JPH02278354A - 記憶装置 - Google Patents

記憶装置

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Publication number
JPH02278354A
JPH02278354A JP1098947A JP9894789A JPH02278354A JP H02278354 A JPH02278354 A JP H02278354A JP 1098947 A JP1098947 A JP 1098947A JP 9894789 A JP9894789 A JP 9894789A JP H02278354 A JPH02278354 A JP H02278354A
Authority
JP
Japan
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error
error bit
pointing out
output
bit
Prior art date
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Pending
Application number
JP1098947A
Other languages
English (en)
Inventor
Shuichi Takanashi
高梨 秀一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP1098947A priority Critical patent/JPH02278354A/ja
Publication of JPH02278354A publication Critical patent/JPH02278354A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は記憶装置における誤り訂正に関し、特に、誤り
訂正のために記憶素子を使用した場合における上記記憶
装置の誤り回復に関するものである。
〔従来の技術〕
従来、この種の記憶装置においては、記憶手段に記憶す
る内容と共に、1ビット誤り訂正・2ビット誤り検出用
の検査ビットを付加して記憶し、読出し時にシンドロー
ム生成手段でシンドロームを生成し、これをもとに誤り
ビット位置を解析し訂正手段で訂正することにより、1
ビツトの誤りに対しては、復旧して正しい記憶内容を出
力するようにしている。
ところが、拡張記憶装置とか電子ディスクなどのように
、主記憶装置などに比較して信頼性の高いことが要求さ
れる記憶装置の開発が進展するにつれ、任意の2ピント
訂正等、複数ピントの誤り訂正が必要となってきた。複
数ビ・7ト誤り訂正は1ビット誤り訂正に比べてビット
指摘手段が複雑となるため、ビット指摘手段として記憶
素子を使用して実現する方法がある。
〔発明が解決しようとする課題〕
ビット指摘手段に記憶素子を使った上述の記憶装置では
、ビット指摘手段に使用される記憶素子が、微細化技術
の発達と共に、α線によるソフトエラーを生じるように
なってきており、記憶素子の信頼度が無視できなくなっ
てきている。記憶素子にソフトエラーを生じた場合、ビ
ット指摘手段の誤動作を招き、誤って記憶手段の内容を
変えてしまうという欠点があった。
〔課題を解決するための手段〕
このような欠点を除去するために本発明は、誤り訂正機
能を有する記憶装置において、記憶手段に接続されたシ
ンドローム生成手段と、このシンドローム生成手段に接
続され、記憶素子により構成された第1および第2の誤
りビット指摘手段と、第1および第2の誤りビット指摘
手段に接続された第1および第2の誤り検出手段と、第
1および第2の誤りビット指摘手段に接続された選択手
段と、この選択手段および前記記憶手段の出力に接続さ
れた訂正手段とを備え、第1の誤りビット指摘手段の出
力を第2の誤りピッl摘手段の入力に接続し、第2の誤
りビット指摘手段の出力を第1の誤りビット指摘手段の
入力に接続し、第1の誤り検出手段もしくは第2の誤り
検出手段で誤りが検出された場合、第1の誤り検出手段
もしくは第2の誤り検出手段は第2の誤りビット指摘手
段もしくは第1の誤りビット指摘手段の内容を第1の誤
りビット指摘手段もしくは第2の誤りビット指摘手段に
新たに書き込み、選択手段は誤りのない方のビット指摘
手段の内容を選択して訂正手段に出力するようにしたも
のである。
〔作用〕
本発明による記憶装置においては、片方の誤りビット指
摘手段に障害が発生しても誤り訂正機能を失わず、その
障害がソフトエラーなどのように回復可能な障害の場合
には回復される。
〔実施例〕
図は本発明による記憶装置の一実施例を示すブロック系
統図である。同図において、■は記憶手段、2はシンド
ローム生成手段、3は選択手段、4は訂正手段、5およ
び6は第1および第2の誤りビット指摘手段、7および
8は第1および第2の誤り検出手段、9は論理積手段で
ある。
記憶手段1はシンドローム生成手段2と訂正手段4に接
続され、シンドローム生成手段2の出力は誤りビット指
摘手段5および6に接続されている。誤りビット)旨摘
手段5および6は記憶素子で構成されていて、その出力
はそれぞれ誤りビット指摘手段6と誤り検出手段7およ
び誤りビット指摘手段5と誤り検出手段8に接続されて
いる。誤り検出手段7の出力は選択手段3に接続されて
おり、また、ライトパルスaによりゲートされて誤りビ
ット指摘手段5の入力に接続される。誤り検出手段8は
ライトパルスaによりゲートされて誤りビット指摘手段
6の入力に接続される。選択手段3の出力は訂正手段4
の入力に接続されている。
また、誤り検出手段7および8の出力は論理積手段9に
入力され、論理積手段9からはエラー信号すが出力され
る。
記憶手段1から読み出されたデータには検査ビットが含
まれていて、シンドローム生成手段2に入力される。シ
ンドローム生成手段2ではシンドロームを生成し、この
シンドロームは第1の誤りビット指摘手段5と第2の誤
りビット指摘手段6に人力される。誤りビット指摘手段
5および6は記憶素子で構成されていて、シンドローム
生成手段2の出力は上記記憶素子のアドレス線に接続さ
れている。したがって、シンドロームの値に対応したア
ドレスには、そのシンドロームの値に対応した誤りビッ
ト位置のみ論理値「1」、その他のビット位置は論理値
rOJをあらかじめ書き込んでおく。また、これらにパ
リティビットを設けて、あらかじめ正しいパリティ値を
書き込んでおく。
このように設定しておくと、誤りビット指摘手段5と6
の出力はシンドロームに対応して誤りビット位置を指摘
することができる。誤り検出手段7と8はそれぞれ誤り
ビット指摘手段5と6の出力のパリティエラーを検出す
る。第1の誤り検出手段7でエラーが検出されなかった
ならば、選択手段3は第1の誤りビット指摘手段5の内
容を出力し、訂正手段4に入力する。訂正手段4では、
選択手段3の出力から得られる誤りビット位置にしたが
い、記憶手段1からの読出しデータを訂正して訂正済デ
ータCを送出する。
第1の誤りビット指摘手段5に誤りが発生し、第1の誤
り検出手段7で誤りを検出すると、選択手段4は、第2
の誤りビット指摘手段6の内容を選択し、訂正手段4に
出力する。訂正手段4では、選択手段3の出力から得ら
れる誤りピント位置にしたがい、記憶手段1からの続出
しデータを訂正して訂正済データCを送出する。一方、
第2の誤すピット指摘手段6の出力は第1の誤りビット
指摘手段5に入力されているので、第1の誤り検出手段
7の出力によりライトパルスaのタイミングで第2の誤
りビット指摘手段6の出力が第1の誤りビット指摘手段
5に書き込まれる。従って、第1の誤りビット指摘手段
5の障害がα線によるソフトエラーなど回復可能な障害
ならば復旧される。
第2の誤りビット指摘手段6に誤りが発生した場合は第
2の誤り検出手段8で誤りを検出する。
第1の誤りビット指摘手段5の出力は第2の誤りビット
指摘手段6に入力されているので、ライトパルスaのタ
イミングで第1の誤りビット指摘手段5の出力が第2の
誤りビット指摘手段6に書き込まれる。効果は第1の誤
りビット指摘手段5の場合と同様である。
第1の誤りピント指摘手段5と第2の誤りビット指摘手
段6との両方に障害が起こった場合は、誤り検出手段7
と8とから出力が出るため、エラー信号すが出力される
。この場合は復旧不可であるが、このようなケースはほ
とんど発生しない。
C発明の効果〕 以上説明したように本発明は、記憶素子で構成された誤
りビット指摘手段と誤り検出手段とをそれぞれ第1と第
2の2つ有し、第1と第2の誤りビット指摘手段はその
出力を互いに入力し合うようにしたことにより、片方の
誤りビット指摘手段に障害が発生しても誤り訂正機能を
失うことがなく、また、その障害がソフトエラーなど回
復可能な障害の場合には回復できるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
図は本発明による記憶装置の一実施例を示すブロック系
統図である。 ■・・・記tα手段、2・・・シンドローム生成手段、
3・・・選択手段、4・・・訂正手段、5・・・第1の
誤りビット1旨摘手段、6・・・第2の誤りビット指摘
手段、7・・・第1の誤り検出手段、8・・・第2の誤
り検出手段、9・・・論理積手段。 、Q 特許出願人   日本電気株式会社

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 誤り訂正機能を有する記憶装置において、 記憶手段に接続されたシンドローム生成手段と、このシ
    ンドローム生成手段に接続され、記憶素子により構成さ
    れた第1および第2の誤りビット指摘手段と、第1およ
    び第2の誤りビット指摘手段に接続された第1および第
    2の誤り検出手段と、第1および第2の誤りビット指摘
    手段に接続された選択手段と、この選択手段および前記
    記憶手段の出力に接続された訂正手段とを備え、 第1の誤りビット指摘手段の出力は第2の誤りビット指
    摘手段の入力に接続され、第2の誤りビット指摘手段の
    出力は第1の誤りビット指摘手段の入力に接続され、 第1の誤り検出手段もしくは第2の誤り検出手段で誤り
    が検出された場合、第1の誤り検出手段もしくは第2の
    誤り検出手段は第2の誤りビット指摘手段もしくは第1
    の誤りビット指摘手段の内容を第1の誤りビット指摘手
    段もしくは第2の誤りビット指摘手段に新たに書き込み
    、前記選択手段は誤りのない方のビット指摘手段の内容
    を選択して前記訂正手段に出力することを特徴とする記
    憶装置。
JP1098947A 1989-04-20 1989-04-20 記憶装置 Pending JPH02278354A (ja)

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JP1098947A JPH02278354A (ja) 1989-04-20 1989-04-20 記憶装置

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JP1098947A JPH02278354A (ja) 1989-04-20 1989-04-20 記憶装置

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JPH02278354A true JPH02278354A (ja) 1990-11-14

Family

ID=14233296

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JP1098947A Pending JPH02278354A (ja) 1989-04-20 1989-04-20 記憶装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006293982A (ja) * 2005-04-11 2006-10-26 Hynix Semiconductor Inc アクセス時間が減少したフラッシュメモリ装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58501924A (ja) * 1981-12-30 1983-11-10 インタ−ナショナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−ション パツケ−ジ・エラ−訂正装置
JPS6288044A (ja) * 1985-10-14 1987-04-22 Fujitsu Ltd メモリ制御方式

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58501924A (ja) * 1981-12-30 1983-11-10 インタ−ナショナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−ション パツケ−ジ・エラ−訂正装置
JPS6288044A (ja) * 1985-10-14 1987-04-22 Fujitsu Ltd メモリ制御方式

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006293982A (ja) * 2005-04-11 2006-10-26 Hynix Semiconductor Inc アクセス時間が減少したフラッシュメモリ装置

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