JPH04158612A - 弾性表面波素子の製造方法 - Google Patents

弾性表面波素子の製造方法

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JPH04158612A
JPH04158612A JP28457390A JP28457390A JPH04158612A JP H04158612 A JPH04158612 A JP H04158612A JP 28457390 A JP28457390 A JP 28457390A JP 28457390 A JP28457390 A JP 28457390A JP H04158612 A JPH04158612 A JP H04158612A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、複数の弾性表面波共振子を用いて構成される
弾性表面波フィルタ等にあける弾性表面波素子の製造方
法、特にその周波数調整方法に関するものである。 ′ (従来の技術) 従来、この種の弾性表面波素子としては、特公平1−4
5246号公報に記載されるものがあった。この種の弾
性表面波素子は、小型で、かつ温度や経年変化に対して
安定である等の特徴を有するため、通信機やテレビ等の
種々の回路に利用されつつある。この弾性表面波素子の
一例を第2図に示す。
第2図は、前記文献等に記載された従来の弾性表面波素
子、例えば弾性表面波共振子の概略の平面図である。
この弾性表面波共振子は、タンタル酸リチウム等の高結
合材料、あるいは水晶等の低結合材料からなる圧電体基
板1を有している。この圧電体基板1の表面には、電気
信号と弾性表面波のエネルギーを変換するインターディ
ジタル電極2と、その両側に位置し弾性表面波を反射さ
せるグレーティング反射器3,4とか、形成されている
。インターディジタル電極2、及びグレーティング反射
器3.4は、AN等の導電率の高い金属膜で形成されて
いる。インターディジタル電極2は、複数のすだれ状電
極指2aて構成され、またグレーティング反射器3.4
は、複数のストリップラインで構成されている。
なあ、第2図中のしは電極指2aの幅、つまりライン幅
であり、Sはその電極指2a間の幅、つまりスペース幅
である。
この弾性表面波共振子では、端子5.6を介してインタ
ーディジタル電極2に高周波電圧を印加すると、電極指
2a間に生じた電界により、弾性表面波が励振され、そ
の電極指2aと垂直に基板表面をん右に伝搬する。この
弾性表面波は、両側のグレーティング反射器3,4で反
射され、弾性表面波がその2つの反射器3.4間で反射
を繰り返し、定在波となる。これにより、例えば狭帯域
共振子として動作させることができる。
この種の弾性表面波素子は、次のようにして製造される
先ず、圧電体基板1の表面に、へ1等の金属膜を堆積し
た後、その金属股上にレジストを被盾1゛る。そして、
レジストを露光、現像してレジストパターンを形成し、
そのレジストパターンをマスクにしてエツチング液で金
属膜をエツチングし、所定形状のインターディジタル電
極2及びグレーティング反射器3,4を形成する。その
後、インターディジタル電極2及びグレーティング反射
器3.4上の不要なレジストパターンを除去すれば、製
造工程が終了する。
しかし、一般に、このようにして作られる弾性表面波素
子の共振周波数は、金属膜の膜厚、電極指2aのライン
幅し、アンダーエッチのψの違い等によって変動ηる。
そこで、共振周波数のバラツキを小さくするため、周波
数調整の処理を行う必要かある。
従来の周波数調整り法では、例えば圧電基板1上にイン
ク−ディジタル電極2及びグレーティング反射器3.4
を形成した後、ウェットエツチングまたはドライエツチ
ングによるライン幅り調整や、膜厚調整等により、周波
数調整を行っている。
前記文献には、ライン幅調整による周波数調整方法が記
載されている。
第3図は、前記文献に記載された従来の弾性表面波素子
の製造方法を示す図である。
先ず、第3図(a)に示すように、圧電体基板1上に、
A1からなる金属膜10を堆積し、ざらにその上にCr
からなる保護1g111を形成する。
そして、その保護膜11上に、ホトリソグラフィ伎術を
用いて、レジストパターン12を選択的に形成する。
第3図(b)に示すように、Crだけに反応するエツチ
ング液を用いて、レジストパターン12と同一の形状に
なるまで保護膜11をエツチングし、保護膜パターン1
1aを形成する。
次に、第3図(C)に示すよう番こ、保護膜パターン1
1a上のレジストパターン12を除去する。
この段階で、インターディジタル電極端子に電気信号を
印加し、共振周波数か測定できるようにする。
その後、第3図(d)に示すように、ドライエツチング
法により、保8WAパターン11aをマスクにして金属
膜10をエツチングし、金属膜パターン10aを形成す
る。この金属膜パターン10aにより、インターディジ
タル電極2及びグレーティング反射器3,4が構成され
るので、このインターディジタル電極2及びグレーティ
ング反射器3,4の共振周波数を測定する。そして、所
望の共振周波数が轡られない時には、再び保護膜パター
ンllaをマスクにして金属膜パターン10aの側面を
サイドエツチングする。このような金属膜パターン10
aのライン幅調整により、周波数調整が行える。
(発明が解決しようとする課題) しかしなから、上記弾性表面波素子の製造方法における
周波数調整方法では、次のような課題があった。
(i)  通常、金属膜パターン10aは、圧電体基板
1との密着性を良くするため、側面の面積よりも平面の
面積が大きくなるように形成される。
ところが、従来の周波数調整方法では、保護膜パターン
11aをマスクにして金属膜パターン10aをサイドエ
ツチングし、周波数調整を行っているので、膜厚調整よ
りも周波数可変量が小さい。
そのため、周波数調整作業に手数を要する。その上、ラ
イン幅りの減少によって圧電体基板1との密着性が低下
し、金属膜パターン10aの剥離等といった問題が生じ
る。
(ii)  前記(i)の問題を解決するため、保護膜
パターン11aを除去した後(あるいは、当初から保護
膜パターン11aを形成しない他の金属膜パターン10
aの形成方法を採用してもよい)、金属膜パターン10
aをエツチングすることにより、該金属膜パターン10
aの膜厚を、所望の共振周波数が得られるまでアンダー
エッチすれば、周波数可変量を大きくすることができる
。ところが、次のような問題が生じる。
第4図(a)、(b)は従来の膜厚調整による周波数調
整方法を示す図である。
第4図(a)に示すように、金属膜パターン1Oaの上
面をエツチングしてその膜厚調整を行うと、第4図(b
)に示すように、金属膜パターン10aの厚さと同時に
その側面もエツチングされる。そのため、ライン/スペ
ース比(し/S比)が悪化し、弾性表面波共振子のイン
ピーダンスが変動してしまう。その上、金属膜パターン
10aの断面プロファイルがなまり、弾性表面波共振子
のQ(quality  factor)の低下も生じ
てしまう。
このように、金属膜パターン10aの膜厚を調整して周
波数調整を行なおうとすると、インピーダンスや、Q値
等といった他の電気的特性が変わってしまい、所望の電
気的特性を有する弾性表面波素子を得ることが困難であ
った。
本発明は前記従来技術が持っていた課題として、金属膜
パターン、つまりインターディジタル電極及びグレーテ
ィング反射器(以下、これを総称して単に「電極」とい
う)の膜厚をエツチングにより調整して周波数の調整を
行おうとすると、インピーダンスや、Q値等といった他
の電気的特性も悪影響を受け、所望の電気特性を持った
弾性表面波素子を製造することが困難であるという点に
ついて解決した弾性表面波素子の製造方法を提供するも
のである。
(課題を解決するための手段) 前記課題を解決するために、第1の発明は、弾性表面波
共振子や弾性表面波フィルタ等といった弾性表面波素子
の製造方法において、圧電体基板の表面に、所定膜厚の
第1の金属膜を形成した後、その第1の金属股上に、エ
ツチングレートの異なる第2の金属膜を被着する金属膜
形成工程と、前記第1及び第2の金属膜を選択的にエツ
チングして所定形状の電極を形成する電極形成工程と、
前記電極の第2の金属膜を所定周波数に応じた膜厚に選
択的にエツチングする周波数調整工程とを、順に施すよ
うにしたものである。
第2の発明では、圧電体基板の表面に、金属膜からなる
所定膜厚及び所定形状の電極を選択的に形成する電極形
成工程と、前記電極を含めた前記圧電体基板の全面に、
絶縁膜を被着する絶縁膜被着工程と、前記絶縁膜を所定
周波数に応じた膜厚に全面エツチングする周波数調整工
程とを、順に施すようにしたものである。
(作 用) 第1の発明によれば、以上のように弾性表面波素子の製
造方法を構成したので、金属膜形成工程及び電極形成工
程では、微細加工に適するリフトオフ法等を用いて、イ
ンターディジタル電極ヤグレーティング反射器等といっ
た電極が、高精度のパターンで圧電体基板表面に形成さ
れる。
次に、電極に電気信号を印加して周波数を測定し、ドラ
イエツチング法やウェットエツチング法等を用いて選択
的に、電*の第2の金属膜を所望の周波数に応じた膜厚
にエツチングすれば、電極上面の第2の金属膜のみかエ
ツチングされ、ぞの上の第1の金属膜は該第1の金属膜
でエツチングに対する保愚か行なわれ、該第1の金属膜
の側面のエツチング量か少なくなる。これにより、主と
して電極の膜厚のみを調整することかでき、インピーダ
ンスやQ値等といった他の電気的特性に悪影響を与える
ことなく、簡単かつ的確に周波数調整が行える。
第2の発明によれば、電極形成工程において所定パター
ンの電極が圧電体基板上に形成される。
次に、絶縁膜波谷工程により圧電体基板の全面に絶縁膜
を形成し、周波数調整工程(おいて絶縁膜を仝面エツチ
ングすることにより、質量効果によって周波数の調整が
行える。この際、電極は絶縁膜で保護されているのでエ
ツチングされず、それによってインピーダンスやQ(a
等といった他の電気的特性に悪影響を与えることなく、
aI単かつ容易に周波数の調整か行える。
従って、前記課題を解決できるのである。
(実施例) 第1図は、本発明の第1の実施例における弾性表面波素
子の製造方法を示す図である。
−この製造方法では、例えば第2図のような弾性表面波
共振子を製造する場合について、その製造工程(1)〜
(3)を以下説明する。
(1) リフトオフ法による金属膜形成工程(第1図(
a)〜(C)) 第1図(a)に示すように、タンタル酸リチウム、ニオ
ブ酸リチウム、水晶等の材料で形成された圧電体基板2
0を鏡面仕上げし、その圧電体基板20の表面に、レジ
スト21を被着する。そして、ホトマスク22を用いて
紫外線でレジスト21を照射し、そのホトマスク22上
のパターンをレジスト21に転写する。このように、レ
ジスト21を露光した後、有機溶剤等で現像すれば、第
1図(b)のようなレジストパターン21atPlられ
る。
次に、第1図(C)に示すように、Af、Au等の導電
率の高い第1の金属膜23−1を蒸へ等によって所定の
厚さに堆積し、続いて該第1の金属膜23−1とエツチ
ングレートの異なるCr。
T1等の第2の金属膜23〜2を蒸@等によって所定の
厚さに堆積する。
(2) リフトオフ法による電極形成工程(第1図(d
)) 圧電体基板20を溶剤に浸漬し、超音波等を加えて、レ
ジストパターン21aとその上の第1及び第2の金属膜
23−1.23−2とを同時溶解、あるいは同時に剥離
して除去する。その結果、第1図(d>に示すように、
残った第1及び第2の金属膜23−1.23−2により
、所望のパターンの電極23aが形成される。この電極
23aは、第2図のインターディジタル電極2やグレー
ティング反射器3.4に相当するものである。
(3) 周波数調整工程(第1図(e))例えば、電極
23aがウェハ上に多数配列、形成されている場合には
、プロービングにより、その電極23aに電気信号を印
加して例えば共振周波数を計測する。このようなウェハ
状態において、周波数の測定を行うことは、量産性に向
いているが、場合によれば、そのウェハをチップ状に分
割した後、該チップをベース等に組立てた状態で、電極
23aに電気信号を印加し、周波数測定を行うようにし
てもよい。
このような周波数測定を行うことにより、目標周波数と
の差が求まるので、その周波数差をOに覆−べく、エツ
チング時間等を監視しながら、エツチングレートの相違
を利用し、プラズマエツチング法等のドライエツチング
法、あるいはエツチング液を用いたウェットエツチング
法(まり、電極23aの上面の第2の金属膜23−2を
所定の膜厚まで選択的にエツチングし、周波数調整を行
う。
ここで、ウェットエツチング法によって電極上面の第2
の金属膜23−2を選択的にエツチングする場合、弾性
表面波は溶液中ではほとんど減衰してしまうから、所望
の周波数が得られたが否かの測定は、エツチング液から
電極23aを引上げて行えばよい。また、ドライエツチ
ング法によって電極上面の第2の金属膜23−2を選択
的にエツチングする場合、周波数測定をしながらドライ
エツチングすることも可能である。
この第1の実施例では、次のような利点を有している。
(i)  第1図(3)の周波数調整工程において、電
極上面をエツチングして周波数を調整する場合、エツチ
ングレートの相違を利用してその電極上面の第2の金属
膜23−2のみを選択的にエツチングするため、該電極
23aの幅が減少せずに、第2の金属膜23−2の膜厚
のみを所望の値にエツチングすることができる。この際
、第2の金属膜23−2の上面のコーナ一部分は丸みを
あびたようにエツチングされるが、該第2の金属膜23
−2で第1の金属膜23−1が被着されているので、該
第1の金属膜23−1がエツチングされることはない。
そのため、予め第1の金属膜23−1によって電極23
aの周波数の大半がほぼ決まるように設定しておけば、
従来の方法と比べ、インピーダンスの変動を最少限に抑
え、ざらにQ値の低下を防止する等、周波数以外の電気
的特性に悪影響を与えることなく、簡単かつ的確な周波
数調整が行える。
(ii)  第1図(a)〜(d)に示すように、リフ
トオフ法によって電極23aを形成しているので、高精
度な微細電極パターンの形成が可能となる。
第5図(a)〜(j )は、本発明の第2の実施例にお
ける弾性表面波素子の製造方法を示す図であり、第1図
中の要素と共通の要素には共通の符号が付されている。
この製造方法では、第1図と同様に、第2図の弾性表面
波共振子の製造工程を示すもので、その工程(1)〜(
3)を以下説明する。
(1) リフトオフ法による電極形成工程(第5図(a
)〜(d)) 第5図(a)に示すように、タンタル酸リチウム、ニオ
ブ酸リチウム、水晶等の材料で形成された圧電体基板2
0を用意する。そして、前記第1図(a)、(b)の工
程と同様に、圧電体基板2O上にレジストパターン21
aを形成する。
次に、第5図(C)に示すように、A、ll、ALl等
の導電率の直い金属膜33を、蒸着等によって所定の厚
さに堆積する。その後、溶剤等に浸漬し、超音波等を加
えて、レジストパターン21aとその上の金属WA33
とを同時溶解、あるいは同時に剥離して除去する。その
結果、第5図(d)に示すように、残った金属膜33に
より、所望のパターンの電極33aが形成される。この
電極33aは、第2図のインターディジタル電極2やグ
レーティング反射器3,4に相当するものである。
(2) 絶縁膜被着工程(第5図(e))気相成長法(
CVD)等を用いて電極33aを含めた圧電体基板20
の全面に、それらとはエツチングレートの異なるS i
02 、 S i3 N4 、 Al2O3等の絶縁膜
34を所定の厚さに堆積する。
(3) 周波数調整工程(第5図(f))前記第1図(
e)の工程と同様に、電極33aに電気信号を印加して
周波数測定を行い、目標とする周波数との差を求める。
その周波数差をOにすへく、エツチング時間等を監視し
てドライエツチング法等により、絶縁膜34を全面エツ
チングして周波数調整を行う。
この第2の実施例では、前記第1の実施例の利点(ii
)と同様の利点を有する他に、絶縁膜34を全面エツチ
ングして周波数調整を行うようにしているので、その絶
縁膜34で被覆された電極33aがエツチングされず、
該電極33aの膜厚及び幅が減少せず、それによって従
来の方法と比へ、インピーダンスの変動を最少限に抑え
、ざらにQ値の低下を防止する等、周波数以外の電気的
特性に悪影響を与えることなく、的確な周波数調整が行
える。
ざらに、第5図(f>の周波数調整工程において、絶縁
膜34を全面エツチングして周波数調整を行うので、金
属に比べて絶縁膜の膜厚調整が容易であり、しかも圧電
体基板20の表面が絶縁膜34で常に覆われているので
、エツチング時において該圧電体基板20に対するダメ
ージを防止することができる。また、周波数調整後も、
圧電体基板20及び電極33aの全面か絶縁膜34て覆
われているので、良好なパッシベーション特性か得られ
る。
なお、本発明は図示の実施例に限定されず、種々の変形
が可能である。その変形例としては、例えば次のような
ものかある。
■ 第1図及び第5図では、リフトオフ法を用いて電極
23a、33aを形成するようにしたか、通常の小トリ
ソグラフイ技術を用いてその電極を形成するようにして
も良い。
例えば、圧電体基板20上に第1及び第2の金属112
23−1.23−2あるいは単層の金属膜33を堆積し
、その上にレジストを波谷する。そして、そのレジスト
に対して露光及び現像込理を11ってレジストパターン
を形成した(着、該レジストパターンをマスクにして第
1及び第2の金属膜23−1.23−2あるいは金属膜
33をエツチングし、所定パターンの電極23a、33
aを形成するようにしても良い。
■ 第1図及び第5図では、圧電体基板20として、中
結晶のものを使用したか、これに限定されない。例えば
、ZnO等の薄膜圧電体をカラス基板等に付石させた、
多否構造の圧電体基板を使用すれば、例えば共振周波数
を、薄膜圧電体の股1早て調整でさるという利点があり
、しかもその薄膜は量産化に適している。
(発明の効果) 以上詳細に説明したように、第1の発明によれば、金属
膜形成工程及び電極形成工程において、例えばリフトオ
フ法を用いて所定形状及び所定膜厚の第1及び第2の金
属膜からなる電極を選択的に形成すれば、高精度の微細
電極パターンか形成できる。しかも、周波数調整工程に
おいて、エツチングレートの違いを考慮して電極」−面
の第2の金属摸@選択的にエツチングして周波数調整を
行うようにしたので、該第2の金属膜によりその下の第
1の金属膜の側面エツチングを抑制しつつ、該第2の金
属膜のみを所定膜厚にエツチングできる。従って、イン
ピーダンスの変動を最少限に抑えることができ、さらに
Q値の低下を防止することかできる等、周波数以外の他
の電気的1)けに悪影響を及ばずことなく、筒中かつ的
にへ周波数調整か可能となる。
第2の発明によれば、電極形成工程において、第1の発
明と同様の処理を施すことにより、はぼ同様の効果が得
られる。ざらに、形成した電極上に絶縁膜を波谷し、周
波数調整工程において、その絶縁膜を所定周波数に応じ
た膜厚に仝面エツチングするので、該絶縁膜によって電
極のエツチングが防止でき、それによって周波数以外の
イ也の電気的特性に悪影響を及ぼすことなく、筒中かつ
的確な周波数調整か可能となる。ざらに、この第2の発
明では、周波数調整後も全面が絶縁膜で覆われているた
め、弾性表面波系子に対する良好なパッシベーション特
性が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)〜(e)は本発明の第1の実施例における
弾性表面波素子の製造方法を示す図、第2図は従来の弾
性表面波素子の概略の平面図、第3図(a)〜(d)は
従来の弾性表面波素子の製造方法を示す図、第4図(a
>、(b>は従来の膜厚調整を説明するための図、第5
図(a)〜(f)は本発明の第2の実施例における弾性
表面波素子の製造方法を示す図である。 20・・・・・・圧電体基板、21・・・・・・レジス
ト、21a −−−−−−レジストパターン、22・・
・・・・小トマスク、23−1.23−2・・・・・・
第1.第2の金属膜、23a・・・・・・電極、33・
・・・・・金属膜、33a・・・・・・電極、34・・
・・・・絶縁膜。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.圧電体基板の表面に、所定膜厚の第1の金属膜を形
    成した後、その第1の金属膜上に、エッチングレートの
    異なる第2の金属膜を被着する金属膜形成工程と、 前記第1及び第2の金属膜を選択的にエッチングして所
    定形状の電極を形成する電極形成工程と、前記電極の第
    2の金属膜を所定周波数に応じた膜厚に選択的にエッチ
    ングする周波数調整工程とを、 順に施すことを特徴とする弾性表面波素子の製造方法。
  2. 2.圧電体基板の表面に、金属膜からなる所定膜厚及び
    所定形状の電極を選択的に形成する電極形成工程と、 前記電極を含めた前記圧電体基板の全面に、絶縁膜を被
    着する絶縁膜被着工程と、 前記絶縁膜を所定周波数に応じた膜厚に全面エッチング
    する周波数調整工程とを、 順に施すことを特徴とする弾性表面波素子の製造方法。
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