JPS60221720A - 光ビ−ム走査装置 - Google Patents

光ビ−ム走査装置

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JPS60221720A
JPS60221720A JP59078230A JP7823084A JPS60221720A JP S60221720 A JPS60221720 A JP S60221720A JP 59078230 A JP59078230 A JP 59078230A JP 7823084 A JP7823084 A JP 7823084A JP S60221720 A JPS60221720 A JP S60221720A
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JP
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light beam
scanning
position detection
deflector
deflection
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JP59078230A
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English (en)
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Masaru Noguchi
勝 野口
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Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B26/00Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
    • G02B26/08Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
    • G02B26/10Scanning systems

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (発明の分野) 本発明は機械式の光偏向器により光ビームを走査する光
ビーム走査装置、特に詳細には光偏向器の角度位置検出
と、光ビームの走査方向と直交する方向のずれ口検出と
を共通の手段によって行ない、これにより走査方向のク
ロック信号を発生すると共に、光ビームの走査方向と直
交する方向のずれを補正しつるようにした光ビーム走査
装置に関するものである。
(発明の技術的背景および先行技術) 従来より、例えばガルバノメータミラーや回転多面鏡、
ホログラムスキャナ等の機械式の光偏向器によって光ビ
ームを偏向して走査する光ビーム走査装置が、各種走査
記録装置、走査読取装置等において広く使用されている
。この種の光ビーム走査装置においては、機械式偏向器
の偏向面の面倒れやウオブリングによ2り走査用光ビー
ムが走査方向と直交する方向にずれて走査線に歪みが生
じることがある。このような走査線の歪みを補正する方
法として従来より光学的方法や、走査用光ビームを走査
方向と直角な方向に補正偏向りる補正用光偏向器を上記
歪みDに基づいて駆動する方法が知られている。
一方上記のような光ビーム走査装置においては、記録信
号や読取信号と走査の同期をとるために、光偏向器の角
度位置を検出することが必要となる。
そこで前述のように補正用光偏向器を設ける場合には、
この補正用光偏向器とその駆動制御のための手段と、光
偏向器角度位置検出手段とが必要になり、光偏向器周辺
の構造が極めて複雑化するとともに、光ビーム走査装置
のコストも高くなる。
(発明の目的) そこで本発明は、光偏向器の角度位置検出と、前記光偏
向器の面倒れやつAブリングによる走査用光ビームのず
れ量の検出とを、共通の手段によって行ない、これによ
り走査方向のクロック信号を発生ずると共に、光ビーム
の走査方向と直交する方向のずれを補正する光ビーム走
査装置を提供することを目的とするものである。
(発明の構成) 本発明の光ビーム走査装置は、走査用光ビームとは別の
位置検出用光ビームを発生する位置検出用光ビーム発生
手段を設4t 、この位置検出用光ビームを、走査用光
ビームの偏向点と略本なる点を偏向点とし走査用光ビー
ムの偏向面とは異なった偏向面内で偏向されるように走
査用光偏向器に入射させ、偏向された位置検出用光ビー
ムを集束光学系によって集束させて、その光ビームの集
束位置を光ビーム位置検出手段により検出し、それとと
もにこの光ビーム位置検出手段の出力信号を処理して走
査用光偏向器の角度位置を示す角度位置信号と、前記位
置検出用光ビームの偏向方向と直角な方向の偏位を示す
偏位信号とを出力する信号処理回路と、前述したように
走査用光ビームを走査方向と直交する方向に補正偏向す
る補正用光偏向器とを設け、この補正用光偏向器を、前
記偏位信号が入力される補正用光偏向器駆動制御手段に
より、前記位置検出用光ビームの偏位を解消する方向に
駆動するようにしたものである。
上記のように走査用光ビームと位置検出用光ビームの偏
向点を略本なるようにしておけば、位置検出用光ビーム
の偏位は、走査用光ビームの前記ずれと対応するから、
この位置検出用光ビームの偏位を解消するように補正用
光偏向器を駆動すれば、走査用光ビームのずれも解消さ
れる。なお光偏向器としてガルバノメータミラーを用い
る場合には、該ミラーの表裏両面を鏡面とし、走査用光
ビームをミラー表面を使って偏向し、位置検出用光ビー
ムを、ミラー回転軸を挟んで上記走査用光ビームの偏向
点の略真後ろの点を偏向点として、ミラー裏面を使って
偏向するようにしてもよい(本発明において[走査用光
ビームと位置検出用光ビームの偏向点が略本なるJとは
、このような場合も含むものとする)。
(実IM態様) 以下、図面に示す実施態様に基づいて本発明の詳細な説
明する。
第1図は本発明の一実施態様による光ビーム走査装置を
示すものである。例えばレーザ等の走査用光ビーム発生
手段1から射出された走査用光ビーム2は、後述する補
正用光偏向器3を通して、走査用光偏向器としてのガル
バノメータミラー4に入射する。走査用光ビーム2はこ
のガルバノメータミラー4により点4aを偏向点として
偏向ざ′れ、fθレンズ等の集束レンズ5により集束さ
れて被走査面6上を矢印六方向に走査する。なお走査用
光ビーム発生手段1としては、半導体レーザガスレーザ
、発光ダイオード等が使用される。
上記ガルバノメータミラー4はその裏面も鏡面とされ、
この裏面には位置検出用光ビーム発生手段10から射出
された位置検出用光ビーム11が入射される。この位置
検出用光ビーム発生手段10としては前記走査用光ビー
ム発生手段1と同様のものに加え、白色光源等が使用さ
れる。第2図、第3図はそれぞれ、この位置検出用光ビ
ーム11が通される光学系の展開平面図、展開側面図で
あり、以下これら第2.3図も参照して説明する。位置
検出用光ビーム11は、凸レンズ12.13とシリンド
リカルレンズ14とからなる第1集束光学系15に通さ
れてからガルバノメータミラー4に入射し、該ガルバノ
メータミラー4により偏向される。このとき位置検出用
光ビーム11は、ミラー回転軸4bを挟んで前記走査用
光ご−ム2の偏向点4aの略真後ろの点を偏向点とする
ように入射される。位置検出用光ビーム11の偏向面に
は、ミラー回転軸4bを中心とする円弧上において、偏
向方向に一定周期で交互に並んだ透明部と不透明部を有
する格子パターン16が配置されており、位置検出用光
ビーム11はこの格子パターン16を通される。ぞして
位置検出用光ビーム11は、凸レンズ11とシリンドリ
カルレンズ18とから構成される第2集束光学系19に
よって、光ビーム位置検出器2o上に少なくとも偏向方
向と直交する方向に関して集束される。
この光ビーム位置検出器2oは一例として、位置検出用
光ビーム11の偏向面と直交する方向の光ビーム位置を
1次元的に検出する、連続型あるいは分割型の半導体装
置検出器が・使用され、該光ビーム位置検出器20の出
力は信号処理回路21に入力される。
第4図は上記の信号処理回路21以降の回路を詳しく示
すものであり、以下この第4図も参照して説明する。光
ビーム位置検出器20の上方端子出力Ilと下方端子出
力I2は、信号処理回路21の加算回路22に入力され
、その加算信号(It+Izは逓倍回路23に入力され
る。偏向された位置検出用光ビーム11は格子パターン
16を通過するので、上記加算信号(It+Iz、、)
は周期的に変動するパルス信号となる。したがってこの
パルス信号の周波数を逓倍回路23により所定倍すれば
、画素周波数を担持するクロック信号CLが得られる。
このクロック信号CLは光ビーム走査による記録装置や
読取装置において、ガルバノメータミラー4の角度位置
を示す走査の基準信号として用いられる。第2図に示さ
れるように位置検出用光ビーム11は、第1集束光学系
15により少なく芒も偏向方向に関して格子パターン1
6上に集束するから、格子パターン16によるビーム位
置検出の分解能が高く正確なりロック信号CLが得られ
る。
ガルバノメータミラー4にウオブリングが生じると、走
査用光ビーム2の走査スポットが走査・方向と直角な方
向にずれ、走査線7に歪みが生じる。
このとき第3図に示すように位置検出用光ビーム11も
、当然上記走査用光ビーム2のずれと対応して、その偏
向方向・と直角な方向に偏位する。この偏位をめるため
前記上方端子出力Itと下方端子出力I2とを信号処理
回路21の差分回路24に入力し、差分信号(If 1
2)をめる。この差分信号(Ix、−12)を、除算回
路25におい゛(前記加算信号(It +I2 )で除
してノーマライズした信号(Is、−I2 )/ (I
I +12 >は、前記位置検出用光ビーム11の偏位
の方向と量を示づ゛ものとなる。上記信号(Il 12
 >/ (It +12)はサンプリングホールド回路
26によりサンプリングホールドされ、前述の加算信号
(11+12)を同期信号として用いて、所定偏向角毎
に補正用光偏向器駆動制御回路27に入力される。前述
した補正用光偏向器3は、例えば超音波光偏向器(音響
光学的光偏向器:AOD)、電気光学的光偏向器(EO
D) 、ガルバノメータミラー、電歪素子型光偏向器等
からなり、走査用光ビーム2を、走査に際して走査の方
向と直角な方向に偏向するように構成されている。そし
て補正用光偏向器駆動制御回路27は、位置検出用光ビ
ーム11の偏位(これは前述のように走査用光ビーム2
のずれに対応する)を示す上記信号(1112)/(I
l+’12)に応じて、該偏位を解消する偏向方向、偏
向器を得るように補正用光偏向器3を駆動する。それに
より、ガルバノメータミラー4のウオブリングによる走
査用光ビーム2の走査スポットのずれが打ち消され、走
査線7の歪みが防止される。
以上、走査用光偏向器としてガルバノメータミラー4を
用い、該ガルバノメータミラー4のウオブリングによる
走査線の歪みを解消するようにした実IM態様を説明し
たが、本発明の光ビーム走査装置はその他の走査用光偏
向器を用いて形成することも可能である。第5図は走査
用光偏向器として回転多面鏡を用いた本発明の第2実施
態様を示すものである。
走査用光ビーム発生手段1から射出された走査用光ビー
ム2は、補正用光偏向器3を通して、回転多面l!30
の鏡面31に入射する。走査用光ビーム2はこの回転多
面鏡30により点31aを偏向点として偏向され、fθ
レンズ等の集束レンズ5により集束されて被走査面6上
を矢印へ方向に走査する。
上記偏向点31aには位置検出用光ビーム発生手段10
から射出された位置検出用光ビーム11が入射される。
この位置検出用光ビーム11は、前述した実施態様にお
けるのと同様に、第1集束光学系15を通され上記偏向
点31aにおいて偏向され、格子パターン16を通して
第2集束光学系19により光ビーム位置検出器20上に
集束される。
本実施態様装置においても走査用光ビーム2は、回転多
面鏡30の鏡面31の面倒れやウオブリングにより、そ
の走査方向と直角な方向にずれることがあるが、このず
れに対応する位置検出用光ビーム11の偏位が光ビーム
位置検出器20によって検出され、該偏位を解消するよ
うに補正用光偏向器3が駆動されて上記走査用光ビーム
2のずれが1]ち消される。
なお光ビーム位置検出器としては、前述した半導体装置
検出器等の1次元位置検出器の他、ビジコン、イメージ
センサ−等の2次元位置検出器が使用されてもよい。そ
の場合には、位置検出用光ビームのスポットの偏向方向
位置を検出して、走査用光偏向器の角度位置をめること
ができる。
また光ビーム位置検出器上に位置検出用光ビームを集束
させる集束光学系は、以上説明したようなものに限らず
、その他の公知のものが用いられてもよい。さらに本発
明の光ビーム走査装置は、機械式の光偏向器としてホロ
グラムスキャナを用いて構成することも勿論可能である
さらにまた、位置検出用光ビームと走査用光ビームは、
同一の光ビーム発生手段より発せられた光ビームをビー
ム分割器にて分割して得てもよい。
(発明の効果) 以上詳細に説明した通り本発明の光ビーム走、査装置は
、機械式の光偏向器の角度位置検出と走査用光ビームの
ずれ補正を、共通の手段によって行ないつるものである
から、小型かつ安価に形成可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1実施態様装置を示づ概略斜視図、 第2図、第3図はそれぞれ上記実施態様装置の集束光学
系を示す展開平面図、展開側面図、第4図は上記実施態
様装置の電気回路を示タブロック図、 第5図は本発明の第2実IIM態様装置を示ず概略斜視
図である。 2・・・走査用光ビーム 3・・・補正用光偏向器4・
・・ガルバノメータミラー 4a、31a・・・偏向点
7・・・走査線 10・・・位置検出用光ビーム発生手
段11・・・位置検出用光ビーム 16・・・格子パタ
ーン15.19・・・集束光学系 20・・・光ビーム
位置検出器21・・・信号処理回路 27・・・補正用光偏向器駆動制御回路30・・・回転
多面鏡 第1図 第2図 9 @4図 第5図 (自発)手続ネm正書 1、事件の表示 特願昭59−78230号 2、発明の名称 光ビーム走査装置 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 任 所 神奈川県南足柄市中沼210番地名 称 富士
写真フィルム株式会社 4、代理人 東京都港区六本木5丁目2番1号 8、補正の内容 1)明細書第13頁第20行 「ずれ補正」を「ずれ量検出」と補正する。 2)同第14頁第1行 [ないうるちのであるから」を「ない、これにより走査
方向のクロック信号を発生すると共に、光ビームの走査
方向と直 。 交する方向のずれを補正しうるものであるから」と補正
する。 3)図面中筒2図および第3図を添付の通り補正する。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)走査用光ビームを機械式の走査用光偏向器により偏
    向して走査する光ビーム走査装置において、位置検出用
    光ビームを発生し該位置検出用光ビームを、前記走査用
    光ビームの偏向点と略本なる点□を偏向点として偏向さ
    れるように前記走査用光偏向器に入射させる位置検出用
    光ビーム発生手段、偏向された前記位置検出用光ビーム
    を集束させる集束光学系、該位置検出用光ビームの集束
    面に配されこの位置検出用光ビームの集束位置を検出す
    る光ビーム位置検出手段、この光ビーム位置検出手段の
    出力信号を処理して前記走査用光偏向器の角度位置を示
    す角度位置信号と、前記位置検出用光ビームの偏向方向
    と直角な方向の偏位を示す偏位信号とを出力する信号処
    理回路、前記走査用光偏向器に入射する前の前記走査用
    光ビームを、前記走査の際に該走査の方向と直交する向
    きに補正を受け、前記偏位を解消するように前記補正用
    光偏向器を駆動する補正用光偏向器駆動制御手段を備え
    たことを特徴と°す”る光ビーム走査装置。 2)前記光ビーム位置検出手段が、前記位置検出用光ビ
    ームの偏向面に配され、該光ビームの偏向方向に交互に
    透明部と不透明部とを有する格子バタ」ンと、位置検出
    珀光ビームの偏向方向と直角な方向の偏位を検出する1
    次元位置検出器とから構成され、前記信号処理回路が、
    前記格子パターンによる前記1次元位置検出器の出力の
    周期的変化を検出して前記走査用光偏向器の角度位置を
    検出することを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
    光ビーム走査装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH031117A (ja) * 1988-10-11 1991-01-07 E I Du Pont De Nemours & Co 走査型レーザ顕微鏡装置及びその使用方法
KR100467745B1 (ko) * 2002-06-19 2005-01-24 주식회사 이오테크닉스 갈바노 미터의 회전자 위치 측정 시스템
JP2009282326A (ja) * 2008-05-22 2009-12-03 Canon Inc ガルバノ装置およびレーザ加工装置

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3603544A1 (de) * 1986-02-05 1987-08-06 Sick Optik Elektronik Erwin Optische abtastvorrichtung
US4940310A (en) * 1986-03-19 1990-07-10 Minolta Camera Kabushiki Kaisha Optical scanning device using plural sources of differing wavelengths
JPS6313015A (ja) * 1986-07-04 1988-01-20 Hitachi Koki Co Ltd 光偏向装置のビ−ム位置制御装置
US4947039A (en) * 1988-10-17 1990-08-07 Eotron Corporation Flat stationary field light beam scanning device
US5140427A (en) * 1988-12-23 1992-08-18 Sony Corporation Apparatus for displaying an image on a screen
DE4000166A1 (de) * 1990-01-05 1991-07-11 Hell Rudolf Dr Ing Gmbh Verfahren und einrichtung zur korrektur von positionsfehlern eines abgelenkten lichtstrahls
JPH03272028A (ja) * 1990-03-22 1991-12-03 Nikon Corp ミラー回動アクチュエータの回動角度検出機構
EP0752782A1 (en) * 1995-07-07 1997-01-08 Agfa-Gevaert N.V. Adjustment of the position of a scan line in a light beam scanning apparatus
JP3467000B2 (ja) * 1999-08-02 2003-11-17 キヤノン株式会社 光走査光学装置、及び、画像形成装置
US7129473B2 (en) * 2003-05-16 2006-10-31 Olympus Corporation Optical image pickup apparatus for imaging living body tissue
US8335341B2 (en) * 2007-09-07 2012-12-18 Datalogic ADC, Inc. Compensated virtual scan lines
DE102011050030B4 (de) 2011-05-02 2013-03-28 Scanlab Ag Positionsdetektor und Lichtablenkvorrichtung mit Positionsdetektor
US9157802B2 (en) * 2011-12-14 2015-10-13 Gwangju Institute Of Science And Technology System for real-time analysis of material distribution in CIGS thin film using laser-induced breakdown spectroscopy
JP5920733B2 (ja) * 2013-10-31 2016-05-18 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 画像形成装置
US10495579B2 (en) * 2016-05-02 2019-12-03 Kla-Tencor Corporation System and method for compensation of illumination beam misalignment
KR20190046112A (ko) * 2017-10-25 2019-05-07 한국전자통신연구원 다면체 회전 거울과 텔레센트릭 f-세타 렌즈를 이용한 테라헤르츠 반사 영상 시스템

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5256944A (en) * 1975-11-06 1977-05-10 Canon Inc Device for correcting position of beam
JPS55108625A (en) * 1979-02-14 1980-08-21 Toshiba Corp Light deflecting device
JPS56159615A (en) * 1980-05-14 1981-12-09 Fuji Photo Film Co Ltd Light beam scanner
JPS57150817A (en) * 1980-12-11 1982-09-17 Hell Rudolf Dr Ing Gmbh Correction of positional errors of light beam deflected on surface

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4214157A (en) * 1978-07-07 1980-07-22 Pitney Bowes, Inc. Apparatus and method for correcting imperfection in a polygon used for laser scanning
US4257053A (en) * 1979-02-09 1981-03-17 Geosource, Inc. High-resolution laser plotter
US4564757A (en) * 1982-09-30 1986-01-14 Burroughs Corporation Mirror position sensor for improved track selection in optical data disk system

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5256944A (en) * 1975-11-06 1977-05-10 Canon Inc Device for correcting position of beam
JPS55108625A (en) * 1979-02-14 1980-08-21 Toshiba Corp Light deflecting device
JPS56159615A (en) * 1980-05-14 1981-12-09 Fuji Photo Film Co Ltd Light beam scanner
JPS57150817A (en) * 1980-12-11 1982-09-17 Hell Rudolf Dr Ing Gmbh Correction of positional errors of light beam deflected on surface

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH031117A (ja) * 1988-10-11 1991-01-07 E I Du Pont De Nemours & Co 走査型レーザ顕微鏡装置及びその使用方法
KR100467745B1 (ko) * 2002-06-19 2005-01-24 주식회사 이오테크닉스 갈바노 미터의 회전자 위치 측정 시스템
JP2009282326A (ja) * 2008-05-22 2009-12-03 Canon Inc ガルバノ装置およびレーザ加工装置
US9006607B2 (en) 2008-05-22 2015-04-14 Canon Kabushiki Kaisha Light beam scanning apparatus, laser machining apparatus, test method and laser machining method

Also Published As

Publication number Publication date
US4694164A (en) 1987-09-15
EP0159024A3 (en) 1987-08-19
EP0159024A2 (en) 1985-10-23

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