JPH1039241A - レーザ記録装置 - Google Patents
レーザ記録装置Info
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- JPH1039241A JPH1039241A JP8190480A JP19048096A JPH1039241A JP H1039241 A JPH1039241 A JP H1039241A JP 8190480 A JP8190480 A JP 8190480A JP 19048096 A JP19048096 A JP 19048096A JP H1039241 A JPH1039241 A JP H1039241A
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- laser
- laser array
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- optical scanning
- scanning direction
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 レーザアレイを光源としたレーザ記録装置
で、プロセススピードを固定したままで複数段の光走査
密度の変更が行われるようにする。 【解決手段】 レーザアレイ11から出射したレーザ光
を回転多面鏡で光走査を行う構成とし、レーザアレイ1
1に回転手段13を設けて、光走査密度の選択に応じて
レーザアレイ11の回転角を変更し、レーザアレイ11
中の特定のレーザのみを発光させ、レーザアレイ11の
発光強度を変更する。先の回転角の変更に当たってはイ
ンデックスセンサによって回転角の微調整を行う。
で、プロセススピードを固定したままで複数段の光走査
密度の変更が行われるようにする。 【解決手段】 レーザアレイ11から出射したレーザ光
を回転多面鏡で光走査を行う構成とし、レーザアレイ1
1に回転手段13を設けて、光走査密度の選択に応じて
レーザアレイ11の回転角を変更し、レーザアレイ11
中の特定のレーザのみを発光させ、レーザアレイ11の
発光強度を変更する。先の回転角の変更に当たってはイ
ンデックスセンサによって回転角の微調整を行う。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、レーザ光を用いて
画像形成装置等の記録を行うレーザ記録装置に関し、詳
しくはレーザアレイから出射する複数の光ビームにより
記録媒体上を同時に主走査方向に平行に走査させて複数
のラインを同時に記録するレーザ記録装置に関し、特に
光走査密度を変更可変可能とする技術に関する。
画像形成装置等の記録を行うレーザ記録装置に関し、詳
しくはレーザアレイから出射する複数の光ビームにより
記録媒体上を同時に主走査方向に平行に走査させて複数
のラインを同時に記録するレーザ記録装置に関し、特に
光走査密度を変更可変可能とする技術に関する。
【0002】
【従来の技術】画像信号に基づいて変調されたレーザビ
ーム(光ビーム)を回転多面鏡により偏光して記録媒体
上に走査させることにより画像情報の記録を行うレーザ
記録装置では、記録の高速化を図るため、ワンチップ上
に形成されたレーザアレイから発光する複数のレーザビ
ームを用いて複数のラインを記録媒体上に同時に記録さ
せる構成をとれば良いことが知られている。レーザ記録
を行う画像データは、例えば300dpi,400dp
i,600dpiというように画像密度は必ずしも一定
していない。画像密度の異なった画像情報に応じて、レ
ーザによる書き込み密度(光走査密度)を変更する場合
には、 (1) プロセススピードを変化させることによって行
う。この場合、例えば副走査方向の感光体ドラムの回転
速度を変えたりしてプロセススピードを変化させると、
この変更に付随して帯電、現像等のプロセス条件まで変
更することが必要となる。
ーム(光ビーム)を回転多面鏡により偏光して記録媒体
上に走査させることにより画像情報の記録を行うレーザ
記録装置では、記録の高速化を図るため、ワンチップ上
に形成されたレーザアレイから発光する複数のレーザビ
ームを用いて複数のラインを記録媒体上に同時に記録さ
せる構成をとれば良いことが知られている。レーザ記録
を行う画像データは、例えば300dpi,400dp
i,600dpiというように画像密度は必ずしも一定
していない。画像密度の異なった画像情報に応じて、レ
ーザによる書き込み密度(光走査密度)を変更する場合
には、 (1) プロセススピードを変化させることによって行
う。この場合、例えば副走査方向の感光体ドラムの回転
速度を変えたりしてプロセススピードを変化させると、
この変更に付随して帯電、現像等のプロセス条件まで変
更することが必要となる。
【0003】(2) 回転多面鏡の回転数を変化させる
ことによって行う。この場合には広い範囲に亘って回転
多面鏡の回転数の制御を行うことが必要となる。
ことによって行う。この場合には広い範囲に亘って回転
多面鏡の回転数の制御を行うことが必要となる。
【0004】(3) 画像データの画像密度を変換する
ことによって行う。この場合、データの補間を行った
り、間引きを行ったりして画像密度を変換すると、変換
に伴って画像には不連続が出てくる。
ことによって行う。この場合、データの補間を行った
り、間引きを行ったりして画像密度を変換すると、変換
に伴って画像には不連続が出てくる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記(1)〜(3)の
方法によって光走査密度を変更することは、それぞれ変
更に伴う付随した複雑な変更又は欠点を有している。し
かも、レーザアレイを用いたレーザ記録装置では、光走
査密度を変更することは不可能と考えられて来た。
方法によって光走査密度を変更することは、それぞれ変
更に伴う付随した複雑な変更又は欠点を有している。し
かも、レーザアレイを用いたレーザ記録装置では、光走
査密度を変更することは不可能と考えられて来た。
【0006】本発明は、ワンチップ上に形成されたレー
ザアレイから発光する複数のレーザビームを用いて複数
のラインを記録媒体上に同時に記録するレーザ記録装置
を用いて、自由に画像情報に応じて プロセススピードや回転多面鏡の回転数を変更するこ
となく、光走査密度の変更を行う、 プロセススピードを変更することなく、回転多面鏡の
小範囲の回転数の変更を行うことによって、連続的な光
走査密度の変更を行う、 及びのレーザ記録装置を提供することを目的とす
る。
ザアレイから発光する複数のレーザビームを用いて複数
のラインを記録媒体上に同時に記録するレーザ記録装置
を用いて、自由に画像情報に応じて プロセススピードや回転多面鏡の回転数を変更するこ
となく、光走査密度の変更を行う、 プロセススピードを変更することなく、回転多面鏡の
小範囲の回転数の変更を行うことによって、連続的な光
走査密度の変更を行う、 及びのレーザ記録装置を提供することを目的とす
る。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記の目的は、レーザ
アレイから出射したレーザ光を回転多面鏡により記録媒
体上に主走査方向に光走査を行うレーザ記録装置におい
て、前記レーザアレイを回転する回転手段を有し、光走
査密度の選択に応じて、前記回転手段の回転角を設定す
る制御手段を設けたことを特徴とするレーザ記録装置
(請求項1の発明)によって達成される。
アレイから出射したレーザ光を回転多面鏡により記録媒
体上に主走査方向に光走査を行うレーザ記録装置におい
て、前記レーザアレイを回転する回転手段を有し、光走
査密度の選択に応じて、前記回転手段の回転角を設定す
る制御手段を設けたことを特徴とするレーザ記録装置
(請求項1の発明)によって達成される。
【0008】上記の目的は、レーザアレイから出射し
たレーザ光を回転多面鏡により記録媒体上に主走査方向
に光走査を行うレーザ記録装置において、前記レーザア
レイを回転する回転手段と、前記回転多面鏡の回転数を
変化させる回転数変化手段とを有し、光走査密度の選択
に応じて、前記回転手段の回転角と、前記回転数変化手
段による回転数とを設定する制御手段を設けたことを特
徴とするレーザ記録装置(請求項5の発明)によって達
成される。
たレーザ光を回転多面鏡により記録媒体上に主走査方向
に光走査を行うレーザ記録装置において、前記レーザア
レイを回転する回転手段と、前記回転多面鏡の回転数を
変化させる回転数変化手段とを有し、光走査密度の選択
に応じて、前記回転手段の回転角と、前記回転数変化手
段による回転数とを設定する制御手段を設けたことを特
徴とするレーザ記録装置(請求項5の発明)によって達
成される。
【0009】
【発明の実施の形態】以下に図面を用いて本発明の実施
の形態を説明する。図1は請求項1及び5の本発明にか
かるレーザ記録装置の一実施例としてレーザプリンタの
像露光系を示す図であり、本実施例のレーザプリンタ
は、複数の発光素子を有するレーザアレイを光源とし、
画像データに応じて内部変調された複数のレーザビーム
(光ビーム)L1,L2・・・・Lnを主走査方向に平
行に走査させ、nラインを同時に記録させるタイプのも
のである。以下の説明においては便宜上4つ(又は3
つ)の発光素子を有するレーザアレイを光源とし、4ラ
イン(又は3ライン)を同時に記録を可能とする実施例
について説明するが、本発明は勿論これに限定されるも
のではない。
の形態を説明する。図1は請求項1及び5の本発明にか
かるレーザ記録装置の一実施例としてレーザプリンタの
像露光系を示す図であり、本実施例のレーザプリンタ
は、複数の発光素子を有するレーザアレイを光源とし、
画像データに応じて内部変調された複数のレーザビーム
(光ビーム)L1,L2・・・・Lnを主走査方向に平
行に走査させ、nラインを同時に記録させるタイプのも
のである。以下の説明においては便宜上4つ(又は3
つ)の発光素子を有するレーザアレイを光源とし、4ラ
イン(又は3ライン)を同時に記録を可能とする実施例
について説明するが、本発明は勿論これに限定されるも
のではない。
【0010】図1において、光源ユニット1は前記4つ
の半導体レーザ1a,1b,1c,1dを1列に配置し
たレーザアレイと該レーザアレイを回転する回転手段か
らなり、該光源ユニット1から発せられる4つの発散光
はコリメータレンズ2によって平行な4つのレーザビー
ムL1,L2,L3,L4になる。前記4つのレーザビ
ームL1,L2,L3,L4は回転多面鏡(以後ポリゴ
ンミラーという)3に照射され、該ポリゴンミラー3に
よって偏向される4つのレーザビームL1,L2,L
3,L4は、fθレンズ4を介して感光ドラム(記録媒
体)5上に走査される。
の半導体レーザ1a,1b,1c,1dを1列に配置し
たレーザアレイと該レーザアレイを回転する回転手段か
らなり、該光源ユニット1から発せられる4つの発散光
はコリメータレンズ2によって平行な4つのレーザビー
ムL1,L2,L3,L4になる。前記4つのレーザビ
ームL1,L2,L3,L4は回転多面鏡(以後ポリゴ
ンミラーという)3に照射され、該ポリゴンミラー3に
よって偏向される4つのレーザビームL1,L2,L
3,L4は、fθレンズ4を介して感光ドラム(記録媒
体)5上に走査される。
【0011】前記感光ドラム5は、レーザビームL1,
L2,L3,L4の主走査に同期して回転駆動され、こ
れによりレーザビームL1,L2,L3,L4と感光ド
ラム5とが相対的に副走査方向(主走査方向に直交する
方向)に移動して2次元の画像記録が行われる。上記の
ように画像データに対応した露光が4ライン同時に行わ
れて静電潜像が感光ドラム5(記録媒体)上に形成され
る。そして、この静電潜像に対して同極性に帯電したト
ナーが付着されて反転現像が行われ、その後記録紙がト
ナー像に重ねられ、記録紙の裏側からトナーとは逆極性
の電荷が記録紙に与えられることにより、トナー像が記
録紙に転写される。
L2,L3,L4の主走査に同期して回転駆動され、こ
れによりレーザビームL1,L2,L3,L4と感光ド
ラム5とが相対的に副走査方向(主走査方向に直交する
方向)に移動して2次元の画像記録が行われる。上記の
ように画像データに対応した露光が4ライン同時に行わ
れて静電潜像が感光ドラム5(記録媒体)上に形成され
る。そして、この静電潜像に対して同極性に帯電したト
ナーが付着されて反転現像が行われ、その後記録紙がト
ナー像に重ねられ、記録紙の裏側からトナーとは逆極性
の電荷が記録紙に与えられることにより、トナー像が記
録紙に転写される。
【0012】前記のポリゴンミラー3によって偏向され
たレーザビームL1,L2,L3,L4の走査開始点
は、走査領域の先端側に配設されたインデックスセンサ
6によって検出される。反射鏡7は、走査ラインの先端
にレーザビームL1,L2.L3,L4が照射されたと
きに、該レーザビームL1,L2,L3,L4を前記イ
ンデックスセンサ6に導くためのものである。
たレーザビームL1,L2,L3,L4の走査開始点
は、走査領域の先端側に配設されたインデックスセンサ
6によって検出される。反射鏡7は、走査ラインの先端
にレーザビームL1,L2.L3,L4が照射されたと
きに、該レーザビームL1,L2,L3,L4を前記イ
ンデックスセンサ6に導くためのものである。
【0013】図2は光源ユニット1の回転手段の構成を
示したもので、光源である4つの発光素子E1,E2,
E3,E4を等間隔に設けたレーザアレイ11のチップ
は、ホルダ12によって保持されている。ホルダ12の
周面はネジ歯車12aとなっていて、モータ13によっ
て駆動回転するネジ歯車14と噛み合し、モータ13の
回転によってホルダ12は回転する構成となっている。
モータ13には正負の方向に回転を可能とするパルスモ
ータが用いられ、モータ13に入力されるパルス数に対
応してホルダ12は正又は負の方向に回動する。
示したもので、光源である4つの発光素子E1,E2,
E3,E4を等間隔に設けたレーザアレイ11のチップ
は、ホルダ12によって保持されている。ホルダ12の
周面はネジ歯車12aとなっていて、モータ13によっ
て駆動回転するネジ歯車14と噛み合し、モータ13の
回転によってホルダ12は回転する構成となっている。
モータ13には正負の方向に回転を可能とするパルスモ
ータが用いられ、モータ13に入力されるパルス数に対
応してホルダ12は正又は負の方向に回動する。
【0014】レーザアレイ11のチップは微調整されて
ホルダ12に取り付けられるが、この際レーザアレイ1
1のチップ端部に当たる発光素子E1はホルダ12の回
動中心となるよう調整されている。
ホルダ12に取り付けられるが、この際レーザアレイ1
1のチップ端部に当たる発光素子E1はホルダ12の回
動中心となるよう調整されている。
【0015】本発明(請求項1)は、プロセススピード
やポリゴンミラー3の回転速度を変更することなく、レ
ーザアレイ11の回転角を変更することで光走査密度を
変更するもので、例えば次の3つの例に示すようにして
光走査密度の変更を行う。
やポリゴンミラー3の回転速度を変更することなく、レ
ーザアレイ11の回転角を変更することで光走査密度を
変更するもので、例えば次の3つの例に示すようにして
光走査密度の変更を行う。
【0016】(例1) 4つの発光素子E1〜E4を等
間隔に設けたレーザアレイ11を用いて、1200dp
i,900dpi,600dpi,300dpiの4段
階に切り換えを可能とした例で、説明図を図3に示して
いる。図3(a)はレーザアレイ11をθ(1200)
傾斜した回転角に設定し、E1〜E4の4個の発光素子
を発光させて1200dpiの光走査密度で走査を行う
状態を示している。図3に示した例では走査周期幅Hは
(1/300)inchで、走査方向への隣り合う2つ
の発光素子間の中心間隔は(1/1200)inchと
なっている。図3(b)はレーザアレイ11をθ(90
0)傾斜した回転角に設定し、E1〜E3の3個の発光
素子を発光させて900dpiの光走査密度で走査を行
う状態を示している。主走査方向への隣り合う2つの発
光素子間の中心間隔は(1/900)inchとなって
いる。また図3(c)はレーザアレイ11をθ(60
0)傾斜した回転角に設定し、E1,E2の2個の発光
素子を発光させて600dpiの光走査密度で走査を行
う状態を示している。また図3(d)は1個の発光素子
E1のみを発光させて300dpiの光走査密度で走査
を行う状態を示している。この場合は1個の発光素子し
か用いていないのでレーザアレイ11の回転角θは関係
しない。
間隔に設けたレーザアレイ11を用いて、1200dp
i,900dpi,600dpi,300dpiの4段
階に切り換えを可能とした例で、説明図を図3に示して
いる。図3(a)はレーザアレイ11をθ(1200)
傾斜した回転角に設定し、E1〜E4の4個の発光素子
を発光させて1200dpiの光走査密度で走査を行う
状態を示している。図3に示した例では走査周期幅Hは
(1/300)inchで、走査方向への隣り合う2つ
の発光素子間の中心間隔は(1/1200)inchと
なっている。図3(b)はレーザアレイ11をθ(90
0)傾斜した回転角に設定し、E1〜E3の3個の発光
素子を発光させて900dpiの光走査密度で走査を行
う状態を示している。主走査方向への隣り合う2つの発
光素子間の中心間隔は(1/900)inchとなって
いる。また図3(c)はレーザアレイ11をθ(60
0)傾斜した回転角に設定し、E1,E2の2個の発光
素子を発光させて600dpiの光走査密度で走査を行
う状態を示している。また図3(d)は1個の発光素子
E1のみを発光させて300dpiの光走査密度で走査
を行う状態を示している。この場合は1個の発光素子し
か用いていないのでレーザアレイ11の回転角θは関係
しない。
【0017】(例2) 4つの発光素子E1〜E4を等
間隔に設けたレーザアレイ11を用いて、800dp
i,600dpi,400dpiの3段階に切り換え可
能とした例で、図4はその説明図である。図4に示した
例では走査周期幅Hは(1/200)inchで、図4
(a)はレーザアレイ11をθ(800)傾斜した回転
角に設定し、E1〜E4の4個の発光素子を発光させて
800dpiの光走査密度で走査を行う状態を示してい
る。また図4(b)はレーザアレイ11をθ(600)
傾斜した回転角に設定し、E1〜E3の3個の発光素子
を発光させて600dpiの光走査密度で走査を行う状
態を示している。また図4(c)はレーザアレイ11を
θ(400)傾斜した回転角に設定し、E1,E2の2
個の発光素子を発光させて400dpiの光走査密度で
走査を行う状態を示している。
間隔に設けたレーザアレイ11を用いて、800dp
i,600dpi,400dpiの3段階に切り換え可
能とした例で、図4はその説明図である。図4に示した
例では走査周期幅Hは(1/200)inchで、図4
(a)はレーザアレイ11をθ(800)傾斜した回転
角に設定し、E1〜E4の4個の発光素子を発光させて
800dpiの光走査密度で走査を行う状態を示してい
る。また図4(b)はレーザアレイ11をθ(600)
傾斜した回転角に設定し、E1〜E3の3個の発光素子
を発光させて600dpiの光走査密度で走査を行う状
態を示している。また図4(c)はレーザアレイ11を
θ(400)傾斜した回転角に設定し、E1,E2の2
個の発光素子を発光させて400dpiの光走査密度で
走査を行う状態を示している。
【0018】(例3) 3つの発光素子E1′〜E3′
を等間隔に設けたレーザアレイ11を用いて、1200
dpi,800dpi,400dpiの3段階に切り換
えを可能とした例で、図5はその説明図である。図5
(a)はレーザアレイ11をθ(1200)′傾斜した
回転角に設定し、E1′〜E3′の3個の発光素子を発
光させて1200dpiの光走査密度で走査を行う状態
を示している。図5に示した例では走査周期幅は(1/
400)inchで、走査方向への隣り合う2つの発光
素子間の中心間隔は(1/1200)inchとなって
いる。図5(b)はレーザアレイθ(800)′傾斜し
た回転角に設定し、E1′,E2′の2個の発光素子を
発光させて800dpiの光走査密度で走査を行う状態
を示している。また図5(c)は1個の発光素子E1′
のみを発光させて400dpiの光走査密度で走査を行
う状態を示している。この場合は1個の発光素子しか用
いていないのでレーザアレイ11の回転角θ′は関係し
ない。
を等間隔に設けたレーザアレイ11を用いて、1200
dpi,800dpi,400dpiの3段階に切り換
えを可能とした例で、図5はその説明図である。図5
(a)はレーザアレイ11をθ(1200)′傾斜した
回転角に設定し、E1′〜E3′の3個の発光素子を発
光させて1200dpiの光走査密度で走査を行う状態
を示している。図5に示した例では走査周期幅は(1/
400)inchで、走査方向への隣り合う2つの発光
素子間の中心間隔は(1/1200)inchとなって
いる。図5(b)はレーザアレイθ(800)′傾斜し
た回転角に設定し、E1′,E2′の2個の発光素子を
発光させて800dpiの光走査密度で走査を行う状態
を示している。また図5(c)は1個の発光素子E1′
のみを発光させて400dpiの光走査密度で走査を行
う状態を示している。この場合は1個の発光素子しか用
いていないのでレーザアレイ11の回転角θ′は関係し
ない。
【0019】(例1)〜(例3)で、光走査密度を低密
度書き込みに変更する際にはレーザアレイ11で発光し
ない発光素子が生じる。発光素子は発光時間によって特
性が低下する傾向にあるので、使用状況により発光する
発光素子と発光しない発光素子との組合わせを適当に切
り替えて何れの発光素子にも同じ負荷状態となるように
使用することが望ましい。
度書き込みに変更する際にはレーザアレイ11で発光し
ない発光素子が生じる。発光素子は発光時間によって特
性が低下する傾向にあるので、使用状況により発光する
発光素子と発光しない発光素子との組合わせを適当に切
り替えて何れの発光素子にも同じ負荷状態となるように
使用することが望ましい。
【0020】また、光走査密度を低密度書き込みに変更
すると、記録媒体上での露光量が不足し、何等の対応も
しないと低密度の場合には全般に画像濃度が低く走査ラ
インの間にスキマが生じることとなる。よって次のよう
な対応を行う。まず図6の拡大図に示すように、発光素
子E1,E2,E3の記録媒体上に結像するドット形状
が、等間隔に並んだ発光素子の中心点を結ぶC−C方向
に長い長円形になるようなレーザの発光部形状又は光学
系の集光特性とする。このようにした場合の図6(a)
は高密度書き込みの時の、図6(b)は低密度書き込み
時の記録媒体上での記録状態を示す拡大図で、走査ライ
ン間のスキマは殆ど認識されないようにする。しかし露
光量は低密度書き込み時には不足するので、書き込み密
度に反比例し、更に増加係数αを乗じた値I′を発光基
準電流値とし、この発光強度を基準とし、パルス幅変調
によって記録を行う。
すると、記録媒体上での露光量が不足し、何等の対応も
しないと低密度の場合には全般に画像濃度が低く走査ラ
インの間にスキマが生じることとなる。よって次のよう
な対応を行う。まず図6の拡大図に示すように、発光素
子E1,E2,E3の記録媒体上に結像するドット形状
が、等間隔に並んだ発光素子の中心点を結ぶC−C方向
に長い長円形になるようなレーザの発光部形状又は光学
系の集光特性とする。このようにした場合の図6(a)
は高密度書き込みの時の、図6(b)は低密度書き込み
時の記録媒体上での記録状態を示す拡大図で、走査ライ
ン間のスキマは殆ど認識されないようにする。しかし露
光量は低密度書き込み時には不足するので、書き込み密
度に反比例し、更に増加係数αを乗じた値I′を発光基
準電流値とし、この発光強度を基準とし、パルス幅変調
によって記録を行う。
【0021】例えば(例2)においては、 (800dpi時) I′800=I0×α1 (α1=1.0基準) (600dpi時) I′600=(4/3)×I0×α2 (α2=1.5) (400dpi時) I′400=(2)×I0×α3 (α3=2.5) と設定することによって、光走査密度に関係なく、同じ
ような画像濃度での記録が行われる。図7(a)には発
光素子への発光基準電流値が変えた場合の、記録媒体上
でのドットの露光光量分布と、これに伴って、記録され
るすなわち現像されるドットの大きさが変わることを示
しており、また図7(b)には図6に示した記録媒体上
に現像された長円形のドット形状が発光基準電流値を変
えることによって、変動する状態を示している。
ような画像濃度での記録が行われる。図7(a)には発
光素子への発光基準電流値が変えた場合の、記録媒体上
でのドットの露光光量分布と、これに伴って、記録され
るすなわち現像されるドットの大きさが変わることを示
しており、また図7(b)には図6に示した記録媒体上
に現像された長円形のドット形状が発光基準電流値を変
えることによって、変動する状態を示している。
【0022】光走査密度の選択に応じたレーザアレイの
回転角を設定することによって、光走査密度の切り換え
がなされるが、実用上は副走査方向の走査ずれの補正を
行わないと、記録される記録媒体上には設定値との差異
で生じる走査むら及びこれが集積された形での走査周期
むらが生じる。図8は(例1)の図3(a)で示した4
発光素子からなる4−レーザアレイを使用した場合の走
査むらの発生状態を示す説明図で、図8(a)は正規の
状態を示し、図8(b),(c)は走査毎に走査周期む
らが生じた状態を示している。このようにレーザアレイ
を用いたときは、走査毎に生じる走査周期むらはレーザ
アレイの傾斜した回転角の僅かの誤差によって生じ、記
録の画像の画像品質を大きく左右することとなる。
回転角を設定することによって、光走査密度の切り換え
がなされるが、実用上は副走査方向の走査ずれの補正を
行わないと、記録される記録媒体上には設定値との差異
で生じる走査むら及びこれが集積された形での走査周期
むらが生じる。図8は(例1)の図3(a)で示した4
発光素子からなる4−レーザアレイを使用した場合の走
査むらの発生状態を示す説明図で、図8(a)は正規の
状態を示し、図8(b),(c)は走査毎に走査周期む
らが生じた状態を示している。このようにレーザアレイ
を用いたときは、走査毎に生じる走査周期むらはレーザ
アレイの傾斜した回転角の僅かの誤差によって生じ、記
録の画像の画像品質を大きく左右することとなる。
【0023】副走査方向の走査周期ずれの補正には、例
えば図1で示したインデックスセンサ6が用いられる。
以下述べる副走査方向のずれの補正は、走査周期ずれに
よって行うが、隣り合う光走査間隔を検知することによ
って行うことも可能である。
えば図1で示したインデックスセンサ6が用いられる。
以下述べる副走査方向のずれの補正は、走査周期ずれに
よって行うが、隣り合う光走査間隔を検知することによ
って行うことも可能である。
【0024】前記インデックスセンサ6は、レーザアレ
イからの光ビームの主,副走査方向の位置を検知する検
知手段であって、図9(a)に示すように、それぞれ個
別に検知信号を出力する4つのセンサ(光ビーム検知手
段)A〜Dを一体に備えて構成され、各センサA〜Dは
主走査方向に並べて配設され、A→B→D→Cの順にレ
ーザビームL1,L2,L3,L4が走査される。各セ
ンサA〜Dの光ビーム検知領域(受光領域)は、直角三
角形に形成されている。そして、センサAは、直角三角
形の検知領域の直角挟角を構成する2辺のうちの長辺
が、主走査方向始端側の端縁となり、然も、前記長辺が
主走査方向に直交する(副走査方向に平行する)ように
配置される。また、センサBは、直角三角形の検知領域
の斜辺が主走査方向始端側の端縁となり、然も、該斜辺
が前記長辺と斜辺とがなす角度で主走査方向に斜めに交
差するように配置される。また、センサDは、副走査方
向を上下としたときに、センサAの検知領域の配置状態
を上下反転させたように配置される。更に、センサC
は、センサAと副走査方向に沿った軸に対してその検知
領域が軸対称となるように配置される。
イからの光ビームの主,副走査方向の位置を検知する検
知手段であって、図9(a)に示すように、それぞれ個
別に検知信号を出力する4つのセンサ(光ビーム検知手
段)A〜Dを一体に備えて構成され、各センサA〜Dは
主走査方向に並べて配設され、A→B→D→Cの順にレ
ーザビームL1,L2,L3,L4が走査される。各セ
ンサA〜Dの光ビーム検知領域(受光領域)は、直角三
角形に形成されている。そして、センサAは、直角三角
形の検知領域の直角挟角を構成する2辺のうちの長辺
が、主走査方向始端側の端縁となり、然も、前記長辺が
主走査方向に直交する(副走査方向に平行する)ように
配置される。また、センサBは、直角三角形の検知領域
の斜辺が主走査方向始端側の端縁となり、然も、該斜辺
が前記長辺と斜辺とがなす角度で主走査方向に斜めに交
差するように配置される。また、センサDは、副走査方
向を上下としたときに、センサAの検知領域の配置状態
を上下反転させたように配置される。更に、センサC
は、センサAと副走査方向に沿った軸に対してその検知
領域が軸対称となるように配置される。
【0025】尚、図9(a)に記すセンサA,Cは、直
角挟角を構成する2辺のうちの長辺が、主走査方向に直
交するように配置されるが、該長辺が主走査方向と平行
になるように配置する構成であっても良い。上記センサ
A〜Dの配列によって、各センサA〜Dの主走査方向始
端側の端縁は、センサA,Dが相互に副走査方向に沿っ
て平行で、また、センサB,Cは、相互に非平行であ
り、然も、主走査方向に対する傾きの方向が逆になって
いる。
角挟角を構成する2辺のうちの長辺が、主走査方向に直
交するように配置されるが、該長辺が主走査方向と平行
になるように配置する構成であっても良い。上記センサ
A〜Dの配列によって、各センサA〜Dの主走査方向始
端側の端縁は、センサA,Dが相互に副走査方向に沿っ
て平行で、また、センサB,Cは、相互に非平行であ
り、然も、主走査方向に対する傾きの方向が逆になって
いる。
【0026】図9(a)では、センサAによるレーザビ
ームL1の検知始端位置(ビーム検知信号が立ち上がる
位置)をa1として示し、レーザビームL2の検知始端
位置をa2、レーザビームL3の検知始端位置をa3、
レーザビームL4の検知始端位置をa4として示してあ
り、以下同様に、センサB〜DによるレーザビームL
1,L2,L3,L4の検知始端位置をb1,b2,b
3,b4;c1,c2,c3,c4;d1,d2,d
3,d4として示してある。本実施例では、上記構成の
センサA〜Dに用いて、前記レーザビームL1,L4の
副走査方向における間隔のずれ(走査周期むら)の検出
を次のようにして行う。
ームL1の検知始端位置(ビーム検知信号が立ち上がる
位置)をa1として示し、レーザビームL2の検知始端
位置をa2、レーザビームL3の検知始端位置をa3、
レーザビームL4の検知始端位置をa4として示してあ
り、以下同様に、センサB〜DによるレーザビームL
1,L2,L3,L4の検知始端位置をb1,b2,b
3,b4;c1,c2,c3,c4;d1,d2,d
3,d4として示してある。本実施例では、上記構成の
センサA〜Dに用いて、前記レーザビームL1,L4の
副走査方向における間隔のずれ(走査周期むら)の検出
を次のようにして行う。
【0027】まず、レーザビームL1のみを点灯させ、
通常の画像記録時と同様に走査させる(S1)。そし
て、レーザビームL1が前記センサA〜D上を走査した
ときに、センサBのビーム検知の立ち上がり(b1)か
ら、センサCのビーム検知の立ち上がり(c1)までの
時間(検知時間差)T1(図9(b)参照)を計測する
(S2)。
通常の画像記録時と同様に走査させる(S1)。そし
て、レーザビームL1が前記センサA〜D上を走査した
ときに、センサBのビーム検知の立ち上がり(b1)か
ら、センサCのビーム検知の立ち上がり(c1)までの
時間(検知時間差)T1(図9(b)参照)を計測する
(S2)。
【0028】尚、上記のS1,S2の機能が、第1の時
間差計測手段に相当する。次いで、レーザビームL1に
代えてレーザビームL4のみを点灯させ、通常の画像記
録時と同様に走査させる(S3)。そして、同様にかか
るレーザビームL4が前記センサA〜D上を走査したと
きに、センサBのビーム検知の立ち上がり(b4)か
ら、センサCのビーム検知の立ち上がり(c4)迄の時
間T2(図9(b)参照)を計測する(S4)。
間差計測手段に相当する。次いで、レーザビームL1に
代えてレーザビームL4のみを点灯させ、通常の画像記
録時と同様に走査させる(S3)。そして、同様にかか
るレーザビームL4が前記センサA〜D上を走査したと
きに、センサBのビーム検知の立ち上がり(b4)か
ら、センサCのビーム検知の立ち上がり(c4)迄の時
間T2(図9(b)参照)を計測する(S4)。
【0029】尚、上記のS3,S4の機能が、第2の時
間差計測手段に相当する。上記の時間T1,T2の計測
を終了すると、前記時間T1と時間T2の偏差の絶対値
T3を演算する。更にレーザビームL1,L4の副走査
方向における間隔が正規の状態であるときに対応する前
記偏差T3の基準値と、上記処理で実際に求められた偏
差T3との差を、前記間隔(走査周期)のずれ量に相当
する値として求める(S5)。このS5の機能が時間偏
差演算手段及び副走査方向の走査周期ずれ検知手段に相
当する。
間差計測手段に相当する。上記の時間T1,T2の計測
を終了すると、前記時間T1と時間T2の偏差の絶対値
T3を演算する。更にレーザビームL1,L4の副走査
方向における間隔が正規の状態であるときに対応する前
記偏差T3の基準値と、上記処理で実際に求められた偏
差T3との差を、前記間隔(走査周期)のずれ量に相当
する値として求める(S5)。このS5の機能が時間偏
差演算手段及び副走査方向の走査周期ずれ検知手段に相
当する。
【0030】尚、前記基準値は、レーザプリンタの操作
部を介して任意に偏向設定ができるようにすると良い。
即ち、レーザビームL1がセンサB,Cで検知される副
走査方向における位置b1,c1を基準位置として想定
したときに、例えばレーザビームL4の走査位置が副走
査方向に図9(b)で下側にずれたとする。この場合、
レーザビームL4がセンサB,Cで検知される副走査方
向における位置b4,c4はセンサB,Cの検知始端側
端縁の間隔が、図9(b)において下方に行くに従って
主走査方向の両側に広がるよう構成されていることによ
って、位置b4は走査の始端側にずれ、逆に、位置c4
は走査の終端側にずれることになり、以て、時間T2が
長くなり、時間T3が基準に対してより長くなる。従っ
て、時間T3と基準値との偏差を求めれば、走査速度と
前記センサB,Cにおける斜辺の角度との情報に基づい
て、レーザビームL1,L4の間隔のずれ量を算出する
ことができる。
部を介して任意に偏向設定ができるようにすると良い。
即ち、レーザビームL1がセンサB,Cで検知される副
走査方向における位置b1,c1を基準位置として想定
したときに、例えばレーザビームL4の走査位置が副走
査方向に図9(b)で下側にずれたとする。この場合、
レーザビームL4がセンサB,Cで検知される副走査方
向における位置b4,c4はセンサB,Cの検知始端側
端縁の間隔が、図9(b)において下方に行くに従って
主走査方向の両側に広がるよう構成されていることによ
って、位置b4は走査の始端側にずれ、逆に、位置c4
は走査の終端側にずれることになり、以て、時間T2が
長くなり、時間T3が基準に対してより長くなる。従っ
て、時間T3と基準値との偏差を求めれば、走査速度と
前記センサB,Cにおける斜辺の角度との情報に基づい
て、レーザビームL1,L4の間隔のずれ量を算出する
ことができる。
【0031】尚、上記のようにしてレーザビームL1,
L4の副走査方向における間隔ずれを検出させる場合に
は、センサB,Cの斜辺が主走査方向に対して斜めに交
差する角度によって、ずれによって生じる時間差が変動
し、図9(b)に示す角度B°をなるべく鋭角に設定す
る、換言すれば、センサB,Cの検知領域の斜辺の間隔
が副走査方向に沿って急激に変化することが望ましく、
更に、前記角度B°は、走査位置の調整精度や、時間計
測の分解能によって決定される。
L4の副走査方向における間隔ずれを検出させる場合に
は、センサB,Cの斜辺が主走査方向に対して斜めに交
差する角度によって、ずれによって生じる時間差が変動
し、図9(b)に示す角度B°をなるべく鋭角に設定す
る、換言すれば、センサB,Cの検知領域の斜辺の間隔
が副走査方向に沿って急激に変化することが望ましく、
更に、前記角度B°は、走査位置の調整精度や、時間計
測の分解能によって決定される。
【0032】図10は基準状態にあるレーザアレイ11
が正方向又は負方向に角度θ1又はθ2だけ回転した時
の走査周期幅Hから変動した走査周期幅H1又はH2を
示したもので、角度θ1又はθ2だけ回転したときの副
走査方向の走査周期のずれ量がΔH1又はΔH2とな
る。回転する角度θ(即ちモータ13へ入力するパルス
数)と走査周期のずれ補正量とは特定の関係にあって、
このずれ補正量とパルス数との関係は後に説明するRO
M(II)25にメモリされている。
が正方向又は負方向に角度θ1又はθ2だけ回転した時
の走査周期幅Hから変動した走査周期幅H1又はH2を
示したもので、角度θ1又はθ2だけ回転したときの副
走査方向の走査周期のずれ量がΔH1又はΔH2とな
る。回転する角度θ(即ちモータ13へ入力するパルス
数)と走査周期のずれ補正量とは特定の関係にあって、
このずれ補正量とパルス数との関係は後に説明するRO
M(II)25にメモリされている。
【0033】インデックスセンサ6では走査周期のずれ
補正処理に続けてセンサA,D(図9(a)参照)を用
いてレーザビームL1,L2,L3,L4の主走査方向
における主走査位置関係(主走査方向におけるずれ)を
検出し、該検出結果に基づいて各レーザビームL1,L
2,L3,L4による書き出し位置の制御がなされる。
補正処理に続けてセンサA,D(図9(a)参照)を用
いてレーザビームL1,L2,L3,L4の主走査方向
における主走査位置関係(主走査方向におけるずれ)を
検出し、該検出結果に基づいて各レーザビームL1,L
2,L3,L4による書き出し位置の制御がなされる。
【0034】前記主走査方向におけるずれを検出するた
めの処理は、副走査方向のずれ検出に続いて行われる。
各レーザビームL1,L2,L3,L4についての主走
査方向におけるずれの検出が先ずレーザビームL1,.
L2の間で行われる。まず、レーザビームL1のみを点
灯させて(S6)、センサAでレーザビームL1が検知
される立ち上がり(a1)と、センサDでレーザビーム
L1が検知される立ち上がり(d1)との時間差T5
(図11参照)を測定させる(S7)。
めの処理は、副走査方向のずれ検出に続いて行われる。
各レーザビームL1,L2,L3,L4についての主走
査方向におけるずれの検出が先ずレーザビームL1,.
L2の間で行われる。まず、レーザビームL1のみを点
灯させて(S6)、センサAでレーザビームL1が検知
される立ち上がり(a1)と、センサDでレーザビーム
L1が検知される立ち上がり(d1)との時間差T5
(図11参照)を測定させる(S7)。
【0035】ここで、センサA,Dの光ビーム検知領域
の主走査方向始端側の端縁が、副走査方向に平行(主走
査方向に直交)であるから、前記時間差T5は、副走査
方向における走査位置に影響されずに、センサA,Dの
主走査方向始端側の端縁の間隔と走査速度とによっての
み決定されることになる。次に、センサAにはレーザビ
ームL1のみが入射し、センサDにはレーザビームL2
のみが入射するように、各レーザビームL1,L2のマ
スク制御を行うながら走査させ(S8)、センサAでレ
ーザビームL1が検知される立ち上がり(a1)と、セ
ンサDでレーザビームL2が検知される立ち上がり(d
2)との時間差T6(図11参照)を測定させる(S
9)。
の主走査方向始端側の端縁が、副走査方向に平行(主走
査方向に直交)であるから、前記時間差T5は、副走査
方向における走査位置に影響されずに、センサA,Dの
主走査方向始端側の端縁の間隔と走査速度とによっての
み決定されることになる。次に、センサAにはレーザビ
ームL1のみが入射し、センサDにはレーザビームL2
のみが入射するように、各レーザビームL1,L2のマ
スク制御を行うながら走査させ(S8)、センサAでレ
ーザビームL1が検知される立ち上がり(a1)と、セ
ンサDでレーザビームL2が検知される立ち上がり(d
2)との時間差T6(図11参照)を測定させる(S
9)。
【0036】前記マスク制御は、各レーザビームL1,
L2の点灯・消灯制御で行っても良いし、また、偏光素
子などの利用によってレーザビームL1,L2が選択的
にセンサA,Dに入射するようにしても良い。ここで、
各レーザビームL1,L2が主走査方向にずれることな
く走査される場合には、前記時間差T5,T6は同一時
間となるはずであり、例えばレーザビームL1の走査に
遅れてレーザビームL2が走査される場合には、その遅
れが、T6−T5(=T7)として求められることにな
る(S10:図11参照)。
L2の点灯・消灯制御で行っても良いし、また、偏光素
子などの利用によってレーザビームL1,L2が選択的
にセンサA,Dに入射するようにしても良い。ここで、
各レーザビームL1,L2が主走査方向にずれることな
く走査される場合には、前記時間差T5,T6は同一時
間となるはずであり、例えばレーザビームL1の走査に
遅れてレーザビームL2が走査される場合には、その遅
れが、T6−T5(=T7)として求められることにな
る(S10:図11参照)。
【0037】従って、上記の場合、レーザビームL1に
よる書き出しに対してレーザビームL2に書き出しを前
記時間T7だけ遅らせれば、主走査方向にずれて走査さ
れる2つのレーザビームL1,L2によって主走査方向
にずれることなく、画像記録が行えることになる。前記
書き出し位置の制御は、レーザビームL1に対応する水
平同期信号の発生に対して、レーザビームL2に対応す
る水平同期信号の発生を前記時間T7だけ遅らせるよう
にすれば良い。
よる書き出しに対してレーザビームL2に書き出しを前
記時間T7だけ遅らせれば、主走査方向にずれて走査さ
れる2つのレーザビームL1,L2によって主走査方向
にずれることなく、画像記録が行えることになる。前記
書き出し位置の制御は、レーザビームL1に対応する水
平同期信号の発生に対して、レーザビームL2に対応す
る水平同期信号の発生を前記時間T7だけ遅らせるよう
にすれば良い。
【0038】全く同様にしてレーザビームL1の走査に
対してレーザビームL3,L4の遅れ時間が求められ、
レーザビームL1に対応する水平同期信号の発生に対し
て、レーザビームL3,L4に対応する水平同期信号の
発生を求められた遅れ時間だけ遅らせるようにすれば良
い。
対してレーザビームL3,L4の遅れ時間が求められ、
レーザビームL1に対応する水平同期信号の発生に対し
て、レーザビームL3,L4に対応する水平同期信号の
発生を求められた遅れ時間だけ遅らせるようにすれば良
い。
【0039】図12は本発明のレーザ記録装置の回路図
を示している。画像記録に当たって光走査密度の指定を
行い、また記録しようとする画像データ23の判定(走
査密度指定/判定22)により、制御部21はROM
(I)24からデータを呼出して、光走査密度に該当し
たレーザアレイ11の傾斜角度までレーザアレイ回転モ
ータ13の回転を行う。これにより指定または判定され
た光走査密度での画像記録が可能となるが、ここで更に
走査周期むらの検出を行い、検出されて算出されたずれ
量の情報に基づいて走査周期むらの補正を行う。即ちレ
ーザアレイ11の発光とインデックスセンサ6の検知に
よって、発光するレーザビームの両端の間隔のずれ量の
算出を行う。次いで制御部21はROM(II)25から
算出されたずれ量に対応するパルス数を呼び出してモー
タ13に出力し、モータ13がパルス数に応じた走査周
期むらの調整がなされる。勿論、隣り合うレーザビーム
の走査間隔を検出することによってこれを行うことも可
能である。そして引き続いて制御部21はレーザアレイ
11の発光とインデックスセンサ6の検知によって、発
光する各レーザビームの主走査方向のずれ量を検出し、
検出したずれ量はRAM26にメモリされ、画像記録に
当たっては制御部21はRAM26から主走査方向のず
れ量を呼び出して書き出し位置の制御を行う。また制御
部21は画像記録時の光走査密度に応じてROM(I)
24から発光基準電流値I′を呼び出し、画像記録に当
たってはI′を基準値とし、パルス幅変調によって記録
を行う。
を示している。画像記録に当たって光走査密度の指定を
行い、また記録しようとする画像データ23の判定(走
査密度指定/判定22)により、制御部21はROM
(I)24からデータを呼出して、光走査密度に該当し
たレーザアレイ11の傾斜角度までレーザアレイ回転モ
ータ13の回転を行う。これにより指定または判定され
た光走査密度での画像記録が可能となるが、ここで更に
走査周期むらの検出を行い、検出されて算出されたずれ
量の情報に基づいて走査周期むらの補正を行う。即ちレ
ーザアレイ11の発光とインデックスセンサ6の検知に
よって、発光するレーザビームの両端の間隔のずれ量の
算出を行う。次いで制御部21はROM(II)25から
算出されたずれ量に対応するパルス数を呼び出してモー
タ13に出力し、モータ13がパルス数に応じた走査周
期むらの調整がなされる。勿論、隣り合うレーザビーム
の走査間隔を検出することによってこれを行うことも可
能である。そして引き続いて制御部21はレーザアレイ
11の発光とインデックスセンサ6の検知によって、発
光する各レーザビームの主走査方向のずれ量を検出し、
検出したずれ量はRAM26にメモリされ、画像記録に
当たっては制御部21はRAM26から主走査方向のず
れ量を呼び出して書き出し位置の制御を行う。また制御
部21は画像記録時の光走査密度に応じてROM(I)
24から発光基準電流値I′を呼び出し、画像記録に当
たってはI′を基準値とし、パルス幅変調によって記録
を行う。
【0040】以上説明した請求項1の発明は、プロセス
スピードやポリゴンミラーの回転数を変更することなく
容易に光走査密度を変更することができるが、その変更
は例えば1200dpi,900dpi,600dp
i,300dpi(例1);800dpi,600dp
i,400dpi(例2);1200dpi,800d
pi,400dpi(例3)のように一種の比例関係で
の切り換えであって、連続的な変更を行うことはできな
い。本発明(請求項5)のレーザ記録装置は、先に説明
したレーザ記録装置で、ポリゴンミラー3の回転数を小
範囲に変更することによって、光走査密度の連続的な変
更を可能とするもので、図13(a),(b),(c)
は先の(例1),(例2),(例3)についポリゴンミ
ラー3の回転数を太線で示すように変更することで、光
走査密度の連続的な変更を可能としたことを図示してい
る。
スピードやポリゴンミラーの回転数を変更することなく
容易に光走査密度を変更することができるが、その変更
は例えば1200dpi,900dpi,600dp
i,300dpi(例1);800dpi,600dp
i,400dpi(例2);1200dpi,800d
pi,400dpi(例3)のように一種の比例関係で
の切り換えであって、連続的な変更を行うことはできな
い。本発明(請求項5)のレーザ記録装置は、先に説明
したレーザ記録装置で、ポリゴンミラー3の回転数を小
範囲に変更することによって、光走査密度の連続的な変
更を可能とするもので、図13(a),(b),(c)
は先の(例1),(例2),(例3)についポリゴンミ
ラー3の回転数を太線で示すように変更することで、光
走査密度の連続的な変更を可能としたことを図示してい
る。
【0041】画像記録に当たっては、光走査密度とレー
ザアレイの回転角及びポリゴンミラーの回転数の関係デ
ータを図12におけるROM(I)24に予めメモリし
ておき、走査密度指定/判定手段22によって光走査密
度の指定を行い、また記録しようとする画像データ23
の判定によって制御部21はROM(I)24からデー
タを呼出して、光走査密度に該当したレーザアレイ11
の傾斜角までレーザアレイ回転モータ13の回転を行
い、ポリゴンミラー3の回転数の設定を行う。これに続
いて先に説明したと同様の制御を行うことによって、連
続的な光走査密度の変更に基づく画像記録が可能とな
る。
ザアレイの回転角及びポリゴンミラーの回転数の関係デ
ータを図12におけるROM(I)24に予めメモリし
ておき、走査密度指定/判定手段22によって光走査密
度の指定を行い、また記録しようとする画像データ23
の判定によって制御部21はROM(I)24からデー
タを呼出して、光走査密度に該当したレーザアレイ11
の傾斜角までレーザアレイ回転モータ13の回転を行
い、ポリゴンミラー3の回転数の設定を行う。これに続
いて先に説明したと同様の制御を行うことによって、連
続的な光走査密度の変更に基づく画像記録が可能とな
る。
【0042】
【発明の効果】本発明によるときは、光源であるレーザ
アレイに回転手段を設けてレーザアレイの傾斜角を書き
込み密度の変更に伴って設定することにより、 請求項1の発明にあっては、プロセススピードや回転
多面鏡の回転数を固定した状態で複数段の書き込み密度
の変更がなされ、容易に切り替えがなされた書き込み密
度によって高速の画像記録が可能となった。また、 請求項5の発明によっては、プロセススピードを固定
した状態で回転多面鏡の回転数を小範囲に変更を行うこ
とによって、連続的な書き込み密度の変更が可能とな
り、容易に切り替えがなされた書込み密度によって高速
の画像記録が可能となった。
アレイに回転手段を設けてレーザアレイの傾斜角を書き
込み密度の変更に伴って設定することにより、 請求項1の発明にあっては、プロセススピードや回転
多面鏡の回転数を固定した状態で複数段の書き込み密度
の変更がなされ、容易に切り替えがなされた書き込み密
度によって高速の画像記録が可能となった。また、 請求項5の発明によっては、プロセススピードを固定
した状態で回転多面鏡の回転数を小範囲に変更を行うこ
とによって、連続的な書き込み密度の変更が可能とな
り、容易に切り替えがなされた書込み密度によって高速
の画像記録が可能となった。
【図1】本発明の一実施例のレーザ記録装置を示す斜視
図。
図。
【図2】光源ユニットの構成図。
【図3】(例1)のレーザアレイの傾斜角と光走査密度
との関係を示す説明図。
との関係を示す説明図。
【図4】(例2)のレーザアレイの傾斜角と光走査密度
との関係を示す説明図。
との関係を示す説明図。
【図5】(例3)のレーザアレイの傾斜角と光走査密度
との関係を示す説明図。
との関係を示す説明図。
【図6】傾斜したレーザアレイの記録媒体上での結像を
示す拡大図。
示す拡大図。
【図7】露光光量とドット形状との関係を示す説明図。
【図8】走査周期むらの説明図。
【図9】インデックセンサの構成図及び走査周期ずれ検
出の説明図。
出の説明図。
【図10】走査周期ずれ検出の説明図。
【図11】主走査方向におけるずれ検出の説明図。
【図12】本発明のレーザ記録装置の回路図。
【図13】ポリゴンミラーの回転数と光走査密度との関
係を示すグラフ。
係を示すグラフ。
1 光源ユニット 2 コリメータレンズ 3 ポリゴンミラー 4 fθレンズ 5 感光ドラム 6 インデックスセンサ 11 レーザアレイ 12 ホルダ 13 モータ 21 制御部 22 走査密度指定/判定手段 23 画像データ 24 ROM(I) 25 ROM(II) 26 RAM E1,E2,E3,E4 発光素子
Claims (8)
- 【請求項1】 レーザアレイから出射したレーザ光を回
転多面鏡により記録媒体上に主走査方向に光走査を行う
レーザ記録装置において、前記レーザアレイを回転する
回転手段を有し、光走査密度の選択に応じて、前記回転
手段の回転角を設定する制御手段を設けたことを特徴と
するレーザ記録装置。 - 【請求項2】 副走査方向の光走査間隔を検知する検知
手段を有していて、前記検知手段による検知情報から前
記回転手段の回転角の設定を行うよう制御することを特
徴とする請求項1記載のレーザ記録装置。 - 【請求項3】 前記光走査密度の選択に応じて、前記レ
ーザアレイ中の特定のレーザを使用するよう制御するこ
とを特徴とする請求項1又は2記載のレーザ記録装置。 - 【請求項4】 前記光走査密度の選択に応じて、前記レ
ーザアレイの発光強度を変更するよう制御することを特
徴とする請求項1〜3の何れか1項記載のレーザ記録装
置。 - 【請求項5】 レーザアレイから出射したレーザ光を回
転多面鏡により記録媒体上に主走査方向に光走査を行う
レーザ記録装置において、前記レーザアレイを回転する
回転手段と、前記回転多面鏡の回転数を変化させる回転
数変化手段とを有し、光走査密度の選択に応じて、前記
回転手段の回転角と、前記回転数変化手段による回転数
とを設定する制御手段を設けたことを特徴とするレーザ
記録装置。 - 【請求項6】 副走査方向の光走査間隔を検知する検知
手段を有していて、前記検知手段による検知情報から、
前記回転角と前記回転数の設定を行うよう制御すること
を特徴とする請求項5記載のレーザ記録装置。 - 【請求項7】 前記光走査密度の選択に応じて、前記レ
ーザアレイ中の特定のレーザを使用するよう制御するこ
とを特徴とする請求項5又は6記載のレーザ記録装置。 - 【請求項8】 前記光走査密度の選択に応じて、前記レ
ーザアレイの発光強度を変更するよう制御することを特
徴とする請求項5〜7の何れか1項記載のレーザ記録装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8190480A JPH1039241A (ja) | 1996-07-19 | 1996-07-19 | レーザ記録装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8190480A JPH1039241A (ja) | 1996-07-19 | 1996-07-19 | レーザ記録装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1039241A true JPH1039241A (ja) | 1998-02-13 |
Family
ID=16258813
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8190480A Pending JPH1039241A (ja) | 1996-07-19 | 1996-07-19 | レーザ記録装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH1039241A (ja) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JP2007276218A (ja) * | 2006-04-04 | 2007-10-25 | Fuji Xerox Co Ltd | 画像形成装置及びその調整方法 |
US7593028B2 (en) | 2002-06-11 | 2009-09-22 | Ricoh Company, Ltd. | Optical scanning method, optical scanner and image forming apparatus |
JP2009300638A (ja) * | 2008-06-12 | 2009-12-24 | Konica Minolta Business Technologies Inc | レーザ走査光学装置 |
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KR100986218B1 (ko) | 2002-12-02 | 2010-10-07 | 후지필름 가부시키가이샤 | 묘화헤드, 묘화장치 및 묘화방법 |
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CN113552580A (zh) * | 2020-04-17 | 2021-10-26 | 上海禾赛科技有限公司 | 激光雷达以及使用该激光雷达进行目标物探测的方法 |
-
1996
- 1996-07-19 JP JP8190480A patent/JPH1039241A/ja active Pending
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