JPS6288177A - 記憶装置 - Google Patents

記憶装置

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Publication number
JPS6288177A
JPS6288177A JP22921785A JP22921785A JPS6288177A JP S6288177 A JPS6288177 A JP S6288177A JP 22921785 A JP22921785 A JP 22921785A JP 22921785 A JP22921785 A JP 22921785A JP S6288177 A JPS6288177 A JP S6288177A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
error
bit
syndrome
address
Prior art date
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Pending
Application number
JP22921785A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroaki Shoda
正田 裕明
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP22921785A priority Critical patent/JPS6288177A/ja
Publication of JPS6288177A publication Critical patent/JPS6288177A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は情報処理システム等の記憶装置に関し、特にそ
の誤シ訂正方式に関する。
〔従来の技術〕
従来、1とットエラー訂正2ビットエラー検出符号(S
EC−DED符号; Single Error Co
r−rection Double Error De
tection−シングルエラーコレクション ダブル
エラーディテクシ四ンー符号)t−用いてハードエラー
(固定エラー)を含む2ビツトマでのエラーを訂正する
方式として、次に説明する方式が知られている。
その一つは、特開昭51−137335号公報記載の欠
陥メモリ許容制御方式に開示され之もので、他の1つは
特開昭56−68997号公報記載のエラー訂正方式に
開示されたものである。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、前者は、チェックビットを発生するため
のパリティ発生マトリックスに特別の制約があり、情報
ビットおよびチェックビットヲ全て反転してもシンドロ
ームが変らないような種類のパリティ発生マトリックス
しか用いることができないといり欠点がある。
また、後者は、5EC−DED符号を用いて情報ビット
とチェックビットとをメモリに書き込み、これを読み出
した時に2ビットエラーが発見されると、この読み出し
たこの情報ビットおよびチェックビットヲ全て反転して
再び同じメモリに書き込み、これを再び読み出した後、
更に情報ビットおよびチェックビット’2もう一度反転
し、この再反転し元情報ビットおよびチェックビットヲ
用いてシンドロームを発生し、ハードエラーを含む2ビ
ツトまでのエラー訂正を可能にしている。しかし、この
ように処理ステップが多くなシ処理に時間がかかるとb
う欠点がある。
本発明の目的は、このよう表欠点を除き、符号の制約が
なく、高速に2ビットエラーの訂正ができるようにした
記憶装置を提供することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明の構成は、書込みデータに1とットエラー訂正2
ビットエラー検出符号のチェックビットを付加して記憶
回路に記憶させる記憶装置において、アドレス信号によ
り指定されて前記記憶回路から読み出された複数の情報
ビットおよび前記チェックビットからなる読出しデータ
に対するシンドロームを発生するシンドローム発生回路
と;前記読出しデータに1ビットエラーがあっり場合に
この故障個所のエラー発生アドレス、シンドロー。
ムを含むエラー情報を記憶するエラー情報記憶回路と;
このエラー情報記憶回路に記憶されたエラー情報、前記
シンドローム発生回路の出力および前記読出しデータに
よル前記1ビットエラーを訂正する第1のエラー訂正手
段と;この第1のエラー訂正手段からの読出しデータと
前記シンドロームとから1ビットエラーを訂正する第2
のエラー訂正手段とを含むことを特徴とする。
〔実施例〕
次に本発明建ついて図面を参照して説明する。
第1図は本発明の第1の実施例のブロック図を示す。図
において、本実施例の記憶装置は、書き込み時に外部装
置(図示せず)から書き込みデータ線12全通して供給
される書き込みデータを、書き込みレジスタ1で受取り
、その書き込みデータに対し8EC−DED符号を用い
たチェックビットを付加する5EC−DED符号発生回
路2t−通してメモリ回路3に供給し、とのメそり回路
3にチェックビットと共に記憶する。この特使われるア
ドレスは、外部装置からアドレス線13t−通してアド
レスレジスタ9にセットされ几後、メモリ回路3に供給
される。また、読み出し時には、書き込み時と同様に供
給され九アドレスに従ってメモリ回路3から読み出され
たデータが読み出しレジスタ4にセットされる。
このときアドレスレジスタ9にセットされ念アドレスは
、同時にエラー情報記憶回路11とエラー情報−数構出
回路10にも出力され、アドレスレジスタ9にセットさ
れたアドレスですでに1ビットエラーが起きて、エラー
情報記憶回路11に記憶されているかどうかを、エラー
アドレス−数構出回路10で検出する。ここでアドレス
レジスタ9にセットされたアドレスで固定的に1ビット
エラーが起きることが記憶されていた場合、エラーアド
レス−数構出回路10から第1訂正回路5Vc1ビット
エラーの訂正指示が出され、エラー情報記憶回路11に
保持されたシンドロームにより、読み出しレジスタ4に
保持された読み出しデ「りと、シンドローム発生回路6
で発生されたシンドロームが訂正される。ただし、この
シンドロームの訂正とは、シンドローム発生回路6で発
生されたシンドロームとエラー情報記憶回路11に記憶
されているシンドロームのイクスクルーシブオア(EX
−0几)t−とることを指す。
第1訂正回路5で以前から起きていた固定的な1ビット
エラーを訂正したシンドa−ムは、さらにエラー検出回
路8に入力されてエラーの有無が検出される。この時、
読み出しデータにさらにlビットエラーがあれば、第2
訂正回路7で訂正され、読み出し情報線20全通して外
部装置(図示せず)に出力される。
このようにエラー情報記憶回路11に記憶されていた固
定的な1ビットエラーと、今回新たに起った別の1ビッ
トエラーがそれぞれ第1訂正回路5と第2訂正回路7で
訂正され、結果として2ビットエラーの訂正が行なわれ
る。
また、アドレスレジスタにセットされたアドレスの読み
出しデータに固定的なエビットエラーがない場合、エラ
ー情報記憶回路11にはエラー情報がないためエラーア
ドレス−数構出回路10からは訂正の指示は検出されず
、読み出しデータとシンドロームは第1訂正回路を素通
シしてエラー検出回路8.第2訂正回路7に入力する。
ここで、もしエラー検出回路6で新たに固定的な1ビッ
トエラーが発見されると、読み出しデータを第2訂正回
路7で訂正して外部装置に出力すると共に、エラー情報
記憶回路11に新たな1ビットエラーを生じたアドレス
、シンドロームを登録する。また、エラー検出回路6で
もエラーが検出されない場合、読み出しデータはそのま
ま外部装置へ出力される。本実施例において、第2訂正
回路7で2ビットエラーを検出し几ときにだけ第1訂正
回路5を有効にする方法も可能である。
第2図は本発明の第2の実施例のブロック図である。本
図における、記憶装置は、第1の訂正回路と第2の訂正
回路を共用化した例で、書き込み動作は第1図と同様の
動作をする。また、読み出し時には、アドレスレジスタ
9にセットされたアドレスでメモリ回路3から読み出さ
れたデータが読み出しレジスタ4にセットされ念後、シ
ンドローム発生回路6でシンドロームを発生される。こ
のシンドロームによりエラーがなかった場合、そのデー
タは訂正回路7を素通りして、読み出しデータ線20を
通って出力される。しかし、シンドローム発生回路6に
接続したエラー検出回路8で1ビットエラーが検出され
た場合は訂正回路7で1ビットエラーとなっているビラ
トラ反転した後読み出しデータ線20に出力される。そ
して、この1ビットエラーが固定故障の場合は、アドレ
ス。
シンドロームのエラー情報をエラー情報記憶回路11に
記憶させる。また、エラー検出回路8で2ビットエラー
が検出された場合には、アドレスレジスタ9の情報でエ
ラー情報記憶回路内の情報を探し、アドレスが一致する
かどうかをエラー情報−数構出回路10で検出する。こ
こで一致するデータがあった場合は、エラー情報記憶回
路11内のシンドローム情報により読み出しデータの1
ビット’2訂正し、この訂正したデータを保持回路14
に出力する。保持回路14に保持された訂正後の読み出
しデータとシンドロームは1ビットエラーとなっている
ため再度訂正回路7で訂正することで正しい読み出しデ
ータが得られる。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明はエラー情報記憶回路と2
つの訂正回路をもつことKよfi、5EC−DED符号
に制約がなく、高速に2ビットエラーの訂正を行なうこ
とができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図は本発明の第1および第2の実施例の構
成を示すブロック図である。 1・・・・・・書込みレジスタ、2・・・・・・8EC
−DED 符号発生回路、3・・・・・・メモリ回路、
4・・・・・・読出しレジスタ、5.7・・・・・・訂
正回路、6・・・・・・シン)” o−ム発生回路、8
・・・・・・エラー検出回路、9・・・・・・アドレス
レジスタ、10・・・・・・エラーアドレス−数構出回
路、11・・・・・・エラー情報記憶回路、14・・・
・・・保持回路、12・・・・・・書込みデータ線、1
3・・・・・・アドレス線、20・・・・・・読出しデ
ータ線。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 書込みデータに1ビットエラー訂正2ビットエラー検出
    符号のチェックビットを付加して記憶回路に記憶させか
    つエラー訂正を行う記憶装置において、アドレス信号に
    より指定されて前記記憶回路から読出された複数の情報
    ビットおよび前記チェックビットからなる読出しデータ
    に対するシンドロームを発生するシンドローム発生回路
    と;前記読出しデータに1ビットエラーがあった場合に
    この故障個所のエラー発生アドレス、シンドロームを含
    むエラー情報を記憶するエラー情報記憶回路と;このエ
    ラー情報記憶回路に記憶されたエラー情報、前記シンド
    ローム発生回路の出力および前記読出しデータにより1
    ビットエラーを訂正する第1のエラー訂正手段と;この
    第1のエラー訂正手段からの読出しデータと前記シンド
    ロームとから1ビットエラーを訂正する第2のエラー訂
    正手段とを含むことを特徴とする記憶装置。
JP22921785A 1985-10-14 1985-10-14 記憶装置 Pending JPS6288177A (ja)

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JP22921785A JPS6288177A (ja) 1985-10-14 1985-10-14 記憶装置

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JP22921785A JPS6288177A (ja) 1985-10-14 1985-10-14 記憶装置

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JPS6288177A true JPS6288177A (ja) 1987-04-22

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JP22921785A Pending JPS6288177A (ja) 1985-10-14 1985-10-14 記憶装置

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