JPH0296855A - メモリコントロール回路における故障検出方式 - Google Patents

メモリコントロール回路における故障検出方式

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JPH0296855A
JPH0296855A JP63250081A JP25008188A JPH0296855A JP H0296855 A JPH0296855 A JP H0296855A JP 63250081 A JP63250081 A JP 63250081A JP 25008188 A JP25008188 A JP 25008188A JP H0296855 A JPH0296855 A JP H0296855A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
write
ram
memory
control circuit
Prior art date
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Pending
Application number
JP63250081A
Other languages
English (en)
Inventor
Takenori Saito
齋藤 武徳
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NEC Ibaraki Ltd
Original Assignee
NEC Ibaraki Ltd
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Publication date
Application filed by NEC Ibaraki Ltd filed Critical NEC Ibaraki Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は情報処理装置内でのメモリコントロール回路に
おける故障検出方式に関する。
〔従来の技術〕
従来、この種のメモリコントロール回路における故障検
出方式としては、パリティチエツク方式、ECC方式等
によって、データ書込時にチエツクピットを生成し、読
み出し時に読み出しデータとチエツクピットとを照合し
てエラー検出を行うというものであった。
第4図は従来のメモリサイクルの動作タイミングチャー
トであり、メモリライト動作が連続した場合のタイミン
グチャートである。
第4図で101はクロック、102はメモリアドレス、
103は入力データ、104はチップセレクト信号、1
05はライトイネーブル信号、106は出力データを示
す。
また、e、fは入力データのメモリ取込みタイミングを
示す。
第4図に示す様に、従来のメモリサイクルは、e、fの
点でデータを取り込み、同時にECC方式の場合はシン
ドロームの書き込みを、パリティチエツク方式の場合は
、チエツクピットの書き込みが行われる。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来のメモリコントロール回路における故障検
出方式は、エラー検出を行なうのは該当ワードを読み出
した時点である為、データ書込時には正常にデータを書
き込む事が出来たか否かが判別出来ないので、該当ワー
ドを読み出す時に初めてデータ異常を検出して書き込み
時に異常があった事が分かり、その後の復旧作業を行な
わなければならないという欠点がある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明のメモリコントロール回路における故障検出方式
の構成は、情報処理装置におけるメモリコントロール回
路において、アドレス入力端子に接続されるアドレス線
、データ入力端子に接続されるデータ入力線、データ出
力端子に接続されるデータ出力線、チップセレクト端子
に入力されるチップセレクト信号及びライトイネーブル
端子に入力されるライトイネーブル信号により制御可能
なRAM (ランダム・アクセス・メモリ)を使用した
メモリコントロール回路の書込みサイクルで、前記RA
Mに入力するアドレスを保持するアドレスラッチ、前記
RAMに入力するデータを保持するデータラッチ、また
、前記データラッチの円方の値と前記RAMの出力デー
タとの値を入力とし、比較する比較回路と、前記比較回
路によって前記比較回路の二人力の値が不一致であるこ
とを検出し記憶しておくエラー検出回路及び前記チップ
セレクト信号と前記ライトイネーブル信号を制御する制
御信号線コントロール回路により構成され、前記制御信
号線コントロール回路によりライトサイクル終了後、前
記チップセレクト信号を有効に、また、前記ライトイネ
ーブル信号を無効にしてリードサイクルを実現する事に
より、前記読み出しサイクルによって該RAMから出力
される読み出しデータと前記書き込みサイクルでの書き
込みデータとを比較する事により前記RAMに書き込み
が行なわれた事を保障することを特徴とする。
〔実施例〕
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の第1の実施例を示すメモリコントロー
ル回路における故障検出方式のブロック図であり、第2
図及び第3図は本発明の実施例を示すメモリコントロー
ル回路における故障検出方式の動作タイミングチャート
であり、第4図は現状のメモリライトサイクルの動作タ
イミングチャートである。
本発明の実施には大きく分けて2通りの実現方法がある
。1つはメモリリードサイクルをメモリライトサイクル
終了後に実施する方法(以下、実施例1と称す)であり
、もう1つはメモリリードサイクルをメモリライトサイ
クル内で実施する方法(以下、実施例2と称す)がある
第1図で、RAM(ランダムアクセスメモリ)11には
、アドレス入力端子1.データ入力端子3、データ出力
端子5.チップセレクト端子7゜ライトイネーブル端子
9があり、各々は以下の様に接続されている。
アドレス線2は、アドレスラッチ12を介してRAMI
Iのアドレス端子1に接線されている。
アドレスラッチ12は、実施例1の場合に使用し、メモ
リリードサイクル時に使用するアドレスをメモリライト
サイクル時に保持しておく為にある。
データ入力線4は、データラッチ13を介してRAMI
Iのデータ入力端子3に接続されている。
データラッチ13は、メモリライトサイクル時のライト
データを保持しておき、メモリリードサイクル時にリー
ドデータと比較出来る様にする為のものである。
データ出力端子5は、データ出力線6によって比較回路
14の入力となり、この入力は、メモリリード時のリー
ドデータの入力となる。
比較回路14の入力のもう一方には、データラッチ13
の出力が入力され、この入力は、メモリライト時のライ
トデータの入力となる。
これによって比較口1l1814では、メモリリード時
のり−ドデータとメモリライト時のライトデータとを比
較し、比較結果はエラー検出回路15に伝えられる。
エラー検出回路15は、比較回路14の出力を常にエラ
ー検出を行うタイミングが否かを監視し、エラー検出を
行うタイミングで比較結果不一致となった場合は、エラ
ー検出をするという回路である。
チップセレクト信号8は、制御信号線コントロール回路
19を介し、RAMIIのチップセレクト端子7に接続
され、ライトイネーブル信号10もまた、制御信号線コ
ントロール回路16を介してRAMIIのライトイネー
ブル端子9に接続されている。
メモリリードサイクル、メモリライトサイクルは、この
チップセレクト信号とライトイネーブル信号とにより決
定する。
各々、チップセレクト信号が有効、かつ、ライトイネー
ブル信号が無効の時、メモリリードサイクルが、また、
チップセレクト信号が有効、かつ、ライトイネーブル信
号が有効の時、メモリライトサイクルとなる。
従って、実施例1の場合は、制御信号線コントロール回
路16によりチップセレクト信号を現状のタイミングよ
り信号の有効部分を後方まで引き延ばす事により、リー
ドサイクルを実現する。
また、実施例2の場合は、ライトイネーブル信号を現状
のタイミングより信号の有効部分を早くする事により、
リド−サイクルを実現する。
第2図は、実施例1の動作タイミングチャートであり、
メモリライト動作が連続して行われた場合のタイミング
チャートである。
第2図で、201はクロック、202はメモリアドレス
、203は入力データ、204はチップセレクト信号、
205はライトイネーブル信号、206は出力データを
示す。
また、点線部a、bは従来のチップセレクト信号の動作
タイミングを示す。
第3図は第2の実施例の動作タイミングチャートであり
、メモリライト動作が2回連続して行われた場合のタイ
ミングチャートである。
第3図で、301はクロック、302はメモリアドレス
、303は入力データ、304はチップセレクト信号、
305はライトイネーブル信号、306は出力データを
示す。
また、点線部c、dは従来のライトイネーブル信号の動
作タイミングを示す。
〔発明の効果〕
以上説明した様に本発明は、メモリライト動作時にライ
トデータをデータラッチに保持しておき、メモリライト
動作の直後にライトアドレスでメモリリード動作を行な
い、保持しておいたライトデータとリードデータとを比
較する事により、メモリライト時の異常は、メモリに対
して書き込み動作を行った後、ただちに検出出来るとい
う効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1の実施例を示すメモリコントロー
ル回路における故障検出方式のブロック図、第2図及び
第3図は本発明の実施例第1図の動作タイミングチャー
ト、第4図は現状のメモリライトサイクルの例のタイミ
ングチャートである。 1・・・アドレス入力端子、2・・・アドレス線、3・
・・データ入力端子、4・・・データ入力線、5・・・
データ出力端子、6・・・データ出力線、7・・・チッ
プセレクト端子、8・・・チップセレクト信号、9・・
・ライトイネーブル端子、10・・・ライトイネーブル
信号、11・・・RAM (ランダムアクセスメモリ)
、12・・・アドレスラッチ、13・・・データラッチ
、14・・・比較回路、15・・・エラー検出回路、1
6・・・制御信号線コントロール回路、101・・・ク
ロック、102・・・メモリアドレス、103・・・入
力データ、104・・・チップセレクト信号、105・
・・ライトイネーブル信号、106・・・出力データ、
201・・・クロック、202・・・メモリアドレス、
203・・・入力データ、204・・・チップセレクト
信号、205・・・ライトイネーブル信号、206・・
・出力データ、301・・・クロック、302・・・メ
モリアドレス、303・・・入力データ、304・・・
チップセレクト信号、305・・・ライトイネーブル信
号、306・・・出力データ、a・・・現状のチップセ
レクト信号、b・・・現状のチップセレクト信号、C・
・・現状のライトイネーブル信号、d・・・現状のライ
トイネーブル信号。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 情報処理装置におけるメモリコントロール回路において
    、アドレス入力端子に接続されるアドレス線、データ入
    力端子に接続されるデータ入力線、データ出力端子に接
    続されるデータ出力線、チップセレクト端子に入力され
    るチップセレクト信号及びライトイネーブル端子に入力
    されるライトイネーブル信号により制御可能なRAM(
    ランダム・アクセス・メモリ)を使用したメモリコント
    ロール回路の書込みサイクルで、前記RAMに入力する
    アドレスを保持するアドレスラッチ、前記RAMに入力
    するデータを保持するデータラッチ、また、前記データ
    ラッチの出力の値と前記RAMの出力データとの値を入
    力とし、比較する比較回路と、前記比較回路によって前
    記比較回路の二入力の値が不一致であることを検出し記
    憶しておくエラー検出回路及び前記チップセレクト信号
    と前記ライトイネーブル信号を制御する制御信号線コン
    トロール回路により構成され、前記制御信号線コントロ
    ール回路によりライトサイクル終了後、前記チップセレ
    クト信号を有効に、また、前記ライトイネーブル信号を
    無効にしてリードサイクルを実現する事により、前記読
    み出しサイクルによって該RAMから出力される読み出
    しデータと前記書き込みサイクルでの書き込みデータと
    を比較する事により前記RAMに書き込みが行なわれた
    事を保障することを特徴とするメモリコントロール回路
    における故障検出方式。
JP63250081A 1988-10-03 1988-10-03 メモリコントロール回路における故障検出方式 Pending JPH0296855A (ja)

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JP63250081A JPH0296855A (ja) 1988-10-03 1988-10-03 メモリコントロール回路における故障検出方式

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JP63250081A JPH0296855A (ja) 1988-10-03 1988-10-03 メモリコントロール回路における故障検出方式

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JPH0296855A true JPH0296855A (ja) 1990-04-09

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ID=17202525

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JP63250081A Pending JPH0296855A (ja) 1988-10-03 1988-10-03 メモリコントロール回路における故障検出方式

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6115882B1 (ja) * 2016-03-04 2017-04-19 ウィンボンド エレクトロニクス コーポレーション 半導体記憶装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6115882B1 (ja) * 2016-03-04 2017-04-19 ウィンボンド エレクトロニクス コーポレーション 半導体記憶装置
JP2017157262A (ja) * 2016-03-04 2017-09-07 ウィンボンド エレクトロニクス コーポレーション 半導体記憶装置

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