JPS58143326A - 面倒れ補正装置 - Google Patents
面倒れ補正装置Info
- Publication number
- JPS58143326A JPS58143326A JP57024540A JP2454082A JPS58143326A JP S58143326 A JPS58143326 A JP S58143326A JP 57024540 A JP57024540 A JP 57024540A JP 2454082 A JP2454082 A JP 2454082A JP S58143326 A JPS58143326 A JP S58143326A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- photodetector
- deviation
- correction
- shift
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/29—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the position or the direction of light beams, i.e. deflection
- G02F1/33—Acousto-optical deflection devices
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
- Facsimile Scanning Arrangements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は走査光学系の面倒れの補正を電気的に行うため
の面倒れ補正装置に関する。
の面倒れ補正装置に関する。
レーザプリンタのようにビーム（光線）を高速で走査さ
せる装置には、ポリゴンミラー（回転多面鏡）を用いた
走査光学系が用いられることが多い。このような走査光
学系では、各鏡面が回転軸に対して厳密にさ［１行に配
置されていないと、走査線のヒツチが不均一となる。こ
のため従来ぐは１）殊な加工機械を使用して、ポリゴン
ミラーの各面の倒れを微小に抑えるか、それぞれの光学
系に合わゼで特殊なシリンドリカルレンズを製作し、こ
れを光学系の所定の位置に配置して而倒れを？＋ｌｉ
１ｌＪ−るという方法がとられていた。ところか前布の
方法では、必要とされる加工機械が非常（こ高価であり
、また歩留りが悪いという問題があった。また後者の方
法では、特殊なシリンドリカルレンズを製作づるために
、製造上で種々の問題が発生した。
せる装置には、ポリゴンミラー（回転多面鏡）を用いた
走査光学系が用いられることが多い。このような走査光
学系では、各鏡面が回転軸に対して厳密にさ［１行に配
置されていないと、走査線のヒツチが不均一となる。こ
のため従来ぐは１）殊な加工機械を使用して、ポリゴン
ミラーの各面の倒れを微小に抑えるか、それぞれの光学
系に合わゼで特殊なシリンドリカルレンズを製作し、こ
れを光学系の所定の位置に配置して而倒れを？＋ｌｉ
１ｌＪ−るという方法がとられていた。ところか前布の
方法では、必要とされる加工機械が非常（こ高価であり
、また歩留りが悪いという問題があった。また後者の方
法では、特殊なシリンドリカルレンズを製作づるために
、製造上で種々の問題が発生した。
本発明はこのＪ、うな事情に鑑みてなさねたものぐ、ポ
リゴンミラーにある程度の而倒れが存イ」してもこれを
電気的に補正することのできる而倒れ補正装置を提供づ
ることを目的とする。
リゴンミラーにある程度の而倒れが存イ」してもこれを
電気的に補正することのできる而倒れ補正装置を提供づ
ることを目的とする。
本発明では、走査面におけるビームのずれを検出するフ
ォ１〜ディテクタと、ビームを偏向させる音響−光変調
器と、前記フォ１〜ディテクタにＪ：り検出されたビー
ムのずれに応じて音響−光変調器に印加づ−る周波数を
変化させ、ビームのずれが無くなる方向にビームの偏向
角を変化させる偏向角制御手段とをポリゴンミラーを備
えた走査光学系の面倒れ補正装置に具備させ、ビームの
ずれに応じて各鏡面に入用するビームを偏向させ、これ
らのビームが常に同一箇所を走査できるようにして、前
記した目的を達成づる。
ォ１〜ディテクタと、ビームを偏向させる音響−光変調
器と、前記フォ１〜ディテクタにＪ：り検出されたビー
ムのずれに応じて音響−光変調器に印加づ−る周波数を
変化させ、ビームのずれが無くなる方向にビームの偏向
角を変化させる偏向角制御手段とをポリゴンミラーを備
えた走査光学系の面倒れ補正装置に具備させ、ビームの
ずれに応じて各鏡面に入用するビームを偏向させ、これ
らのビームが常に同一箇所を走査できるようにして、前
記した目的を達成づる。
以下実施例につぎ本発明の詳細な説明する。
第１図は面倒れ補正装置を示したものである。
この装置で図示しないレーザ発振器から出力されたレー
ザビーム１は、Ａ１０ （音響−光）変調器のヘッド２
を通過して、ポリゴンミラーの鏡面３Δに人ＩＪ＝Ｊ
リ−る。鏡面３△はポリゴンミラーの回転によりレーザ
ビームの入射角を相対的に変化させ、反射されるシー１
ｒビームを偏向さゼる。これにより走査（主走査）が行
われる。レーザビーム１の走査面には、フＡ（〜ディテ
クタ４が配置されている。
ザビーム１は、Ａ１０ （音響−光）変調器のヘッド２
を通過して、ポリゴンミラーの鏡面３Δに人ＩＪ＝Ｊ
リ−る。鏡面３△はポリゴンミラーの回転によりレーザ
ビームの入射角を相対的に変化させ、反射されるシー１
ｒビームを偏向さゼる。これにより走査（主走査）が行
われる。レーザビーム１の走査面には、フＡ（〜ディテ
クタ４が配置されている。
第２図は走査面におけるフォトディテクタ４とフォトリ
ゼブタ５〕の位置関係を表わしたものである。フォトデ
ィテクタ４はレーザビーム１の走査される線−トｔ−、
ノア１１〜リセブタ５の像作成開始位置Ａよりも時間的
に手前の位置Ｂに配置されている。ここでフ第１〜リセ
ブタ５とは、例えばレーザビームにより静電潜像を形成
する記録装置に使用される感光ドラムをいう。フ、ｔ
ｌ〜デイデクタ４はこれにし〜ザビームか入射するごと
にその入用位置のずれを検知りる。
ゼブタ５〕の位置関係を表わしたものである。フォトデ
ィテクタ４はレーザビーム１の走査される線−トｔ−、
ノア１１〜リセブタ５の像作成開始位置Ａよりも時間的
に手前の位置Ｂに配置されている。ここでフ第１〜リセ
ブタ５とは、例えばレーザビームにより静電潜像を形成
する記録装置に使用される感光ドラムをいう。フ、ｔ
ｌ〜デイデクタ４はこれにし〜ザビームか入射するごと
にその入用位置のずれを検知りる。
第３図はこのノＡ１〜デ′イデクタがビームのずれの検
知を行う原理を説明するためのものである。
知を行う原理を説明するためのものである。
フォトディテクタ４は、ピンノＡ１−タイオードにより
作成されており、ビームの照射される位置により、２つ
の電極４Ａ、’４Ｂを流れる電流Ｉ＾。
作成されており、ビームの照射される位置により、２つ
の電極４Ａ、’４Ｂを流れる電流Ｉ＾。
１Ｂが変化するようになっている。ずなわち両型４４ｉ
４Ａ、４Ｂから等間隔の位置を横切るビーム１Ａについ
ては、２種類の電流ＩＡ、１Ｂの値が等しくなり、走査
方向と直交する方向の■側にずれたビーム１Ｂあるいは
ｅ側にずれたビーム１Ｃ（こついては、これらの電流■
＾、Ｉ［＋の比が変化づ−る。従ってずれのないビーム
］Ａが両電極４Ａ。
４Ａ、４Ｂから等間隔の位置を横切るビーム１Ａについ
ては、２種類の電流ＩＡ、１Ｂの値が等しくなり、走査
方向と直交する方向の■側にずれたビーム１Ｂあるいは
ｅ側にずれたビーム１Ｃ（こついては、これらの電流■
＾、Ｉ［＋の比が変化づ−る。従ってずれのないビーム
］Ａが両電極４Ａ。
３−
４１３から等距−１の位置を通過するように、フォトデ
ィテクタ４を配置し°Ｃおけば、２種類の電流ＩＡ、Ｉ
ｎの化でずれの程度と方向を検知することかできる。
ィテクタ４を配置し°Ｃおけば、２種類の電流ＩＡ、Ｉ
ｎの化でずれの程度と方向を検知することかできる。
このような位置に配置されたフォトディテクタ４は、ビ
ーム１を検出するとこの時点で２種類の電流］Ａ、ＩＲ
を発生さゼる。これらの電流ＩＡ。
ーム１を検出するとこの時点で２種類の電流］Ａ、ＩＲ
を発生さゼる。これらの電流ＩＡ。
Ｉｓは７ノナログ比較器６とサンプ１２ングゲ−ト作成
回路７に供給される。アナログ比較器６は両型流ＩＡ、
１８の比を求め、ずれに応じた電圧で表わされるずれ補
正信号８を発生させる。一方、ザンプリングゲート作成
回路７は、電流Ｉ＾、 Ｉａを検出１゛ると、所定の
タイミングでゲート信号９を発生させる。ずれ補正信号
８およびゲート信号９はサンプルホールド回路１１に供
給され、ずれ補正信号８が次のサンプリングが行われる
までホールドされる。このようにしてサンプルホールド
回路１１からはポリゴンミラーの現在使用されている鏡
面３Ａについくのずれ補正信号８が連続的に出力される
。
回路７に供給される。アナログ比較器６は両型流ＩＡ、
１８の比を求め、ずれに応じた電圧で表わされるずれ補
正信号８を発生させる。一方、ザンプリングゲート作成
回路７は、電流Ｉ＾、 Ｉａを検出１゛ると、所定の
タイミングでゲート信号９を発生させる。ずれ補正信号
８およびゲート信号９はサンプルホールド回路１１に供
給され、ずれ補正信号８が次のサンプリングが行われる
までホールドされる。このようにしてサンプルホールド
回路１１からはポリゴンミラーの現在使用されている鏡
面３Ａについくのずれ補正信号８が連続的に出力される
。
４−
４ノンプルホ一ルド回路１１から出ノノサれたずれ補正
信号８は、電圧制御発振器（ＶＣＯ）１２に供給され、
これに応じた周波数の発振信号１４が作成される。発振
信号１４は駆動回路１５に供給される。駆動回路１５は
Ａ１０変調器のヘッド２に駆動信号１６を送出する。こ
の駆動信号１６により、ヘッド１２はビーム１をそのず
れに応じて微小角だけ偏向させる。これによりビーム１
はフォトリセプタ５を正しい位置で走査りることとなる
。
信号８は、電圧制御発振器（ＶＣＯ）１２に供給され、
これに応じた周波数の発振信号１４が作成される。発振
信号１４は駆動回路１５に供給される。駆動回路１５は
Ａ１０変調器のヘッド２に駆動信号１６を送出する。こ
の駆動信号１６により、ヘッド１２はビーム１をそのず
れに応じて微小角だけ偏向させる。これによりビーム１
はフォトリセプタ５を正しい位置で走査りることとなる
。
ポリゴンミラーが更に回転し、次の鏡面３Ｂがビー！１
の走査を行う場合にも、前記と同様の動作が行われ、Ａ
１０変調器のヘッド２は面倒れに応じてビームの偏向を
行う。以下同様にして各鏡面についてそのたびに面倒れ
の補正が行われる。
の走査を行う場合にも、前記と同様の動作が行われ、Ａ
１０変調器のヘッド２は面倒れに応じてビームの偏向を
行う。以下同様にして各鏡面についてそのたびに面倒れ
の補正が行われる。
なおこの実施例で使用した電圧制御発振器の電圧−周波
数特性およびＡ１０変調器の同波数−偏向角特性は、各
走査面ごとにフォトディテクタの位置［３からフォトリ
セプタの端Ａまでに補正しなければならない。つまり１
走査につき１回しか位置ずれをリンシリングでさ″ない
ので、直線的である必装がある。
数特性およびＡ１０変調器の同波数−偏向角特性は、各
走査面ごとにフォトディテクタの位置［３からフォトリ
セプタの端Ａまでに補正しなければならない。つまり１
走査につき１回しか位置ずれをリンシリングでさ″ない
ので、直線的である必装がある。
第１図と同一部分に同一の符号を付した第４図は先の実
施例の変形を示したものである。この変形例でアナログ
比較器６から出力されるずれ補止信号８は、サンプルホ
ールド回路１１に供給されＣその値がホールドされると
共に、零検出器２１に供給されてずれの補正が完全に行
われる時期が検出される。ずれが零で４１い場合、零検
出器２１は補正の未完了を示す信号２２を制御回路（図
示ぜず）に送出し、記録動作を開始させない。
施例の変形を示したものである。この変形例でアナログ
比較器６から出力されるずれ補止信号８は、サンプルホ
ールド回路１１に供給されＣその値がホールドされると
共に、零検出器２１に供給されてずれの補正が完全に行
われる時期が検出される。ずれが零で４１い場合、零検
出器２１は補正の未完了を示す信号２２を制御回路（図
示ぜず）に送出し、記録動作を開始させない。
さて、サンプルホールド回路１１から出力されるずれ補
正信号８は、スイッチ回路２３とＡ−Ｄ変換器２４の双
方に供給される。スイッチ回路２３はこの初期状態でず
れ補正信号８を電圧制御発振器１２に供給するように接
点の接続が行われている。従ってずれ補止信号８により
電圧制御発振器１２は発振信号１４を発生させ、駆動回
路１５に供給する。これにより先の実施例で説明したよ
うにＡ１０変調器のヘッド２によるビームの（−１向角
の補正が行われる。
正信号８は、スイッチ回路２３とＡ−Ｄ変換器２４の双
方に供給される。スイッチ回路２３はこの初期状態でず
れ補正信号８を電圧制御発振器１２に供給するように接
点の接続が行われている。従ってずれ補止信号８により
電圧制御発振器１２は発振信号１４を発生させ、駆動回
路１５に供給する。これにより先の実施例で説明したよ
うにＡ１０変調器のヘッド２によるビームの（−１向角
の補正が行われる。
ところでこの変形例の装置ぐは、装置部品が低速で動作
づる部品で構成されている。従ってずれ補止信号８は１
回の走査で正しい補正内容を指示し４Ｔい場合が考えら
れる。このずれ補止信局８はＡ−Ｄ変換器２４によりデ
ジタル補正信号２５に変換され、メ［す２６のその鏡面
に対応何４−１られた番地に記憶される。このようにし
て順次ポリゴンミラーの各鏡面について而倒れの第１回
目の補Ｊ１−が行われ、その内容がメモリ２６に記憶さ
れる。１ポリゴンミラーが１回転し各鏡面を用いて２回
目の走査が？１われる段階になると、スイッチ回路２３
の接点が切り換わる。これと共にメモリ２６から現在使
用される面についてのデジタル補１１−信号２５が読み
出され、Ｄ−Ａ変換器２８に」、って再びずれ補正信号
２９に変換される。このずれ補止信号２９はスイッチ回
路２３を介して７１Ｎ圧制御発振器１２に供給され、こ
れににすＡ ／ Ｏ変調器２の偏向角が補正される１、
この補正された偏向角でビームが偏向され、鏡面を反射
したビームが）７− オトデイテクタ４にＪζり検出される。この結果、フＡ
１〜ディテクタ４はずれに応じた比の電流１八。
づる部品で構成されている。従ってずれ補止信号８は１
回の走査で正しい補正内容を指示し４Ｔい場合が考えら
れる。このずれ補止信局８はＡ−Ｄ変換器２４によりデ
ジタル補正信号２５に変換され、メ［す２６のその鏡面
に対応何４−１られた番地に記憶される。このようにし
て順次ポリゴンミラーの各鏡面について而倒れの第１回
目の補Ｊ１−が行われ、その内容がメモリ２６に記憶さ
れる。１ポリゴンミラーが１回転し各鏡面を用いて２回
目の走査が？１われる段階になると、スイッチ回路２３
の接点が切り換わる。これと共にメモリ２６から現在使
用される面についてのデジタル補１１−信号２５が読み
出され、Ｄ−Ａ変換器２８に」、って再びずれ補正信号
２９に変換される。このずれ補止信号２９はスイッチ回
路２３を介して７１Ｎ圧制御発振器１２に供給され、こ
れににすＡ ／ Ｏ変調器２の偏向角が補正される１、
この補正された偏向角でビームが偏向され、鏡面を反射
したビームが）７− オトデイテクタ４にＪζり検出される。この結果、フＡ
１〜ディテクタ４はずれに応じた比の電流１八。
１８を出力し、アナ［ｌグ比較器６はずれ補正信号８を
発生させる。零検出器２１はこのずれ補正信号８を人力
し、ずれが完全に補正されているとぎには補正の完了を
示す信号３１を制御回路に供給する。
発生させる。零検出器２１はこのずれ補正信号８を人力
し、ずれが完全に補正されているとぎには補正の完了を
示す信号３１を制御回路に供給する。
一方、零検出器２１が補正の未完了を示す信号２２を出
力すると、前記制御回路はスイッチ回路２３の接点を図
面の実線で示す状態に復旧さゼる。
力すると、前記制御回路はスイッチ回路２３の接点を図
面の実線で示す状態に復旧さゼる。
これにより、サンプルボールド回路１１がら出力される
ずれ補正信号８が△−り変換器２４ど共に電圧制御発振
器１２に供給される。電圧制御発振器１２は先に供給さ
れたずれ補正信＠２９に基づく発振周波数をサンプルホ
ールド回路１１がら供給されたずれ補正信＠８により更
に補正し、駆動回路１５に供給−りる。これによりＡ１
０変調器のヘッド２はビームの偏向角を更に補正する。
ずれ補正信号８が△−り変換器２４ど共に電圧制御発振
器１２に供給される。電圧制御発振器１２は先に供給さ
れたずれ補正信＠２９に基づく発振周波数をサンプルホ
ールド回路１１がら供給されたずれ補正信＠８により更
に補正し、駆動回路１５に供給−りる。これによりＡ１
０変調器のヘッド２はビームの偏向角を更に補正する。
またＡ−Ｄ変換器２４はずれ補正信号８をデジタル補正
信号２５に変換し、メモリ２６に供給する。メ８− モリ２６ではその鏡面に対応句けられた番地に先に記憶
されたデジタル補正信号と加紳した状態でその番地に信
号を記憶さける。
信号２５に変換し、メモリ２６に供給する。メ８− モリ２６ではその鏡面に対応句けられた番地に先に記憶
されたデジタル補正信号と加紳した状態でその番地に信
号を記憶さける。
以−ト同様にして他の鏡面についても２回目の補正が行
われる。３３回目以降の補正も同様である。。
われる。３３回目以降の補正も同様である。。
このようにしてポリゴンミラーの回転と共に面倒れの補
正が繰り返されると、Ａ ／ Ｏ変調器のヘッド２は各
鏡面についてビームを最適伯で偏向できるようになり、
補正が終了する。この時点では、各鏡面について補正の
完了を示す信号３１が出力されており、制御回路はこれ
により記録動作を開始させる。この状態以降では、スイ
ッチ回路２３の接点が図で点線で示す位置に固定されて
もＪ：いことはもちろんである。
正が繰り返されると、Ａ ／ Ｏ変調器のヘッド２は各
鏡面についてビームを最適伯で偏向できるようになり、
補正が終了する。この時点では、各鏡面について補正の
完了を示す信号３１が出力されており、制御回路はこれ
により記録動作を開始させる。この状態以降では、スイ
ッチ回路２３の接点が図で点線で示す位置に固定されて
もＪ：いことはもちろんである。
このようにこの変形例によれば信号の応答性の良くない
部品を使用して装置を製作することができ、装置を更に
安価に製作することができる。
部品を使用して装置を製作することができ、装置を更に
安価に製作することができる。
以上説明したように本発明によればフォ１〜ディデクタ
を用いてその出力する電流の差によりずれの検出を行う
ので、ビームのパワーが変動しても、これに影響なく補
正を行うことができる。またこの装置では各ビームの走
査位置についての補正をフォトディテクタにＬＪ３りる
位置関係で行うので、フＡ］へディテクタ自体を特に精
度良く配置Ｊる必東がなく、走査位置の調整を簡易に行
うことかできる。
を用いてその出力する電流の差によりずれの検出を行う
ので、ビームのパワーが変動しても、これに影響なく補
正を行うことができる。またこの装置では各ビームの走
査位置についての補正をフォトディテクタにＬＪ３りる
位置関係で行うので、フＡ］へディテクタ自体を特に精
度良く配置Ｊる必東がなく、走査位置の調整を簡易に行
うことかできる。
第１図〜第３図は本発明の一実施例を説明するためのも
ので、第１図は而倒れ補正装置のブ［」ツタ図、第２図
は走査面におけるフォトディテクタとフォ１〜リセプタ
の位置関係を表わした平面図、第３図はフォトディテク
タの動作原理を表わした原理図、第４図は面倒れ補正装
置の変形例を示すブロック図である。 １・・・・・・ビーム ２・・・・・・音響−光変調器 ３・・・・・・ポリゴンミラーの鏡面 ４・・・・・・フォトディテクタ ６・・・・・・アナログ比較器 １２・・・・・・電圧制御発振器 １１−
ので、第１図は而倒れ補正装置のブ［」ツタ図、第２図
は走査面におけるフォトディテクタとフォ１〜リセプタ
の位置関係を表わした平面図、第３図はフォトディテク
タの動作原理を表わした原理図、第４図は面倒れ補正装
置の変形例を示すブロック図である。 １・・・・・・ビーム ２・・・・・・音響−光変調器 ３・・・・・・ポリゴンミラーの鏡面 ４・・・・・・フォトディテクタ ６・・・・・・アナログ比較器 １２・・・・・・電圧制御発振器 １１−
Claims (1)
- ポリゴンミラーによりビームの走査を行う走査光学系に
おいて、走査されるビームの正規の位置からのずれを検
出するフォトディテクタと、ビームを偏向ざぜる音響−
光変調器と、前記フォｉ・ディテクタにより検出された
ビームのずれに応じて音響−光変調器に印加する周波数
を変化させ、ビームのずれがその鏡面で零になる方向に
ビームの偏向角を変化させる偏向角制御手段とを具備す
ることを特徴とする面倒れ補正装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57024540A JPS58143326A (ja) | 1982-02-19 | 1982-02-19 | 面倒れ補正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57024540A JPS58143326A (ja) | 1982-02-19 | 1982-02-19 | 面倒れ補正装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58143326A true JPS58143326A (ja) | 1983-08-25 |
Family
ID=12140979
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57024540A Pending JPS58143326A (ja) | 1982-02-19 | 1982-02-19 | 面倒れ補正装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58143326A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2596878A1 (fr) * | 1986-04-02 | 1987-10-09 | Centre Nat Rech Scient | Procede et dispositif de modulation acousto-optique a reponse linearisee |
-
1982
- 1982-02-19 JP JP57024540A patent/JPS58143326A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2596878A1 (fr) * | 1986-04-02 | 1987-10-09 | Centre Nat Rech Scient | Procede et dispositif de modulation acousto-optique a reponse linearisee |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6800844B2 (en) | Two-dimensional optical scanner and method of driving the same | |
| JP2834978B2 (ja) | スキャニングシステム | |
| JP2000180747A (ja) | 光学走査装置 | |
| JPH0527086B2 (ja) | ||
| JP2000071510A (ja) | 画像形成装置 | |
| JPS60221720A (ja) | 光ビ−ム走査装置 | |
| KR100842614B1 (ko) | 화상 형성 장치 및 그 제어 방법 | |
| US20050024476A1 (en) | Image exposure apparatus | |
| US5903378A (en) | Scanning apparatus having a cascade scanning optical system | |
| JPS62178920A (ja) | 光ビ−ム走査装置 | |
| US5909300A (en) | Scanning apparatus having a cascade scanning optical system | |
| JP3291341B2 (ja) | スポット位置制御装置 | |
| JPS58143326A (ja) | 面倒れ補正装置 | |
| JPH0132700B2 (ja) | ||
| JPH01302317A (ja) | 画像形成装置 | |
| JPH1039241A (ja) | レーザ記録装置 | |
| US6693658B2 (en) | Light beam scanning apparatus | |
| JPH10239604A (ja) | カスケード走査光学系の同期装置 | |
| JPS62135067A (ja) | レ−ザ−ビ−ム走査装置 | |
| JPS58100118A (ja) | レ−ザビ−ム走査装置 | |
| JP2722478B2 (ja) | レーザビーム走査装置 | |
| JP2002090671A (ja) | 光ビーム走査装置 | |
| JPH08136838A (ja) | 画像形成装置 | |
| JPH1142813A (ja) | 走査光学装置 | |
| JPH01302316A (ja) | 画像形成装置 |