JPH036223B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH036223B2 JPH036223B2 JP56003933A JP393381A JPH036223B2 JP H036223 B2 JPH036223 B2 JP H036223B2 JP 56003933 A JP56003933 A JP 56003933A JP 393381 A JP393381 A JP 393381A JP H036223 B2 JPH036223 B2 JP H036223B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- carbon coating
- cathode
- infrared transparent
- coating deposition
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 72
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 54
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 claims description 53
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 49
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 41
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims description 39
- 230000008021 deposition Effects 0.000 claims description 22
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 21
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 18
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 18
- -1 carbon ions Chemical class 0.000 claims description 16
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 claims description 14
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 14
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 claims description 11
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N argon Substances [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 11
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 claims description 11
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 claims description 11
- 229910021385 hard carbon Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 claims description 8
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 claims description 5
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 claims description 4
- PFNQVRZLDWYSCW-UHFFFAOYSA-N (fluoren-9-ylideneamino) n-naphthalen-1-ylcarbamate Chemical compound C12=CC=CC=C2C2=CC=CC=C2C1=NOC(=O)NC1=CC=CC2=CC=CC=C12 PFNQVRZLDWYSCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 239000005083 Zinc sulfide Substances 0.000 claims description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 2
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 claims description 2
- 229910052984 zinc sulfide Inorganic materials 0.000 claims description 2
- DRDVZXDWVBGGMH-UHFFFAOYSA-N zinc;sulfide Chemical compound [S-2].[Zn+2] DRDVZXDWVBGGMH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 239000012777 electrically insulating material Substances 0.000 claims 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 18
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 17
- 210000002381 plasma Anatomy 0.000 description 15
- 238000000034 method Methods 0.000 description 13
- BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N Silane Chemical compound [SiH4] BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 229910000077 silane Inorganic materials 0.000 description 8
- XYFCBTPGUUZFHI-UHFFFAOYSA-N Phosphine Chemical compound P XYFCBTPGUUZFHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000001273 butane Substances 0.000 description 5
- 229910000078 germane Inorganic materials 0.000 description 5
- IJDNQMDRQITEOD-UHFFFAOYSA-N n-butane Chemical compound CCCC IJDNQMDRQITEOD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- OFBQJSOFQDEBGM-UHFFFAOYSA-N n-pentane Natural products CCCCC OFBQJSOFQDEBGM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 4
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- UORVGPXVDQYIDP-UHFFFAOYSA-N borane Chemical compound B UORVGPXVDQYIDP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 4
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 229910000073 phosphorus hydride Inorganic materials 0.000 description 3
- ATUOYWHBWRKTHZ-UHFFFAOYSA-N Propane Chemical compound CCC ATUOYWHBWRKTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910000085 borane Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 238000007733 ion plating Methods 0.000 description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 2
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 2
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005299 abrasion Methods 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- XFWJKVMFIVXPKK-UHFFFAOYSA-N calcium;oxido(oxo)alumane Chemical compound [Ca+2].[O-][Al]=O.[O-][Al]=O XFWJKVMFIVXPKK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910021386 carbon form Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000356 contaminant Substances 0.000 description 1
- 239000000498 cooling water Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 description 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);zirconium(4+) Chemical compound [O-2].[O-2].[Zr+4] RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001294 propane Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 239000013076 target substance Substances 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
- 229910001928 zirconium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/34—Sputtering
- C23C14/3435—Applying energy to the substrate during sputtering
- C23C14/345—Applying energy to the substrate during sputtering using substrate bias
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/34—Sputtering
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/458—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for supporting substrates in the reaction chamber
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/50—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating using electric discharges
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/18—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
- H01L31/20—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof such devices or parts thereof comprising amorphous semiconductor materials
- H01L31/202—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof such devices or parts thereof comprising amorphous semiconductor materials including only elements of Group IV of the Periodic System
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、グロー放電プラズマ中で被覆を付着
させる方法及び装置に関する。
させる方法及び装置に関する。
この被覆は硬質炭素、けい素、ゲルマニウム、
又はプラズマを生成するようにイオン化すること
のできる他の適当な物質でよい。
又はプラズマを生成するようにイオン化すること
のできる他の適当な物質でよい。
炭素被覆は、これ等の炭素被覆が極めて硬く、
耐摩性を持ち赤外線に対し実質的に透明であるか
ら、たとえば赤外線熱画像機(infra red
thermal imager)に使うゲルマニウムレンズに
有用である。けい素及びゲルマニウムは共に赤外
線に透明で種種の赤外線装置に有用である。
耐摩性を持ち赤外線に対し実質的に透明であるか
ら、たとえば赤外線熱画像機(infra red
thermal imager)に使うゲルマニウムレンズに
有用である。けい素及びゲルマニウムは共に赤外
線に透明で種種の赤外線装置に有用である。
基板の被覆には幾つかの方法がある。たとえば
基板は真空中で被覆物質から成る陰極標的の上方
につり下げる。この標的にアルゴンイオンを打付
けることにより、基板に付着する標的物質の小さ
な粒子をたたき出す。このような方法はスパツタ
法として知られている。炭素はスパツタさせるこ
とができるが、生成被覆はダイヤモンド状でなく
黒鉛状である。
基板は真空中で被覆物質から成る陰極標的の上方
につり下げる。この標的にアルゴンイオンを打付
けることにより、基板に付着する標的物質の小さ
な粒子をたたき出す。このような方法はスパツタ
法として知られている。炭素はスパツタさせるこ
とができるが、生成被覆はダイヤモンド状でなく
黒鉛状である。
被覆はプラズマ中で生長させる。たとえば基板
は直流又はRF励起の炭化水素プラズマ中で陰極
として使う。炭素イオンは引付けられ基板に当た
り、適当な温度及び圧力条件に対しダイヤモンド
状になる炭素層を形成する。同様にけい素及びゲ
ルマニウムはそれぞれシラン及びゲルマンのプラ
ズマから生長する。
は直流又はRF励起の炭化水素プラズマ中で陰極
として使う。炭素イオンは引付けられ基板に当た
り、適当な温度及び圧力条件に対しダイヤモンド
状になる炭素層を形成する。同様にけい素及びゲ
ルマニウムはそれぞれシラン及びゲルマンのプラ
ズマから生長する。
けい素の無定形層は生長させ、プラズマ中のド
ーピング不純物を制御することにより太陽電池と
して使う。ドーピングのこの制御によりp−n接
合及びp−i−n接合をグロー放電中の付着によ
つて形成することができる。
ーピング不純物を制御することにより太陽電池と
して使う。ドーピングのこの制御によりp−n接
合及びp−i−n接合をグロー放電中の付着によ
つて形成することができる。
炭素被膜の生長法は次の論文及びその協働する
参考文献『薄膜固体58』(1979年刊)101〜105頁、
106頁、107〜116頁及び117〜120頁に記載してあ
る。
参考文献『薄膜固体58』(1979年刊)101〜105頁、
106頁、107〜116頁及び117〜120頁に記載してあ
る。
グロー放電によりけい素及びゲルマニウムの無
定形層を生長させる方法は次の論文及びその協働
する引用文献すなわち1977年刊行の『物理学の進
歩』第26巻第6号811〜845頁のスピア・ダブリ
ユ・イー(Spear W、 E)による『ドーピン
グを行つた無定形半導体』に記載してある。
定形層を生長させる方法は次の論文及びその協働
する引用文献すなわち1977年刊行の『物理学の進
歩』第26巻第6号811〜845頁のスピア・ダブリ
ユ・イー(Spear W、 E)による『ドーピン
グを行つた無定形半導体』に記載してある。
従来のグロー放電付着の場合の欠点は、適当な
付着割合が得られるようにするのに陰極に高い電
位を印加し又は生じさせ基板が高いエネルギーの
入射粒子を受けるようにしなければならないこと
である。この場合被覆の応力に影響を及ぼしバツ
クスパツタ割合が増す。若干の場合にはこれによ
り層の付着を全く妨げる。
付着割合が得られるようにするのに陰極に高い電
位を印加し又は生じさせ基板が高いエネルギーの
入射粒子を受けるようにしなければならないこと
である。この場合被覆の応力に影響を及ぼしバツ
クスパツタ割合が増す。若干の場合にはこれによ
り層の付着を全く妨げる。
本発明ではイオンの発生と被覆の付着とを互に
無関係に制御する。
無関係に制御する。
本発明は、
(イ) 赤外線に透明な炭素被覆を支えるように、基
板の表面を整備する段階と、 (ロ) 炭化水素ガスを室内に入れる段階と、 (ハ) 陽極と陰極との間に電位を印加することによ
つて前記室内において前記陽極と前記陰極との
間に前記炭化水素ガスのプラズマを形成する段
階と、 (ニ) 赤外線に透明な炭素被覆を設けようとする基
板の表面を、この表面から間隔を置いた位置に
おいて前記表面に平行な前記陰極に向き合うよ
うに、配置する段階と、 (ホ) 前記基板の温度を、前記プラズマの温度に依
存しないで制御する段階と、 (ヘ) 前記基板の電位を、前記陰極の電位に依存し
ないで制御可能にする段階と、 (ト) 前記プラズマ中の正に帯電した炭素イオン
が、前記陰極に引き付けられてこの陰極に衝突
し、前記炭素イオンが中性にされて炭素原子と
なり、この炭素原子が前記陰極を離れて前記基
板に衝突し、低い内部ひずみを持つ赤外線に透
明な、非常に硬質な炭素被覆を形成するよう
に、真空の前記プラズマの状態と前記陰極の電
位とを制御する段階と、から成る、赤外線に透
明な炭素被覆を基板に付着させる、赤外線透明
炭素被覆付着法にある。
板の表面を整備する段階と、 (ロ) 炭化水素ガスを室内に入れる段階と、 (ハ) 陽極と陰極との間に電位を印加することによ
つて前記室内において前記陽極と前記陰極との
間に前記炭化水素ガスのプラズマを形成する段
階と、 (ニ) 赤外線に透明な炭素被覆を設けようとする基
板の表面を、この表面から間隔を置いた位置に
おいて前記表面に平行な前記陰極に向き合うよ
うに、配置する段階と、 (ホ) 前記基板の温度を、前記プラズマの温度に依
存しないで制御する段階と、 (ヘ) 前記基板の電位を、前記陰極の電位に依存し
ないで制御可能にする段階と、 (ト) 前記プラズマ中の正に帯電した炭素イオン
が、前記陰極に引き付けられてこの陰極に衝突
し、前記炭素イオンが中性にされて炭素原子と
なり、この炭素原子が前記陰極を離れて前記基
板に衝突し、低い内部ひずみを持つ赤外線に透
明な、非常に硬質な炭素被覆を形成するよう
に、真空の前記プラズマの状態と前記陰極の電
位とを制御する段階と、から成る、赤外線に透
明な炭素被覆を基板に付着させる、赤外線透明
炭素被覆付着法にある。
又、本発明は、
(イ) 真空室と、
(ロ) この真空室内に真空を形成するポンプと、
(ハ) 炭化水素ガスを、前記真空室内に導入する導
入手段と、 (ニ) 前記真空室内に炭化水素ガスのプラズマを形
成するために、前記真空室内の陽極と陰極との
間に制御可能な電圧を印加する電圧印加手段
と、 (ホ) 赤外線に透明な被覆を設けようとする基板の
表面が、この表面から間隔を置いた位置におい
て前記表面に平行な前記陰極に向き合うよう
に、前記基板を支持する支持手段と、 (ヘ) 前記基板の電位を、前記陰極の電位に依存し
ないで制御する電位制御手段と、 (ヘ) 前記基板の温度を、前記プラズマの温度に依
存しないで制御する温度制御手段と、 を備え、 操作の際に、正の炭素イオンが前記陰極に引き
付けられてこの陰極に衝突し、前記炭素イオンが
中性にされて炭素原子となり、この炭素原子が前
記陰極を離れて前記基板上に、赤外線に透明な、
非常に硬質な炭素被覆を形成するように、真空と
前記陰極に印加される電圧とのレベルを調整可能
にして成る、赤外線透明炭素被覆付着装置にあ
る。
入手段と、 (ニ) 前記真空室内に炭化水素ガスのプラズマを形
成するために、前記真空室内の陽極と陰極との
間に制御可能な電圧を印加する電圧印加手段
と、 (ホ) 赤外線に透明な被覆を設けようとする基板の
表面が、この表面から間隔を置いた位置におい
て前記表面に平行な前記陰極に向き合うよう
に、前記基板を支持する支持手段と、 (ヘ) 前記基板の電位を、前記陰極の電位に依存し
ないで制御する電位制御手段と、 (ヘ) 前記基板の温度を、前記プラズマの温度に依
存しないで制御する温度制御手段と、 を備え、 操作の際に、正の炭素イオンが前記陰極に引き
付けられてこの陰極に衝突し、前記炭素イオンが
中性にされて炭素原子となり、この炭素原子が前
記陰極を離れて前記基板上に、赤外線に透明な、
非常に硬質な炭素被覆を形成するように、真空と
前記陰極に印加される電圧とのレベルを調整可能
にして成る、赤外線透明炭素被覆付着装置にあ
る。
さらに本発明による方法及び装置は、予備清掃
を行い炭素の付着中に使い付着のイオンめつきを
向上させる基板用バイアス電圧供給源を備える。
を行い炭素の付着中に使い付着のイオンめつきを
向上させる基板用バイアス電圧供給源を備える。
室に送入するガスは、硬質炭素被覆を形成する
炭化水素(たとえばプロパン、ブタン等)、又は
けい素被覆を形成するシラン、又はゲルマニウム
被覆を形成するゲルマンでよい。又はホスフイン
又はボランのようなドープ剤をシラン又はゲルマ
ンと共に送入してもよい。
炭化水素(たとえばプロパン、ブタン等)、又は
けい素被覆を形成するシラン、又はゲルマニウム
被覆を形成するゲルマンでよい。又はホスフイン
又はボランのようなドープ剤をシラン又はゲルマ
ンと共に送入してもよい。
本発明による方法及び装置では、炭素、けい
素、ゲルマニウム等のイオンの発生と基体への付
着とを隔離する。又基板の温度及び電位はイオン
の発生に使う温度及び電位に無関係である。
素、ゲルマニウム等のイオンの発生と基体への付
着とを隔離する。又基板の温度及び電位はイオン
の発生に使う温度及び電位に無関係である。
以下本発明による付着法及び付着装置の実施例
を添付図面について詳細に説明する。
を添付図面について詳細に説明する。
第1図に示すように真空密の室1は環状の壁部
分2と上部端板3及び下部端部4とを備えてい
る。ガス流入管5によりガスを室1に弁6を経て
入れることができる。ガス供給源(図示してな
い)は、弁6に連結され、アルゴン、ブタン、シ
ラン、ゲルマン、ホスフイン又はボランの加圧円
筒体でよい。ガス流出管7、弁8及び真空ポンプ
9により室1内に所要の圧力を保つことができ
る。室1内には、絶縁部片12により室下部端板
4から間隔を隔てたアルミニウム陰極板11を備
えた水冷の陰極体10を設けてある。絶縁部片1
2は又、RF給電導線13を納めそして陰極板1
1に冷却水を送る。たとえば13mHzで1000V、
200WのRF給電源14は陰極体10に200pFのコ
ンデンサ15を経て給電する。上部端板3及び下
部端板4は相互に電気的に接続され又接地してあ
る。
分2と上部端板3及び下部端部4とを備えてい
る。ガス流入管5によりガスを室1に弁6を経て
入れることができる。ガス供給源(図示してな
い)は、弁6に連結され、アルゴン、ブタン、シ
ラン、ゲルマン、ホスフイン又はボランの加圧円
筒体でよい。ガス流出管7、弁8及び真空ポンプ
9により室1内に所要の圧力を保つことができ
る。室1内には、絶縁部片12により室下部端板
4から間隔を隔てたアルミニウム陰極板11を備
えた水冷の陰極体10を設けてある。絶縁部片1
2は又、RF給電導線13を納めそして陰極板1
1に冷却水を送る。たとえば13mHzで1000V、
200WのRF給電源14は陰極体10に200pFのコ
ンデンサ15を経て給電する。上部端板3及び下
部端板4は相互に電気的に接続され又接地してあ
る。
被覆しようとする基板16は、上部端板3から
絶縁した基板取付部片17に保持する。陰極板1
1及び基板16間の距離はたとえば7cmである。
基板取付部片17内には、室1の外側の加熱器/
冷却器供給源19に連結した加熱器/冷却器18
を設けてある。基板16にはバイアス電圧供給源
20からバイアス電圧を印加する。さや入りの熱
電対21には、基板16の温度を測定するように
取付部片17の管部片22内を通る。
絶縁した基板取付部片17に保持する。陰極板1
1及び基板16間の距離はたとえば7cmである。
基板取付部片17内には、室1の外側の加熱器/
冷却器供給源19に連結した加熱器/冷却器18
を設けてある。基板16にはバイアス電圧供給源
20からバイアス電圧を印加する。さや入りの熱
電対21には、基板16の温度を測定するように
取付部片17の管部片22内を通る。
1変型ではRF供給源14の代りに直流供給源
を設けコンデンサ15を省いてある。
を設けコンデンサ15を省いてある。
導電性(たとえば抵抗率5ないし20Ωcm)のド
ープしたゲルマニウムから成る基板に炭素被覆す
る操作は次の通りである。
ープしたゲルマニウムから成る基板に炭素被覆す
る操作は次の通りである。
基板16は、取付部片17に取付けられ普通の
方法でたとえばアルコールのような溶媒でぬぐう
ことにより清掃する。第2図の組合わせの形成に
は、室1をポンプ9により10-5トル以下の減圧に
し汚染物を除く。
方法でたとえばアルコールのような溶媒でぬぐう
ことにより清掃する。第2図の組合わせの形成に
は、室1をポンプ9により10-5トル以下の減圧に
し汚染物を除く。
アルゴンガスを弁6及び流入管5を経て空気校
正の圧力計で約10-2トルの圧力になるまで送入す
る。基板16は約200℃に加熱する。
正の圧力計で約10-2トルの圧力になるまで送入す
る。基板16は約200℃に加熱する。
約−200V直流のバイアス電圧を供給源20か
ら基板16に印加しながら陰極体10を付勢する
ことにより、アルゴン中にプラズマを発生する。
このようにして基板16とアルゴンイオンとの衝
撃を生ずることにより被覆しようとする基板表面
を清掃する。約2minの清掃が適当である。次で
清掃バイアス電圧を除く。
ら基板16に印加しながら陰極体10を付勢する
ことにより、アルゴン中にプラズマを発生する。
このようにして基板16とアルゴンイオンとの衝
撃を生ずることにより被覆しようとする基板表面
を清掃する。約2minの清掃が適当である。次で
清掃バイアス電圧を除く。
次でポンプ9により室1からアルゴンを除き、
炭化水素ガスたとえばブタンを室1に流入管5を
経て空気校正ゲージで0.7ないし1×10-2トルの
圧力まで送入する。
炭化水素ガスたとえばブタンを室1に流入管5を
経て空気校正ゲージで0.7ないし1×10-2トルの
圧力まで送入する。
約−200V直流のバイアス電圧を加熱した基板
16に印加し陰極板11へのRF供給源14のス
イツチを入れる。RF供給源14はたとえば13M
Hz及び200Wの電力で1kVである。従つてブタン
ガスはイオン化する。正に帯電した炭素イオンは
陰極板11に当たる。陰極板11では若干の炭素
イオンは固着するが大部分は中性炭素イオンとし
て離れ基板16に当たる。基板16に対するバイ
アス電圧によつてこのイオンめつき処理により基
板16及び炭素間の接着力が増す。初期の炭素量
が付着した後、バイアス電圧は約零ないし−
200V直流に徐徐に低下する。
16に印加し陰極板11へのRF供給源14のス
イツチを入れる。RF供給源14はたとえば13M
Hz及び200Wの電力で1kVである。従つてブタン
ガスはイオン化する。正に帯電した炭素イオンは
陰極板11に当たる。陰極板11では若干の炭素
イオンは固着するが大部分は中性炭素イオンとし
て離れ基板16に当たる。基板16に対するバイ
アス電圧によつてこのイオンめつき処理により基
板16及び炭素間の接着力が増す。初期の炭素量
が付着した後、バイアス電圧は約零ないし−
200V直流に徐徐に低下する。
約2hr後に基板16は硬質炭素被覆23(第2
図)で約1μmの厚みに被覆される。次でこの装
置はスイツチを切り冷却させる。
図)で約1μmの厚みに被覆される。次でこの装
置はスイツチを切り冷却させる。
新しい陰極板11を使おうとする場合には、基
板を使わないでこの陰極板は前記の処理に次で初
期炭素被覆を行う。この場合アルミニウムのスパ
ツタのおそれが減る。
板を使わないでこの陰極板は前記の処理に次で初
期炭素被覆を行う。この場合アルミニウムのスパ
ツタのおそれが減る。
RF供給源を使い硬質炭素を付着させる前記の
処理は又直流供給減を使つても実施することがで
きる。この場合陰極供給減は約−1kVである。
処理は又直流供給減を使つても実施することがで
きる。この場合陰極供給減は約−1kVである。
炭素イオン発生すなわちガスイオン化及び陰極
体への衝撃と基板温度及びバイアス電圧による基
板への付着との互に無関係の制御により、所望の
炭素の形で誘起応力を低くして付着させることが
できる。このようにして厚い低ひずみの炭素被覆
を生長させることができる。
体への衝撃と基板温度及びバイアス電圧による基
板への付着との互に無関係の制御により、所望の
炭素の形で誘起応力を低くして付着させることが
できる。このようにして厚い低ひずみの炭素被覆
を生長させることができる。
電気絶縁基板にも又硬質炭素被覆を被覆するこ
とができる。たとえばアルミン酸カルシウム、硫
化亜鉛及びセレン化亜鉛を被覆することができ
る。
とができる。たとえばアルミン酸カルシウム、硫
化亜鉛及びセレン化亜鉛を被覆することができ
る。
絶縁基板又はその他の基板を被覆するには、接
着被膜が材料によつて弱いことが分れば、けい素
又はゲルマニウムの薄い接着層を炭素被覆に先だ
つてアルミニウム又はステンレス鋼又はガラスに
付着させることを除いて、処理は同様である。
着被膜が材料によつて弱いことが分れば、けい素
又はゲルマニウムの薄い接着層を炭素被覆に先だ
つてアルミニウム又はステンレス鋼又はガラスに
付着させることを除いて、処理は同様である。
このように接着層はよく知られている方法でけ
い素又はゲルマニウムの標的のスパツタリングに
より付着させる。或は接着層は図示の装置でブタ
ンの代りにシラン又はゲルマンのガスを使いグロ
ー放電により付着させる。炭素層の付着は接着層
の付着に次で行う。若干の基板層に対しては酸化
物から成る初期接着層がけい素層又はゲルマニウ
ム層の下側に必要である。
い素又はゲルマニウムの標的のスパツタリングに
より付着させる。或は接着層は図示の装置でブタ
ンの代りにシラン又はゲルマンのガスを使いグロ
ー放電により付着させる。炭素層の付着は接着層
の付着に次で行う。若干の基板層に対しては酸化
物から成る初期接着層がけい素層又はゲルマニウ
ム層の下側に必要である。
前記の処理ではすべて、基板にバイアス電圧を
印加しないで炭素被覆を付着させる。
印加しないで炭素被覆を付着させる。
第1図の装置は第3図に横断面で示した太陽光
電池を作るのに使うことができる。電池25は、
たとえば蒸着又はスパツタリングにより形成した
インジウムすず酸化物電極体27を支えるガラス
前部カバー26を備えている。薄いp型けい素層
28はシラン又はジボランのグロー放電プラズマ
から生長する。これに次で約1μmの厚さのけい
素(シランの場合はジボランではない)のドーピ
ングを行つてない層29とシラン中にホスフイン
を使いn型けい素層30とのグロー放電付着を行
う。薄いアルミニウム電極層31をn型けい素に
蒸着させこの全体を支持体32に固着する。
電池を作るのに使うことができる。電池25は、
たとえば蒸着又はスパツタリングにより形成した
インジウムすず酸化物電極体27を支えるガラス
前部カバー26を備えている。薄いp型けい素層
28はシラン又はジボランのグロー放電プラズマ
から生長する。これに次で約1μmの厚さのけい
素(シランの場合はジボランではない)のドーピ
ングを行つてない層29とシラン中にホスフイン
を使いn型けい素層30とのグロー放電付着を行
う。薄いアルミニウム電極層31をn型けい素に
蒸着させこの全体を支持体32に固着する。
ガラスカバー26を通す日光の照射により電極
体27及び電極層31間に電圧を生ずる。
体27及び電極層31間に電圧を生ずる。
変型構造による太陽電池は、シヨツトキー障壁
を使いステンレス鋼基板と、高度にドーピングを
行つたn+けい素層と1μmの厚さのドーピング
してないけい素層と白金又は金から成る薄い(た
とえば厚さ約50Å)層と酸化ジルコニウムから成
る反射よけ層とから成る。
を使いステンレス鋼基板と、高度にドーピングを
行つたn+けい素層と1μmの厚さのドーピング
してないけい素層と白金又は金から成る薄い(た
とえば厚さ約50Å)層と酸化ジルコニウムから成
る反射よけ層とから成る。
p−n接合(たとえばダイオード)を使う他の
装置は第1図のグロー放電室内の付着により構成
する。
装置は第1図のグロー放電室内の付着により構成
する。
室1内のプラズマはたとえば誘導コイルにより
外部から励起する。このことは室1をガラスのよ
うな絶縁体から構成するときに有用である。或は
2個の電極を室内に挿入しガスをイオン化するの
に使つてもよい。
外部から励起する。このことは室1をガラスのよ
うな絶縁体から構成するときに有用である。或は
2個の電極を室内に挿入しガスをイオン化するの
に使つてもよい。
以上本発明をその実施例について詳細に説明し
たが本発明はなおその精神を逸脱しないで種種の
変化変型を行うことができるのはもちろんであ
る。
たが本発明はなおその精神を逸脱しないで種種の
変化変型を行うことができるのはもちろんであ
る。
第1図は硬質炭素、けい素及びゲルマニウムの
被覆を生長させる本発明付着装置の1実施例の線
図的横断面図、第2図は本付着装置により基板に
形成した炭素被覆の横断面図である。第3図は本
付着装置により形成した太陽電池の部分横断面図
である。 1……室、5……ガス流入管、6……弁、7…
…ガス流出管、8……弁、9……真空ポンプ、1
0……陰極体、14……RF給電源、16……基
板、17……取付部片、18……加熱器/冷却
器、20……バイアス電圧供給源。
被覆を生長させる本発明付着装置の1実施例の線
図的横断面図、第2図は本付着装置により基板に
形成した炭素被覆の横断面図である。第3図は本
付着装置により形成した太陽電池の部分横断面図
である。 1……室、5……ガス流入管、6……弁、7…
…ガス流出管、8……弁、9……真空ポンプ、1
0……陰極体、14……RF給電源、16……基
板、17……取付部片、18……加熱器/冷却
器、20……バイアス電圧供給源。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 (イ) 赤外線に透明な炭素被覆を支えるよう
に、基板の表面を整備する段階と、 (ロ) 炭化水素ガスを室内に入れる段階と、 (ハ) 陽極と陰極との間に電位を印加することによ
つて前記室内において前記陽極と前記陰極との
間に前記炭化水素ガスのプラズマを形成する段
階と、 (ニ) 赤外線に透明な炭素被覆を設けようとする基
板の表面を、この表面から間隔を置いた位置に
おいて前記表面に平行な前記陰極に向き合うよ
うに、配置する段階と、 (ホ) 前記基板の温度を、前記プラズマの温度に依
存しないで制御する段階と、 (ヘ) 前記基板の電位を、前記陰極の電位に依存し
ないで制御可能にする段階と、 (ト) 前記プラズマ中の正に帯電した炭素イオン
が、前記陰極に引き付けられてこの陰極に衝突
し、前記炭素イオンが中性にされて炭素原子と
なり、この炭素原子が前記陰極を離れて前記基
板に衝突し、低い内部ひずみを持つ赤外線に透
明な、非常に硬質な炭素被覆を形成するよう
に、真空の前記プラズマの状態と前記陰極の電
位とを制御する段階と、から成る、赤外線に透
明な炭素被覆を基板に付着させる、赤外線透明
炭素被覆付着法。 2 前記基板の表面を整備する段階が、この基板
の表面をアルゴンイオンで清掃することから成
る、特許請求の範囲第1項記載の赤外線透明炭素
被覆付着法。 3 前記基板の表面を整備する段階が、この基板
に、接着層を被覆することから成る特許請求の範
囲第1項記載の赤外線透明炭素被覆付着法。 4 前記接着層としてけい素を使用する特許請求
の範囲第3項記載の赤外線透明炭素被覆付着法。 5 前記接着層としてゲルマニウムを使用する特
許請求の範囲第3項記載の赤外線透明炭素被覆付
着法。 6 前記接着層として酸化物を使用する特許請求
の範囲第3項記載の赤外線透明炭素被覆付着法。 7 前記基板を導電性材料により構成する特許請
求の範囲第1項記載の赤外線透明炭素被覆付着
法。 8 前記基板を電気絶縁材料により構成する特許
請求の範囲第1項記載の赤外線透明炭素被覆付着
法。 9 前記基板をゲルマニウムにより構成する特許
請求の範囲第1項記載の赤外線透明炭素被覆付着
法。 10 前記基板を硫化亜鉛により構成する特許請
求の範囲第1項記載の赤外線透明炭素被覆付着
法。 11 前記基板をセレン化亜鉛により構成する特
許請求の範囲第1項記載の赤外線透明炭素被覆付
着法。 12 (イ) 真空室と、 (ロ) この真空室内に真空を形成するポンプと、 (ハ) 炭化水素ガスを、前記真空室内に導入する導
入手段と、 (ニ) 前記真空室内に炭化水素ガスのプラズマを形
成するために、前記真空室内の陽極と陰極との
間に制御可能な電圧を印加する電圧印加手段
と、 (ホ) 赤外線に透明な被覆を設けようとする基板の
表面が、この表面から間隔を置いた位置におい
て前記表面に平行な前記陰極に向き合うよう
に、前記基板を支持する支持手段と、 (ヘ) 前記基板の電位を、前記陰極の電位に依存し
ないで制御する電位制御手段と、 (ト) 前記基板の温度を、前記プラズマの温度に依
存しないで制御する温度制御手段と、 を備え、 操作の際に、正の炭素イオンが前記陰極に引き
付けられてこの陰極に衝突し、前記炭素イオンが
中性にされて炭素原子となり、この炭素原子が前
記陰極を離れて前記基板上に、赤外線に透明な、
非常に硬質な炭素被覆を形成するように、真空と
前記陰極に印加される電圧とのレベルを調整可能
にして成る、赤外線透明炭素被覆付着装置。 13 前記電位制御手段が、前記基板にバイアス
電圧を印加する印加手段から成る特許請求の範囲
第12項記載の赤外線透明炭素被覆付着装置。 14 前記基板を、基板加熱器を協働させた基板
取付部片により保持した特許請求の範囲第12項
記載の赤外線透明炭素被覆付着装置。 15 前記基板を、基板冷却器を協働させた基板
取付部片により保持した特許請求の範囲第12項
記載の赤外線透明炭素被覆付着装置。 16 前記陽極を、前記真空室の一部分とした特
許請求の範囲第12項記載の赤外線透明炭素被覆
付着装置。 17 RF電圧を前記陰極に印加するようにする
特許請求の範囲第12項記載の赤外線透明炭素被
覆付着装置。 18 直流電圧を前記陰極に印加するようにする
特許請求の範囲第12項記載の赤外線透明炭素被
覆付着装置。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB8001383 | 1980-01-16 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS56146876A JPS56146876A (en) | 1981-11-14 |
JPH036223B2 true JPH036223B2 (ja) | 1991-01-29 |
Family
ID=10510662
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP393381A Granted JPS56146876A (en) | 1980-01-16 | 1981-01-16 | Adhering method and apparatus |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4394400A (ja) |
EP (1) | EP0032788B2 (ja) |
JP (1) | JPS56146876A (ja) |
DE (1) | DE3167761D1 (ja) |
GB (1) | GB2069008B (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102426790A (zh) * | 2011-08-21 | 2012-04-25 | 苏以捷 | 平面交叉路口通行控制系统和方法 |
Families Citing this family (56)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB7910479D0 (en) * | 1979-03-26 | 1999-12-01 | Secr Defence | Camouflage |
DE3175345D1 (en) * | 1980-08-21 | 1986-10-23 | Nat Res Dev | Coating insulating materials by glow discharge |
US4504519A (en) * | 1981-10-21 | 1985-03-12 | Rca Corporation | Diamond-like film and process for producing same |
FR2514743B1 (fr) * | 1981-10-21 | 1986-05-09 | Rca Corp | Pellicule amorphe a base de carbone, du type diamant, et son procede de fabrication |
JPS58117868A (ja) * | 1981-12-28 | 1983-07-13 | Toshiba Corp | 皮膜形成装置 |
DE3206421A1 (de) * | 1982-02-23 | 1983-09-01 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Verfahren zum herstellen von schichten aus hochschmelzenden metallen bzw. metallverbindungen durch abscheidung aus der dampfphase |
GB2119278B (en) * | 1982-04-13 | 1987-04-15 | Michael Paul Neary | Improvements in or relating to a chemical method |
GB2164581A (en) * | 1982-04-13 | 1986-03-26 | Michael Paul Neary | Chemical method |
GB2122224B (en) * | 1982-06-23 | 1986-06-11 | Atomic Energy Authority Uk | Ion beam carbon layers |
JPS5930709A (ja) * | 1982-08-13 | 1984-02-18 | Toa Nenryo Kogyo Kk | 炭素膜及び/又は炭素粒子の製造方法 |
JPS5966343A (ja) * | 1982-10-08 | 1984-04-14 | バ−・アンド・ストラウド・リミテツド | 光学的被膜の製造方法 |
GB2165266B (en) * | 1982-10-12 | 1987-09-23 | Nat Res Dev | Infra red transparent optical components |
EP0106638A1 (en) * | 1982-10-12 | 1984-04-25 | National Research Development Corporation | Method and apparatus for growing material in a glow discharge |
US4704339A (en) * | 1982-10-12 | 1987-11-03 | The Secretary Of State For Defence In Her Britannic Majesty's Government Of The United Kingdom Of Great Britain And Northern Ireland | Infra-red transparent optical components |
DE3375700D1 (en) * | 1982-10-12 | 1988-03-24 | Nat Res Dev | Infra red transparent optical components |
JPH0674504B2 (ja) * | 1983-07-21 | 1994-09-21 | キヤノン株式会社 | 堆積膜の製造方法 |
DE3335623A1 (de) * | 1983-09-30 | 1985-04-11 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Verfahren zur herstellung einer kohlenstoff enthaltenden schicht, kohlenstoff enthaltende schicht, verwendung einer kohlenstoff enthaltenden schicht und vorrichtung zur durchfuehrung eines verfahrens zur herstellung einer kohlenstoff enthaltenden schicht |
CA1235087A (en) * | 1983-11-28 | 1988-04-12 | Akio Hiraki | Diamond-like thin film and method for making the same |
GB2291888B (en) * | 1984-06-08 | 1996-06-26 | Barr & Stroud Ltd | Optical coating |
US4607193A (en) * | 1984-10-10 | 1986-08-19 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Textured carbon surfaces on copper by sputtering |
GB8431422D0 (en) * | 1984-12-13 | 1985-01-23 | Standard Telephones Cables Ltd | Plasma reactor vessel |
GB8504458D0 (en) * | 1985-02-21 | 1985-03-27 | Gen Eng Radcliffe Ltd | Producing multi-layered coatings |
JPS61196538A (ja) * | 1985-02-27 | 1986-08-30 | Hitachi Ltd | 真空処理方法及び装置 |
GB2175016B (en) * | 1985-05-11 | 1990-01-24 | Barr & Stroud Ltd | Optical coating |
EP0209972A1 (en) * | 1985-06-05 | 1987-01-28 | Plessey Overseas Limited | Methods of depositing germanium hydrogen carbide |
DE3664791D1 (en) * | 1985-06-05 | 1989-09-07 | Plessey Overseas | Methods of depositing germanium carbide |
US4626448A (en) * | 1985-07-18 | 1986-12-02 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Plasma deposition of amorphous metal alloys |
DE3538261A1 (de) * | 1985-10-28 | 1987-04-30 | Battelle Institut E V | Gegeneinander abdichtende ventilelemente fuer mischarmaturen |
US4690830A (en) * | 1986-02-18 | 1987-09-01 | Solarex Corporation | Activation by dehydrogenation or dehalogenation of deposition feedstock and dopant materials useful in the fabrication of hydrogenated amorphous silicon alloys for photovoltaic devices and other semiconductor devices |
US4910153A (en) * | 1986-02-18 | 1990-03-20 | Solarex Corporation | Deposition feedstock and dopant materials useful in the fabrication of hydrogenated amorphous silicon alloys for photovoltaic devices and other semiconductor devices |
US4756964A (en) * | 1986-09-29 | 1988-07-12 | The Dow Chemical Company | Barrier films having an amorphous carbon coating and methods of making |
US4902531A (en) * | 1986-10-30 | 1990-02-20 | Nihon Shinku Gijutsu Kabushiki Kaisha | Vacuum processing method and apparatus |
JPH0672306B2 (ja) | 1987-04-27 | 1994-09-14 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 |
GB8713922D0 (en) * | 1987-06-15 | 1994-06-22 | Secr Defence | Infra red transparent windows |
US4911795A (en) * | 1987-08-14 | 1990-03-27 | Morton Thiokol, Inc. | Method of preserving a composite material cased solid propellant rocket motor |
JPH03163820A (ja) * | 1989-11-22 | 1991-07-15 | Tokai Univ | ダイヤモンドn型半導体およびダイヤモンドp―n接合ダイオードの製造方法 |
EP0447155B1 (en) * | 1990-03-12 | 1995-07-26 | Ngk Insulators, Ltd. | Wafer heaters for use in semi-conductor-producing apparatus, heating units using such wafer heaters, and production of heaters |
GB9019219D0 (en) * | 1990-09-01 | 1990-10-17 | Atomic Energy Authority Uk | Diamond-like carbon coatings |
US5397428A (en) * | 1991-12-20 | 1995-03-14 | The University Of North Carolina At Chapel Hill | Nucleation enhancement for chemical vapor deposition of diamond |
BE1006967A3 (fr) * | 1993-04-16 | 1995-02-07 | Cockerill Rech & Dev | Procede pour la formation d'un revetement sur un substrat par pulverisation cathodique reactive. |
MX9603104A (es) * | 1994-02-01 | 1997-03-29 | Howmedica | Protesis de clavo femorales recubiertas. |
US5688557A (en) * | 1995-06-07 | 1997-11-18 | Lemelson; Jerome H. | Method of depositing synthetic diamond coatings with intermediates bonding layers |
US5951773A (en) * | 1996-03-18 | 1999-09-14 | Hyundai Electronics Industries Co., Ltd. | Inductively coupled plasma chemical vapor deposition apparatus |
US6121134A (en) * | 1998-04-21 | 2000-09-19 | Micron Technology, Inc. | High aspect ratio metallization structures and processes for fabricating the same |
US6320261B1 (en) | 1998-04-21 | 2001-11-20 | Micron Technology, Inc. | High aspect ratio metallization structures for shallow junction devices, and methods of forming the same |
AU2002235146A1 (en) | 2000-11-30 | 2002-06-11 | North Carolina State University | Non-thermionic sputter material transport device, methods of use, and materials produced thereby |
AU2002219978A1 (en) | 2000-11-30 | 2002-06-11 | Kyma Technologies, Inc. | Method and apparatus for producing miiin columns and miiin materials grown thereon |
US8220489B2 (en) | 2002-12-18 | 2012-07-17 | Vapor Technologies Inc. | Faucet with wear-resistant valve component |
US7866343B2 (en) | 2002-12-18 | 2011-01-11 | Masco Corporation Of Indiana | Faucet |
US7866342B2 (en) | 2002-12-18 | 2011-01-11 | Vapor Technologies, Inc. | Valve component for faucet |
US8555921B2 (en) | 2002-12-18 | 2013-10-15 | Vapor Technologies Inc. | Faucet component with coating |
US6904935B2 (en) | 2002-12-18 | 2005-06-14 | Masco Corporation Of Indiana | Valve component with multiple surface layers |
JP4660241B2 (ja) * | 2005-03-25 | 2011-03-30 | 株式会社昭和真空 | スパッタ装置 |
US20070026205A1 (en) | 2005-08-01 | 2007-02-01 | Vapor Technologies Inc. | Article having patterned decorative coating |
US20090008577A1 (en) * | 2007-07-07 | 2009-01-08 | Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. | Conformal Doping Using High Neutral Density Plasma Implant |
JP2018104249A (ja) * | 2016-12-28 | 2018-07-05 | 国立大学法人京都大学 | 被膜付き化合物および被膜付き化合物の製造方法 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5328576A (en) * | 1976-08-13 | 1978-03-16 | Nat Res Dev | Surface coating process with cargonaceous material and apparatus therefor |
JPS5419662A (en) * | 1977-07-15 | 1979-02-14 | Hitachi Ltd | Forming method of plasma cvd film |
JPS5468169A (en) * | 1977-11-11 | 1979-06-01 | Hitachi Ltd | Plasma processor of capacitor type |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1104935A (en) * | 1964-05-08 | 1968-03-06 | Standard Telephones Cables Ltd | Improvements in or relating to a method of forming a layer of an inorganic compound |
US3472751A (en) * | 1965-06-16 | 1969-10-14 | Ion Physics Corp | Method and apparatus for forming deposits on a substrate by cathode sputtering using a focussed ion beam |
US3419487A (en) * | 1966-01-24 | 1968-12-31 | Dow Corning | Method of growing thin film semiconductors using an electron beam |
DE1621358A1 (de) * | 1966-11-08 | 1971-04-29 | Texas Instruments Inc | Verfahren zur Aufbringung duenner Filme aus dielektrischem Material auf ein Substrat |
US3471396A (en) * | 1967-04-10 | 1969-10-07 | Ibm | R.f. cathodic sputtering apparatus having an electrically conductive housing |
US3650737A (en) * | 1968-03-25 | 1972-03-21 | Ibm | Imaging method using photoconductive element having a protective coating |
US3600218A (en) * | 1968-05-15 | 1971-08-17 | Ibm | Method for depositing insulating films of silicon nitride and aluminum nitride |
JPS5123393B2 (ja) * | 1972-10-03 | 1976-07-16 | ||
IT1203089B (it) * | 1976-03-03 | 1989-02-15 | Int Plasma Corp | Procedimento ed apparecchiatura per eseguire reazioni chimiche nella regione della scarica luminescente di un plasma |
DE2624005C2 (de) * | 1976-05-28 | 1982-04-08 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Verfahren und Vorrichtung zum Aufbringen von dünnen Schichten auf ein Substrat nach dem "Ion-plating"-Verfahren. |
-
1981
- 1981-01-07 DE DE8181300053T patent/DE3167761D1/de not_active Expired
- 1981-01-07 EP EP81300053A patent/EP0032788B2/en not_active Expired
- 1981-01-07 GB GB8100335A patent/GB2069008B/en not_active Expired
- 1981-01-13 US US06/224,825 patent/US4394400A/en not_active Expired - Lifetime
- 1981-01-16 JP JP393381A patent/JPS56146876A/ja active Granted
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5328576A (en) * | 1976-08-13 | 1978-03-16 | Nat Res Dev | Surface coating process with cargonaceous material and apparatus therefor |
JPS5419662A (en) * | 1977-07-15 | 1979-02-14 | Hitachi Ltd | Forming method of plasma cvd film |
JPS5468169A (en) * | 1977-11-11 | 1979-06-01 | Hitachi Ltd | Plasma processor of capacitor type |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102426790A (zh) * | 2011-08-21 | 2012-04-25 | 苏以捷 | 平面交叉路口通行控制系统和方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4394400A (en) | 1983-07-19 |
GB2069008A (en) | 1981-08-19 |
DE3167761D1 (en) | 1985-01-31 |
EP0032788B1 (en) | 1984-12-19 |
GB2069008B (en) | 1984-09-12 |
EP0032788B2 (en) | 1989-12-06 |
JPS56146876A (en) | 1981-11-14 |
EP0032788A1 (en) | 1981-07-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH036223B2 (ja) | ||
EP0049032B1 (en) | Coating insulating materials by glow discharge | |
US4514437A (en) | Apparatus for plasma assisted evaporation of thin films and corresponding method of deposition | |
US4226897A (en) | Method of forming semiconducting materials and barriers | |
US4490229A (en) | Deposition of diamondlike carbon films | |
US4412903A (en) | Coating infra red transparent semiconductor material | |
US4328258A (en) | Method of forming semiconducting materials and barriers | |
JPH0713947B2 (ja) | 薄膜トランジスタアレイの製造装置 | |
EP0106637B1 (en) | Infra red transparent optical components | |
US6855377B2 (en) | Deposited film forming apparatus and deposited film forming method | |
GB2083841A (en) | Glow discharge coating | |
EP0659905B1 (en) | Plasma chemical vapor deposition device capable of suppressing generation of polysilane powder | |
JPH0143449B2 (ja) | ||
NO812436L (no) | Fremgangsmaate ved fremstilling av et optisk belegg | |
US6638359B2 (en) | Deposited film forming apparatus and deposited film forming method | |
EP0104916B1 (en) | Depositing a film onto a substrate including electron-beam evaporation | |
GB2082562A (en) | Coating germanium or silica with carbon | |
JPH0512432B2 (ja) | ||
JP3513206B2 (ja) | 堆積膜形成方法及び堆積膜形成装置 | |
Felmetsger et al. | Dual cathode DC–RF and MF–RF coupled S-Guns for reactive sputtering | |
RU2599769C2 (ru) | Способ получения фотоактивной многослойной гетероструктуры на основе микрокристаллического кремния | |
JPS5895817A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JPH0536620A (ja) | 半導体表面処理方法及び装置 | |
JP2002069616A (ja) | アナターゼ型酸化チタン薄膜の製造方法 | |
JPS6226869A (ja) | 光起電力装置の製造方法 |