JPH0378847A - 故障検出システム - Google Patents

故障検出システム

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Publication number
JPH0378847A
JPH0378847A JP1216874A JP21687489A JPH0378847A JP H0378847 A JPH0378847 A JP H0378847A JP 1216874 A JP1216874 A JP 1216874A JP 21687489 A JP21687489 A JP 21687489A JP H0378847 A JPH0378847 A JP H0378847A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
address
circuit
ram
write
check bit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1216874A
Other languages
English (en)
Inventor
Teiji Shinto
新堂 貞次
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP1216874A priority Critical patent/JPH0378847A/ja
Publication of JPH0378847A publication Critical patent/JPH0378847A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は故障検出システムに関し、特に情報処理装置に
おけるRAMの機能の故障を検出するシステムに関する
従来技術 従来、RAMの機能の正常性のチエツクは、アドレス及
びライトデータとリードデータとのパリティチエツクを
実施することで実現していた。これにより、RAM内の
データ自体のエラーの検出が可能であった。
しかし、上述した従来のRAMの機能の正常性のチエツ
クは、パリティチエツクによって実現されているため、
RAMのリード及びライトの制御(アドレス、ライトイ
ネーブル、ライトパルス、クロック)を行うRAM内の
制御回路が故障した場合、そのRA N1の特定が困難
であるという欠点があった。
発明の目的 本発明は上述した従来の欠点を解決するためになされた
ものであり、その目的はRAM内の制御回路が故障した
場合においてもそのRAMを特定することができる故障
検出システムを提供することである。
発明の構成 本発明による故障検出システムは、同一の構成からなる
複数のメモリの故障を検出する故障検出システムであっ
て、前記複数のメモリの同一アドレスに対して同時にデ
ータを書込む書込み手段と、前記書込み手段が前記デー
タを書込む際に各メモリの同一アドレスに対応するエン
トリには同一のチェックビットをデータに付加するチエ
ツクピッ)(−1加手段と、前記複数のメモリから同一
アドレスのチェックビットを含むデータを同時に読出す
読出し手段と、前記読出し手段がデータを読出したとき
に各チェックビットを相互に比較する比較手段とを有し
、前記比較手段の比較結果に応じて故障しているメモリ
を検出するようにしたことを特徴とする。
実施例 以下、図面を用いて本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明による故障検出システムの一実施例の構
成を示すブロック図であり、4個のRAM回路の故障を
検出する場合の構成例が示されている。
図において、本発明の一実施例による故障検出システム
は、ライトアドレス100からチェックビットを作成す
るチェックビット作成回路10と、チェックビット作成
回路10の出力+10とライトデータ210〜213を
保持するライトデータ保持回路20〜23と、ライトア
ドレス又はリードアドレス100を保持するアドレス保
持回路60と、チェックビット120〜123を含むラ
イトデータ220〜223がライトアドレス101に基
づいて書込まれるRAM回路30〜33と、リードアド
レス101に基づいてRAM回路30〜33から読出さ
れたチェックビット130〜133を含むリードデータ
230〜233を保持するリードデータ保持回路40〜
43と、RAM回路30〜33から読出したチェックビ
ット140〜143を比較するチェックビット比較回路
50〜53とを含んで構成されている。
なお、240〜243はリードデータである。
チェックビット作成回路10はライトアドレスであるア
ドレス100をもとに1ビツトのチェックビットを作成
するものである。例えば、ライトアドレス全ビットの排
他的論理和を取って1ビツトの偶数パリティビットを作
成し、これをチェックビットとする方法がある。
また、チェックビットを複数ビットとしても良い。この
場合の例には、ライトアドレスの一定バイトip位に偶
数パリティを作成し、その作成後のバイト単位のパリテ
ィ全てをチェックビットとする方法がある。パリティを
設けず、各アドレスの最下位ビットをチェックビットと
しても良い。要するに、各メモリのアドレス毎に同一、
かつ少なくとも隣接するアドレスとは異なる値であれば
良いのである。
さらにまた、チェックビット作成回路10の出力110
、すなわち作成されたチェックビットは各ライトデータ
保持回路20〜23のチェックビット120〜123と
なる。よって、各RAM回路30〜33にチェックビッ
ト130〜133として書込まれ、その後各リードデー
タ保持回路40〜43のチェックビット140〜143
となる。
比較回路50〜53は各リードデータ保持回路40〜4
3のチェックビット140〜+43を相互に比較するた
めに設けられており、比較結果が一致を示せば出力が“
1′、不一致であれば出力が“0′となるものである。
よって、これら比較回路50〜53における各比較結果
である出力250〜253の論理値をもとに判定すれば
、後述のように故障したRAM回路を特定することがで
きるのである。
かかる構成において、ライト時にはライトアドレス10
0に基づいてチェックビットがチェックビット作成回路
10において作成される。そして、ライトアドレス10
0がアドレス保持回路60に人力されるタイミングと同
一のタイミングで、チェックビット作成回路10の出力
110とライトデータ210〜213とがライトデータ
保持回路20〜23へ人力される。
各RAM回路30〜31へのチェックビット120−1
23を含む各ライトデータ220〜223の書込みはア
ドレス保持回路60の出力であるアドレスio+によっ
て行われる。
一方、リード時にはアドレス100がアドレス保持回路
60に保持され、その出力であるアドレス101に基づ
いてRAM30〜33からチェックビット130〜13
3を含むリードデータ230〜233が読出され、リー
ドデータ保持回路40〜43に人力される。そして、リ
ードデータ保持回路40〜43に入力された各リードデ
ータ230〜233のチエツクピッl−140〜143
がチェックビット比較回路50〜53において比較され
る。よって、その比較結果である出力250〜253を
判定すれば制御回路が故障したRAM回路を特定するこ
とができるのである。
つまり、各チェックビット比較回路50〜53における
比較結果が一致を示せば、出力250〜253は全て“
1”であり、各RA M回路が正常であることになる。
これに対し、チェックビット140〜143のうちの1
つが何らかの原因により他と異なる値である場合には、
チェックビット比較回路50〜53の出力250〜25
3のうちの2つが“0゛となり、不一致であることを示
す。よって、その“0”となった2つの出力に基づいて
、原因となったチェックビットが特定でき、故障したR
AM回路が特定できるのである。
例えば、出力250〜253が“O”、出力251及び
252が“1″であれば、チェックビット140が原因
となり、RAM回路30に(jITらかの故障が発生し
たと判定できるのである。なお、各出力の論理値に基づ
いて故障したRAM回路を特定する方法としては、周知
のソフトウェア解1斤による方法や、出力状態と判定結
果とのテーブルを予め設けておき、これを用いる方法等
がある。
つまり、本実施例では各RA M回路の同一アドレスに
対して同一のチェックビットを書込み、これを読出して
相互に比較しているため、書込み動作及び読出し動作に
伴うライトイネーブル、ライトパルス、クロックパルス
等がすべて正しいタイミングで入力されたときにのみ比
較結果が一致を示すはずであり、それ以外のときには故
障が発生した旨を検出できることとなるのである。
例えば、各RAM回路のライトイネーブル状態となるタ
イミングがずれた場合にはチェックビットは不一致とな
り、これがチェックビット比較回路の比較結果によって
検出されるのである。
さらに、不一致を示した比較結果の組合せに基づいて、
制御回路が故障したRAM回路を特定できるのである。
なお、本実施例においてはRAM回路が4個の場合につ
いて説明したが、3個、5個の場合でも同等の効果があ
り、その個数に限定されない。その場合にはRA M回
路の個数に応じてチェックビット比較回路を追加すれば
良い。ただし、RAM回路が2個の場合にはチェックビ
ット比較回路が1個となり、故障時において比較結果が
不一致を示しても故障した方を特定することは不可能で
ある。しかし、故障の検出のみは可能である。
発明の詳細 な説明したように本発明は、アドレスをもとに作成した
チェックビットを同一構成の複数個のRAMに書込み、
その後それを読出して相互に比較することにより、特に
RAM内のリード制御及びライト制御を行う制御回路内
に社いて発生した故障が検出可能となり、そのRAMの
特定が容易になるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例による故障検出システムの構成
を示すブロック図である。 主要部分の符号の説明 10・・・・・・チェックビット作成回路30〜33・
・・・・・RAM回路

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)同一の構成からなる複数のメモリの故障を検出す
    る故障検出システムであって、前記複数のメモリの同一
    アドレスに対して同時にデータを書込む書込み手段と、
    前記書込み手段が前記データを書込む際に各メモリの同
    一アドレスに対応するエントリには同一のチェックビッ
    トをデータに付加するチェックビット付加手段と、前記
    複数のメモリから同一アドレスのチェックビットを含む
    データを同時に読出す読出し手段と、前記読出し手段が
    データを読出したときに各チェックビットを相互に比較
    する比較手段とを有し、前記比較手段の比較結果に応じ
    て故障しているメモリを検出するようにしたことを特徴
    とする故障検出システム。
JP1216874A 1989-08-23 1989-08-23 故障検出システム Pending JPH0378847A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1216874A JPH0378847A (ja) 1989-08-23 1989-08-23 故障検出システム

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1216874A JPH0378847A (ja) 1989-08-23 1989-08-23 故障検出システム

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0378847A true JPH0378847A (ja) 1991-04-04

Family

ID=16695271

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1216874A Pending JPH0378847A (ja) 1989-08-23 1989-08-23 故障検出システム

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JP (1) JPH0378847A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61197527A (ja) * 1985-02-25 1986-09-01 Takeda Chem Ind Ltd インタ−ロイキン−2組成物

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61197527A (ja) * 1985-02-25 1986-09-01 Takeda Chem Ind Ltd インタ−ロイキン−2組成物

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