JPH038763A - 電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物およびバリスタの製造方法 - Google Patents
電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物およびバリスタの製造方法Info
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- JPH038763A JPH038763A JP1143725A JP14372589A JPH038763A JP H038763 A JPH038763 A JP H038763A JP 1143725 A JP1143725 A JP 1143725A JP 14372589 A JP14372589 A JP 14372589A JP H038763 A JPH038763 A JP H038763A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は電気機器、電子機器で発生する異常高電圧、ノ
イズ、静電気などから機器の半導体および回路を保護す
るためのコンデンサ特性とバリスタ特性を有する電圧依
存性非直線抵抗体磁器組成物およびバリスタの製造方法
に関するものである。
イズ、静電気などから機器の半導体および回路を保護す
るためのコンデンサ特性とバリスタ特性を有する電圧依
存性非直線抵抗体磁器組成物およびバリスタの製造方法
に関するものである。
従来の技術
従来、各種の電気機器、電子機器における異常高電圧の
吸収、ノイズの除去、火花消去、静電気対策のために電
圧依存性非直線抵抗特性を有するSiCバリスタや、Z
nO系バリスタなどが使用されている。このようなバリ
スタの電圧−電流特性は近似的に次式のように表すこ七
ができる。
吸収、ノイズの除去、火花消去、静電気対策のために電
圧依存性非直線抵抗特性を有するSiCバリスタや、Z
nO系バリスタなどが使用されている。このようなバリ
スタの電圧−電流特性は近似的に次式のように表すこ七
ができる。
1=(V/C)α
ここで、■は電流、■は電圧、Cはバリスタ固有の定数
、αは電圧−電流非直線指数である。
、αは電圧−電流非直線指数である。
SiCバリスタのαは2〜7程度、ZnO系バリスタで
はαが50にもおよぶものがある。このようなバリスタ
は比較的高い電圧の吸収には優れた性能を有しているが
、誘電率が低(、固有の静電容量が小さいため、バリス
タ電圧以下の比較的低い電圧の吸収にはほとんど効果を
示さず、また誘電損失tanδが5〜l○%と大きい。
はαが50にもおよぶものがある。このようなバリスタ
は比較的高い電圧の吸収には優れた性能を有しているが
、誘電率が低(、固有の静電容量が小さいため、バリス
タ電圧以下の比較的低い電圧の吸収にはほとんど効果を
示さず、また誘電損失tanδが5〜l○%と大きい。
一方、これらの低電圧のノイズなどの除去には見かけの
誘電率が5X104程度で、tanδが1%前後の半導
体コンデンサが利用されている。
誘電率が5X104程度で、tanδが1%前後の半導
体コンデンサが利用されている。
しかし、このような半導体コンデンサはサージなどによ
りある限度以上の電圧または電流が印加されると、静電
容量が減少したり、破壊されたりしてコンデンサとして
の機能を果たさなくなったりする。
りある限度以上の電圧または電流が印加されると、静電
容量が減少したり、破壊されたりしてコンデンサとして
の機能を果たさなくなったりする。
そこで最近になってSrTiO3を主成分とし、バリス
タ特性とコンデンサ特性の両方の機能を有するものが開
発され、コンピュータなどの電子機器におけるIC,L
SIなどの半導体素子の保護に利用されている。
タ特性とコンデンサ特性の両方の機能を有するものが開
発され、コンピュータなどの電子機器におけるIC,L
SIなどの半導体素子の保護に利用されている。
発明が解決しようとする課題
上記のSrTiO3を主成分とするバリスタとコンデン
サの両方の機能を有する素子は、ZnO系バリスタに比
べ誘電率が約10倍と大きいが、αやサージ耐量が小さ
く、バリスタ電圧を低くすると特性が劣化しやすいとい
った欠点を有していた。
サの両方の機能を有する素子は、ZnO系バリスタに比
べ誘電率が約10倍と大きいが、αやサージ耐量が小さ
く、バリスタ電圧を低くすると特性が劣化しやすいとい
った欠点を有していた。
そこで本発明では、誘電率が太き(、バリスタ電圧が低
(、αが大きいと共にサージ耐量が大きい電圧依存性非
直線抵抗体磁器組成物およびバリスタの製造方法を提供
することを目的とするものである。
(、αが大きいと共にサージ耐量が大きい電圧依存性非
直線抵抗体磁器組成物およびバリスタの製造方法を提供
することを目的とするものである。
課題を解決するための手段
上記の問題点を解決するために本発明では、S r 1
−xCaxT i○3 (0.001≦X≦0.300
) (以下第1成分と呼ぶ)を90.000〜99.
99.998mol%、Nb2O5,Ta205.WO
3,DY203゜Y2O3,La2O3,CeO2,S
m2O3,P r601Nd203のうち少なくとも1
種類以上(以下第2成分と呼ぶ)を0.001〜5.O
OOmo 1%。
−xCaxT i○3 (0.001≦X≦0.300
) (以下第1成分と呼ぶ)を90.000〜99.
99.998mol%、Nb2O5,Ta205.WO
3,DY203゜Y2O3,La2O3,CeO2,S
m2O3,P r601Nd203のうち少なくとも1
種類以上(以下第2成分と呼ぶ)を0.001〜5.O
OOmo 1%。
A I2O3,5b20z、Bad、Bed、p’bo
。
。
B2O3,Cr2O3,Fe2O3,CdO,に20゜
CaO,Co2031CuO,Cu2O,L i20゜
LiF、MgO,MnO2,MOO3,Na2O。
CaO,Co2031CuO,Cu2O,L i20゜
LiF、MgO,MnO2,MOO3,Na2O。
NaF、N i O,Rh20:+、5eo2.Ag2
O。
O。
SiO2,S i C,S ro、T 1203.Th
02゜T s O2T V 20s、B 1203.Z
nO,Z roz。
02゜T s O2T V 20s、B 1203.Z
nO,Z roz。
Sn○2のうち少なくとも1種類以上(以下第3成分と
呼ぶ)を0.001〜5.OOOmo 1%含有してな
る主成分100重量部と、M g T i O360.
000〜32.500mo 1%,SiO240、OO
O〜67.500mo 1%からなる混合物を1200
〜1300℃で焼成してなる添加物(以下第4成分と呼
ぶ)0.001〜10.000重量部とからなる電圧依
存性非直線抵抗体磁器組成物を得ることにより問題を解
決しようとするものである。
呼ぶ)を0.001〜5.OOOmo 1%含有してな
る主成分100重量部と、M g T i O360.
000〜32.500mo 1%,SiO240、OO
O〜67.500mo 1%からなる混合物を1200
〜1300℃で焼成してなる添加物(以下第4成分と呼
ぶ)0.001〜10.000重量部とからなる電圧依
存性非直線抵抗体磁器組成物を得ることにより問題を解
決しようとするものである。
また、上記組成物を1100℃以上で焼成するバリスタ
の製造方法、あるいは上記組成物を1100℃以上で焼
成した後、還元性雰囲気中で12000C以上で焼成し
、その後酸化性雰囲気中で900〜1300’Cで焼成
するバリスタの製造方法を提案するものである。
の製造方法、あるいは上記組成物を1100℃以上で焼
成した後、還元性雰囲気中で12000C以上で焼成し
、その後酸化性雰囲気中で900〜1300’Cで焼成
するバリスタの製造方法を提案するものである。
作用
上記の発明において第1成分は主たる成分であり、5r
Ti○3のSrの一部をCaで置換することにより、粒
界に形成される高抵抗層がサージに対して強くなる。次
に、第2成分は主に第1成分の半導体化を促進する金属
酸化物である。また、第3成分は誘電率、α、サージ耐
量の改善に寄与するものであり、第4成分はバリスタ電
圧の低下、誘電率の改善に有効なものである。特に、第
4成分は融点が1230〜1250℃と比較的低いため
、融点前後の温度で焼成すると液相となり、その他の成
分の反応を促進すると共に粒子の成長を促進する。その
ため粒界部分に第3成分が偏析しやす(なり、粒界が高
抵抗化され易くなり、バリスタ機能およびコンデンサ機
能が改善される。また、粒成長が促進されるためバリス
タ電圧が低くなり、粒径の均一性が向上するため特性の
安定性がよ(なり、特にサージ耐量が改善されることと
なる。
Ti○3のSrの一部をCaで置換することにより、粒
界に形成される高抵抗層がサージに対して強くなる。次
に、第2成分は主に第1成分の半導体化を促進する金属
酸化物である。また、第3成分は誘電率、α、サージ耐
量の改善に寄与するものであり、第4成分はバリスタ電
圧の低下、誘電率の改善に有効なものである。特に、第
4成分は融点が1230〜1250℃と比較的低いため
、融点前後の温度で焼成すると液相となり、その他の成
分の反応を促進すると共に粒子の成長を促進する。その
ため粒界部分に第3成分が偏析しやす(なり、粒界が高
抵抗化され易くなり、バリスタ機能およびコンデンサ機
能が改善される。また、粒成長が促進されるためバリス
タ電圧が低くなり、粒径の均一性が向上するため特性の
安定性がよ(なり、特にサージ耐量が改善されることと
なる。
実施例
以下に実施例を挙げて本発明を具体的に説明する。
まず、MgT i 03. S i 02を下記の第1
表に示すように組成比を種々変えて秤量し、ボールミル
などで20Hr混合する。次に、乾燥した後、下記の第
1表に示すように温度を種々変えて焼成し、再びボール
ミルなどで208 r粉砕した後、乾燥し、第4成分と
する。次いで、第1成分、第2成分、第3成分、第4成
分を下記の第1表に示した組成比になるように秤量し、
ボールミルなどで248 r混合した後、乾燥し、ポリ
ビニルアルコールなどの有機バインダーを10wt%添
加して造粒した後、1(t/cnf)のプレス圧力で1
0φXIt(M)の円板状に成形し、1000℃で10
Hr焼成し脱バインダーする。次に、第1表に示したよ
うに温度を種々変えて4Hr焼成(第1焼成)し、その
後還元性雰囲気、例えばN2:H2=9:1のガス中で
温度を種々変えて4Hr焼成(第2焼成)する。さらに
その後、酸化性雰囲気中で温度を種々変えて3Hr焼成
(第3焼成)する。
表に示すように組成比を種々変えて秤量し、ボールミル
などで20Hr混合する。次に、乾燥した後、下記の第
1表に示すように温度を種々変えて焼成し、再びボール
ミルなどで208 r粉砕した後、乾燥し、第4成分と
する。次いで、第1成分、第2成分、第3成分、第4成
分を下記の第1表に示した組成比になるように秤量し、
ボールミルなどで248 r混合した後、乾燥し、ポリ
ビニルアルコールなどの有機バインダーを10wt%添
加して造粒した後、1(t/cnf)のプレス圧力で1
0φXIt(M)の円板状に成形し、1000℃で10
Hr焼成し脱バインダーする。次に、第1表に示したよ
うに温度を種々変えて4Hr焼成(第1焼成)し、その
後還元性雰囲気、例えばN2:H2=9:1のガス中で
温度を種々変えて4Hr焼成(第2焼成)する。さらに
その後、酸化性雰囲気中で温度を種々変えて3Hr焼成
(第3焼成)する。
こうして得られた第1図および第2図に示す焼結体1の
開平面に外周を残すようにしてAgなどの導電性ペース
トをスクリーン印刷などにより塗布し、600’C,5
m1nで焼成し、電極2,3を形成する。次に、半田な
どによりリード線を取付け、エポキシなどの樹脂を塗装
する。このようにして得られた素子の特性を下記の第2
表に示す。
開平面に外周を残すようにしてAgなどの導電性ペース
トをスクリーン印刷などにより塗布し、600’C,5
m1nで焼成し、電極2,3を形成する。次に、半田な
どによりリード線を取付け、エポキシなどの樹脂を塗装
する。このようにして得られた素子の特性を下記の第2
表に示す。
なお、見掛は誘電率はIKHxでの静電容量から計算し
たものであり、αは α=1/Log (V+omA/V+mA)(ただし、
VlmA、VHmAは1mA、10mAの電流を流した
時に素子の両端にかかる電圧である。)で評価した。ま
た、サージ耐量はパルス性の電流を印加した後のV+m
Aの変化率が±10%以内である時の最大のパルス性電
流値により評価している。
たものであり、αは α=1/Log (V+omA/V+mA)(ただし、
VlmA、VHmAは1mA、10mAの電流を流した
時に素子の両端にかかる電圧である。)で評価した。ま
た、サージ耐量はパルス性の電流を印加した後のV+m
Aの変化率が±10%以内である時の最大のパルス性電
流値により評価している。
(以 下 余 白 )
また、第1成分のS r+−xCaxT i 03のX
の範囲を規定したのは、Xが0.001よりも小さいと
効果を示さず、一方0.300を越えると格子欠陥が発
生しに(くなるため半導体化が促進されず、粒界にCa
が単一相として析出するため組織が不均一になり、V+
mAが高くなりすぎて特性が劣化するためである。さら
に、第2成分は0.001mo 1%未満では効果を示
さず、5.000mol%を越えると粒界に偏析して粒
界の高抵抗化を抑制し、粒界に第2相を形成するため特
性が劣化するものである。また、第3成分は0.001
mol%未満では効果を示さず、5.OOOmo 1%
を越えると粒界に偏析して第2相を形成するため特性が
劣化するものである。また、第4成分はMgTiO3と
5i02 の2成分系の相図のなかでMgT i 0
3 60.000〜32.500mol%、S i(h
40.000〜67.500mol%の範囲内のも
のは最も融点の低い領域の物質であり、その範囲外では
融点が高くなるものである。また、第4成分の添加量は
、0.001重量部未満では効果を示さず、10.00
0重量部を赳えると粒界の抵抗は高くなるが粒界の幅が
厚くなるため、静電容量が小さくなると共にVmAが高
くなり、サージに対して弱くなるものである。また、第
4成分の焼成温度を規定したのは、低融点の第4成分が
合成される温度が1200℃以上であるためである。そ
して、第1焼成の温度を規定したのは、第4成分の融点
が1230〜1250℃であるため、1100℃以上の
温度で焼成すると第4成分が液相に近い状態になって焼
結が促進されるためであり、1100℃未満では第4成
分の液相焼結効果がないためである。また、第2焼成の
温度を規定したのは、1200℃未満では第1焼成後の
焼結体が十分に還元されず、バリスタ特性、コンデンサ
特性共に劣化するためである。さらに、第3焼成の温度
を規定したのは、900℃未満では粒界の高抵抗化が十
分に進まないため、V 1 m Aが低くなりすぎバリ
スタ特性が劣化するためであり、1300℃を越えると
静電容量が小さくなりすぎコンデンサ特性が劣化するた
めである。また、第1焼成の雰囲気は酸化性雰囲気でも
還元性雰囲気でも同様の効果があることを確認した。
の範囲を規定したのは、Xが0.001よりも小さいと
効果を示さず、一方0.300を越えると格子欠陥が発
生しに(くなるため半導体化が促進されず、粒界にCa
が単一相として析出するため組織が不均一になり、V+
mAが高くなりすぎて特性が劣化するためである。さら
に、第2成分は0.001mo 1%未満では効果を示
さず、5.000mol%を越えると粒界に偏析して粒
界の高抵抗化を抑制し、粒界に第2相を形成するため特
性が劣化するものである。また、第3成分は0.001
mol%未満では効果を示さず、5.OOOmo 1%
を越えると粒界に偏析して第2相を形成するため特性が
劣化するものである。また、第4成分はMgTiO3と
5i02 の2成分系の相図のなかでMgT i 0
3 60.000〜32.500mol%、S i(h
40.000〜67.500mol%の範囲内のも
のは最も融点の低い領域の物質であり、その範囲外では
融点が高くなるものである。また、第4成分の添加量は
、0.001重量部未満では効果を示さず、10.00
0重量部を赳えると粒界の抵抗は高くなるが粒界の幅が
厚くなるため、静電容量が小さくなると共にVmAが高
くなり、サージに対して弱くなるものである。また、第
4成分の焼成温度を規定したのは、低融点の第4成分が
合成される温度が1200℃以上であるためである。そ
して、第1焼成の温度を規定したのは、第4成分の融点
が1230〜1250℃であるため、1100℃以上の
温度で焼成すると第4成分が液相に近い状態になって焼
結が促進されるためであり、1100℃未満では第4成
分の液相焼結効果がないためである。また、第2焼成の
温度を規定したのは、1200℃未満では第1焼成後の
焼結体が十分に還元されず、バリスタ特性、コンデンサ
特性共に劣化するためである。さらに、第3焼成の温度
を規定したのは、900℃未満では粒界の高抵抗化が十
分に進まないため、V 1 m Aが低くなりすぎバリ
スタ特性が劣化するためであり、1300℃を越えると
静電容量が小さくなりすぎコンデンサ特性が劣化するた
めである。また、第1焼成の雰囲気は酸化性雰囲気でも
還元性雰囲気でも同様の効果があることを確認した。
なお、第2成分としては、上記実施例で挙げた成分以外
にSm2O3,P rso++、NdzO3を用いるこ
とができ、かつ2種類以上を組み合せて上記範囲内の添
加量で用いてもよいものである。また、第3成分として
は、上記実施例で挙げた成分以外に5b203.Bad
、Bed、B2O3゜Fe2O3,CaO,L i20
.LiF、MgO。
にSm2O3,P rso++、NdzO3を用いるこ
とができ、かつ2種類以上を組み合せて上記範囲内の添
加量で用いてもよいものである。また、第3成分として
は、上記実施例で挙げた成分以外に5b203.Bad
、Bed、B2O3゜Fe2O3,CaO,L i20
.LiF、MgO。
Na2O,NaF、Rh2O3,5e02.S i○2
゜S r O,Th 02. T i 02. V2O
5,B 1203゜Sn○2を用いることができ、かつ
第2成分と同様に21類以上を組合せて上述した範囲内
の添加量で用いてもよいものである。さらに、上記実施
例ではこれら添加物の組合せについては一部のみ示して
いるが、その他の組合せでも同様の効果が得られること
が確認された。
゜S r O,Th 02. T i 02. V2O
5,B 1203゜Sn○2を用いることができ、かつ
第2成分と同様に21類以上を組合せて上述した範囲内
の添加量で用いてもよいものである。さらに、上記実施
例ではこれら添加物の組合せについては一部のみ示して
いるが、その他の組合せでも同様の効果が得られること
が確認された。
発明の効果
以上に示したように本発明によれば“、粒子径が大きい
ためバリスタ電圧が低く、誘電率εおよびαが大きく、
粒子径のばらつきが小さいことからサージ電流が素子に
均一に流れ、またCaによって粒界が効果的に高抵抗化
されるため、サージ耐量が大きくなるという効果が得ら
れる。
ためバリスタ電圧が低く、誘電率εおよびαが大きく、
粒子径のばらつきが小さいことからサージ電流が素子に
均一に流れ、またCaによって粒界が効果的に高抵抗化
されるため、サージ耐量が大きくなるという効果が得ら
れる。
第1図は本発明(こよる素子を示す上面図、第2図は本
発明による素子を示す断面図である。 1・・・・・・焼結体、2,3・・・・・・電極。
発明による素子を示す断面図である。 1・・・・・・焼結体、2,3・・・・・・電極。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1)Sr_1_−_XCa_XTiO_3(0.00
1≦X≦0.300)を90.000〜99.998m
ol%,Nb_2O_5,Ta_2O_5,WO_3,
Dy_2O_3,Y_2O_3,La_2O_3,Ce
O_2,Sm_2O_3,Pr_6O_1_1,Nd_
2O_3のうち少なくとも1種類以上を0.001〜5
.000mol%,Al_2O_3,Sb_2O_3,
BaO,BeO,PbO,B_2O_3,Cr_2O_
3,Fe_2O_3,CdO,K_2O,CaO,Co
_2O_3,CuO,Cu_2O,Li_2O,LiF
,MgO,MnO_2,MoO_3,Na_2O,Na
F,NiO,Rh_2O_3,SeO_2,Ag_2O
,SiO_2,SiC,SrO,Tl_2O_3,Th
O_2,TiO_2,V_2O_5,Bi_2O_3,
ZnO,ZrO_2,SnO_2のうち少なくとも1種
類以上を0.001〜5.000mol%含有してなる
主成分100重量部と、MgTiO_3 60.000〜32.500mol%,SiO_240
.000〜67.500mol%からなる混合物を12
00℃以上で焼成してなる添加物0.001〜10.0
00重量部とからなることを特徴とする電圧依存性非直
線抵抗体磁器組成物。 (2)Sr_1_−_XCa_XTiO_3(0.00
1≦X≦0.300)を90.000〜99.998m
ol%,Nb_2O_5,Ta_2O_5,WO_3,
Dy_2O_3,Y_2O_3,La_2O_3,Ce
O_2,Sm_2O_3,Pr_6O_1_1,Nd_
2O_3のうち少なくとも1種類以上を0.001〜5
.000mol%,Al_2O_3,Sb_2O_3,
BaO,BeO,PbO,B_2O_3,Cr_2O_
3,Fe_2O_3,CdO,K_2O,CaO,Co
_2O_3,CuO,Cu_2O,Li_2O,LiF
,MgO,MnO_2,MoO_3,Na_2O,Na
F,NiO,Rh_2O_3,SeO_2,Ag_2O
,SiO_2,SiC,SrO,Tl_2O_3,Th
O_2,TiO_2,V_2O_5,Bi_2O_3,
ZnO,ZrO_2,SnO_2のうち少なくとも1種
類以上を0.001〜5.000mol%含有してなる
主成分100重量部と、MgTiO_3 60.000〜32.500mol%,SiO_240
.000〜67.500mol%からなる混合物を12
00℃以上で焼成してなる添加物0.001〜10.0
00重量部とからなる組成物を1100℃以上で焼成し
たことを特徴とするバリスタの製造方法。 (3)Sr_1_−_XCa_XTiO_3(0.00
1≦X≦0.300)を90.000〜99.998m
ol%,Nb_2O_5,Ta_2O_5,WO_3,
Dy_2O_3,Y_2O_3,La_2O_3,Ce
O_2,Sm_2O_3,Pr_6O_1_1,Nd_
2O_3のうち少なくとも1種類以上を0.001〜5
.000mol%,Al_2O_3,Sb_2O_3,
BaO,BeO,PbO,B_2O_3,Cr_2O_
3,Fe_2O_3,CdO,K_2O,CaO,Co
_2O_3,CuO,Cu_2O,Li_2O,LiF
,MgO,MnO_2,MoO_3,Na_2O,Na
F,NiO,Rh_2O_3,SeO_2,Ag_2O
,SiO_2,SiC,SrO,Tl_2O_3,Th
O_2,TiO_2,V_2O_5,Bi_2O_3,
ZnO,ZrO_2,SnO_2のうち少なくとも1種
類以上を0.001〜5.000mol%含有してなる
主成分100重量部と、MgTiO_3 60.000〜32.500mol%,SiO_240
.000〜67.500mol%からなる混合物を12
00℃以上で焼成してなる添加物0.001〜10.0
00重量部とからなる組成物を1100℃以上で焼成し
た後、還元性雰囲気中で1200℃以上で焼成し、その
後酸化性雰囲気中で900〜1300℃で焼成したこと
を特徴とするバリスタの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1143725A JP2789676B2 (ja) | 1989-06-06 | 1989-06-06 | 電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物およびバリスタの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1143725A JP2789676B2 (ja) | 1989-06-06 | 1989-06-06 | 電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物およびバリスタの製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH038763A true JPH038763A (ja) | 1991-01-16 |
JP2789676B2 JP2789676B2 (ja) | 1998-08-20 |
Family
ID=15345550
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1143725A Expired - Fee Related JP2789676B2 (ja) | 1989-06-06 | 1989-06-06 | 電圧依存性非直線抵抗体磁器組成物およびバリスタの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2789676B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109721348A (zh) * | 2017-10-27 | 2019-05-07 | 信昌电子陶瓷股份有限公司 | 低介电常数介电瓷粉组合物制备方法及其制成的电容器 |
-
1989
- 1989-06-06 JP JP1143725A patent/JP2789676B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN109721348A (zh) * | 2017-10-27 | 2019-05-07 | 信昌电子陶瓷股份有限公司 | 低介电常数介电瓷粉组合物制备方法及其制成的电容器 |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2789676B2 (ja) | 1998-08-20 |
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