JPH04134719A - 磁気記録媒体 - Google Patents
磁気記録媒体Info
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- JPH04134719A JPH04134719A JP25863290A JP25863290A JPH04134719A JP H04134719 A JPH04134719 A JP H04134719A JP 25863290 A JP25863290 A JP 25863290A JP 25863290 A JP25863290 A JP 25863290A JP H04134719 A JPH04134719 A JP H04134719A
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Landscapes
- Magnetic Record Carriers (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野]
本発明は磁気記録媒体に係り、詳しくは、高い保磁力を
有する面内記録用磁気記録媒体に関するものである。
有する面内記録用磁気記録媒体に関するものである。
〔従来の技術]
近年、コンピュータ等の情報処理技術の発達に伴い、そ
の外部記憶装置に用いられる磁気ディスクなどの磁気記
録媒体に対し、高密度記録化への要求がますます高めら
れている。
の外部記憶装置に用いられる磁気ディスクなどの磁気記
録媒体に対し、高密度記録化への要求がますます高めら
れている。
現在、面内記録用磁気ディスクに用いられる磁気記録媒
体の磁性層としては、スパッタリング等によりCr下地
薄膜上に、エピタキシャル的に成膜されたCo系合金薄
膜が主流となってきている。
体の磁性層としては、スパッタリング等によりCr下地
薄膜上に、エピタキシャル的に成膜されたCo系合金薄
膜が主流となってきている。
しかして、このCo系合金薄膜磁性層についても、高密
度記録化への要求に対し、磁気特性としてより高い保磁
力を付与することが必要とされており、従来より、その
特性についての報告が、数多くなされている。(例えば
、”New IOngitudinal reco
rding mediaCox Niy Crz
from highrate 5tatic
magnetronsputtering sys
tem 、IEEE Trans、Magn、Ma
g−22,No、5゜(1986)、334.特開昭6
3−79233号公報;特開昭63−79968号公報
。)〔発明が解決しようとする課題〕 従来報告されているように、CO系合金薄膜磁性層の保
磁力は、Cr下地薄膜の膜厚とともに増大する。しかし
ながら、ある上限値を超えると飽和特性を示し、それ以
上の高保磁力化は困難である。例えば、特開昭63−7
9968号公報には、Cr下地薄膜の膜厚が1500Å
以上では磁性層の保磁力がそれ以上上昇しない飽和傾向
が認められ、それ以下では磁性層の保磁力が著しく低下
し、実用上問題があることが示されている。
度記録化への要求に対し、磁気特性としてより高い保磁
力を付与することが必要とされており、従来より、その
特性についての報告が、数多くなされている。(例えば
、”New IOngitudinal reco
rding mediaCox Niy Crz
from highrate 5tatic
magnetronsputtering sys
tem 、IEEE Trans、Magn、Ma
g−22,No、5゜(1986)、334.特開昭6
3−79233号公報;特開昭63−79968号公報
。)〔発明が解決しようとする課題〕 従来報告されているように、CO系合金薄膜磁性層の保
磁力は、Cr下地薄膜の膜厚とともに増大する。しかし
ながら、ある上限値を超えると飽和特性を示し、それ以
上の高保磁力化は困難である。例えば、特開昭63−7
9968号公報には、Cr下地薄膜の膜厚が1500Å
以上では磁性層の保磁力がそれ以上上昇しない飽和傾向
が認められ、それ以下では磁性層の保磁力が著しく低下
し、実用上問題があることが示されている。
また、この保磁力は、Co系合金薄膜の膜厚の低減によ
り増加する。しかしながら、膜厚の低減は再生出力値の
低下につながるため、実用上、所定の膜厚以下に薄くす
ることは困難である。更に、磁性層の成膜時における成
膜ガス圧力、基板温度などのスパッタ条件の選択により
、ある程度の保磁力の向上は可能であるが、その向上効
果は小さいものである。
り増加する。しかしながら、膜厚の低減は再生出力値の
低下につながるため、実用上、所定の膜厚以下に薄くす
ることは困難である。更に、磁性層の成膜時における成
膜ガス圧力、基板温度などのスパッタ条件の選択により
、ある程度の保磁力の向上は可能であるが、その向上効
果は小さいものである。
また、上記磁性層の保磁力を向上させる方法として、C
O系合金にPtを添加したCo−Pt系合金を用いるこ
とが種々提案されており(例えば、特開昭59−888
06号公報、同61−142524号公報、同63−1
87614号公報等)、その保磁力は約15000e程
度まで増加しているが、今だ充分とは言いがたい。
O系合金にPtを添加したCo−Pt系合金を用いるこ
とが種々提案されており(例えば、特開昭59−888
06号公報、同61−142524号公報、同63−1
87614号公報等)、その保磁力は約15000e程
度まで増加しているが、今だ充分とは言いがたい。
[課題を解決するための手段]
本発明者等は上記従来技術の状況に鑑み、磁気記録媒体
の保磁力を更に向上させるべく鋭意検討を重ねた結果、
ターゲットの外周部近傍に中間電極を設け、該中間電極
に基板並びにスパッタリング装置本体の接地部に対して
正の電位を印加しながら特定の合金磁性層を基板上にス
パッタリングによって形成することにより、磁気記録媒
体の保磁力が著しく向上することを見出し、本発明を完
成するに至った。
の保磁力を更に向上させるべく鋭意検討を重ねた結果、
ターゲットの外周部近傍に中間電極を設け、該中間電極
に基板並びにスパッタリング装置本体の接地部に対して
正の電位を印加しながら特定の合金磁性層を基板上にス
パッタリングによって形成することにより、磁気記録媒
体の保磁力が著しく向上することを見出し、本発明を完
成するに至った。
即ち、本発明の要旨は非磁性基板上に磁性層がスパッタ
リングにより形成されてなる磁気記録媒体において、コ
バルトを主成分としクロムを5〜20原子%、タンタル
をO〜8原子%及び白金を1〜20原子%含有する合金
磁性層がターゲットの外周部近傍に設けた中間電極に該
基板及びスパッタリング装置本体の接地部に対し、正の
電位を印加した状態で形成されたものであることを特徴
とする磁気記録媒体、に存する。
リングにより形成されてなる磁気記録媒体において、コ
バルトを主成分としクロムを5〜20原子%、タンタル
をO〜8原子%及び白金を1〜20原子%含有する合金
磁性層がターゲットの外周部近傍に設けた中間電極に該
基板及びスパッタリング装置本体の接地部に対し、正の
電位を印加した状態で形成されたものであることを特徴
とする磁気記録媒体、に存する。
以下に本発明につき更に詳細に説明する。
本発明の磁気記録媒体は、非磁性基板上に磁性層がスパ
ッタリングにより形成されてなる磁気記録媒体において
、コバルトを主成分としクロムを5〜20原子%、タン
タルをO〜8原子%、及び白金を1〜20原子%含有す
る合金磁性層が、ターゲットの外周部近傍に設けた中間
電極に該基板及びスパッタリング装置本体の接地部に対
し正の電位を印加した状態で形成されたものであること
を特徴とする。
ッタリングにより形成されてなる磁気記録媒体において
、コバルトを主成分としクロムを5〜20原子%、タン
タルをO〜8原子%、及び白金を1〜20原子%含有す
る合金磁性層が、ターゲットの外周部近傍に設けた中間
電極に該基板及びスパッタリング装置本体の接地部に対
し正の電位を印加した状態で形成されたものであること
を特徴とする。
本発明に用いられる非磁性基板としては特に制限はない
が、一般に金属、特にアルミニウム合金のディスク状基
板が用いられ、通常、アルミニウム合金基板を所定の条
件に加工したものに、第1次下地層として硬質非磁性層
、例えばN1−P層を無電解メツキ法により形成し、そ
の表面を鏡面研磨したものが用いられる。また、これに
第2次下地層としてCrを主成分とする下地層(以下、
rcr下地層」と称することがある。)をスパッタリン
グにより形成したものは面内記録用に好適に用いられる
。
が、一般に金属、特にアルミニウム合金のディスク状基
板が用いられ、通常、アルミニウム合金基板を所定の条
件に加工したものに、第1次下地層として硬質非磁性層
、例えばN1−P層を無電解メツキ法により形成し、そ
の表面を鏡面研磨したものが用いられる。また、これに
第2次下地層としてCrを主成分とする下地層(以下、
rcr下地層」と称することがある。)をスパッタリン
グにより形成したものは面内記録用に好適に用いられる
。
Cr下地層を形成するスパッタリング条件としては特に
制限はなく、通常のCr系下地層を形成する際に採用さ
れるスパッタリング条件を採用することができる。その
際、基板に負のバイアス電位を印加しても印加しなくて
もよいが、印加した場合は磁気特性が多少向上する。C
r下地層はCrを主体とするものであれば良く、Crの
結晶性を損なわない限りCr以外の元素を数%含んでい
てもよい。Cr下地層の膜厚としては通常10〜300
0人、中でも50〜2000人の範囲が好適である。
制限はなく、通常のCr系下地層を形成する際に採用さ
れるスパッタリング条件を採用することができる。その
際、基板に負のバイアス電位を印加しても印加しなくて
もよいが、印加した場合は磁気特性が多少向上する。C
r下地層はCrを主体とするものであれば良く、Crの
結晶性を損なわない限りCr以外の元素を数%含んでい
てもよい。Cr下地層の膜厚としては通常10〜300
0人、中でも50〜2000人の範囲が好適である。
本発明において、合金磁性層は、コバルトを主成分とし
クロムを5〜20原子%、タンタルを0〜8原子%、及
び白金を1〜20原子%含有し、ターゲットの外周部近
傍に設けた中間電極に該基板及びスパッタリング装置本
体の接地部に対し正の電位を印加した状態で形成される
。
クロムを5〜20原子%、タンタルを0〜8原子%、及
び白金を1〜20原子%含有し、ターゲットの外周部近
傍に設けた中間電極に該基板及びスパッタリング装置本
体の接地部に対し正の電位を印加した状態で形成される
。
以下にこの磁性層の形成方法につき、図面を参照して詳
細に説明する。
細に説明する。
第1図は本発明の磁気記録媒体の磁性層形成に用いられ
るスパッタリング装置の一例を示す概略構成図である。
るスパッタリング装置の一例を示す概略構成図である。
図中、■はターゲットであり、これに対向した位置に基
板ホルダー2が設けられており、基板ホルダー2上には
基板3が装着されている。基板ホルダー2は基板3を連
続的に成膜できるように移動可能とされている。このタ
ーゲット1と基板2との間のスパッター放電空間を取り
囲む形で、詳しくはターゲット1の外周部近傍に、好ま
しくはターゲット1のスパッターエロージョン端部の外
周部の少なくとも1/2を取り囲む形状の中間電極4が
設置されている。5はターゲット1と中間電極4に接続
されるスパッタリング用電源である。6はスパッタリン
グ装置本体の接地部と中間電極4に接続される中間電極
用電源である。7はターゲット1のスパッターエロージ
ョン部を示す。
板ホルダー2が設けられており、基板ホルダー2上には
基板3が装着されている。基板ホルダー2は基板3を連
続的に成膜できるように移動可能とされている。このタ
ーゲット1と基板2との間のスパッター放電空間を取り
囲む形で、詳しくはターゲット1の外周部近傍に、好ま
しくはターゲット1のスパッターエロージョン端部の外
周部の少なくとも1/2を取り囲む形状の中間電極4が
設置されている。5はターゲット1と中間電極4に接続
されるスパッタリング用電源である。6はスパッタリン
グ装置本体の接地部と中間電極4に接続される中間電極
用電源である。7はターゲット1のスパッターエロージ
ョン部を示す。
これらスパッタリング川霧a5及び中間電極用電源6と
しては直流電源が好ましいが、RF電源も使用できる。
しては直流電源が好ましいが、RF電源も使用できる。
スパッタ装置としては、通常のDCマグネトロンススパ
ッタ置又はRFマグネトロンスパッタ芸装等が採用され
る。
ッタ置又はRFマグネトロンスパッタ芸装等が採用され
る。
第2図は第1図のスパッタリング装置の詳細図である。
8はマグネトロン用磁石、9はDCマグネトロンの陰極
、10はスパッタリング装置本体、11はスパッタリン
グ装置本体10の接地部である。
、10はスパッタリング装置本体、11はスパッタリン
グ装置本体10の接地部である。
第3図は中間電極4の位置及び形状の例を示す断面図の
一部であり、(A)〜(F)はすべてターゲット1のス
パンターエロージョン端部の外周部の少なくとも1/2
以上を取り囲む形状とされている。
一部であり、(A)〜(F)はすべてターゲット1のス
パンターエロージョン端部の外周部の少なくとも1/2
以上を取り囲む形状とされている。
該中間電極4はターゲット表面を基準として基板方向に
ターゲット表面と基板との距離の1/3、好ましくは1
/4の距離離れた位置からターゲット表面を基準にして
基板と反対方向に30胴、好ましくは20mm離れた位
置までの範囲内に少なくともその一部が設けられ、かつ
、ターゲットの平面方向に対し、ターゲットのスパンタ
ーエロージョン端部の外周部から該外周部を基準にして
ターゲットの外周方向に200mm好ましくは150m
m、さらに好ましくは120fl離れた位置までの範囲
内に、ターゲットのスパッターエロージョン端部の外周
部の少なくとも1/2、好ましくはターゲットの外周部
の全部を取り囲む形で設けられていることが好ましい。
ターゲット表面と基板との距離の1/3、好ましくは1
/4の距離離れた位置からターゲット表面を基準にして
基板と反対方向に30胴、好ましくは20mm離れた位
置までの範囲内に少なくともその一部が設けられ、かつ
、ターゲットの平面方向に対し、ターゲットのスパンタ
ーエロージョン端部の外周部から該外周部を基準にして
ターゲットの外周方向に200mm好ましくは150m
m、さらに好ましくは120fl離れた位置までの範囲
内に、ターゲットのスパッターエロージョン端部の外周
部の少なくとも1/2、好ましくはターゲットの外周部
の全部を取り囲む形で設けられていることが好ましい。
該中間電極は特にターゲット表面を基準として基板方向
に30mmの位置からターゲット表面を基準にして基板
と反対方向に20閣の位置までの間に、且つ、ターゲッ
トの外周部から該外周部を基準にして外側方向に120
mmまでの範囲内でターゲットの外周部の全部を取り囲
む形で設けられているのが好適である。
に30mmの位置からターゲット表面を基準にして基板
と反対方向に20閣の位置までの間に、且つ、ターゲッ
トの外周部から該外周部を基準にして外側方向に120
mmまでの範囲内でターゲットの外周部の全部を取り囲
む形で設けられているのが好適である。
上記中間電極4の位置が上記範囲外では磁気記録媒体の
保磁力の向上効果が小さくなるので望ましくない。
保磁力の向上効果が小さくなるので望ましくない。
また、中間電極4の形状は通常、ターゲットの外周部を
少なくとも1/2取り囲む形状、例えば、リング状、筒
状、板状等が用いられる。該中間電極がターゲットlの
外周部を1/2未満取り囲んでいる場合には保磁力の向
上効果が小さくなるので望ましくない。
少なくとも1/2取り囲む形状、例えば、リング状、筒
状、板状等が用いられる。該中間電極がターゲットlの
外周部を1/2未満取り囲んでいる場合には保磁力の向
上効果が小さくなるので望ましくない。
さらに中間電極の材質としては通常、ステンレス、アル
ミニウム、銅等の金属が用いられる。ターゲットのスパ
ッターエロージョン端部とは、ターゲット表面をスパフ
タリングした際、ターゲツト材がスパッターされる領域
(スパッターエロージョン部)とスパッターされない領
域との境界線が形成されるが、この境界線のことをいう
。本明細書ではこの境界線の外周部をターゲットのスパ
ッターエロージョン端部の外周部と定義する。平板ター
ゲットの場合にはスパンターエロージョン部は内周部と
外周部とを有するリング状形状を形成し、この外周部を
スパッターエロージョン端部の外周部と呼ぶ、スパッタ
ーエロージョン端部はターゲットの大きさ及びマグネト
ロン用磁石の配置によりその位置が決定される。また、
ターゲット表面をシールド板で覆ったスパンター装置の
場合にはそのシールド板の大きさによってそのスパッタ
ーエロージョン端部の位置が決定される。
ミニウム、銅等の金属が用いられる。ターゲットのスパ
ッターエロージョン端部とは、ターゲット表面をスパフ
タリングした際、ターゲツト材がスパッターされる領域
(スパッターエロージョン部)とスパッターされない領
域との境界線が形成されるが、この境界線のことをいう
。本明細書ではこの境界線の外周部をターゲットのスパ
ッターエロージョン端部の外周部と定義する。平板ター
ゲットの場合にはスパンターエロージョン部は内周部と
外周部とを有するリング状形状を形成し、この外周部を
スパッターエロージョン端部の外周部と呼ぶ、スパッタ
ーエロージョン端部はターゲットの大きさ及びマグネト
ロン用磁石の配置によりその位置が決定される。また、
ターゲット表面をシールド板で覆ったスパンター装置の
場合にはそのシールド板の大きさによってそのスパッタ
ーエロージョン端部の位置が決定される。
上記磁性層は、Crが5〜20原子%、Taが0〜8原
子%、好ましくは1〜5原子%、Ptが1〜20原子%
及び、残部がCoからなる組成のものである。該Cr含
有量が下限未満では保磁力が著しく低下し、また、上限
より多いと飽和磁化が著しく低下し、十分な記録再生出
力が得られない。
子%、好ましくは1〜5原子%、Ptが1〜20原子%
及び、残部がCoからなる組成のものである。該Cr含
有量が下限未満では保磁力が著しく低下し、また、上限
より多いと飽和磁化が著しく低下し、十分な記録再生出
力が得られない。
また、該Ta含有量が上限より多いと飽和磁化及び保磁
力が著しく低下するので好ましくない。
力が著しく低下するので好ましくない。
更に、該Pt含有量が下限未満では保磁力が著しく低下
し、また、上限より多いと逆に保磁力が著しく低下する
と共に、ターゲットコストも高くなるので工業的でない
。ターゲット1としては上記磁性薄膜層の組成と同じ組
成のCo−Cr−Ta−Pt合金が好適に用いられる。
し、また、上限より多いと逆に保磁力が著しく低下する
と共に、ターゲットコストも高くなるので工業的でない
。ターゲット1としては上記磁性薄膜層の組成と同じ組
成のCo−Cr−Ta−Pt合金が好適に用いられる。
第1図に示すスパッタリング装置を用いて、本発明の方
法に従って、磁気記録媒体を製造するには、例えばまず
、上述の如き基板3を装置の基板ホルダー2に取り付け
、前記Co−Cr−Ta−Pt合金のターゲット1を用
いて、アルゴン(Ar)等の希ガスの存在下でスパッタ
リングを行なうが、この際、中間電極4に、基板3並び
にスパッタリング装置本体の接地部に対して正の電位、
例えば、50V以上、好ましくは50〜500■、更に
好ましくは100〜400■の電位を印加した状態でス
パッタリングを行ない、基板3上に上記合金磁性層を形
成する。
法に従って、磁気記録媒体を製造するには、例えばまず
、上述の如き基板3を装置の基板ホルダー2に取り付け
、前記Co−Cr−Ta−Pt合金のターゲット1を用
いて、アルゴン(Ar)等の希ガスの存在下でスパッタ
リングを行なうが、この際、中間電極4に、基板3並び
にスパッタリング装置本体の接地部に対して正の電位、
例えば、50V以上、好ましくは50〜500■、更に
好ましくは100〜400■の電位を印加した状態でス
パッタリングを行ない、基板3上に上記合金磁性層を形
成する。
本発明において、スパッタリング条件としては、通常、
磁気記録媒体の磁性層を形成させる際に採用される条件
を採用することができる。例えば、真空排気したチャン
バー内圧力をI X 10−’Torr以下、Ar等の
希ガス圧力を0.5X10−3〜2×10−2Torr
、望ましくはI X 10−’ 〜5 X 10−”T
orrの範囲で、基板温度を150℃以上、望ましくは
200〜300℃の範囲の条件下でスパッタリングを実
施することができる。
磁気記録媒体の磁性層を形成させる際に採用される条件
を採用することができる。例えば、真空排気したチャン
バー内圧力をI X 10−’Torr以下、Ar等の
希ガス圧力を0.5X10−3〜2×10−2Torr
、望ましくはI X 10−’ 〜5 X 10−”T
orrの範囲で、基板温度を150℃以上、望ましくは
200〜300℃の範囲の条件下でスパッタリングを実
施することができる。
このようなスパッタリングにより形成する磁性合金薄膜
層の膜厚は、残留磁性密度(Br)と合金磁性層の膜厚
(1)との積(Br−t)が2゜O〜700G・μm、
中でも300〜600G・μmとなるような膜厚とする
のが好ましい。
層の膜厚は、残留磁性密度(Br)と合金磁性層の膜厚
(1)との積(Br−t)が2゜O〜700G・μm、
中でも300〜600G・μmとなるような膜厚とする
のが好ましい。
本発明においては、合金磁性層の組成及び中間電極の正
電位を制御することにより、著しく高い保磁力を有する
面内記録用の磁気記録媒体が得られる。
電位を制御することにより、著しく高い保磁力を有する
面内記録用の磁気記録媒体が得られる。
本発明の磁気記録媒体は、磁性層の上に更に必要に応じ
て炭素等の保護層及び/又は適宜の潤滑剤よりなる潤滑
層を形成してもよい。
て炭素等の保護層及び/又は適宜の潤滑剤よりなる潤滑
層を形成してもよい。
以下に実施例及び比較例を挙げて本発明をより具体的に
説明するが、本発明はその要旨を超えない限り、以下の
実施例に限定されるものではない。
説明するが、本発明はその要旨を超えない限り、以下の
実施例に限定されるものではない。
なお、以下の実施例及び比較例においては中間電極の位
置及び形状を特定するために第1図中にa −eの符号
を付して示した。bはターゲット外周部から中間電極ま
での距離を示しているが、以下の実施例及び比較例にお
いてはターゲットのスパッターエロージョン端部とター
ゲット外周部が同一部分であることによりbはターゲッ
トのスパッターエロージョン端部の外周部から中間電極
までの距離を示している。
置及び形状を特定するために第1図中にa −eの符号
を付して示した。bはターゲット外周部から中間電極ま
での距離を示しているが、以下の実施例及び比較例にお
いてはターゲットのスパッターエロージョン端部とター
ゲット外周部が同一部分であることによりbはターゲッ
トのスパッターエロージョン端部の外周部から中間電極
までの距離を示している。
なお、実施例に用いられた装置は基板ホルダー2がスパ
ッタリング装置本体10を経由して接地されている。
ッタリング装置本体10を経由して接地されている。
実施例1〜5及び比較例1〜3
アルミニウム基板表面に無電解めっきにより非磁性N1
−P層を形成し下地層としてCr層(M厚1000人)
を形成したものを基板3として第1図及び第2図に示す
マグネトロンスパッタリング装置(中間電極4の位置及
び形状にっ°いて、第1図中、a=3mm、b=5+m
++Xc=71miSd=100ma+、e=83mで
あり、ターゲット外周部の全部を取囲む形状とした)に
装入し、Ptチップを適量室いた、Co−Cr又はCo
−Cr −Ta合金ターゲットlを用いて、中間電極4
に基板に対して第1表に示す正の電位を印加した状態で
且つ、Arガスの存在下にチャンバー内到達圧力I X
10−”Torr以下、アルゴンガス圧力2×10−
”Torr、基板温度250°Cの条件下でスパッタリ
ングを行ない、各基板上に第1表に示す組成の磁性層(
400G・μm)を形成した。得られた磁気記録媒体の
保磁力を試料振動型磁力計で測定した結果を第1表に示
す。
−P層を形成し下地層としてCr層(M厚1000人)
を形成したものを基板3として第1図及び第2図に示す
マグネトロンスパッタリング装置(中間電極4の位置及
び形状にっ°いて、第1図中、a=3mm、b=5+m
++Xc=71miSd=100ma+、e=83mで
あり、ターゲット外周部の全部を取囲む形状とした)に
装入し、Ptチップを適量室いた、Co−Cr又はCo
−Cr −Ta合金ターゲットlを用いて、中間電極4
に基板に対して第1表に示す正の電位を印加した状態で
且つ、Arガスの存在下にチャンバー内到達圧力I X
10−”Torr以下、アルゴンガス圧力2×10−
”Torr、基板温度250°Cの条件下でスパッタリ
ングを行ない、各基板上に第1表に示す組成の磁性層(
400G・μm)を形成した。得られた磁気記録媒体の
保磁力を試料振動型磁力計で測定した結果を第1表に示
す。
〔発明の効果]
本発明の磁気記録媒体は、以上詳述した特定の構成とす
ることにより、著しく高保磁力を有する高特性の磁気記
録媒体であり、工業的な利用価値が高い。
ることにより、著しく高保磁力を有する高特性の磁気記
録媒体であり、工業的な利用価値が高い。
第1図は、本発明の磁気記録媒体を得るのに好適なスパ
ッタリング装置の一例を示す概略構成図であり、第2図
はその詳細図である。図中、1はターゲット、2は基板
ホルダー 3は基板、4は中間電極、5はスパッタリン
グ用電源、6は中間電極用電源、7はターゲットlのス
パンターエロージョン部、8はマグネトロン用磁石、9
はDCマグネトロンの陰極、10はスパッタリング装置
本体、11はスパッタリング装置本体の接地部を示す。 第3図は、中間電極4の位置及び形状のその他の例を示
す断面図の一部である。 藁 巳 <A) CB> (C) CD) 一
ッタリング装置の一例を示す概略構成図であり、第2図
はその詳細図である。図中、1はターゲット、2は基板
ホルダー 3は基板、4は中間電極、5はスパッタリン
グ用電源、6は中間電極用電源、7はターゲットlのス
パンターエロージョン部、8はマグネトロン用磁石、9
はDCマグネトロンの陰極、10はスパッタリング装置
本体、11はスパッタリング装置本体の接地部を示す。 第3図は、中間電極4の位置及び形状のその他の例を示
す断面図の一部である。 藁 巳 <A) CB> (C) CD) 一
Claims (1)
- (1)非磁性基板上に磁性層がスパッタリングにより形
成されてなる磁気記録媒体において、コバルトを主成分
としクロムを5〜20原子%、タンタルを0〜8原子%
、及び白金を1〜20原子%含有する合金磁性層が、タ
ーゲットの外周部近傍に設けた中間電極に該基板及びス
パッタリング装置本体の接地部に対し正の電位を印加し
た状態で形成されたものであることを特徴とする磁気記
録媒体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25863290A JPH04134719A (ja) | 1990-09-27 | 1990-09-27 | 磁気記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25863290A JPH04134719A (ja) | 1990-09-27 | 1990-09-27 | 磁気記録媒体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04134719A true JPH04134719A (ja) | 1992-05-08 |
Family
ID=17322970
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP25863290A Pending JPH04134719A (ja) | 1990-09-27 | 1990-09-27 | 磁気記録媒体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04134719A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6398880B1 (en) * | 1996-11-29 | 2002-06-04 | Heraeus, Inc. | Magnetic data-storage targets and methods for preparation |
JP2004134078A (ja) * | 2002-10-14 | 2004-04-30 | Korea Advanced Inst Of Science & Technol | 均一な局所領域の保磁力分布と微細な結晶粒及び均一な結晶粒径分布を持った高密度磁気記録媒体及びその製造方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01256017A (ja) * | 1988-04-04 | 1989-10-12 | Victor Co Of Japan Ltd | 磁気記録媒体 |
JPH02126424A (ja) * | 1988-07-15 | 1990-05-15 | Mitsubishi Kasei Corp | 磁気記録媒体の製造方法 |
-
1990
- 1990-09-27 JP JP25863290A patent/JPH04134719A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01256017A (ja) * | 1988-04-04 | 1989-10-12 | Victor Co Of Japan Ltd | 磁気記録媒体 |
JPH02126424A (ja) * | 1988-07-15 | 1990-05-15 | Mitsubishi Kasei Corp | 磁気記録媒体の製造方法 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6398880B1 (en) * | 1996-11-29 | 2002-06-04 | Heraeus, Inc. | Magnetic data-storage targets and methods for preparation |
JP2004134078A (ja) * | 2002-10-14 | 2004-04-30 | Korea Advanced Inst Of Science & Technol | 均一な局所領域の保磁力分布と微細な結晶粒及び均一な結晶粒径分布を持った高密度磁気記録媒体及びその製造方法 |
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