JPH0381199A - Icカード - Google Patents

Icカード

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JPH0381199A
JPH0381199A JP1217738A JP21773889A JPH0381199A JP H0381199 A JPH0381199 A JP H0381199A JP 1217738 A JP1217738 A JP 1217738A JP 21773889 A JP21773889 A JP 21773889A JP H0381199 A JPH0381199 A JP H0381199A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chip
wiring board
intermediate layer
guard ring
pattern
Prior art date
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Pending
Application number
JP1217738A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshikatsu Takano
高野 義勝
Masanori Nakano
正憲 中野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Publication of JPH0381199A publication Critical patent/JPH0381199A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 ICカードに関し、 ICカードに搭載されているICモジュールの耐湿およ
び耐蝕性を改善しICカードの信頼性を向上することを
目的とし、 コンタクト基板と、前記コンタクト基板上に載置される
ICチップと、前記コンタクト基板上に接着され、前記
ICチップが格納される位置にICチップ格納孔が開口
され、前記ICチップ格納孔を囲周し線状凸部をなして
閉ループを形成するガードリングパターンを設けた中間
層配線基板と、前記中間層配線基板上に接着されるIC
チップ封止基板とを少なくとも備えたICモジュールが
ICカード基体に埋め込まれてなるICカードを構成す
る。
〔産業上の利用分野〕
本発明はICカード、とくに、ICカード用のIcモジ
ュールの改良に関する。
近年、カード記憶は媒体が小形で携帯性が優れているの
で、民生用、産業用を問わず、ますます期待が大きくな
ってきている。
カード記憶には、磁気カード、ICカード、光カードな
どがあるが、磁気カードは安価で携帯性に優れているた
め、規格化も進み各分野で広く使用されるようになって
いる。光カードは最大数MByteの記録が可能であり
、その記憶容量の大きいことを特長として、磁気カード
の延長線上に位置するものと考えられている。
ICカードは、−CにICを含むカードを全て指してい
るが、中でも関心を集めているのはマイクロプロセッサ
とメモリを含むカードで、現在の磁気カードに比較して
、処理機能と記憶容量の点で勝っている。マイクロプロ
セッサを内蔵しているので、偽造や不正読み出しを防ぐ
ためのセキュリティ機能を持たせることができ、今後、
多方面で広く普及するものと期待されている。それにと
もない、薄型で、かつ、携帯用という製品の特性から、
耐環境性や信頼性の向上がますます求められている。
〔従来の技術〕
第8図はICカードの外観を示す図で、10はICカー
ドで磁気ストライプ100がついている例である。
■はICカード基体で、たとえば、厚さ0.68〜0.
84mmの塩化ビニール樹脂製であり、その−面にIC
モジュールを埋め込むための凹部が形成されている。
2はICモジュールで、通常マイクロプロセッサチップ
とメモリチップが格納されている。20はコンタクト端
子部で、前記ICモジュール2の端子部分が接続されI
Cカード面に露呈したICカードの端子面である。
第9図はICモジュールの外観図で、同図(イ)は表面
部(コンタクト端子部)、同図(ロ)は裏面部である。
表面部は、たとえば、絶縁のためのスリットにより9つ
の部分に分割されている。−方、裏面部はICチップ9
0をICCチップ格納孔型収容し樹脂封止したのち、表
面を平らに研磨仕上げをしである。
第1O図は従来のICモジュールのA−A”断面図(第
9図に示すA−A”ライン)である。
図中、9はコンタクト端子基板で、たとえば、薄い銅箔
張リガラスエボキシ樹脂板の銅箔を所定のパターンにエ
ツチングし、その上にNiを無電気メツキしたのちAu
を電気メツキしである。
8はICチップ封止基板で、たとえば、薄いガラスエポ
キシ樹脂板にICチップ挿入孔をあけである。
300は中間層配線基板で、たとえば、コンタクト端子
基板9と同じく薄い銅箔張りガラスエポキシ樹脂板の銅
箔を所定の配線パターンにエツチングし、その上にNt
を無電気メツキしたのちAuを電気メツキしたもので、
ICチップ封止基板のICチップ挿入孔よりもやソ小さ
目のICCチップ格納孔型あけである。
以上3枚の基板9,300および8をこの順番に、図示
したごとくに積層し、各層間を接着剤層7゜たとえば、
エポキシ樹脂層で加熱圧着して一体化しICモジュール
2用の基板とする。
90はICチップ、たとえば、マイクロプロセッサチッ
プとメモリチップでICCチップ格納孔型下部に形成さ
れた底面に、導電性接着剤91.たとえば、Agペース
トでダイボンディングされ、ボンディングワイヤ92で
ICチップと中間層配線基板卿の配線部との間が接続さ
れている。80は封止樹脂、たとえば、エポキシ樹脂で
ICCチップ格納孔型ICチップ90の上を覆って密閉
し、表面を平らに研磨して仕上げられている。
第6図は従来の中間層配線基板の例を示す図で、同図(
イ)は平面図、同図(ロ)はA−A’断面図である。図
中、31は中間層配線基板300の外側端面、36はI
CCチップ格納孔型形成している中間層配線基板300
の内側端面、4は配線パターン、41は前記外側端面3
1および内側端面36に露呈した配線パターン4の露出
端である。32は表裏両面の配線パターン間を接続する
。たとえば、スルーホール、33ばポンディングパッド
である。
35は電気メツキ用共通連結導体部で、中間層配線基板
300の配線パターン全体を厚さ、たとえば、30μm
に^Uメツキするために一時的に設けたものであり、メ
ツキ完了後にはそれぞれのポンディングパッド33が分
離するように切断除去される。
なお、電気メツキのための外部電源への接続ラインは、
たとえば、図の配線パターン4の外部延長パターン部を
用い、メツキ完了後中間層配線基板300の打抜き時に
切断する。°したがって、この時に外端面31の露出端
41が形成されることになる。
〔発明が解決しようとする課題〕
多層プリント配線板は1.6mm程度の厚さに形成され
るのが一般的である。
しかし、ICカードは携帯用ということもあり、また、
規格上からもICカードそのもの\厚さが0.76mm
程度の極めて薄いものが要求される。
したがって、前記従来例で述べたコンタクト端子基板9
、中間層配線基板300およびICチップ封止基板8を
加熱圧着する際に一般の多層プリント配線基板のように
充分な圧力をかけられず、また、ICモジュール2の厚
さ制限の関係やポンディングパッド部への接着剤の侵入
の恐れがあるなどの関係から、接着剤層7の厚さを余り
太き(すくことができない。
そのために、配線パターンの周囲を中心に接着剤の中に
空隙が生じやすい。
第7図は端面近傍に生じた接着剤層の隙間の従来例を示
す図で、同図(イ)は八−^゛断面図、同図(ロ)は端
面図である。
図に示したように中間配線基板300の外側端面31に
露出@41を有する配線パターン4の側壁下部を中心に
隙間71がトンネル状に連なっていることがわかる。も
し、この配線パターン4がICチップ格納孔6の内側端
面36に連結していると、前記隙間71ばICチップ格
納孔6まで通じることになり、外部雰囲気中の湿気や腐
食性ガスのICチップ90への侵入を来し、ICカード
の品質・信頼性を劣化させると言う重大な問題があり、
その解決が必要であった。
〔課題を解決するための手段〕
上記の課題は、 コンタクト基板9と、前記コンタクト
基板9上に載置されるICチップ90と、前記コンタク
トM板9上に接着され、前記ICチップ90が格納され
る位置にICチップ格納孔6が開口され、前記ICチッ
プ格納孔6を囲周し線状凸部をなして閉ループを形成す
るガードリングパターン5を設けた中間層配線基IFi
 3と、前記中間層配線基板3上に接着されるICチッ
プ封止基板8とを少なくとも備えたICモジュール2が
ICカード基体1に埋め込まれてなるICカードにより
解決することができる。
〔作用〕
本発明によれば、ICモジュール2の中間層配線基板3
上に少なくともICチップ格納孔6を囲周して閉ループ
を形成するガードリングパターン5を設けであるので、
中間配線基板3の外側端面31に一方の露出端41を有
し、ICチップ格納孔6の内側端面36に他方の露出端
41を有する配線パターン4をこのガードリングパター
ン5が交叉して、前記配線パターン4の側壁下部に生じ
るトンネル状の隙間71がブロックされ、外部雰囲気中
の湿気や腐食性ガスのICチップ90への侵入を防止す
ることが可能となるのである。
〔実施例〕
第1図は本発明による中間層配m基板の第1実施例を示
す図で、同図(イ)は平面図、同図(ロ)はA−A’断
面図である。
図中、3は本発明になる中間層配線基板、5はガードリ
ングパターンで、前記中間配線基板3の外側端面31に
一方の露出端41を有し、ICチップ格納孔6の内側端
面36に他方の露出端41を有する配線パターン4と交
叉して連結し、かつ、前記中間配線基板3の周辺に沿い
少なくともICチップ格納孔6を囲周して閉ループを形
成するように、初期部側である薄い銅箔張りガラスエポ
キシ樹脂板の銅箔を配線パターンと同時にエツチングし
、その上にNiを無電気メツキしたのちAuを電気メッ
キして、たとえば、全体の厚さを配線パターン4と同じ
約30μmに作成する。
なお、前記従来例の諸図面で説明したものと同等の部分
については同一符号を付し、かつ、同等部分についての
説明は省略する。
上記の中間層配線基板′3を真ん中にし、コンタクト端
子基板9とICチップ封止基板8を上下から重ねて積層
し、従来と同一の接着条件で、すなわち、各層間を接着
剤層7(たとえば、エポキシ樹脂層)で加熱圧着して一
体化しICモジュール2用の基板とする。
なお、本実施例のガードリングパターン5は電源または
信号線の何れかと接続共用する構成のものである。
第2図は本発明における端面近傍に生じた接着剤層の隙
間の例を示す図で、同図(イ)はA−A’断面図、同図
(ロ)は端面図である。
接着条件などが従来の場合と同じなので配線パターン4
およびガードリングパターン5の側壁下部を中心に隙間
71がトンネル状に連なってはいるが、配線パターン4
はガードリングパターン5と交叉しているので、その交
叉点で配線パターン4に沿って生じた隙間71がブロッ
クされる。しかもガードリングパターン5は閉ループに
形成されているので、外部雰囲気に通じた隙間71を全
周辺にわたってブロックし、したがって2、外部雰囲気
中の湿気や腐食性ガスの■cチップ9oへの侵入を防止
できる。
第3図は本発明による第2実施例を示す図で、図中、4
゛は裏面の配線パターンを示す。
本実施例の中間層配線基板3のガードリングパターン5
はICチップ格納孔6と基板上の配線パターン4の全て
を囲周し、かつ、配線パターン等の電気メツキ完了後、
たとえば、×点部分でカットし、電源および信号線等の
配線パターンからガードリングパターン5を分離させる
ものである。
第4図は本発明による第3実施例を示す図で、同図(イ
)は表面、同図(ロ)は裏面である。
この例では配線パターン4の各所から電気メツキ用の外
部導線を多くとるために、ガードリングパターン5を配
線パターンの中間に配したものである。
第5図は本発明による第4実施例を示す図で、同図(イ
)は表面、同図(ロ)は裏面である。
この例は前記第1または第2実施例と第3実施例との組
み合わせによる場合である。
なお、以上の実施例はあくまでも例として示したもので
あり、配線パターンの形成上やその他の条件によって、
止むを得ずガードリングパターン5の一部が部分的に切
れ、完全な閉ループが形成されずオーブンになっている
場合でも、全くガードリングパターン5を設けない場合
に比較して大きな効果を有することは言うまでもない。
また、実施例に示した以外の多様な材料8寸法。
形態など適宜使用してよく、また、中間層配線基板だけ
に適用を限定されるものでもなく、同様の目的であれば
多層配線基板の何れの部分にも適用できることは勿論で
ある。
さらに、ICカード以外の薄型多層COB (チップ・
オン・ボード)配線基板の応用製品にも適用できること
は勿論である。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明によれば、ICモジュール
2の中間層配線基板3上に少なくともICチップ格納孔
6を囲周して閉ループを形成するガードリングパターン
5を設けであるので、中間配線基板3の外側端面31に
一方の露出端41を有し、ICチップ格納孔6の内側端
面36に他方の露出端41を有する配線パターン4をこ
のガードリングパターン5が交叉して、前記配線パター
ン4の側壁下部に生じるトンネル状の接着剤層7の隙間
71がブロックされ、外部雰囲気中の湿気や腐食性ガス
のICチップ90への侵入を防止することが可能となり
、ICカードの品質・信頼性の向上に寄与するところが
極めて大きい。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による中間層配線基板の第1実施例を示
す図、 第2図は本発明における端面近傍に生じた接着剤層の隙
間の状態を示す図、 第3図は本発明による第2実施例を示す図、第4図は本
発明による第3実施例を示す図、第5図は本発明による
第4実施例を示す図、第6図は従来の中間層配線基板の
例を示す図、第7図は端面近傍に生じた接着剤層の隙間
の従来例を示す図、 第8図はICカードの外観を示す図、 第9図はICモジュールの外観図、 第1O図は従来のICモジュールのA−A’断面図であ
る。 図において、 1はICカード基体、 2はICモジュール、 3は中間層配線基板、 4は配線パターン、 5はガードリングパターン、 6ばICチップ格納孔、 7は接着剤層、 8はICチップ封止基板、 9はコンタク ト端子基板、 野 よ (イ) 表   面              (ロ
) 亀木発efq(二よ5 第 4 ヴr ノシそ三、
グクリ 2才、fllff1面 IC七ジュールf)タト、!L図 第 q 図 イノと−X1つ LC’!−シ〉コーーノLのAA′町
面図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 コンタクト基板(9)と、 前記コンタクト基板(9)上に載置されるICチップ(
    90)と、 前記コンタクト基板(9)上に接着され、前記ICチッ
    プ(90)が格納される位置にICチップ格納孔(6)
    が開口され、前記ICチップ格納孔(6)を囲周し線状
    凸部をなして閉ループを形成するガードリングパターン
    (5)を設けた中間層配線基板(3)と、前記中間層配
    線基板(3)上に接着されるICチップ封止基板(8)
    とを少なくとも備えたICモジュール(2)がICカー
    ド基体(1)に埋め込まれてなるICカード。
JP1217738A 1989-08-24 1989-08-24 Icカード Pending JPH0381199A (ja)

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JP1217738A JPH0381199A (ja) 1989-08-24 1989-08-24 Icカード

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JP1217738A JPH0381199A (ja) 1989-08-24 1989-08-24 Icカード

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JPH0381199A true JPH0381199A (ja) 1991-04-05

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ID=16708979

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JP1217738A Pending JPH0381199A (ja) 1989-08-24 1989-08-24 Icカード

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JP (1) JPH0381199A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007140898A (ja) * 2005-11-18 2007-06-07 Dainippon Printing Co Ltd Rf−idタグ用icチップ実装スレッド付き偽造防止媒体およびその製造方法

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JP2007140898A (ja) * 2005-11-18 2007-06-07 Dainippon Printing Co Ltd Rf−idタグ用icチップ実装スレッド付き偽造防止媒体およびその製造方法

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