SU1661839A2 - Запоминающее устройство с коррекцией ошибок - Google Patents

Abstract

Изобретение относитс  к вычислительной технике и может быть использовано при построении высоконадежных запоминающих устройств, сохран ющих работоспособность в случае неисправности одного из блоков пам ти. Цель изобретени  - расширение области применени  устройства за счет выдачи дополнительной информации о наличии неисправности и ее характере. Устройство содержит регистр 1 адреса, рабочие блоки 2, 3 пам ти, резервные блоки 4, 5 пам ти, блоки 6 - 9 вычислени  синдромов, блоки 10 - 13 коррекции, блоки 14 - 17 преобразовани  синдромов, блок 18 диагностики. Устройство позвол ет при считывании информации с помощью блоков преобразовани  синдромов и блока диагностики вы вл ть неисправности блоков пам ти и выдавать информацию об этих неисправност х. 3 табл., 3 ил.

Description

Изобретение относитс  к области вычислительной техники, может быть использовано при построении высоконадежных запоминающих устройств, сохран ющих работоспособность в случае неисправности одного из блоков пам ти и  вл етс  усовершенствованием технического решени  по авт. св. № 1564696.

Цель изобретени  - расширение области применени  устройства за счет выдачи дополнительной информации о наличии неисправности и ее характере.

На фиг. 1 изображена функциональна  схема устройства дл  16-разр дного формата данных, в котором применены БИС ЗУ с байтовой организацией; на фиг. 2 - функциональна  схема одного из четырех однотипных блоков преобразовани  синдромов; на фиг. 3 - функциональна  схема блока диагностики .

На фиг. 1-3 инверси  данных обозначена кружочком.

Устройство содержит регистр 1 адреса, рабочие блоки 2 и 3 пам ти, резервные блоки 4 и 5 пам ти, блоки 6-9 вычислени  синдромов, блоки 10-13 коррекции,, блоки 14-17 преобразовани  синдромов, блок 18 диагностики, контрольные выходы 19 устройства , элементы 5ИЛИ 20 - 32, элементы ЮИЗЗ-36. элементы 4ИЛИ 37-45, элемент 5И 46, элемент 2И 47.

Разр дность каждого блока пам ти и число входов каждого блока вычислени  синдрома равно восьми. Число выходов каждого блока вычислени  синдрома равно числу входов каждого блока преобразовани  синдрома и равно п ти, а число выходов каждого блока преобразовани  синдрома и число выходов каждого блока коррекции равно четырем. Число входов блока диагностики равно шестнадцати, а число его выходов - шести. Число входов каждого блока коррекции равно дев ти.

Устройство работает следующим образом .

При неисправности одного из блоков пам ти или при их правильной работе на выходе каждого блока 6-9 .вычислени  синдромов формируетс  один из тринадцати синдромов S1-S5. Обознача  информационные разр ды, поступающие на каждый

блок вычислени  синдрома, как F1-F4, а контрольные разр ды - R1-R4, можно каждому из этих тринадцати синдромов сопоставить ошибочные разр ды. Разр ды F1 и

F2 соответствуют первому рабочему блоку 2 пам ти, разр ды F3 и F4 - второму рабочему блоку 3 пам ти, разр ды R1 и R2 - первому резервному блоку 4 пам ти, а разр ды R3 и R4 - второму резервному блоку 5 пам ти.

Соответствие между значени ми синдромов, ошибочными разр дами и номером неисправного блока пам ти приведено в табл. 1. Дл  каждого синдрома в соответствующем ему блоке 14 преобразовани  синдрома вырабатываетс  4-разр дное слово ai, bi, ci, di, в блоке 15 преобразовани  синдрома - 32, 02, С2. d2, в блоке 16 преобразовани  синдрома - аз. оз, сз, ds, в блоке 17 преобразовани  синдрома - 34, Ьм, С4, d4.

Так как структура всех блоков 14-17 преобразовани  синдромов одинакова, то дальнейшее изложение будет вестись на примере формировани  слова а, Ь, с, d, в блоке 14 преобразовани  синдрома.

Значени  битов а, Ь, с. d определ ютс  следующим образом:

S1 S2 S3 S4 S5 синдром S1-S5 не совпадает ни с одним из синдромов, приведенных в табл. bi

ci di 1;

синдром S1-S5 совпадает с одним из ненулевых синдромов, содержащихс  в табл. 1. Один из разр дов ai, bt, ci, di равен 1, а три остальных равны б, причем комбинации означают следующе:

aibicidi

1000 Неисправен первый рабочий

блок 2 пам ти; 0 1 О О Неисправен второй рабочий

блок 3 пам ти; 0010 Неисправен первый резервный

блок 4 пам ти; 0001 Неисправен второй резервный

блок 5 пам ти.

Исход  из сказанного, можно записать

услови , при которых каждый из разр дов ai, bi, ci, di равен О. Эти услови  приведены в табл. 2,

i 0 при одном из следромов:

S5

0

1

0

0

0

1

1

1

0

0

следующих значений

следующих значений

следующих значений

  разр дов ai, bi, ci, услови м табл. 2, притой схеме каждый из соответствует одному омов, приведенных в совпадает с одним из чений, то выход соотта 5ИЛИ принимает

0 значение О, а выходы всех остальных элементов - 1. Если синдром не совпадает ни с одним из синдромов из табл. 1, то выходы всех элементов 5ИЛИ 20-32 принимают значение 1. Выходы элементов 5ИЛИ 20-

5 32 соединены с соответствующими входами элементов 10И 33-36, на выходах которых вырабатываютс  значени  битов ач, bi, ci, d i соответственно. Прослежива  логику работы этих элементов 10И 33-36, можно пол0 учить зависимость между значени ми синдрома и значени ми битов ai, bi, ci, di (табл. 3).

Аналогично получаютс  значени  32. Ь2, С2, da в блоке 15 преобразовани  синдрома,

5 аз, Ьз. сз, ds в блоке 16 преобразовани  синдрома, 34, 04, С4, d4 в блоке 17 преобразовани  синдрома.

Сигналы а 1-34, , , di-d4поступают на элементы 4ИЛИ 37-40 блока 18

0 диагностики. На входы элемента 4 ИЛИ 37 поступают сигналы ai, 32, аз, а, на входы элемента 4 ИЛИ 38- сигналы bi, b2, Ьз, b4. на входы элемента 4 ИЛИ 39 - ci, 02, сз. С4 и на входы элемента 4 ИЛИ 40 - di, d2, ds, d4

5 Элементы 37-40 выполн ют логическую функцию ИЛИ, и на их выходах получаютс  логические сигналы а, Ь, с, d соответственно , которые поступают на входы элементов 4ИЛИ 41-45. Значени  сигналов а, Ь, с, d

0 св заны уже с обработкой всех четырех синдромов , образующихс  в блоках 6-9 вычислени  синдромов. При правильной работе всех блоков пам ти и при неисправности только одного из них может получитьс  одно

5 из следующих п ти значений слова а, Ь, с, d, отражающего соответствующую ситуацию: abed

0000 Нет неисправности, 1000 Неисправен блок 2,

0 0 1 О О Неисправен блок 3; 0010 Неисправен блок 4; 0001- Неисправен блок 5

Если значени  сигналов а, Ь, с, d не совпадают с этими значени ми, то на выхо5 де элемента 5 И 46 вырабатываетс  высокий потенциал, который свидетельствует о том, что неисправны два или более блоков пам ти . Этот высокий потенциал  вл етс  сигналом Неисправна ошибка и его выработка обеспечиваетс  логикой работы элементов 4ИЛИ 41-45 и элемента 5И 46

Если сигнал Неисправна ошибка не возникает и хот  бы один из синдромов отличен от нулевого, то на выходе элемента 2И 47 вырабатываетс  высокий потенциал, который свидетельствует о корректируемой ошибке и указывает на неисправность в одном из блоков пам ти,  вл  сь сигналом Исправна ошибка Логика выработки этого сигнала обеспечиваетс  работой элементов 4ИЛИ 45, 5И 46 и 2И 47.

Если все блоки пам ти исправны, то все четыре синдрома нулевые, значени  сигналов а, Ь, с, d также равны нулю, и выходы элементов 5И 46 и 2И 47 имеют низкий потенциал , т.е. сигналы Неисправна ошибка и Исправна ошибка не выдаютс .

Таким образом, данное изобретение по сравнению с известным позвол ет в высоконадежном резервированном запоминающем устройстве расширить функциональные возможности за счет выдачи дополнительной информации о наличии неисправности и ее характере.

5

Claims (1)

1. Формула изобретени  Запоминающее устройство с коррекцией ошибок по авт. ев № 1564696, отличающеес  тем, что, с целью расширени  области применени  устройства за счет выдачи информации о наличии неисправности и ее характере, в устройство введены блоки преобразовани  синдромов и блок диагностики , входы каждого блока преобразовани  синдромов соединены с выходами соответствующего блока вычислени  синдромов, выходы каждого блока преобразовани  синдромов соединены с соответствующими входами блока диагностики, выходы которого  вл ютс  контрольными выходами устройства.

   Таблица1

   Таблица2

   ТаблицчЗ

   Продолжение таблицы 3

   S1-55

   У1

   81

   35

   C1

   36

   dl

   Фиг. 2

   ФигЗ

   На регистр состо ни