JPH04162013A - 光ビームの変調・走査装置 - Google Patents
光ビームの変調・走査装置Info
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- JPH04162013A JPH04162013A JP28992890A JP28992890A JPH04162013A JP H04162013 A JPH04162013 A JP H04162013A JP 28992890 A JP28992890 A JP 28992890A JP 28992890 A JP28992890 A JP 28992890A JP H04162013 A JPH04162013 A JP H04162013A
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- 230000010354 integration Effects 0.000 claims abstract description 10
- 108091008695 photoreceptors Proteins 0.000 claims description 18
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 14
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 abstract 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 5
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
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- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
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- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野］
本発明は、光ビーム発生手段と光ビームの強度または発
光時間等を変調する変調手段と回転多面鏡走査器とを組
み合わせた光ビームの変調・走査装置に関する。
光時間等を変調する変調手段と回転多面鏡走査器とを組
み合わせた光ビームの変調・走査装置に関する。
［従来の技術］
従来の光ビームの変調・走査装置では、画像信号により
変調されたレーザビームを回転多面鏡により走査する場
合、走査ビームは回転多面鏡の各鏡面の反射率のバラツ
キによる光ビームの強度の変動が発生するといった弊害
が見られ、特公昭６２−８７６６号公報に示されるよう
に、光ビームの変調・走査装置では走査ビームの光強度
を検出して鏡面の反射率のバラツキを補正し、光ビーム
の強度の変動を防ぐようにしたものがある。
変調されたレーザビームを回転多面鏡により走査する場
合、走査ビームは回転多面鏡の各鏡面の反射率のバラツ
キによる光ビームの強度の変動が発生するといった弊害
が見られ、特公昭６２−８７６６号公報に示されるよう
に、光ビームの変調・走査装置では走査ビームの光強度
を検出して鏡面の反射率のバラツキを補正し、光ビーム
の強度の変動を防ぐようにしたものがある。
［発明が解決しようとする課題］
ところが、上記のような光ビームの変調・走査装置では
、走査ビームを検出するために光学部品が多数必要で、
それに伴い光学的な調整も必要となり、さらに、回転多
面鏡の各鏡面の反射率のバラツキによる光強度の変動は
補正できても、回転多面鏡の偏心による走査速度のバラ
ツギは補正されず、感光面では露光量が変動し、露光ム
ラか発生してしまうという問題点があった。
、走査ビームを検出するために光学部品が多数必要で、
それに伴い光学的な調整も必要となり、さらに、回転多
面鏡の各鏡面の反射率のバラツキによる光強度の変動は
補正できても、回転多面鏡の偏心による走査速度のバラ
ツギは補正されず、感光面では露光量が変動し、露光ム
ラか発生してしまうという問題点があった。
本発明は、上記問題点を解決するものであり、補正のた
めの複雑な光学系を不用にし、なおかつ走査速度のバラ
ツキをも補正することかできる光ビームの変調・走査装
置を提供することを目的としている。
めの複雑な光学系を不用にし、なおかつ走査速度のバラ
ツキをも補正することかできる光ビームの変調・走査装
置を提供することを目的としている。
［課題を解決するための手段］
上記目的を達成するために請求項１記載の発明は、光ビ
ーム発生手段と、画像信号に応じて光ビームを変調する
変調手段と、発生した光ビームを走査し、感光体へ露光
する回転多面鏡手段とを備えた光ビームの変調・走査装
置において、走査方向に所定の長さを有し各走査ごとに
感光体への露光に先立って光ビームを受光し光ビームの
強度を検出する光ビーム検出手段と、前記光ビーム検出
手段に基つき画像信号を補正する補正回路を備え、前記
補正回路は、各主査ごとに前記光ビーム検出手段の信号
を積分する積分回路と、前記積分回路による積分結果か
ら逆数を演算する逆数演算回路と、得られた逆数を画像
信号に乗算する乗算回路からなるものである。
ーム発生手段と、画像信号に応じて光ビームを変調する
変調手段と、発生した光ビームを走査し、感光体へ露光
する回転多面鏡手段とを備えた光ビームの変調・走査装
置において、走査方向に所定の長さを有し各走査ごとに
感光体への露光に先立って光ビームを受光し光ビームの
強度を検出する光ビーム検出手段と、前記光ビーム検出
手段に基つき画像信号を補正する補正回路を備え、前記
補正回路は、各主査ごとに前記光ビーム検出手段の信号
を積分する積分回路と、前記積分回路による積分結果か
ら逆数を演算する逆数演算回路と、得られた逆数を画像
信号に乗算する乗算回路からなるものである。
また、請求項２記載の発明は、上記において、光ビーム
検出手段の信号は、画像信号のタイミング信号を兼ねた
ものである。
検出手段の信号は、画像信号のタイミング信号を兼ねた
ものである。
Ｌ作用］
上記請求項１記載の構成において、各走査光ビームは感
光体への露光に先立ちビームディテクタ（光ビーム検出
手段）に入射する。光ビームが入射している間はその強
度信号が出力され、該強度信号は積分回路によって光ビ
ーム検出手段に光ビームが入射している間たけ積分され
、逆数回路で該積分値の逆数値を算出し、乗算回路に出
力されて補正係数として供される。この補正係数により
、回転多面鏡の反射率のバラツキや偏心による走査速度
のバラツキは、画像信号の走査時には補正され、それら
の影響をなくすことが可能となる。
光体への露光に先立ちビームディテクタ（光ビーム検出
手段）に入射する。光ビームが入射している間はその強
度信号が出力され、該強度信号は積分回路によって光ビ
ーム検出手段に光ビームが入射している間たけ積分され
、逆数回路で該積分値の逆数値を算出し、乗算回路に出
力されて補正係数として供される。この補正係数により
、回転多面鏡の反射率のバラツキや偏心による走査速度
のバラツキは、画像信号の走査時には補正され、それら
の影響をなくすことが可能となる。
上記のように補正できる理由を以下に述べる。
いま、ビームディテクタの受光幅をし、光と−ムの走査
速度をＶ、光ビーム発生手段の光ビームの強度をＰｄ、
回転多面鏡での反射率をＨとすれば、ビームディテクタ
が受光するエネルギーＥｄは、光ビームの強度と受光時
間の積なので、Ｅｄ＝ＰｄｘＨｘ − ■ と表される。このエネルギ値は、光ビームの強度と走査
速度の逆数の積に比例した信号であって、この値は、積
分回路において該強度信号をビームディテクタに光ビー
ムが入射している間だけ積分することにより得られる。
速度をＶ、光ビーム発生手段の光ビームの強度をＰｄ、
回転多面鏡での反射率をＨとすれば、ビームディテクタ
が受光するエネルギーＥｄは、光ビームの強度と受光時
間の積なので、Ｅｄ＝ＰｄｘＨｘ − ■ と表される。このエネルギ値は、光ビームの強度と走査
速度の逆数の積に比例した信号であって、この値は、積
分回路において該強度信号をビームディテクタに光ビー
ムが入射している間だけ積分することにより得られる。
得られたエネルギ値の逆数は、逆数回路で演算され、
１■
Ｅｃｉ ＰｄｘＨｘＬ
となり、この値を各走査の補正係数Ａｄとして用いるこ
とができる。走査期間中は補正係数Ａｄは保持され、各
走査ことに更新される。この補正係数Ａｄは入力される
画像データＤに乗算回路により乗算される。
とができる。走査期間中は補正係数Ａｄは保持され、各
走査ことに更新される。この補正係数Ａｄは入力される
画像データＤに乗算回路により乗算される。
また、変調の際には、発生する光ビームの強度Ｐｏは、
入力される画像データＤに片開しており、補正回路を省
略すれば、 ｏ−ＫｘＤ と書けるか、感光体に照射される際の光ビームの強度Ｐ
は、 Ｐ＝ＤＸＡｄｘＫｘＨ と表される。なお、Ｋはレーザ装置１のデーターレーザ
ビーム変換効率を表す。
入力される画像データＤに片開しており、補正回路を省
略すれば、 ｏ−ＫｘＤ と書けるか、感光体に照射される際の光ビームの強度Ｐ
は、 Ｐ＝ＤＸＡｄｘＫｘＨ と表される。なお、Ｋはレーザ装置１のデーターレーザ
ビーム変換効率を表す。
また、感光体上の画素の主走査方向の長さをＷとすれば
各画素が受ける露光エネルキＥは次式のように表される
。
各画素が受ける露光エネルキＥは次式のように表される
。
Ｗ Ｗ
Ｅ＝Ｐｘ −＝ＤｘＡｄｘＫｘＨｘ −■■
Ｖ Ｗ＝Ｄｘ
ｘＫｘＨｘ −Ｐ ｄ、
Ｘ ＨＸ Ｌ ＶＷ
ｘ Ｋ ＝ □ ×Ｄ ｘＰｄ すなわち、各画素が受ける露光エネルギＥは回転多面鏡
の鏡面の反射率Ｈのバラツキや走査速度Ｖの項を含んで
おらす、反射率のバラツキや走査速度の影響を受けず、
入力された画像データに比例したエネルギで露光するこ
とができる。
ｘＫｘＨｘ −Ｐ ｄ、
Ｘ ＨＸ Ｌ ＶＷ
ｘ Ｋ ＝ □ ×Ｄ ｘＰｄ すなわち、各画素が受ける露光エネルギＥは回転多面鏡
の鏡面の反射率Ｈのバラツキや走査速度Ｖの項を含んで
おらす、反射率のバラツキや走査速度の影響を受けず、
入力された画像データに比例したエネルギで露光するこ
とができる。
したがって、回転多面鏡の反射率のバラツキや偏心によ
る走査速度のバラツキは、画像信号の走査時には補正さ
れ、それらの影響をなくすことが可能となる。
る走査速度のバラツキは、画像信号の走査時には補正さ
れ、それらの影響をなくすことが可能となる。
また、請求項２記載の構成により、光ビーム検出手段の
検出信号は画像信号のタイミング信号として送出され、
このタイミング信号に同期して画像信号が出力される。
検出信号は画像信号のタイミング信号として送出され、
このタイミング信号に同期して画像信号が出力される。
Ｌ実施例］
以下、本発明の光ビームの変調・走査装置の実施例につ
いて図面を用いて説明する。
いて図面を用いて説明する。
第１図は本実施例による光ビームの変調・走査装置全体
の構成を示す。
の構成を示す。
同図において、レーザ装置１は、半導体レーザ素子とコ
リメータ素子からなり、電気信号により駆動され後述す
る画像データに比例した強度のレーザビームを発生する
。駆動回路２はレーザ装置１を電気的に駆動するもので
、入力される画像データに比例した強度のレーザビーム
をレーザ装置１か発生するように駆動する。回転多面鏡
３はモータ４により高速に回転駆動され、レーザ装置１
の発したレーザビームを各鏡面で反射偏向し、走査を行
う。ｆ−θリンス５は偏向されたレーザビームを等速走
査のビームに変換し、回転ドラム６に照射する。
リメータ素子からなり、電気信号により駆動され後述す
る画像データに比例した強度のレーザビームを発生する
。駆動回路２はレーザ装置１を電気的に駆動するもので
、入力される画像データに比例した強度のレーザビーム
をレーザ装置１か発生するように駆動する。回転多面鏡
３はモータ４により高速に回転駆動され、レーザ装置１
の発したレーザビームを各鏡面で反射偏向し、走査を行
う。ｆ−θリンス５は偏向されたレーザビームを等速走
査のビームに変換し、回転ドラム６に照射する。
回転ドラム６は図示されていない駆動装置により回転駆
動され、その表面には感光体７が塗工されている。ビー
ムディテクタ１０（光ビーム検出手段）は、回転ドラム
６の側方に配設されており、レーザビームの各走査ごと
にレーザビームか感光体７を走査露光するのに先たって
該レーザビームを受光する。積分凹Ｉｌｌはビームディ
テクタ１０で検出された信号（信号電圧）を積分する。
動され、その表面には感光体７が塗工されている。ビー
ムディテクタ１０（光ビーム検出手段）は、回転ドラム
６の側方に配設されており、レーザビームの各走査ごと
にレーザビームか感光体７を走査露光するのに先たって
該レーザビームを受光する。積分凹Ｉｌｌはビームディ
テクタ１０で検出された信号（信号電圧）を積分する。
逆数回路１２は上記の積分値を逆数値演算する。乗算回
路１３は上記により得られた逆数値を画像データの信号
に乗算し、この乗算によって、詳細を後述するように、
画像データ信号を補正することかでき、補正された信号
出力が駆動回＃１２に与えられるようになっている。
路１３は上記により得られた逆数値を画像データの信号
に乗算し、この乗算によって、詳細を後述するように、
画像データ信号を補正することかでき、補正された信号
出力が駆動回＃１２に与えられるようになっている。
第２図は、ビームディテクタ１０及び画像データの入力
から感光体７への露光までの信号処理の系統を示したブ
ロック図で、補正回路２１は、上記の積分回路１１と、
逆数回路１２と、乗算回路１３とからなり、光ビーム発
生手段２２は、レーザ装置１と駆動回路２とからなる。
から感光体７への露光までの信号処理の系統を示したブ
ロック図で、補正回路２１は、上記の積分回路１１と、
逆数回路１２と、乗算回路１３とからなり、光ビーム発
生手段２２は、レーザ装置１と駆動回路２とからなる。
次に、上記の各構成要素の具体例を説明する。
ビームディテクタ１０は、第３図（ａ）、（ｂ）に示す
ように、レーザビームが走査する方向の長さがＬのフォ
トタイオード１０ａと増幅器１０ｂからなり、レーザビ
ームがフォトダイオード１０ａで受光されると、その強
度に比例した電圧信号か出力されるようになっている。
ように、レーザビームが走査する方向の長さがＬのフォ
トタイオード１０ａと増幅器１０ｂからなり、レーザビ
ームがフォトダイオード１０ａで受光されると、その強
度に比例した電圧信号か出力されるようになっている。
積分回′＃１１１は、第４図に示すような回路構成を有
し、ビームディテクタ１０より出力された前記電圧信号
か入力され、ビームディテクタ１０が露光されている間
だけ積分する。同積分回路１１におけるスイッチＳＷが
開の期間、入力された電圧を積分し、スイッチＳＷが閉
ならば回路はリセットされ初期化される。
し、ビームディテクタ１０より出力された前記電圧信号
か入力され、ビームディテクタ１０が露光されている間
だけ積分する。同積分回路１１におけるスイッチＳＷが
開の期間、入力された電圧を積分し、スイッチＳＷが閉
ならば回路はリセットされ初期化される。
逆数図１１１２は、第５図に示すように、Ａ／Ｄ変換回
路１２ａとＲＯＭテーブル１２ｂとラッチ回Ｆｎ １．
２ ｃからなる。ＲＯＭテーブル１２ｂには逆数か書き
込まれており、必要に応じてラッチ凹Ｆｌ＠ １２ ｃ
により逆数情報を保持できる構成となっている。また「
０（ゼロ）」が入力された場合は「１」を出力する構成
となっている。
路１２ａとＲＯＭテーブル１２ｂとラッチ回Ｆｎ １．
２ ｃからなる。ＲＯＭテーブル１２ｂには逆数か書き
込まれており、必要に応じてラッチ凹Ｆｌ＠ １２ ｃ
により逆数情報を保持できる構成となっている。また「
０（ゼロ）」が入力された場合は「１」を出力する構成
となっている。
乗算口＃１１３は、逆数回路１２より出力された演算結
果を補正係数として、この係数と不図示の画像データ源
から入力される画像データを乗算して出力するもので、
図示していないが、シフト回路と加算回路とからなる。
果を補正係数として、この係数と不図示の画像データ源
から入力される画像データを乗算して出力するもので、
図示していないが、シフト回路と加算回路とからなる。
次に、上述実施例の光ビームの変調・走査装置の動作の
詳細を説明する。
詳細を説明する。
本装置の動作が開始されると、積分回Ｎ１１１はリセッ
トされて、その出力はｒ□ｊになり、逆数回路１２は「
１」を出力する。ここに、最初に入力される画像データ
は、本来の画像データではなく補正係数を得るための所
要のデータとなっている。入力されたデータは乗算回路
１３で逆数回路１２の出力と乗算されるか、逆数回路１
２は「１コを出力しているので、乗算回路１３は入力さ
れたデータをそのまま出力する。駆動口＃１２は該デー
タに比例した強度のレーザビームをレーザ装置１が発生
するよう動作する０回転多面鏡３は、モータ４により所
定の回転数で高速回転しており、前記レーザビームを偏
向走査する。レーザビームか感光体７に到着する光路に
は、ｆ−θレンズ５か配設されており、レーザビームは
感光体７上を等速度■で走査する。
トされて、その出力はｒ□ｊになり、逆数回路１２は「
１」を出力する。ここに、最初に入力される画像データ
は、本来の画像データではなく補正係数を得るための所
要のデータとなっている。入力されたデータは乗算回路
１３で逆数回路１２の出力と乗算されるか、逆数回路１
２は「１コを出力しているので、乗算回路１３は入力さ
れたデータをそのまま出力する。駆動口＃１２は該デー
タに比例した強度のレーザビームをレーザ装置１が発生
するよう動作する０回転多面鏡３は、モータ４により所
定の回転数で高速回転しており、前記レーザビームを偏
向走査する。レーザビームか感光体７に到着する光路に
は、ｆ−θレンズ５か配設されており、レーザビームは
感光体７上を等速度■で走査する。
上記回転多面鏡３は、第１図中矢印Ａで示される方向に
回転しており、感光体７上では図中矢印Ｂの方向に走査
か行われる。レーザビームの走査範囲はビームディテク
タ】０を十分含んでおり、感光体７の走査に先立って、
レーザビームは、まずビームディテクター０を露光する
。ビームディテクター０は、受光した光ビームの強度に
比例した電圧信号を出力する。該電圧信号は積分回路１
１によってビームディテクター０か露光されている間た
け積分される。
回転しており、感光体７上では図中矢印Ｂの方向に走査
か行われる。レーザビームの走査範囲はビームディテク
タ】０を十分含んでおり、感光体７の走査に先立って、
レーザビームは、まずビームディテクター０を露光する
。ビームディテクター０は、受光した光ビームの強度に
比例した電圧信号を出力する。該電圧信号は積分回路１
１によってビームディテクター０か露光されている間た
け積分される。
ここで、光ビーム検出手段の受光幅をし、光ビームの走
査速度を■、光ビーム発生手段の光ビームの強度をＰｄ
、当該鏡面の反射率をＨ、ビームディテクター０の光−
電圧変換効率をＢｄとすれば、ビームディテクター０が
レーザービームを受光している時間はＬ／Ｖと表され、
上記の積分された電圧Ｖｄは、 Ｌ／Ｖ Ｖｄ＝ ／ ＰｄｘＨｘＢｄ ｄｔと表される
。ここに、レーザビーム強度Ｐｄ、ビームディテクター
０の光ビーム−電圧変換効率Ｂｄは定数であり、回転多
面鏡３の反射率Ｈは当該鏡面においては一定とみなせる
ので、上式は、１、／ Ｖ Ｖｄ＝ＰｄｘＨｘＢｄｘ／ ｄｔ ＝ＰｄＸＨＸＢｄＸ − ■ と表される。逆数回路１２では上式の逆数を算出するの
で、逆数回路１２の出力Ａｄ（補正係数）は、 ■ Ａｄ＝□ ＰｄｘＨｘＢｄｘＬ となる。
査速度を■、光ビーム発生手段の光ビームの強度をＰｄ
、当該鏡面の反射率をＨ、ビームディテクター０の光−
電圧変換効率をＢｄとすれば、ビームディテクター０が
レーザービームを受光している時間はＬ／Ｖと表され、
上記の積分された電圧Ｖｄは、 Ｌ／Ｖ Ｖｄ＝ ／ ＰｄｘＨｘＢｄ ｄｔと表される
。ここに、レーザビーム強度Ｐｄ、ビームディテクター
０の光ビーム−電圧変換効率Ｂｄは定数であり、回転多
面鏡３の反射率Ｈは当該鏡面においては一定とみなせる
ので、上式は、１、／ Ｖ Ｖｄ＝ＰｄｘＨｘＢｄｘ／ ｄｔ ＝ＰｄＸＨＸＢｄＸ − ■ と表される。逆数回路１２では上式の逆数を算出するの
で、逆数回路１２の出力Ａｄ（補正係数）は、 ■ Ａｄ＝□ ＰｄｘＨｘＢｄｘＬ となる。
レーザビームによるビームディテクター０の走査が終わ
って、積分が終了すると該補正係数はラッチ回Ｆ！Ｉｔ
１２ ｃにより当該走査の期間は保持されて乗算回路
１３に出力されて補正係数として供される。実際の回路
では逆数回路１２の出力はデジタルコードであり、上式
の値に対応したデジタルコードか出力される。レーザビ
ームはビームディテクタ１０への露光に続いて回転ドラ
ム６上の感光体７を露光する。ビームディテクタ１０の
検出信号は説明しない画像装置に画像信号のタイミング
信号としても送出されており、タイミング信号に同期し
て画像信号か本装置に入力される。このとき、逆数回路
の出力は補正係数Ａｄか出力されており、入力される画
像信号は乗算回路１３により補正係数Ａｄか乗算される
。すなわち、感光体７に照射される光ビームの強度Ｐは
入力される画像信号りに対し次のように表される。
って、積分が終了すると該補正係数はラッチ回Ｆ！Ｉｔ
１２ ｃにより当該走査の期間は保持されて乗算回路
１３に出力されて補正係数として供される。実際の回路
では逆数回路１２の出力はデジタルコードであり、上式
の値に対応したデジタルコードか出力される。レーザビ
ームはビームディテクタ１０への露光に続いて回転ドラ
ム６上の感光体７を露光する。ビームディテクタ１０の
検出信号は説明しない画像装置に画像信号のタイミング
信号としても送出されており、タイミング信号に同期し
て画像信号か本装置に入力される。このとき、逆数回路
の出力は補正係数Ａｄか出力されており、入力される画
像信号は乗算回路１３により補正係数Ａｄか乗算される
。すなわち、感光体７に照射される光ビームの強度Ｐは
入力される画像信号りに対し次のように表される。
Ｐ ＝ Ｄ Ｘ Ａ、 ｄ ｘ Ｋ ｘ Ｈ■
＝ＤＸ ＸＫＸＨＰｄｘＨｘＢ
ｄｘＬ １）ｘＶＸＫＸＨ Ｐ ｄ Ｘ ）（ｘ １３ ｄ Ｘ Ｌまた、感光体７
上に形成される画素の主走査方向の長さをＷとすれば、
各画素が受ける露光エネルギＥは次式のように表される
。
ｄｘＬ １）ｘＶＸＫＸＨ Ｐ ｄ Ｘ ）（ｘ １３ ｄ Ｘ Ｌまた、感光体７
上に形成される画素の主走査方向の長さをＷとすれば、
各画素が受ける露光エネルギＥは次式のように表される
。
ＤｘＶｘＫ Ｗ
Ｅ＝ ｘ −
Ｐ、ｄｘＢｄｘＬ Ｖ
ＸＷ
＝ ＸＤ
ＰｄＸＢｄＸＬ
ここで、Ｋ、Ｗ、Ｐｄ、、Ｂｄ、Ｌは定数をとり、各画
素は回転多面鏡３の反射率Ｈやレーザビームの走査速度
■の影響を受けず、ビームディテクタ１０への露光に続
いて回転ドラム６上の感光体７は露光される。
素は回転多面鏡３の反射率Ｈやレーザビームの走査速度
■の影響を受けず、ビームディテクタ１０への露光に続
いて回転ドラム６上の感光体７は露光される。
以降の走査においても以上のように感光体７の走査に先
立ち、補正係数を測定してから画像情報により走査を行
なった後、露光するので、回転多面鏡３の鏡面の反射率
のバラツキや偏心による走査速度のバラツキの影響を受
けないで走査することか可能となる。
立ち、補正係数を測定してから画像情報により走査を行
なった後、露光するので、回転多面鏡３の鏡面の反射率
のバラツキや偏心による走査速度のバラツキの影響を受
けないで走査することか可能となる。
なお、本発明は上記実施例４１！！成に限られるもので
はなく、種々の変形が可能である。例えば、上記では、
光ビームは強度変調されるとしたが、いわゆるパルス幅
変調においても同様にして、反射率のバラツキや回転多
面鏡の偏心の影響をなくすることができる。
はなく、種々の変形が可能である。例えば、上記では、
光ビームは強度変調されるとしたが、いわゆるパルス幅
変調においても同様にして、反射率のバラツキや回転多
面鏡の偏心の影響をなくすることができる。
１発明の効果］
以上のように本発明によれば、回転多面鏡の反射率のバ
ラツキや偏心による走査速度のバラツキを各走査に先立
って光ビーム検出手段により検出して、画像信号の走査
時には光ビームの強度の変動を、光学部品等を用いるこ
となく電気的に補正できるので、回転多面鏡に高度の機
械的加工精度が要求されることがなく、容易に高品位の
露光が可能となる。
ラツキや偏心による走査速度のバラツキを各走査に先立
って光ビーム検出手段により検出して、画像信号の走査
時には光ビームの強度の変動を、光学部品等を用いるこ
となく電気的に補正できるので、回転多面鏡に高度の機
械的加工精度が要求されることがなく、容易に高品位の
露光が可能となる。
第１図は本発明の一実施例による変調・走査装置の全体
構成図、第２図は信号処理の系統を示すブロック構成図
、第３図（ａ）（ｂ）はビームディテクタのフォトダイ
オードの構成及びディテクタ回路を示す図、第４図は積
分回路の回路図、第５図は逆数回路のブロック図である
。 １・・・レーザ装置、２・・・駆動回路、３・・・回転
多面鏡、１０・・・ビームディテクタ、１１・・・積分
回路、１２・・・逆数回路、１３・・・乗算回路、２１
・・・補正回路、２２・・・光ビーム発生手段。 出即人 ブラザー工業株式会社 代理人 弁理士 板 谷 康 火弟３１２１ （
ａ） １３ 図（ｂ）第５図
構成図、第２図は信号処理の系統を示すブロック構成図
、第３図（ａ）（ｂ）はビームディテクタのフォトダイ
オードの構成及びディテクタ回路を示す図、第４図は積
分回路の回路図、第５図は逆数回路のブロック図である
。 １・・・レーザ装置、２・・・駆動回路、３・・・回転
多面鏡、１０・・・ビームディテクタ、１１・・・積分
回路、１２・・・逆数回路、１３・・・乗算回路、２１
・・・補正回路、２２・・・光ビーム発生手段。 出即人 ブラザー工業株式会社 代理人 弁理士 板 谷 康 火弟３１２１ （
ａ） １３ 図（ｂ）第５図
Claims (2)
- （１）光ビーム発生手段と、画像信号に応じて光ビーム
を変調する変調手段と、発生した光ビームを走査し、感
光体へ露光する回転多面鏡手段とを備えた光ビームの変
調・走査装置において、走査方向に所定の長さを有し各
走査ごとに感光体への露光に先立って光ビームを受光し
光ビームの強度を検出する光ビーム検出手段と、 前記光ビーム検出手段により検出された信号に基づき画
像信号を補正する補正回路を備え、前記補正回路は、各
走査ごとに前記光ビーム検出手段の信号を積分する積分
回路と、前記積分回路による積分結果から逆数を演算す
る逆数演算回路と、得られた逆数を画像信号に乗算する
乗算回路からなることを特徴とした光ビームの変調・走
査装置。 - （２）光ビーム検出手段の信号は、画像信号のタイミン
グ信号を兼ねることを特徴とする請求項１記載の光ビー
ムの変調・走査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28992890A JP2956195B2 (ja) | 1990-10-25 | 1990-10-25 | 光ビームの変調・走査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28992890A JP2956195B2 (ja) | 1990-10-25 | 1990-10-25 | 光ビームの変調・走査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04162013A true JPH04162013A (ja) | 1992-06-05 |
| JP2956195B2 JP2956195B2 (ja) | 1999-10-04 |
Family
ID=17749572
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28992890A Expired - Fee Related JP2956195B2 (ja) | 1990-10-25 | 1990-10-25 | 光ビームの変調・走査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2956195B2 (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5986687A (en) * | 1996-11-11 | 1999-11-16 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Laser scan based recording apparatus |
| US6078347A (en) * | 1996-11-11 | 2000-06-20 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Laser scan based recording apparatus |
| EP1014145A2 (en) * | 1998-12-22 | 2000-06-28 | Eastman Kodak Company | Method and apparatus for determining the starting position and the power of a scanning light beam to be used in writing on a media |
| US6151056A (en) * | 1996-11-11 | 2000-11-21 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Laser scan based recording apparatus |
| EP1293842A1 (en) * | 2001-07-19 | 2003-03-19 | Ricoh Company | Method and apparatus for image forming capable of effectively justifying an image recording start position |
| JP2009258089A (ja) * | 2008-03-19 | 2009-11-05 | Mitsubishi Electric Corp | 形状計測装置 |
| JP2013184419A (ja) * | 2012-03-09 | 2013-09-19 | Ricoh Co Ltd | 光出力制御回路、光走査装置及び画像形成装置 |
-
1990
- 1990-10-25 JP JP28992890A patent/JP2956195B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5986687A (en) * | 1996-11-11 | 1999-11-16 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Laser scan based recording apparatus |
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| DE19749925C2 (de) * | 1996-11-11 | 2002-08-08 | Asahi Optical Co Ltd | Laseraufzeichnungsgerät |
| EP1014145A2 (en) * | 1998-12-22 | 2000-06-28 | Eastman Kodak Company | Method and apparatus for determining the starting position and the power of a scanning light beam to be used in writing on a media |
| EP1014145A3 (en) * | 1998-12-22 | 2001-10-31 | Eastman Kodak Company | Method and apparatus for determining the starting position and the power of a scanning light beam to be used in writing on a media |
| EP1293842A1 (en) * | 2001-07-19 | 2003-03-19 | Ricoh Company | Method and apparatus for image forming capable of effectively justifying an image recording start position |
| JP2009258089A (ja) * | 2008-03-19 | 2009-11-05 | Mitsubishi Electric Corp | 形状計測装置 |
| JP2013184419A (ja) * | 2012-03-09 | 2013-09-19 | Ricoh Co Ltd | 光出力制御回路、光走査装置及び画像形成装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2956195B2 (ja) | 1999-10-04 |
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