ信号のマ
ーク率（データ信号系列中に１を含む割合）に比例する
ので、この回路によりマーク率検出が可能となる。

第４区は、第３図のマーク率検出回路８を用いた光出力
制御回路のブロック図を示す。図において、データ入力
端子１よりデータ信号、クロ・ツク入力端子１１よりク
ロック信号をレーザタイオード駆動回路６に入力し、デ
ータ信号に対応するパルス電流を発生して、レーザタイ
オードＤ、を駆動する。このレーザダイオードＤ１の光
出力の制御は一般にその直流バイアス電流を制御して行
なうが、その制御信号を受光器Ｄ２．電流電圧変換回路
７により構成される回路で抽出する。

受光器Ｄ２にはレーザタイオードＤ１の光出力の一部を
入力し、その光出力に比例する電流工ＰＤを出力する。

通常、この電流ＩＰＤを電流電圧変換回路７によって電
圧に変換し、これを増幅してレーザダイオードＤ１の直
流バイアス電流を制御する制御信号としている。

この際光出力の制御は、レーザダイオードＤ１の温度変
動による光出力変動、経時劣化による光出力変動に対し
ては行なうが、入力データのマーク率（テータ系列中に
１の含まれる割合）の変動に対しては制御しないように
する必要がある。そのため入力データ信号１の一部を分
岐してマーク率検出回路８に入力し、その出力を減算器
９の一方の入力端子に入力し、減算器９のもう一方の入
力には前述の受光器Ｄ２の出力電圧を入力してバイアス
電流制御回路１０を介してレーザダイオードＤ１に接続
してマーク率変動による制御信号の変動を相殺している
。

〔発明か解決しようとする課題〕

上述した従来のマーク率検出回Ｎ８はマーク率補償回路
を構成する際レーザタイオード駆動回路６と別にマーク
率検出回路８を構成する必要があるので、素子数が多く
なり、また信号を分岐してファンアウトを増やすのでデ
ータ信号の波形を劣化させてしまうという欠点かある。

本発明の目的は、このような欠点を除き、差動型のレー
ザダイオード駆動回路の補出力をマーク率検出に利用し
て素子数を少くすると共に、データ波形の劣化を防止し
たマーク率検出回路を提供することにある。

〔課題を解決するための手段〕

本発明のマーク率検出回路の構成は、ベースに基準電圧
が印加されコレクタが第１の抵抗を介して第１の電源に
接続された第１のトランジスタと、この第１のトランジ
スタのエミッタとエミッタが共通接続されて定電流源を
介して第２の電源に接続されベースに入力信号が供給さ
れた第２のトランジスタと、この第２のトランジスタの
コレクタに一端が接続されその他端が前記第１の電源に
接続されたレーザタイオードと、前記第２のトランジス
タのコレクタにベースが接続されコレクタが前記第１の
電源に接続されエミッタが出力端子となると共に第２の
抵抗を介して前記第２の電源に接続された第３のトラン
ジスタと、この第３のトランジスタのベースに一端が接
続され他端が前記第１または第２の電源に接続された積
分用コンデンサとを備えることを特徴とする。

〔実施例〕

次に、本発明について図面を参照して説明する。

第１図は本発明によるマーク率検出回路の一実施例の回
路図である。本実施例は、第１．第２のトランジスタＱ
ｌ、Ｑ２および電流源１１により差動対型のレーザダイ
オード駆動回路６を構成している。入力端子１からデー
タ信号を入力し、第２のトランジスタＱ２のコレクタに
レーザダイオードＤ１、第１のトランジスタＱ５のコレ
クタには第１の抵抗Ｒ１と容量Ｃ１とを接続し、この抵
抗Ｒ１と容量Ｃ１とで積分回路を構成して、入力データ
信号を平均値検出してマーク率に比例する電圧出力を得
ている。

このマーク率検出電圧を第３のトランジスタＱＢ、第２
の抵抗Ｒ２とにより構成されるエミッタホロワを介して
出力端子２から出力している。

第２図は本発明によるマーク率検出回路の第２の実施例
のブロック図である。本実施例は、第１図の実施例にお
ける容量Ｃ１を第１のトランジスタＱ１のコレクタと第
２の電源端子４との間に接続したものである。その他の
接続は第１図と同様であり動作も第１図と同一であるの
で省略する。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明によるマーク率検出回路は、
差動型のレーザダイオード駆動回路の補正出力をマーク
率検出に利用することにより、回路構成を簡略化して経
済化を計ると共に、信号の分岐による波形の劣化をなく
すことができるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明によるマーク率検出回路の一実施例の回
路図、第２図は本発明の第２の実施例の回路図、第３図
は従来のマーク率検出回路の一例の回路図、第４図は第
３図を用いた光出力制御回路の一例のブロック図である
。 １・・・入力端子、２・・・出力端子、３，４・・・電
源端子、５・・・基準電圧発生回路、６・・・レーザタ
イオード駆動回路、７・・・電流電圧変換回路、８・・
・マーク率検出回路、９・・・減算器、１０・・・バイ
アス電流制御回路、１１・・・クロック入力端子、Ｃ１
・・・容量、Ｄｌ・・・レーザダイオード、Ｄ２　・・
受光器、Ｑ＋。 Ｃ２、Ｑｓ・・・トランジスタ、Ｒ，、Ｒ２，Ｒ，・・
・抵抗。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. ベースに基準電圧が印加されコレクタが第１の抵抗を介
   して第１の電源に接続された第１のトランジスタと、こ
   の第１のトランジスタのエミッタとエミッタが共通接続
   されて定電流源を介して第２の電源に接続されベースに
   入力信号が供給された第２のトランジスタと、この第２
   のトランジスタのコレクタに一端が接続されその他端が
   前記第１の電源に接続されたレーザダイオードと、前記
   第２のトランジスタのコレクタにベースが接続されコレ
   クタが前記第１の電源に接続されエミッタが出力端子と
   なると共に第２の抵抗を介して前記第２の電源に接続さ
   れた第３のトランジスタと、この第３のトランジスタの
   ベースに一端が接続され他端が前記第１または第２の電
   源に接続された積分用コンデンサとを備えることを特徴
   とするマーク率検出回路。