JPH0415575B2 - - Google Patents

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JPH0415575B2
JPH0415575B2 JP63115040A JP11504088A JPH0415575B2 JP H0415575 B2 JPH0415575 B2 JP H0415575B2 JP 63115040 A JP63115040 A JP 63115040A JP 11504088 A JP11504088 A JP 11504088A JP H0415575 B2 JPH0415575 B2 JP H0415575B2
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JP
Japan
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crucible
radiation
evaporator
radiation source
crucibles
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JP63115040A
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English (en)
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JPS6463246A (en
Inventor
Satoo Shuu
Ii Ebansu Junia Ruisu
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Varian Medical Systems Inc
Original Assignee
Varian Associates Inc
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Publication date
Application filed by Varian Associates Inc filed Critical Varian Associates Inc
Publication of JPS6463246A publication Critical patent/JPS6463246A/ja
Publication of JPH0415575B2 publication Critical patent/JPH0415575B2/ja
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J27/00Ion beam tubes
    • H01J27/02Ion sources; Ion guns
    • H01J27/20Ion sources; Ion guns using particle beam bombardment, e.g. ionisers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/04Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement, ion-optical arrangement
    • H01J37/08Ion sources; Ion guns
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J27/00Ion beam tubes
    • H01J27/02Ion sources; Ion guns
    • H01J27/022Details

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はイオン源用の蒸発器装置に関し、更に
詳しくは、単一のエネルギー源からの放射によつ
て選択的に加熱される複数のるつぼを有する蒸発
器装置に関する。蒸発器装置は特にイオン・イン
プランテーシヨン装置での使用を目的とされる
が、そのような使用に限定されない。
〔背景技術〕 集積回路の製造において、真空中で半導体ウエ
ーハ上へイオンビームを当てることを必要とする
多くのプロセスが確立された。これらのプロセス
はイオン・インプランテーシヨン、イオンビーム
ミリング(ion beam milling)及び反応イオン
エツチングを含む。各々の場合、イオンのビーム
がイオンソースで発生し、様々な加速度でターゲ
ツトへ向けられる。イオン・インプランテーシヨ
ンは半導体ウエーハに不純物を加えるための普通
の技術になつた。イオンを半導体物質の結晶格子
中に埋め込む手段として高エネルギーイオンの運
動量を用いることによつて、不純物が半導体ウエ
ーハの大部分に加えられる。イオン・インプラン
テーシヨンは金属やポリマーの特性を変えるため
に用いられていた。
イオンビームを作るためのイオンソースは所望
の種類の分子をイオン化するための電場及び磁場
が適切に与えられたチエンバを有する。連続する
ビームを形成するためのイオン化のために、イオ
ン化されるソース物質が連続してイオンソースに
供給される。ソース物質はその化学的及び物理的
特性に依存して、ガスとして又は固体として供給
されてもよい。固体物質が用いられるときは、そ
の固体物質は蒸発器内に置かれ、その蒸発器はソ
ース物質の制御された量の蒸気を作るための温度
へとるつぼ内のソース物質を加熱する。次に蒸気
はイオン化のためにコンジツトを通して、イオン
ソースへ供給される。従来技術の中で様々なタイ
プのイオンソースが知られている。
従来技術のほとんどの蒸発器装置はソース物質
を収容する1つのるつぼ、電熱器及び熱損の防止
と加熱力の効果を増加させるための断熱体(熱シ
ールド)を有している。加熱器と断熱体はるつぼ
に物理的に取り付けられている。別の従来技術の
装置は複数のるつぼを使用するが、各るつぼの基
本的構造は同じである。すなわち、各るつぼは物
理的に取り付けられた別個の加熱器を有し、その
電熱器は個々に付勢される。
従来技術の蒸発器装置は非常に多くの欠点を有
している。このような装置の熱時間定数
(thermal time constant)は加熱器及び断熱体
の付加熱質量(thermal masses)のために比較
的低い。初期ウオームアツプ(warm−up)時間
及び1つのソース物質から別のソース物質に変え
るための時間は、関連したウオームアツプ時間及
び冷却時間のために比較的長い。このような遅れ
は中断時間の最少化が重要である商業上のイオ
ン・インプランテーシヨン装置では極めて好まし
くない。更に、従来技術の加熱器及びるつぼの修
理は、加熱器及びるつぼが本質的に分離できない
ので難しい。更に、加熱器を修理することは、常
に、極めてしばしば有毒物質の入つたるつぼを取
り扱うことを意味する。加熱器の寿命はるつぼと
の物理的接触の特性によつて影響される。不確か
な接触は常にある程度起こるが、加熱器の温度を
上昇させ、その結果、早い時期に加熱器の故障を
もたらす。従来技術に従つた複数るつぼ構造は複
雑であり、加熱器の数が増加するに従つて信頼性
が下がりがちである。更に、真空を通つて大気境
界へ続く電気的フイードスルーが増加する。これ
らの全ての要素は装置の費用を増加させ、装置の
信頼性を下げがちである。
本発明の全般的目的はイオンソースのための改
良された蒸発器装置を提供することである。
本発明の別の目的は、1つ又はそれ以上のるつ
ぼ及び複数のるつぼの場合に、その中の選ばれた
1つのるつぼに向けられる単一の放射源を有する
蒸発器装置を提供することである。
更に本発明の目的は、加熱及び冷却に対して比
較的短い熱時間定数を有する蒸発器装置を提供す
ることである。
更に本発明の目的は、比較的安全で、修理及び
維持の容易な蒸発器装置を提供することである。
更に本発明の目的は、低コストで比較的高い信
頼性のある蒸発器装置を提供することである。
〔発明の概要〕
本発明に従つて、これら及びその他の目的及び
利点が蒸発器装置によつて達成される。前記蒸発
器装置は1つ又はそれ以上のるつぼを有する蒸発
器から成り、該るつぼは蒸発させられる固体ソー
ス源物質を収容し、その中で発生した蒸気の出口
を有する。更に前記蒸発器装置は選択されたるつ
ぼ内の物質を蒸発させるための放射を与えるため
の放射源手段及びるつぼ内に収容されたソース物
質の蒸発を起こさせるために前記放射を選択され
たるつぼの1つに向けるための反射器手段から成
る。
好適には、前記放射源手段は管状のクオーツハ
ロゲンランプのような可視光及び1又は赤外線源
から成る。反射器手段はソース源からの放射の実
質的な小部分が選択されたるつぼに向けられる位
置の間を移動可能な反射表面からなる。単一のる
つぼを備えた蒸発器の場合、反射器手段はそのよ
うな位置に固定される。蒸発器は好適には各々の
るつぼの間に置かれた熱シールド手段を有する。
複数のるつぼを備えた好適実施例では、放射源
手段が蒸発器の軸線上又はその付近に設置され、
るつぼは軸線から半径方向に間隔を取り、周囲に
互いに間隔を取つて設置され、反射器手段は選ば
れたるつぼに蒸発エネルギーを向けるために軸線
のまわりに回転可能である。反射表面は実質的に
放射源からの放射の全てが選ばれたるつぼに向け
られるように、軸線に垂直な平面内で放物線状又
は同様な形状を持たせることができる。るつぼは
同じ物質を収容しても良いし、異なる物質を収容
することもできる。蒸発器装置は好適には、反射
面を選ばれた位置の間で回転するための手段を有
する。該回転手段はモーター又はつめ車機構を有
してもよい。
好適実施例において、熱シールドはるつぼ、放
射源手段及び反射器手段の各々を設置するための
空洞を有する概して円筒状の本体を有する。
るつぼは好適には伝導による熱損を防ぐために
熱シールド手段から断熱されている。
〔好適実施例〕
本発明に従つた蒸発器装置を使用するイオンビ
ーム装置のブロツク線図が第1図に示されてい
る。蒸発器装置100は蒸発器6、温度制御器8
及び反射器駆動装置10を有する。蒸発器6は所
望の固体物質の気体を発生させるための1つ又は
それ以上のるつぼを有する。るつぼの1つが所定
の時間に付勢され、ソース物質の蒸気をコンジツ
ト12を通してイオンソース14に供給する。蒸
発器装置の操作が以下に詳しく記載されている。
イオンソース電源16はコンジツト12を通し
て供給された蒸気がイオン化されるようにイオン
ソース14を付勢するための必要な電圧と電流を
供給する。抜き出し電源20はイオンビーム22
をソース14から抜き出すために、イオンソース
14の出口アバーチヤ19と該アバーチヤ19の
前に設置された抜き出し電極18との間に強い電
場を作り出す。イオン・インプランテーシヨン装
置においては、イオンビーム22は様々な光学要
素と加速要素24を通つて、ターゲツト26に向
けられた所望の物質の高エネルギービームを形成
する。ビーム22はターゲツト26の表面上を1
次元又は2次元でスキヤンされてもよい。イオ
ン・インプランテーシヨン装置は一般に当業者に
は知られており、市販されている。このような装
置の例にModel 350−D(Varian Associates.
Inc.,Extrion Division)がある。
本発明の蒸発器装置は別のタイプのイオンビー
ム装置に用いられてもよい。例えば、反応イオン
エツチ装置では、イオンソース14は比較的幅の
広いイオンビームを作り、集束光学要素は省略さ
れる。蒸発器装置はソース物質のガス形成が有効
でない如何なる場合にもイオンソース14に蒸気
を供給するために利用される。
従来技術に従つた蒸発器が第2図に簡単に示さ
れている。るつぼ40は通常、グラフアイト又は
化ホウ素で作られており、蒸発される固体のソー
ス物質44を収容する空洞42を有する。るつぼ
40とソース物質44はるつぼ40のまわりに巻
かれた電熱器46によつて加熱される。取りはず
し可能カバー48は開口部42を密閉し、発生し
た気体を空洞42からイオンソースへ供給する管
50を有する。るつぼと加熱器の全体が一層又は
それ以上の層の熱シールド51によつて包まれて
いる。
本発明に従つた蒸発器の断面図が第3図に示さ
れている。概して本発明の蒸発器は気化されるソ
ース物質を収める1つ又はそれ以上のるつぼと、
同時にるつぼの1つを加熱するための放射源及び
放射源からのエネルギーをるつぼの1つに向ける
ための反射器を使用する。
るつぼが複数である場合、反射器は放射源から
のエネルギーが選ばれたるつぼに向けられるよう
に動かすことができる。るつぼの1つが放射源に
よつて加熱される一方、他のるつぼは比較的低温
のままである。個々の加熱器をオン及びオフに変
えることに伴う困難は解消される。
るつぼ60,62及び64は中心軸線66(第
3図の紙面に垂直)のまわりに等間隔に置かれて
いる。放射源は可視光及び/又は赤外線放射ラン
プ68から成り、軸線66上か又はその近くに設
置されている。反射器70は軸線66のまわりに
回転可能であり、ランプ放射をるつぼ60,6
2,64の選ばれた1つに(別の方法では全ての
るつぼに当たる)向ける。選ばれたるつぼがラン
プ68からの放射によつて高温に加熱され、一
方、選択されなかつたるつぼが比較的低温に維持
されるように、概して円筒状の熱シールド72が
るつぼ60,62,64の間に熱隔離をもたら
す。反射器70の背面71はその熱放射吸収特性
が高められるような方法(例えば、ブラツク・ア
ノーダイジング(black anodiging))で仕上げ
られ、加熱されるように選ばれた1つのものでは
なく、それらのるつぼに対して放射ヒートシンク
として働くことを許容する。反射器70は吸収し
た熱を除くためにその端部(図示せず)を水で冷
却してもよい。
るつぼ60,62,64を加熱するための放射
源は、好適には可視光及び又は赤外線源である。
一つの適切なランプはGTE、Silvaniaによつて
製造される500Wの定格のタイプQH500T3のよう
なクオーツハロゲンランプである。ランプ68は
管状エンベロプを有し、その軸線を蒸発器の軸線
66に平行に設置される。温度制御器8(第1
図)は制御された量の電力をランプ68に供給し
て、選択されたるつぼの温度をウオームアツプ時
間中に可能な限り迅速を高め、また、イオン源に
蒸気の一定流量を送るように蒸発時間中、可能な
限り安定して選択されたるつぼの温度を維持す
る。別の放射源及び可視光でない別の波長のもの
も本発明の範囲内のものであることが理解されよ
う。
反射器70は良い熱伝導率とランプ68によつ
て放射された光の周波数域で高い反射率を有する
アルミニウムのような金属から作られている。反
射器70はランプ68に面する側に反射面74を
有し、反対側に吸収面71を有する。反射器70
は第3図に示したような軸線方向に一様な断面を
有し、実質的にランプ68からの放射の全てを選
択されたるつぼに向けるようにランプ68の長手
方向に伸びている。
反射面74はランプ68からの放射を選択され
たるつぼに向けて反射するために如何なる形状を
有してもよい。一つの適切な形状は放物線で、該
放物線の焦点がランプの軸線と一致するものであ
る。前記のように反射器70はるつぼ60,6
2,64の各々と向い合う位置になるように軸線
66のまわりに回転可能である。それは手動で位
置を移すことが可能であるが、好適にはシステム
コンピユータ又は他のシステム制御器によつて制
御される蒸発器装置100内の反射器駆動装置1
0(第1図)によつて移動させられる。反射器駆
動装置10はモーター又はラチエツト型機構でよ
い。
るつぼ60,62,64の各々はそれぞれ空洞
60a,62a,64aを有する概して円筒状の
容器であり、その中にソース物質82が収容され
ている(第4図)。空洞60a,62a,63a
の各々は、管すなわち導管86が貫通した取りは
ずし可能なカバー84によつて密閉されている。
導管86は各空洞からの蒸気をイオン源に向け
る。
空洞60a,62a,64aは各々のるつぼの
中央に設けられてもよい。しかし、好適実施例で
は空洞が中心からはずされており、るつぼの側壁
で軸線66に近い部分90が軸線66から離れた
部分92よりも厚くしてある(第3及び4図参
照)。可変の壁の厚さは、ランプ68からの放射
が各るつぼの一方の側に不均等に供給されるとい
う事実をある程度補正する。可変の壁の厚さは空
洞60a,62a,64aに収容されたソース物
質82に供給される熱をより均等に分配する傾向
がある。第3図を参照すると、反射器70の回転
に合わせて、各るつぼ60,62,64のランプ
68に面する部分が弧状に切り欠かれている。こ
の形状はるつぼがランプ68に最も近くに位置す
ることも可能にし、一方、反射器70がその位置
の間を自由に回転することを可能にしている。
別の好適実施例において(図示せず)、薄い壁
のるつぼが次のような位置に置かれ、反射器72
が次のような方法で形づけられる。すなわち、一
様にほぼ一様にるつぼの表面上を加熱し、熱質量
の少ない方法となり、更に、ウオームアツプ及び
冷却の時間を減ずる助けになる。
第3図に示された実施例は、軸線66からの等
しい放射空間を有し互いに等角度に離して置かれ
た3つのるつぼ60,62,64を有している。
本発明の蒸発器装置は一つ又はそれ以上の使用に
応じた数のるつぼを放射源のまわりに間隔を取つ
て設けることができることが理解されよう。るつ
ぼは好適にはグラフアイトから作られる。グラフ
アイトは蒸発させられる多くの物質に対して良好
な化学的適合性、良好な熱伝導率及びランプ68
によつて放射された光の周波数領域に対する良好
な吸収特性(エミツタンス)を有する。
本発明の蒸発器装置は更に、可視光及び/又は
赤外線放射に対する高反射率及び高い熱伝導率の
ために好適にアルミニウムによつて作られた熱シ
ールド72を有している。熱シールド72は概し
て全体が円筒状であり、るつぼ60,62,64
の各々のために空洞94,96,98を有し、中
央に設けられた空洞102は反射器70とランプ
68を収容している。熱シールド72はその端部
が水で冷却されてもよく(図示せず)、一つのる
つぼが加熱される一方で、他の2つが比較的冷た
く保たれるようにるつぼ60,62,64の間の
熱遮断を行う。好適には60,62,64から熱
シールド72への熱伝導を妨げるためにるつぼ6
0,62,64は熱シールド72から離して置か
れる。るつぼ60,62,64は在来の端部取付
け手段によつて、各々空洞94,96,98内に
支持されている。
イオン・インプランテーシヨンへの応用におい
て、るつぼ60,62,64にはそれぞれヒ素、
リン、アンチモンを収容できる。本発明の蒸発器
装置では、選択されたソース物質が迅速に気化さ
れ、装置が迅速に操作可能状態に置かれる。加熱
されていないるつぼからは実質的に蒸気は得られ
ない。同様に、ソース物質の種類の交換は、最小
の中断時間をもつて迅速に完了できる。
本発明は、単に反射器の照射角度を変えること
によつて、熱源の数を変えることなく装置内のる
つぼの数を容易に変えることのできる可能性を提
供する。熱源は装置と分離した部品である。熱源
は有毒物質が入つているかもしれない如何なるる
つぼにも接触せずに修理することができる。るつ
ぼ自体は高価でなく、専用のヒーターや扱いにく
い電気接続がないので容易に交換できる。
本発明の好適な実施例について図示し、記載し
てきたが、特許請求の範囲によつて限定した発明
の範囲から逸脱することなく、前記実施例に様々
な変更を行えることが当業者には明らかであろ
う。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の蒸発器装置を組み込んだイオ
ンビーム装置のブロツク線図である。第2図は従
来技術の蒸発器の断面図である。第3図は本発明
の蒸発器の断面図である。第4図は第3図の4−
4線部分での断面図である。 〔主要符号〕、40,60,62,64…るつ
ぼ、44…ソース物質、66…軸線、68…放射
ランプ、70…反射器、71…吸収面、72…熱
シールド、74…反射面。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 蒸発器6であつて、 (a) 軸線から半径方向に離され、周囲に相互に間
    隔を取つて置かれたるつぼ60,62,64
    で、各々、蒸発されるべき固体ソース物質82
    を収容するための空洞60a,62a,64a
    を有し、該空洞内で発生した蒸気のための出口
    50を有する少なくとも二つのるつぼ60,6
    2,64、 (b) 選択されたるつぼを加熱し、該選択されたる
    つぼの前記空洞中のソース物質82を蒸発させ
    るための放射を供給するために前記軸線上に設
    置された放射源手段68、 (c) 前記放射源手段からの放射を前記るつぼのう
    ち選択された第一のるつぼに反射させるための
    第一位置から、前記放射源手段からの放射を前
    記るつぼのうち選択された第二のるつぼに反射
    させるための第二位置へ前記軸線の回りで回転
    可能な反射器手段70、 から成る蒸発器。 2 前記放射源手段68が、赤外線、可視光又は
    それらの組み合わせから選択された周波数領域で
    放射をする放射源から成る請求項1記載の蒸発
    器。 3 前記放射源手段がクオーツランプから成る請
    求項1記載の蒸発器。 4 前記可動反射器手段70が前記第一及び第二
    位置の間で可動な反射面74から成り、該反射面
    が前記第一位置にあるとき前記放射源手段からの
    放射の相当な部分が前記第一るつぼに向けられ、
    前記反射面が前記第二位置にあるとき前記放射源
    手段からの放射の相当な部分が前記の選択された
    第二るつぼに向けられる請求項1記載の蒸発器。 5 更に、少なくとも前記二つのるつぼの間に設
    けられた熱シールド手段72を有する請求項4記
    載の蒸発器。 6 次の手段から成る蒸発器装置100。 A) 蒸発器であつて、 (a) 放射を供給するために軸線上に設置された
    放射源手段68、 (b) 前記軸線から半径方向に離され、周囲に相
    互に間隔を取つて置かれたるつぼ60,6
    2,64で、各々、固体ソース物質82を収
    容するための空洞60a,62a,64aを
    有する少なくとも二つのるつぼ、 (c) 前記放射源手段68から前記の少なくとも
    二つのるつぼのうち選択された第一のるつぼ
    に放射を反射し、前記の選択された第一のる
    つぼの前記空洞60a,62a,64a中に
    収容されたソース物質82の蒸発を起こさせ
    るための第一位置から、前記放射源手段から
    前記の少なくとも二つのるつぼのうち選択さ
    れた第二のるつぼに放射を反射し、前記の選
    択された第二のるつぼの前記空洞中に収容さ
    れたソース物質の蒸発を起こさせるための第
    二位置へ、前記軸線の回りで回転可能な反射
    器手段70、とから成る蒸発器。 B) 前記反射器を選ばれた位置の間で回転させ
    るための手段10。 C) 放射源への供給電力を制御して選択された
    るつぼを加熱し、その温度の維持をするための
    温度制御手段8。 7 前記放射源手段が、赤外線、可視光又はそれ
    らの組み合せから選択された周波数領域で放射す
    る放射源から成る請求項6記載の蒸発器装置。 8 前記放射源手段が前記軸線と平行な管状クオ
    ーツハロゲンランプから成る請求項6記載の蒸発
    器装置。 9 前記回転可能な反射器手段が前記放射源手段
    からの放射の相当な部分を前記るつぼの選択され
    た第一のるつぼに向けるための第一位置と、前記
    放射源手段からの放射の相当な部分を前記るつぼ
    の選択された第二のるつぼに向けるための第二位
    置とを有する複数の位置の間で可動な反射面から
    成る請求項8記載の蒸発器装置。 10 前記反射面が前記軸線に垂直な平面内で放
    物線形状を有し、該放射線形状が前記ランプの軸
    線の位置に焦点を有している請求項9記載の蒸発
    器装置。 11 前記反射器手段が選択されないるつぼの冷
    却を容易にするための熱放射吸収背面を有する請
    求項6記載の蒸発器装置。 12 前記の少なくとも二つのるつぼが、前記軸
    線のまわりに120度の間隔を置いて設けられた三
    つのるつぼを有する請求項6記載の蒸発器装置。 13 更に、前記反射面を前記第一位置と前記第
    二位置との間で回転させるための手段を有する請
    求項9記載の蒸発器装置。 14 各るつぼが側壁を有する容器から成り、前
    記壁のうち前記軸線に最も近い部分が前記軸線か
    ら遠い部分よりも厚く、前記るつぼ内に置かれる
    べきソース物質への熱の一様な放出を助長する請
    求項6記載の蒸発器装置。 15 更に、前記の少なくとも二つのるつぼの間
    の設けられた熱シールド手段72を有する請求項
    6記載の蒸発器装置。 16 前記るつぼが伝導によつて熱を失うことを
    防ぐために前記熱シールド手段から断熱されてい
    る請求項15記載の蒸発器装置。 17 前記熱シールド手段が、前記の少なくとも
    二つのるつぼと、前記放射源手段及び前記反射器
    手段を設置するための空洞を有する円筒体から成
    る請求項16記載の蒸発器装置。 18 前記反射器手段が選択されないるつぼの冷
    却を容易にするために熱放射吸収背面71を有す
    る請求項6記載の蒸発器装置。 19 蒸発器6であつて、 (a) 蒸発されるべき固体ソース物質82を収容す
    るための空洞60a,62a,63aを有し、
    該空洞内で発生した蒸気のための出口50を有
    する一つのるつぼ、 (b) 前記るつぼを加熱し、その中のソース物質を
    蒸発させるための放射を供給するための放射源
    手段68、 (c) 前記空洞60a,62a,63a内に収容さ
    れたソース物質82を蒸発させるために、前記
    放射源手段68からの放射を前記るつぼに反射
    するための反射器手段70、 とから成り、前記るつぼが側壁を有する容器を有
    し、前記空洞内のソース物質への熱の一様な放出
    を助長するように前記壁のうち前記放射源手段に
    最も近い部分が前記放射源手段から遠い部分より
    も厚いところの蒸発器。
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