JPH0411952B2 - - Google Patents

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Publication number
JPH0411952B2
JPH0411952B2 JP3099582A JP3099582A JPH0411952B2 JP H0411952 B2 JPH0411952 B2 JP H0411952B2 JP 3099582 A JP3099582 A JP 3099582A JP 3099582 A JP3099582 A JP 3099582A JP H0411952 B2 JPH0411952 B2 JP H0411952B2
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JP
Japan
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case
lower cases
disk
cases
detection test
Prior art date
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Expired
Application number
JP3099582A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS58147869A (ja
Inventor
Tomizo Taniguchi
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Maxell Ltd
Original Assignee
Hitachi Maxell Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Maxell Ltd filed Critical Hitachi Maxell Ltd
Priority to JP3099582A priority Critical patent/JPS58147869A/ja
Publication of JPS58147869A publication Critical patent/JPS58147869A/ja
Publication of JPH0411952B2 publication Critical patent/JPH0411952B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B23/00Record carriers not specific to the method of recording or reproducing; Accessories, e.g. containers, specially adapted for co-operation with the recording or reproducing apparatus ; Intermediate mediums; Apparatus or processes specially adapted for their manufacture
    • G11B23/02Containers; Storing means both adapted to cooperate with the recording or reproducing means
    • G11B23/03Containers for flat record carriers

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は上下に2分割された両ケースを合体
化してケース本体を構成したデイスクカートリツ
ジに関するものである。
一般に、この種カートリツジにおいては、磁気
デイスクのドロツプアウト検出試験を実質的な組
立完了状態で行なう必要がある。これに対応して
従来では、上ケースと下ケースとを超音波融着手
段などで完全結着させたのち、上記ドロツプアウ
ト検出試験に供している。
ところが、上記試験で不合格と判定されたもの
は、上ケースと下ケースとが完全結着されている
から、不良の磁気デイスクとともに上記両ケース
も一緒に廃棄処分せざるを得ず、省資源化に逆行
するのみならず、製造コストの上昇も余儀なくさ
れている。
したがつて、この発明は、上下両ケースを仮結
合させてドロツプアウト検出試験を行ない、しか
る後に上下両ケースを完全結着させるようにし
て、生産性の向上に寄与し得るデイスクカートリ
ツジの製造方法を提供することを目的としてい
る。
以下、この発明の一実施例を図面にしたがつて
説明する。
第1図はこの発明の製造方法によつて得られた
デイスクカートリツジの一例を示すものである。
同図において、1は合成樹脂製のケース本体
で、このケース本体1は2分割された上ケース2
および下ケース3からなる。これら上下ケース
2,3は各周壁4,5を突き合わせた状態で、た
とえば超音波融着手段で合体される。6,7は上
記上下ケース2,3は各周壁4,5に設けられた
合体用の複数個の融着部であり、たとえば下ケー
ス3の融着部7はピン状突起で構成され、またこ
れに対応する上ケース2の融着部6は凹入部で構
成されている。
上記ケース本体1の前部寄りには、記録再生装
置(図示せず)の駆動軸(図示せず)の侵入を妨
げない透孔9,9が上下ケース2,3に形成され
ている。10は上記透孔9と同心状に位置して上
記ケース本体1内に収納されたシート状の磁気デ
イスク、11,12は合成樹脂製の上下1対のハ
ブであり、互に接合されて上記磁気デイスク10
を挾持するとともに、上記透孔9に回転自在に嵌
装されている。13は上記下ハブ12に形成され
た駆動軸挿通孔である。
14,15はケース本体1の前部側(第1図右
側)に位置して上記デイスク設定領域に形成され
た磁気ヘツド挿入窓であり、上記デイスク10の
半径方向(第1図矢印a方向)へ移動する磁気ヘ
ツドHの上記移動を妨げない長孔で構成されてい
る。16,17は上下ケース2,3における各駆
動軸侵入孔9と同心状に形成された環状壁、1
8,19は上記上下ケース2,3における各磁気
ヘツド挿入窓14,15を開閉可能に閉塞するシ
ヤツタ部材である。これらシヤツタ部材18,1
9は、図示しないスライダを介して外部操作され
るようになつている。
上記上下ケース2,3の前部側には、ケース幅
方向(第1図紙面表裏方向)の両端2個所に、第
2図A,Bに示すように互に圧入嵌合されて第1
および第2の位置決め手段を構成する凹および凸
部20,21がそれぞれ形成されている。
22,23はケース本体1の後部側において、
上下ケース2,3に形成されて互に圧入嵌合する
第3の位置決め用の凹および凸部であり、上記第
1および第2の位置決め手段とともに、上下両ケ
ース2,3の仮結合手段24も兼務している。
つぎに、上記構成のデイスクカートリツジの製
造方法について説明する。
まず、シヤツタ部材18,19を上下両ケース
2,3の各環状壁16,17に嵌合してそれらの
抜け止めを行ない、これらシヤツタ部材18,1
9とこのシヤツタ部材を外部より移動操作するた
めのスライダと連結させる。
一方、磁気デイスク10を上下1対のハブ1
1,12間に挾持させてから、このハブブロツク
を下ケース3の透孔の内縁に嵌合設置する。
ついで、第1および第2の位置決め用の凹およ
び凸部20(20),21(21)をそれぞれ圧
入嵌合し、さらに第3の凹および凸部22,23
を圧入嵌合して上下両ケース2,3を互に位置決
めさせる。さらに、上記各位置決め手段が圧入嵌
合構造で仮結合手段24も兼務しているため、上
記両ケース2,3は位置決められた状態で互に仮
結合されることになる。つまり、この仮結合状態
において、磁気デイスク10に対するドロツプア
ウト検出試験を行なう。
上記ドロツプアウト検出試験で合格と判定され
たものは、そのままケース合体化工程に送られ
る。つまり、合体化工程では、上下両ケース2,
3の合体用の融着部6,7に対して、上ケース2
を下ケース3に押圧させる状態で、超音波を印加
し、これにより上記融着部6,7を互に溶着させ
る。勿論、合体化手段は融着手段に限られるもの
ではない。
他方、上記ドロツプアウト検出試験で不合格と
判定されたものは、上下両ケース2,3の仮結合
関係を解除してから、当該磁気デイスク10のみ
を交換し、再度上記試験に供し、合格すれば上述
のケース合体化工程に送られる。つまり、ドロツ
プアウト検出試験を上下両ケース2,3の仮結合
状態で行なうことにより、不合格と判定されたも
のに対しても、直ちにケースごと廃棄する必要が
なくなり、生産性が上ることになる。
上下両ケース2,3の仮結合手段24は、上記
のように第1〜第3の位置決め手段20〜23を
利用した構成に限られない。つまり、第1〜第3
の位置決め手段20〜23とは別に上下両ケース
2,3に形成したものであつてもよい。
また、上記仮結合手段は、上下両ケース2,3
に形成したものに限らず、別途用意された保持部
材や治具であつてもよい。
たとえば、第3図に示すように合体化された上
下両ケース2,3の後部1bに袋状カバー30を
嵌合させて仮結合させたり、あるいは第4図のよ
うに、上下両ケース2,3の後部1bにおけるラ
ベル貼着凹所41,42にコ字形のクリツプ40
を装着させる方法がある。後者の場合は、ラベル
貼着凹所41,42の前後方向(矢印a方向)の
内壁面41aと左右方向(矢印b方向)の内壁面
41bに、上記クリツプ40の対向片400,401の
各前端縁40aおよび側端縁40bが突き合わさ
れるため、このクリツプ40の装着状態で上下両
ケース2,3の上記前後方向と左右方向の各位置
決めがなされる利点がある。
さらに、仮結合手段としては、位置規制の必要
なデイスクカートリツジの前部、たとえば第1お
よび第2の位置決め手段20,21のみを超音波
で溶着し、デイスクカートリツジの後部は開放可
能な状態としたものであつてもよい。このように
カートリツジの前部のみを溶着した状態でドロツ
プアウト検出試験を行なつた後、合格と判定され
たものは後部も超音波溶着して完全結着し、製品
とし、不合格と判定された場合には後部を押し広
げて開放し磁気デイスク10を交換すればよい。
また、この発明による製造方法は磁気デイスク
を収納したデイスクカートリツジに限らず、光デ
イスクを収納したデイスクカートリツジにおいて
は有効に使用できることは言うまでもない。
以上のように、この発明にしたがえば、上下両
ケースを完全結着するに先立つて仮結合させてか
ら、ドロツプアウト検出試験を行ない、合格した
ものの上下両ケースのみを完全結着させるように
したから、不良磁気デイスクをケース共々廃棄す
る必要がなくなり、省資源化と生産性の向上を図
ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の製造方法によつて得られた
デイスクカートリツジの一例を示す縦断面図、第
2図A,Bはそれぞれ位置決め用凹および凸部を
示す圧入嵌着前および嵌着後の断面図、第3図は
上下両ケースの仮結合手段の変形例を示す分解斜
視図、第4図は同仮結合手段の他の変形例を示す
分解斜視図である。 1……ケース本体、2……上ケース、3……下
ケース、6,7……完全結着手段、10……磁気
デイスク、24,30,40……仮結合手段。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 上下に2分割されたケースを合体化してケー
    ス本体を構成するデイスクカートリツジの製造方
    法において、デイスク組み込み後における上下両
    ケースを仮結合した後、上記デイスクに対するド
    ロツプアウト検出試験を行ない、この試験で合格
    されたものに対してのみ、上下両ケースを完全に
    粘着することを特徴とするデイスクカートリツジ
    の製造方法。
JP3099582A 1982-02-26 1982-02-26 デイスクカ−トリツジの製造方法 Granted JPS58147869A (ja)

Priority Applications (1)

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JP3099582A JPS58147869A (ja) 1982-02-26 1982-02-26 デイスクカ−トリツジの製造方法

Applications Claiming Priority (1)

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JP3099582A JPS58147869A (ja) 1982-02-26 1982-02-26 デイスクカ−トリツジの製造方法

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4384689A Division JPH01287881A (ja) 1989-02-25 1989-02-25 デイスクカートリツジ
JP4384789A Division JPH01287882A (ja) 1989-02-25 1989-02-25 ディスクカートリッジの製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS58147869A JPS58147869A (ja) 1983-09-02
JPH0411952B2 true JPH0411952B2 (ja) 1992-03-03

Family

ID=12319178

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Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6176571U (ja) * 1984-10-24 1986-05-23
JPS6242171U (ja) * 1985-08-30 1987-03-13
JPS6331080A (ja) * 1986-07-24 1988-02-09 Hitachi Electronics Eng Co Ltd 記録媒体検査装置
JPS6331081A (ja) * 1986-07-24 1988-02-09 Hitachi Electronics Eng Co Ltd 記録媒体検査装置
JPS6334782A (ja) * 1986-07-29 1988-02-15 Hitachi Electronics Eng Co Ltd 記録媒体検査装置
JPH0380583U (ja) * 1989-12-02 1991-08-19

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JPS58147869A (ja) 1983-09-02

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