JP2002100298A - アークチャンバ用フィードガス発生気化器 - Google Patents
アークチャンバ用フィードガス発生気化器Info
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- 239000006200 vaporizer Substances 0.000 title claims abstract description 26
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims abstract description 25
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract description 23
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 11
- 239000012809 cooling fluid Substances 0.000 claims abstract description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 5
- 239000007943 implant Substances 0.000 claims description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 4
- 238000000859 sublimation Methods 0.000 abstract description 4
- 230000008022 sublimation Effects 0.000 abstract description 4
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 11
- 239000002826 coolant Substances 0.000 description 6
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 4
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IMROMDMJAWUWLK-UHFFFAOYSA-N Ethenol Chemical compound OC=C IMROMDMJAWUWLK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000002513 implantation Methods 0.000 description 1
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 1
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920002451 polyvinyl alcohol Polymers 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/26—Bombardment with radiation
- H01L21/263—Bombardment with radiation with high-energy radiation
- H01L21/265—Bombardment with radiation with high-energy radiation producing ion implantation
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B23/00—Single-crystal growth by condensing evaporated or sublimed materials
- C30B23/02—Epitaxial-layer growth
- C30B23/06—Heating of the deposition chamber, the substrate or the materials to be evaporated
- C30B23/066—Heating of the material to be evaporated
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/24—Vacuum evaporation
- C23C14/243—Crucibles for source material
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B31/00—Diffusion or doping processes for single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure; Apparatus therefor
- C30B31/20—Doping by irradiation with electromagnetic waves or by particle radiation
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Materials Engineering (AREA)
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- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
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- Mechanical Engineering (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
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- Physical Deposition Of Substances That Are Components Of Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
させるための気化器 【解決手段】 イオンソースのアークチャンバのために
フィードガスを発生させるための気化器は、坩堝を有
し、そしてそれは、坩堝内の材料を昇華する温度に加熱
され、フィードガスとして使用するための蒸気を発生す
る。坩堝の加熱のための加熱要素に加え、冷却流体を受
けるために坩堝に沿って伸びている冷却ダクトの形態の
冷却要素が存在する。加熱要素のスイッチが切られてい
る場合の坩堝の強制冷却は、坩堝が迅速に冷却されるこ
とを可能にし、フィードガスの供給がすぐに終了できる
ようにする。イオンソースが別のフィードガスへ切り替
えられている場合は、これは重要である。また、坩堝を
強制冷却すると同時に、加熱要素にエネルギーを与える
ことで、坩堝に所望の場合に低い操作温度で正確に制御
されるのを可能にする。
Description
にフィードガスを発生させるための気化器に関する。特
に本発明は、半導体注入装置用イオンソースとしてアー
クチャンバを使用する場合に適用できる。
を入れるよう構成される細長い坩堝と、フィードガスを
発生させるためにこのソースを加熱するヒータを備えて
いる。典型的には、2つの気化器が半導体注入装置内に
提供され、そのそれぞれは、異なるフィードガスの種を
発生させるために異なる物質のソースを有している。フ
ィードガスを変更するためには、ヒータへの電源を切
り、ソースを冷却して、フィードガスの製造を終了でき
るようにすることが必要である。第2のフィードガスの
供給を始めるため、第2の気化器のヒータのスイッチを
オンにする前に、アークチャンバをパージする。通常、
気化器は放射によって冷却できるようにしてあるが、先
行技術内の中には、冷却を改善しようとして、N2のジ
ェットを雰囲気面で坩堝の一端にに向けているものもあ
る。これによりある程度まで冷却を改善するが、坩堝の
最遠端部の材料のソースをあまり冷却しない。
術で用いられる気化器は、自身の最高気温又はその付近
ではうまく動作するが、これよりも低めの温度で気化器
を運転することが時々必要となることである。気化器は
特に、ヒータへの突然の電力サージに敏感であることか
ら、低い温度での従来の気化器の制御が困難であること
がわかった
チャンバのためにフィードガスを発生させるための気化
器が具備され、この気化器は、材料のソースを有するた
めに配置される細長い坩堝と、フィードガスを発生させ
るためにソースを加熱するヒータと、冷却流体を受け材
料のソースを冷却するために坩堝の長さの実質的な一部
に沿って配置される冷却ダクトとを備えている。
環させることにより、より有効で均一な冷却が提供され
る。本発明でも、冷却ダクトの中を量的に制御した冷却
流体を循環させつつ最大ないしその付近の電力でヒータ
を運転することによって、気化器を低めの温度で運転で
きるようにしている。このように、本発明に従った気化
器は、一般にインプラントシステムで用いられるより低
い温度で昇華する種と共に用いることができる。
クトは実質的に坩堝の全ての長さに沿って伸びることが
好ましい。最適な冷却を実現する簡便な方法を提供する
ため、ダクトは、坩堝に巻かれることが好ましく、また
ヘリックス(螺旋)状の構成で巻かれることが好まし
い。
を有する坩堝1を備える。坩堝1の内部は、発生しよう
とするガスのために適切な種を発する固形物を受けるた
めに配置されるキャビティ2を画する。キャビティ2の
一端3は開いており、使用に際してはイオンインプラン
トシステム内に配置されるイオンソースに接続される。
使用に際して適切な坩堝が真空チャンバ内にあり他方で
組立体の残りが雰囲気に公開されるよう、適切なシール
(図示されず)が坩堝の第2の端部4で提供される。
ての長さに沿って螺旋状に巻かれる冷却ダクト5があ
る。図では、ら旋構造が二重に巻かれた構成で示され
る。これらの巻きの1つは、図で示すように右から左に
坩堝に沿って入って来るクーラントを輸送するダクトを
表す。他方で、他のダクトが反対の方向にクーラントを
復帰する。ダクト5(図4に最も良く示される)のベン
ド6は、リターンダクトへの外部のダクトからの移行を
表す。
の形態の加熱要素7は、坩堝1の外側表面で、グルーブ
8に沿って螺旋状に巻かれる。加熱要素7は、冷却ダク
ト5と同じピッチを有するが、坩堝1の軸に沿ってオフ
セットになっている。
から離れるように伸び、この支持チューブは、気化器が
装着されるベースプレート10のところまで伸びる。ク
ーラントフィード及びリターンパイプ11は、支持チュ
ーブ9の中を伸び、それぞれが、螺旋状に巻かれた冷却
ダクト5に通じている。支持板10の背後では、クーラ
ントリターンチューブ11には、あらゆる熱膨張に適応
できるよう、ループ12が具備される。リード線30
は、加熱要素7から支持チューブ9の中を伸びて、電気
コネクタ14に至る。
部4にある孔15内で気化器の雰囲気の側に設置した熱
電対によってモニタされ、これは図2に最も良く示され
る。
み合わされる場合、固体の昇華のために要求されるより
もわずかに低い温度に、チャンバ2内の固体のソースを
維持するように、ヒータ要素7に供給される電流が考慮
される。この種のイオンビームが必要な場合、電力の供
給が昇華を生じさせ、またイオンソースアークチャンバ
に要求された蒸気流れを与えるのに十分なレベルの温度
を維持するよう、制御システムは、気化器温度を上げる
加熱要素7への電力を上昇させる。通常、加熱要素7
は、固定電源から間欠的に加熱電流によりエネルギーが
与えられ、要素7に供給される平均電力は、要素7がエ
ネルギーを与えられる時間の比率を増減することによっ
て制御される。
け迅速にアークチャンバから現時点の種を取り去ること
が好ましい。この時点で、ヒータ要素7への電力が切断
され、窒素等のクーラントガスが、螺旋状に巻かれた冷
却ダクト5に循環され、これにより固体の昇華を迅速に
停止させる。
れる場合は、少量のクーラントガスを冷却ダクト5の中
に供給しつつ、電流を加熱要素7に供給することができ
る。加熱要素7への加熱電流の印加の間に、坩堝1を強
制冷却することは、坩堝の熱負荷を増大する効果を有す
るので、比較的長時間にわたってエネルギーが与えられ
る加熱要素7を比較的低い温度に維持することができ
る。これにより、温度をよりスムーズに管理することが
できるので、気化器が低い温度で安定して運転できるよ
うになる。
に関して説明され、図1は、気化器の斜視図である。
である。
る。
素、8…グルーブ、10…ベースプレート、11…リタ
ーンパイプ。
Claims (7)
- 【請求項1】 アークチャンバのためにフィードガスを
発生させるための気化器であって、気化器は、 材料のソースを有するように配置される細長い坩堝と、 フィードガスを発生させるためにソースを加熱するヒー
タと、 冷却流体を受ける坩堝のほぼ全ての長さに沿って伸び材
料のソースを冷却するように配置される冷却ダクトとを
備える気化器。 - 【請求項2】 冷却ダクトが、坩堝に巻かれる請求項1
に記載の気化器。 - 【請求項3】 冷却ダクトが、螺旋状の構成で巻かれる
請求項2に記載の気化器。 - 【請求項4】 冷却ダクトと同じ螺旋ピッチにより螺旋
状に坩堝に巻かれるが軸方向にオフセットされる加熱要
素を、ヒータが有する請求項3に記載の気化器。 - 【請求項5】 アークチャンバと、アークチャンバにフ
ィードガスを供給するために接続される気化器とを備
え、イオンソースを有する半導体インプラント装置であ
って、気化器は、 材料のソースを有するように配置される細長い坩堝と、 フィードガスを発生させるためにソースを加熱するヒー
タと、 冷却流体を受ける坩堝のほぼ全ての長さに沿って伸び、
材料のソースを冷却するために配置される冷却ダクトと
を備えるインプラント装置。 - 【請求項6】 イオンソースのアークチャンバのため
に、フィードガスの生成を制御する方法であって、 a)アークチャンバに対して所望のフィードガスを発生
させるために加熱されることができる非気相の材料をあ
る量、坩堝内に提供するステップと、 b)前記所望のフィードガスが発生する温度に坩堝を加
熱して、発生したフィードガスをアークチャンバへ供給
するステップと、 c)前記加熱を休止して強制冷却を前記坩堝に適用させ
ることにより、前記所望のフィードガスの供給を停止す
るステップとを有する方法。 - 【請求項7】 坩堝に有する非ガス材料から、イオンソ
ースのアークチャンバのためのフィードガスを発生させ
るために、坩堝の温度を制御する方法であって、 a)前記フィードガスを発生させるために、坩堝を加熱
するための加熱電流を加熱要素に印加するステップと、 b)坩堝が所望の温度に前記加熱電流によって加熱され
るように、坩堝に同時にある量の強制冷却を適用するス
テップとを有する方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB0008286.7 | 2000-04-04 | ||
GBGB0008286.7A GB0008286D0 (en) | 2000-04-04 | 2000-04-04 | A vaporiser for generating feed gas for an arc chamber |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002100298A true JP2002100298A (ja) | 2002-04-05 |
Family
ID=9889191
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001106063A Pending JP2002100298A (ja) | 2000-04-04 | 2001-04-04 | アークチャンバ用フィードガス発生気化器 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US20010054384A1 (ja) |
JP (1) | JP2002100298A (ja) |
KR (2) | KR100855422B1 (ja) |
DE (1) | DE10115937A1 (ja) |
GB (2) | GB0008286D0 (ja) |
SG (1) | SG100652A1 (ja) |
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- 2001-04-04 JP JP2001106063A patent/JP2002100298A/ja active Pending
- 2001-04-04 KR KR1020010017973A patent/KR100855422B1/ko active IP Right Grant
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US20010054384A1 (en) | 2001-12-27 |
GB0107216D0 (en) | 2001-05-16 |
US7004234B2 (en) | 2006-02-28 |
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GB2361051A (en) | 2001-10-10 |
KR100857973B1 (ko) | 2008-09-10 |
GB2361051B (en) | 2004-01-28 |
KR100855422B1 (ko) | 2008-08-29 |
SG100652A1 (en) | 2003-12-26 |
KR20080019036A (ko) | 2008-02-29 |
KR20010095321A (ko) | 2001-11-03 |
DE10115937A1 (de) | 2001-10-18 |
US20030183172A1 (en) | 2003-10-02 |
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A621 | Written request for application examination |
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RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
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RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
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